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産業ソリューション

事例・お役立ち資料

ホーム/ 事例・お役立ち資料

このライブラリーでは、オリンパスの技術と各種機器の利用方法を、より理解して頂くための資料をご覧頂けます。

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アプリケーションノート

Precisely Measuring the Steep Gradient of a Miniature Bearing for a Rotating Dental Drill
粗さのパラメーターRa、Saで差が出ない表面形状を別のパラメーターで定量化－スピードメーターカバー防眩性の評価
Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser
Automated Surface Inspection Using Eddy Current Array Technology
Sulfur Analysis of Marine Fuel Oil Using Handheld XRF
Acoustic Influence Map（AIM）の感度インデックスを使用した適切なTFM探傷モードの選択
Phased Array Inspection of Aerospace Fastener Holes
回転式チューブ探傷システムを使用するパイプの円形内部欠陥の検出
工業用顕微鏡を用いたパシュミナウールの定量分析
注射針の測定から外観観察を1台で – 測定顕微鏡によるマルチな検査
Using the Total Focusing Method to Improve Phased Array Ultrasonic Imaging
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ソリューション

Petrochemical Pipe and Oil & Gas Pipeline Inspection Solutions
金属関連製造業での成分分析ソリューション（英語）
圧力容器 検査ソリューション（英語）
金属産業 検査ソリューション
航空機検査ソリューション
タービン検査ソリューション
風力タービン検査ソリューション
腐食検査ソリューション
Vanta for PMI
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ケーススタディー

Artemis Testing Lab Identifies Authentic Artifacts Using XRF Analysis
How Handheld XRF Helped Austin Hayes Ltd. Safely Recycle Wooden Ammunition Boxes
ケーススタディー：放射線透過試験の代わりにCOBRA®超音波フェーズドアレイソリューションを使用したボイラー管溶接検査
ケーススタディ: 表面に傷を付けるだけにあらず— Crodaにおける速度と精度の改善
XRF/XRD技術によるリチウム探査
鉱物探査・掘削用ハンドヘルド蛍光X線分析計 - リバースサーキュレーション/回転式エアーブラストとダイヤモンドコア
金（Au）の鉱物探査と鉱体ベクトル化に役立つハンドヘルド蛍光X線分析計とAuパスファインダー元素
硫化ニッケルの鉱物探査と等級管理に役立つハンドヘルド（携帯型）蛍光X線（XRF）分析計
鉱物の処理プロセスへのX線回折法の応用
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論文・技術資料

接続された厚さ計とクラウドベースソフトウェアの使用により改善された厚さ測定データの管理
Use of the Total Focusing Method with the Envelope Feature
欠陥の長さサイジング分解能を向上しフェーズドアレイ集束用ウエッジで検査不良率を低減
TFMによりAcoustic Influence Map（AIM）
溶接検査における迅速、安全な代替え手段（英語）
観察画像の大幅な明るさ向上
非破壊検査向け超音波トランスデューサの紹介（英語）
EPOCHシリーズ超音波探傷器における試料表面湾曲補正ソフトウェア技術資料（英語）
Multi-mode Adhesive Bond Testing
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ビデオ

Olympus Stream™ MIX照明 - ハレーションのない画像
Vanta™データビューアーアプリ
Handheld XRF for Material Quality Control in Cement Manufacturing
Vanta™ワークステーションのご紹介
褐炭における硫黄含有量の予測 - Weindorf Kagiliery教授
IPLEX NX Working Channel Scope Introduction Video
Inspection Project Manager (IPM) アプリによる検査ファイルのワイヤレス転送
Olympus Scientific Cloud (OSC) プラットフォームへの38-Linkの登録
OSCアカウントへの登録とユーザー管理
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Infographics

How the Inspection Project Manager App Transforms Thickness Gage Data Management
How it Works: Full Matrix Capture (FMC) and the Total Focusing Method (TFM)
Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) Weld Flaw Characterization Chart
Get Your Custom Phased Array Probe
工場配管検査ソリューション インフォグラフィック（英語）
パイプライン検査ソリューション インフォグラフィック（英語）
NDTプローブ　インフォグラフィック（英語）
EPOCHの創造的進化（英語）
セメント産業でのVanta用途　インフォグラフィック
Vanta - Total Cost of Ownership Infographic
IPLEX Videoscopes - Flexible Options for Every Application
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オンラインセミナー

Innovative Applications of portable X-ray diffraction (pXRD) and X-ray fluorescence (pXRF) for base metals and gold exploration
Introduction to WeldSight Software: Part 2 - Analysis
Ensuring Code Compliance While Using the Total Focusing Method
Total Focusing Method (TFM) vs Phased Array (PAUT)—When to Use Each Method
Acoustic Influence Map (AIM)—The Modeling Tool for Your TFM Inspection
The Basics of the Total Focusing Method (TFM)
Confidence You Can See—Introducing the OmniScan™ X3 PAUT/TFM Flaw Detector
Introducing WeldSight™ Software for the FOCUS PX Phased Array System
ハンドヘルドXRFによる合金分析を最大限に活用（英語）
オンラインセミナー：FlexoFORMスキャナーを使用したパイプエルボー部の腐食マッピング(英語）
See the invisible with ultraviolet (UV) inspection
5 Things You Need to Know About Surface Metrology
オンラインセミナー：３つのステップでめっき厚測定をする方法（英語）
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カタログ

