Olympus Logo

Обратная связь Обратная связь

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Матричные вихретоковые дефектоскопы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и комплектующие
      • Датчики и преобразователи▾
        • Ультразвуковые ПЭП
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные ПЭП
        • BondMaster Probes
      • Интегрированные системы контроля▾
        • Wheel Inspection System
        • Решения для контроля прутков
        • Решения для контроля труб
      • Контрольно-измерительные приборы НК▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры▾
        • Сканеры для контроля сварных швов
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Контроль качества в аэрокосмической промышленности
        • Комплектующие для сканеров
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные ручные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Портативные компактные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert для контроля качества ТНП и их cоответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • FOX-IQ
      • Рентгеновские дифрактометры ▾
        • Переносной дифрактометр TERRA
        • Настольный дифрактометр BTX
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
    • Промышленные микроскопы▾
      • Сканирующие зондовые микроскопы▾
        • OLS4500
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5000
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM▾
        • Equipment Integration Solutions
        • Objective Lenses
        • Optical Microscope Frames
        • Super Wide Tube Lens
        • Optical Microscope Modules
        • Modular Microscope Assemblies
      • Microscope FAQ
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
        • Бороскопы для контроля авиационных двигателей
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
  • Отрасли
  • Блог
  • Ресурсы
  • Поддержка▾
    • Контакты
    • Olympus Scientific Cloud
    • Обучение
    • Customer Service
    • Сервисные центры
    • Программное обеспечение
    • Информация о продукции
    • Оборудование снятое с производства
    • Product Service Termination List
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Rentals
  • Shop
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения

Ресурсы

Главная/ Ресурсы

Универсальная библиотека Olympus предоставляет доступ к документам, предназначенным для углубленного понимания технологии и принципов работы нашего оборудования.

Используйте представленные ниже фильтры для поиска нужной Вам информации:
Поиск ресурсов
Внимание! Вы должны выбрать критерий для поиска.
Пожалуйста, выберите параметр поиска и нажмите кнопку поиска.

Инструкция по применению

Inspecting Long Seam Welds Efficiently and Easily Using the AxSEAM™ Scanner
Precisely Measuring the Steep Gradient of a Miniature Bearing for a Rotating Dental Drill
Evaluating the Anti-Glare Property of a Speedometer Cover with High Precision Using a Laser Scanning 3D Microscope
Using a High-Resolution Digital Microscope to Perform Highly Accurate Thickness Measurements of the Internal Layer of a Multilayer Ceramic Condenser
Automated Surface Inspection Using Eddy Current Array Technology
Sulfur Analysis of Marine Fuel Oil Using Handheld XRF
Использование индекса чувствительности карты акустического воздействия (AIM) для выбора оптимального режима контроля TFM
Phased Array Inspection of Aerospace Fastener Holes
Выявление внутренних дефектов округлой формы с помощью системы контроля RTIS
Количественный анализ шерсти пашмины с помощью промышленного микроскопа
Inspecting Medical Hypodermic Needles Using a Measuring Microscope
Using the Total Focusing Method to Improve Phased Array Ultrasonic Imaging
 Показать больше
  Показать больше

Решения

Petrochemical Pipe and Oil & Gas Pipeline Inspection Solutions
Vanta Metal Fabrication Solutions
Vessel Inspection Solutions
Metal Industry Inspection Solutions
Aerospace Inspections Solutions
Gas Turbine Inspection Solutions
Wind Turbine Inspection Solutions
Corrosion Inspection Solutions
Vanta for PMI
Vanta for Scrap Recycling
Vanta for Mining & Geochemistry
Vanta for Manufacturing QA/QC
Vanta for Environmental Assessments
Composite Inspection Solutions
Measurement Solutions
Weld Inspection Solutions
 Показать больше
  Показать больше

