Olympus Logo

Contáctenos Contáctenos

  • Productos▾
    • Detectores de defectos▾
      • Detectores de defectos▾
        • Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
        • Equipos de ultrasonidos phased array
        • Equipos por corrientes de Foucault
        • Productos de corrientes de Foucault multielementos
        • Control de adherencia
      • Medidores de espesores portátiles▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Sondas (palpadores) y accesorios
      • Sondas▾
        • Sondas monoelemento y duales
        • Sondas de corrientes de Foucault
        • Probes for Tube Inspection
        • Sondas de ultrasonido multielemento (Phased Array)
        • BondMaster Probes
      • Sistemas integrados de inspección▾
        • Wheel Inspection System
        • Soluciones para inspeccionar barras
        • Soluciones para inspeccionar tubos
      • Instrumentación para sistemas industriales de END▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Escáneres industriales▾
        • Escáneres de inspección para soldaduras
        • Escáneres de inspección para la corrosión
        • Escáneres de inspección para el sector aeroespacial
        • Accesorios de escáneres
    • Analizadores XRF y XRD▾
      • Analizadores XRF portátiles▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analizadores XRF portátiles y compactos▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • Analizador GoldXpert
        • Xpert dedicado a la seguridad del consumidor y cumplimiento de la directiva RoHS
      • Analizadores XRF▾
        • Analizador FOX-IQ
      • Analizadores XRD▾
        • Analizador XRD portátil TERRA
        • Analizador XRD BTX de mesa
      • Soluciones OEM▾
        • X-STREAM
      • Soluciones clave para aplicaciones
    • Soluciones de microscopia▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Microscopios láser confocales▾
        • OLS5000
      • Microscopios digitales
      • Microscopios de medición▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector de limpieza▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopios de luz▾
        • Microscopios verticales
        • Microscopios invertidos
        • Microscopios modulares
      • Microscopios de inspección de semiconductores y pantallas planas▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Estereomicroscopios▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Cámaras digitales▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Software de análisis de imágenes▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Lentes del objetivo▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objetivos de interferometría de luz blanca
        • Micrometer
      • Componentes de microscopia para integración▾
        • Soluciones de integración de componentes
        • Lentes de objetivo
        • Estativos de microscopio óptico
        • Lente de tubo de amplio alcance
        • Módulos para microscopio óptico
        • Conjuntos de microscopio modulares
      • Preguntas frecuentes sobre los microscopios
    • Videoscopios y boroscopios ▾
      • Videoscopios▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • Solución de sonda larga IPLEX
      • Fibroscopios▾
        • Fibroscopios de diámetro pequeño
      • Boroscopios rígidos▾
        • Boroscopios rígidos estandar
        • Boroscopios de prisma basculante
        • Boroscopios de prisma basculante con Zoom.
        • Mini-boroscopios Modulares MK
        • Boróscopios para motores aeronáuticos.
      • Fuentes de luz
      • Software de asistencia de inspección▾
        • InHelp
  • Industrias
  • Blog
  • Material didáctico
  • Servicios y asistencia▾
    • Contáctenos
    • Olympus Scientific Cloud
    • Escuelas de capacitación
    • Customer Service
    • Centros de servicio
    • Descarga de programas informáticos
    • Información acerca de los productos
    • Productos descatalogados y obsoletos
    • Product Service Termination List
    • Certificación ISO
    • Ficha de datos de seguridad (FDS)
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Arrendamiento
  • Shop
  • Buscar
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Soluciones industriales

Material didáctico

Inicio/ Material didáctico

Esta biblioteca integral da acceso a los documentos que lo ayudarán a entender nuestra tecnología y la utilización de nuestros equipos en campo.

Utilice los siguientes filtros para hallar fácilmente lo que está buscando:

Búsqueda de fuente
¡Atención! Antes de lanzar el buscador, seleccione el criterio de búsqueda.
Por favor, seleccione los criterios de búsqueda y pulse el botón Buscar.