RVI Total Solution Flyer (for EMEA only)
Comparing Affordable Handheld XRF: The Vanta Element vs. the Vanta Element-S Analyzer
CIX100 Benefits
Vanta ワークステーション
Tube End Inspection System
IPLEX NX Working Channel Scope One-pager
Olympus Scientific Cloud Data Security
Olympus Infrared Microscopy Solutions
Automated Rail Inspection System
Tube End Inspection System
Tube and Bar Inspection Systems
Automated Train Wheel Inspection System (WIS)
Fast, Reliable Quantitative Mineralogy with the TERRA™ II and BTX™ III Analyzers
OLYMPUS Stream Image Analysis Software 2.4 Leaflet
Vanta Element Series Specifications
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マニュアル

EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User Interface Guide
EPOCH 6LT Ultrasonic Flaw Detector - Getting Started Guide
RailView Software Manual
Terra II XRD Analyzer Getting Started Guide
BTX III XRD Analyzer Getting Started Guide
OmniScan X3 Getting Started Guide
OmniScan X3 User's Manual
IPLEX GX/GT Instruction Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User's Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector Getting Started Guide
38-Linkワイヤレスアダプター スタートガイド
IPLEX NX Stereo Measurement Reference Guide
IPLEX RX/RT ⼯業⽤ビデオスコープ　取扱説明書
IPLEX G Lite Industrial Videoscopes Operation Manual
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Posters

Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding FMC and TFM Technologies
NDT Probes Infographic Poster
How Laser Scanning Confocal Microscopy Benefits 3D Printing
Geochemical Analysis of Iron-Enriched Soil in Meherrin, Virginia
Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding Tube Inspection Technology
Understanding Ultrasonic Transducers
Understanding Phased Array Technology
Portable Eddy Current Applications
Understanding Eddy Current Array Technology
Composite Inspection Solutions
Understanding Bond Testing Technology
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Books

蛍光X線分析計：正しい結果を得るために
LEXT　表面粗さ測定入門書
フェーズドアレイ検査：工業用途での基礎理論（英語）
フェーズドアレイ超音波技術応用編
フェーズドアレイ超音波技術基礎編
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解説資料

欠陥検査解説資料（英語）
精密厚さ測定理論解説資料（英語）
超音波フェーズドアレイ チュートリアル
酸化スケール　理論と運用（英語）
渦流アレイ チュートリアル
超音波厚さ測定 チュートリアル
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FAQ

Frequently Asked Questions about TFM
Microscope FAQ
RollerFORM FAQ
COBRAスキャナー FAQ
超音波探傷試験 FAQ
顕微鏡を学ぶ
探触子についてよくある質問
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スライドシェア

Case Studies—Innovative Use of pXRF in Southern and Eastern Europe
Cloud-Based Process Management of Inspection Instruments
Utilizing Handheld X-Ray Fluorescence for In-Process Steel Slag Monitoring
Advances in Phased Array Inspection of API 620 LNG Tanks
Tool Wear Detection and Quantitation by Digital Microscopy
Nontraditional Applications of XRF for Quality Assurance and Quality Control
Fluorescent Dye Penetrant Inspections Using Videoscopes
See the Invisible with Ultraviolet (UV) Inspection
Identifying Precious Metal Alloys on Your Bench and In Your Case
Improving the Efficiency of Wind Turbine Inspections
Increasing the Brightness of Remote Visual Inspection (RVI) Instruments
4 Ways to Measure Coatings
Coherent Adaptive Focusing Technology for the Inspection of Complex Geometry
Improved Inspection of Composite Wind Turbine Blades with Accessible, Advanced Ultrasonic Phased Array Technology
In-Service Corrosion Mapping—Challenges for the Chemical Industry
Phased Array Scan Planning and Modeling for Weld inspection
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Blog

7 Capabilities That Make Technical Cleanliness Inspections Easy for Novice Operators
Shining Like a Diamond…or Rhinestone: Identifying Precious Gems with XRF Analyzers
5 Ways the OLYMPUS CIX100 Cleanliness Inspector Delivers Reproducible Results
Vanta™データビューアーを使ってグローバルに蛍光X線分析結果を共有
How to Properly Clean and Disinfect Your Industrial Microscope
お客様の検査ツールボックスにチャンネル内蔵型スコープを追加する3つの理由
OmniScan X3探傷器への切り替えをお勧めする5つの理由
Austin Hayes社が木製弾薬箱を安全にリサイクルする上で ハンドヘルド蛍光X線分析計が果たした役割
クラウドによる腐食データ管理の簡素化方法
Access a Better Way of Working—Experience Olympus Scientific Cloud 3.0
TFM and Other Major Advantages of the OmniScan X3 Flaw Detector for NDT Inspectors—A Customer Review
 詳細はこちら
  詳細はこちら
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