Анализ конкретных ситуаций

Artemis Testing Lab Identifies Authentic Artifacts Using XRF Analysis
How Handheld XRF Helped Austin Hayes Ltd. Safely Recycle Wooden Ammunition Boxes
Анализ примера из практики: Контроль сварных соединений бойлерных труб с использованием сканера COBRA на фазированных решетках, вместо радиографического контроля (РК)
Анализ примера из практики: Не просто тест на стойкость поверхности к царапанию — повышение скорости и точности измерений в Croda
Olympus XRF & XRD for Lithium Exploration
Портативный РФ-анализатор в разведочном бурении. Роторное бурение с обратной циркуляцией и алмазное бурение
Переносной РФ-анализатор золота (Au) и спутников Au. Разведка полезных ископаемых и участков крупных месторождений
Handheld XRF Analyzers Enhance Mineral Exploration and Grade Control of Nickel Sulphides
X-ray Diffraction for Mineral Processing
History in a new light, The role of light microscopy in cultural heritage
 Показать больше
  Показать больше

Учебные материалы

Improved Management of Thickness Survey Data Using a Connected Thickness Gage and Cloud-Based Software
Use of the Total Focusing Method with the Envelope Feature
Фазированные фокусирующие призмы позволяют снизить процент отбраковки за счет улучшения разрешения при измерении размеров дефектов
План режиме TFM с отображением карты акустического воздействия (AIM)
A Fast, Safe Alternative for Weld Inspections
Increasing the Brightness of Industrial Videoscopes
An Introduction to Ultrasonic Transducers for Nondestructive Testing
Theory and Use of Curved Surface Correction (CSC) Software in Olympus NDT EPOCH Series Flaw Detectors
Multi-mode Adhesive Bond Testing
Eddy Current Probes and Application Guide
An Introduction to Angle Beam Assemblies
Detection and Sizing Techniques of ID Connected Cracking
Application Considerations in Specifying High Frequency Ultrasonic Transducers
Theory And Application of Precision Ultrasonic Thickness Gaging
 Показать больше
  Показать больше

Видео

Olympus Stream Image Analysis Software: How to acquire an image without halation using the MIX illumination method
Приложение Vanta™ Data Viewer
Handheld XRF for Material Quality Control in Cement Manufacturing
Переносная рабочая станция Vanta™
История успеха: Вайндорф_Кагильери
IPLEX NX Working Channel Scope Introduction Video
Wireless Transfer of Survey Files Using the IPM App
Registering the 38-Link on the Olympus Scientific Cloud (OSC) Platform
Registering for an OSC Account and Inviting and Managing Users
Olympus Scientific Cloud (OSC) Platform Overview
Inspection Project Manager (IPM) App Overview
Отзыв профессора Дэвида Вайндорфа
 Показать больше
  Показать больше

Инфографика

How the Inspection Project Manager App Transforms Thickness Gage Data Management
How it Works: Full Matrix Capture (FMC) and the Total Focusing Method (TFM)
Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) Weld Flaw Characterization Chart
Get Your Custom Phased Array Probe
Process Pipe and Piping Inspection Solutions Infographic
Pipeline Inspection Solutions Infographic
NDT Probes Infographic
Creative Evolution of EPOCH
Cement Industry Infographic
Vanta - Total Cost of Ownership Infographic
IPLEX Videoscopes - Flexible Options for Every Application
IPLEX G Lite: Portability by the Numbers
Save Time and Prevent Material Mix-Ups with Vanta Handheld XRF
EPOCH 6LT IP Rating Infographic
38DLP-Encoded B-Scan Infographic
Selecting the Right Transducer for Your Flaw Detection Application
 Показать больше
  Показать больше

Вебинар

Innovative Applications of portable X-ray diffraction (pXRD) and X-ray fluorescence (pXRF) for base metals and gold exploration
Introduction to WeldSight Software: Part 2 - Analysis
Ensuring Code Compliance While Using the Total Focusing Method
Total Focusing Method (TFM) vs Phased Array (PAUT)—When to Use Each Method
Acoustic Influence Map (AIM)—The Modeling Tool for Your TFM Inspection
The Basics of the Total Focusing Method (TFM)
Confidence You Can See—Introducing the OmniScan™ X3 PAUT/TFM Flaw Detector
Introducing WeldSight™ Software for the FOCUS PX Phased Array System
Get the Most Out of Your Alloy Analysis
Using the FlexoFORM™ Solution to Map Corrosion in Pipe Elbows
See the invisible with ultraviolet (UV) inspection
5 Things You Need to Know About Surface Metrology
How to Measure Coating Thickness in 3 Steps
Inspecting HVAC and Heat Exchangers using the NORTEC 600D Flaw Detector
How-To Webinar on Nondestructive Testing and Remote Visual Inspection
How ADT Software Can Improve Your Company’s Productivity and Reliability
 Показать больше
  Показать больше