Notas de aplicación

Precisely Measuring the Steep Gradient of a Miniature Bearing for a Rotating Dental Drill
Evaluating the Anti-Glare Property of a Speedometer Cover with High Precision Using a Laser Scanning 3D Microscope
Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser
Automated Surface Inspection Using Eddy Current Array Technology
Sulfur Analysis of Marine Fuel Oil Using Handheld XRF
Uso del índice de sensibilidad de un mapa de influencia acústica (AIM) para seleccionar el modo de inspección óptima del TFM
Phased Array Inspection of Aerospace Fastener Holes
Detección de defectos internos de forma redondeada en tubos gracias a un sistema de inspección rotativa de tubos
Análisis cuantitativo de la pashmina con un microscopio industrial
Inspecting Medical Hypodermic Needles Using a Measuring Microscope
Using the Total Focusing Method to Improve Phased Array Ultrasonic Imaging
Seleccionar el mejor modo de propagación para un reflector usando la herramienta de modelado AIM para la inspección mediante el método de focalización total (TFM)
 Mostrar más
  Mostrar más

Soluciones

Petrochemical Pipe and Oil & Gas Pipeline Inspection Solutions
Soluciones Vanta para la fabricación de metales
Soluciones para la inspección de recipientes a presión
Soluciones de inspección para la industria metalúrgica
Soluciones para inspecciones en el campo aeroespacial
Soluciones para la inspección de turbinas de gas
Soluciones para la inspección de aerogeneradores
Soluciones para la inspección de corrosión
Vanta for PMI
 Mostrar más
  Mostrar más

Estudios de casos prácticos

Artemis Testing Lab Identifies Authentic Artifacts Using XRF Analysis
How Handheld XRF Helped Austin Hayes Ltd. Safely Recycle Wooden Ammunition Boxes
Estudio de caso: Inspección de soldaduras en tuberías de calderas con la solución por ultrasonido multielemento COBRA® en lugar de la radiografía
Estudio de caso: Más que un simple rasguño superficial — Mejoramiento de la velocidad y precisión de los controles de resistencia al rayado en Croda
Exploración de litio en pegmatitas
Analizadores XRF portátiles para sondeos de exploración minera: Perforaciones rotatorias de aire comprimido, de circulación inversa y de diamante
Analizadores XRF portátiles para detectar oro (Au) y elementos guía durante la exploración minera y el control de yacimientos minerales
Analizadores XRF portátiles para optimizar la exploración minera y el control de tenores de sulfuros de níquel
Tecnología de difracción de rayos X para el tratamiento de minerales
 Mostrar más
  Mostrar más

Libros Blancos

Gestión de los datos obtenidos a partir de mediciones de espesor gracias a un medidor de espesores en conexión y un software integral de nube
Use of the Total Focusing Method with the Envelope Feature
Sondas de focalización por ultrasonido multielemento (Phased Array) para ayudar a reducir la tasa de rechazo en las inspecciones gracias a la optimización de la resolución en el dimensionamiento longitudinal de los defectos
Mapa de influencia acústica bajo la técnica TFM
A Fast, Safe Alternative for Weld Inspections
Increasing the Brightness of Industrial Videoscopes
An Introduction to Ultrasonic Transducers for Nondestructive Testing
Theory and Use of Curved Surface Correction (CSC) Software in Olympus NDT EPOCH Series Flaw Detectors
Multi-mode Adhesive Bond Testing
Eddy Current Probes and Application Guide
An Introduction to Angle Beam Assemblies
Detection and Sizing Techniques of ID Connected Cracking
Application Considerations in Specifying High Frequency Ultrasonic Transducers
 Mostrar más
  Mostrar más

Videos

Olympus Stream Image Analysis Software: How to acquire an image without halation using the MIX illumination method
Aplicación Data Viewer Vanta™
Handheld XRF for Material Quality Control in Cement Manufacturing
Presentación de la estación de trabajo Vanta™
Testimonio de investigación por Weindorf y Kagiliery
IPLEX NX Working Channel Scope Introduction Video
Wireless Transfer of Survey Files Using the IPM App
Registering the 38-Link on the Olympus Scientific Cloud (OSC) Platform
Registering for an OSC Account and Inviting and Managing Users
Olympus Scientific Cloud (OSC) Platform Overview
Inspection Project Manager (IPM) App Overview
Professor Weindorf Discusses the Benefits of Handheld XRF for Environmental Assessments
Introducing the Improved Olympus Scientific Cloud™
 Mostrar más
  Mostrar más

Folletos infográficos

How the Inspection Project Manager App Transforms Thickness Gage Data Management
How it Works: Full Matrix Capture (FMC) and the Total Focusing Method (TFM)
Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) Weld Flaw Characterization Chart
Get Your Custom Phased Array Probe
Process Pipe and Piping Inspection Solutions Infographic
Pipeline Inspection Solutions Infographic
NDT Probes Infographic
Creative Evolution of EPOCH
Cement Industry Infographic
Vanta - Total Cost of Ownership Infographic
IPLEX Videoscopes - Flexible Options for Every Application
IPLEX G Lite: Portability by the Numbers
Save Time and Prevent Material Mix-Ups with Vanta Handheld XRF
EPOCH 6LT IP Rating Infographic
38DLP-Encoded B-Scan Infographic
Selecting the Right Transducer for Your Flaw Detection Application
 Mostrar más
  Mostrar más

Seminarios web

Innovative Applications of portable X-ray diffraction (pXRD) and X-ray fluorescence (pXRF) for base metals and gold exploration
Introduction to WeldSight Software: Part 2 - Analysis
Ensuring Code Compliance While Using the Total Focusing Method
Total Focusing Method (TFM) vs Phased Array (PAUT)—When to Use Each Method
Acoustic Influence Map (AIM)—The Modeling Tool for Your TFM Inspection
The Basics of the Total Focusing Method (TFM)
Confidence You Can See—Introducing the OmniScan™ X3 PAUT/TFM Flaw Detector
Introducing WeldSight™ Software for the FOCUS PX Phased Array System
Obtenga mucho más de sus análisis de aleaciones
Using the FlexoFORM™ Solution to Map Corrosion in Pipe Elbows
See the invisible with ultraviolet (UV) inspection
5 Things You Need to Know About Surface Metrology
How to Measure Coating Thickness in 3 Steps
Inspecting HVAC and Heat Exchangers using the NORTEC 600D Flaw Detector
How-To Webinar on Nondestructive Testing and Remote Visual Inspection
 Mostrar más
  Mostrar más

Catálogos

RVI Total Solution Flyer (for EMEA only)
Comparing Affordable Handheld XRF: The Vanta Element vs. the Vanta Element-S Analyzer
CIX100 Benefits
Vanta Workstation
Tube End Inspection System
IPLEX NX Working Channel Scope One-pager
Olympus Scientific Cloud Data Security
Olympus Infrared Microscopy Solutions
Automated Rail Inspection System
Tube End Inspection System
Tube and Bar Inspection Systems
Automated Train Wheel Inspection System (WIS)
Fast, Reliable Quantitative Mineralogy with the TERRA™ II and BTX™ III Analyzers
Díptico de software de análisis de imágenes OLYMPUS Stream 2.4
Vanta Element Series Specifications
 Mostrar más
  Mostrar más

Manuales

EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User Interface Guide
EPOCH 6LT Ultrasonic Flaw Detector - Getting Started Guide
RailView Software Manual
Terra II XRD Analyzer Getting Started Guide
BTX III XRD Analyzer Getting Started Guide
OmniScan X3 Getting Started Guide
OmniScan X3 User's Manual
IPLEX GX/GT Instruction Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User's Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector Getting Started Guide
38-Link Wireless Adaptor Getting Started Guide
IPLEX NX Stereo Measurement Reference Guide
IPLEX RX/RT Industrial Videoscopes Instructions
IPLEX G Lite Industrial Videoscopes Operation Manual
IPLEX G Lite Industrial Videoscopes Instructions
IPLEX GX/GT Industrial Videoscopes Operation Manual
 Mostrar más
  Mostrar más

Carteles

Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding FMC and TFM Technologies
NDT Probes Infographic Poster
How Laser Scanning Confocal Microscopy Benefits 3D Printing
Geochemical Analysis of Iron-Enriched Soil in Meherrin, Virginia
Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding Tube Inspection Technology
Understanding Ultrasonic Transducers
Understanding Phased Array Technology
Portable Eddy Current Applications
Understanding Eddy Current Array Technology
Composite Inspection Solutions
Understanding Bond Testing Technology
 Mostrar más
  Mostrar más

Manuales/libros

X-Ray Fluorescence: Cutting Out the Noise
LEXT Roughness measurement guidebook
Phased Array Testing: Basic Theory for Industrial Applications
Advances in Phased Array Ultrasonic Technology Applications
Introduction to Phased Array Ultrasonic Technology Applications
 Mostrar más
  Mostrar más

Manuales autodidácticos

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial
Precision Thickness Gaging Theory
Cursillo de ultrasonidos phased array
Internal Oxide Scale Theory and Operation
Cursillo de corrientes de Foucault multielementos
Índice del cursillo
 Mostrar más
  Mostrar más

Preguntas frecuentes

Preguntas formuladas frecuentemente sobre el método de focalización total (TFM)
Microscope FAQ
RollerFORM FAQs
COBRA Scanner FAQs
Preguntas frecuentes sobre los ensayos por ultrasonidos
Industrial Microscopes Dictionary
Frequently Asked Transducer Questions
 Mostrar más
  Mostrar más

SlideShare

Estudio de caso: Uso innovador de la fluorescencia de rayos X en Europa del sur y este
Cloud-Based Process Management of Inspection Instruments
Utilizing Handheld X-Ray Fluorescence for In-Process Steel Slag Monitoring
Advances in Phased Array Inspection of API 620 LNG Tanks
Tool Wear Detection and Quantitation by Digital Microscopy
Nontraditional Applications of XRF for Quality Assurance and Quality Control
Fluorescent Dye Penetrant Inspections Using Videoscopes
See the Invisible with Ultraviolet (UV) Inspection
Identifying Precious Metal Alloys on Your Bench and In Your Case
Improving the Efficiency of Wind Turbine Inspections
Increasing the Brightness of Remote Visual Inspection (RVI) Instruments
4 Ways to Measure Coatings
Coherent Adaptive Focusing Technology for the Inspection of Complex Geometry
Improved Inspection of Composite Wind Turbine Blades with Accessible, Advanced Ultrasonic Phased Array Technology
In-Service Corrosion Mapping—Challenges for the Chemical Industry
 Mostrar más
  Mostrar más

Blog

7 Capabilities That Make Technical Cleanliness Inspections Easy for Novice Operators
Shining Like a Diamond…or Rhinestone: Identifying Precious Gems with XRF Analyzers
5 Ways the OLYMPUS CIX100 Cleanliness Inspector Delivers Reproducible Results
Comparta sus resultados XRF en todo el mundo con la aplicación Data Viewer Vanta™
How to Properly Clean and Disinfect Your Industrial Microscope
Tres razones para introducir una sonda con canal de trabajo a su caja de herramientas.
Cinco razones para optar por el detector de defectos OmniScan X3
¿Cómo ayudó el analizador XRF portátil a Austin Hayes Ltd. a reciclar de forma segura cajas de madera para municiones?
¿Cómo la nube simplifica la gestión de los datos de corrosión?
Access a Better Way of Working—Experience Olympus Scientific Cloud 3.0
TFM and Other Major Advantages of the OmniScan X3 Flaw Detector for NDT Inspectors—A Customer Review
 Mostrar más
  Mostrar más

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Contáctenos
  • Contáctenos
  • Visit The Blog
  • Resources by Industry
    • Academic Research
    • Aerospace
    • Automotive
    • Chemical
    • Electronics
    • Energy
    • Environment
    • Glass & Ceramic
    • Metal
    • Mining & Geology
    • Oil & Gas
    • Plastic
    • Railway
    • Security & Defense
    • Specialty
  • Popular FAQs
    • Ultrasonic Testing FAQ
    • Transducer FAQs
    • Microscope FAQs
    • RollerFORM FAQs
    • COBRA Scanner FAQs
  • Popular App Notes
    • Eddy Current Flaw Detection
    • Phased Array Flaw Detection
    • Microscope Solutions
    • Optical Metrology
    • Ultrasonic Flaw Detection and Thickness Gaging
    • Videoscopes
    • XRF / XRD
  • Suscríbase a los boletines de noticias
Inicio/ Material didáctico
Imprimir

Copyright OLYMPUS CORPORATION, todos los derechos reservados.

Global | Condiciones de uso | Política de privacidad | Cookies | Acerca de nosotros | Portal de empleo | Portal de empleo | Mapa del sitio

Copyright OLYMPUS CORPORATION, todos los derechos reservados.

Global | Condiciones de uso | Política de privacidad | Cookies | Acerca de nosotros | Imprint | Portal de empleo | Portal de empleo | Mapa del sitio

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Este sitio web usa cookies para mejorar su rendimiento, analizar el tráfico y para fines de valoración de anuncios. Si no cambia la configuración de sus opciones web, las cookies seguirán siendo utilizadas por este sitio web. Para obtener más información sobre cómo usamos las cookies en este sitio web y cómo puede restringir nuestro uso de cookies, por favor revise nuestra política de cookies.

OK
Cancel