Брошюры

AxSEAM™ Semiautomated Weld Scanner with ScanDeck™ Module
RVI Total Solution Flyer (for EMEA only)
Comparing Affordable Handheld XRF: The Vanta Element vs. the Vanta Element-S Analyzer
CIX100 Benefits
Vanta Workstation
Tube End Inspection System
IPLEX NX Working Channel Scope One-pager
Olympus Scientific Cloud Data Security
Olympus Infrared Microscopy Solutions
Automated Rail Inspection System
Tube and Bar Inspection Systems
Automated Train Wheel Inspection System (WIS)
Fast, Reliable Quantitative Mineralogy with the TERRA™ II and BTX™ III Analyzers
ПО для анализа изображений OLYMPUS Stream версии 2.4 - Буклет
Vanta Element Series Specifications
 Показать больше
  Показать больше

Руководства

AxSEAM Longitudinal Weld Scanner - User's Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User Interface Guide
EPOCH 6LT Ultrasonic Flaw Detector - Getting Started Guide
RailView Software Manual
Terra II XRD Analyzer Getting Started Guide
BTX III XRD Analyzer Getting Started Guide
OmniScan X3 Getting Started Guide
OmniScan X3 User's Manual
IPLEX GX/GT Instruction Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector User's Manual
EPOCH 6LS Ultrasonic Flaw Detector Getting Started Guide
38-Link Wireless Adaptor Getting Started Guide
IPLEX NX Stereo Measurement Reference Guide
IPLEX RX/RT Industrial Videoscopes Instructions
IPLEX G Lite Industrial Videoscopes Operation Manual
IPLEX G Lite Industrial Videoscopes Instructions
 Показать больше
  Показать больше

Постеры

Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding FMC and TFM Technologies
NDT Probes Infographic Poster
How Laser Scanning Confocal Microscopy Benefits 3D Printing
Geochemical Analysis of Iron-Enriched Soil in Meherrin, Virginia
Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding Tube Inspection Technology
Understanding Ultrasonic Transducers
Understanding Phased Array Technology
Portable Eddy Current Applications
Understanding Eddy Current Array Technology
Composite Inspection Solutions
Understanding Bond Testing Technology
 Показать больше
  Показать больше

Справочники

X-Ray Fluorescence: Cutting Out the Noise
LEXT Roughness measurement guidebook
Промышленный контроль методом фазированных решеток
Advances in Phased Array Ultrasonic Technology Applications
Introduction to Phased Array Ultrasonic Technology Applications
 Показать больше
  Показать больше

Ознакомительный курс

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial
Precision Thickness Gaging Theory
Технология применения фазированных решеток — Вводный курс
Internal Oxide Scale Theory and Operation
Вводный курс по контролю вихретовокой матрицей
Thickness Gage Tutorial
 Показать больше
  Показать больше

Вопросы и ответы

Часто задаваемые вопросы по TFM
Microscope FAQ
RollerFORM FAQs
COBRA Scanner FAQs
Ultrasonic Testing FAQ
Learn about microscope
Frequently Asked Transducer Questions
 Показать больше
  Показать больше

Презентации (Slideshare)

Case Studies—Innovative Use of pXRF in Southern and Eastern Europe
Cloud-Based Process Management of Inspection Instruments
Utilizing Handheld X-Ray Fluorescence for In-Process Steel Slag Monitoring
Advances in Phased Array Inspection of API 620 LNG Tanks
Tool Wear Detection and Quantitation by Digital Microscopy
Nontraditional Applications of XRF for Quality Assurance and Quality Control
Fluorescent Dye Penetrant Inspections Using Videoscopes
See the Invisible with Ultraviolet (UV) Inspection
Identifying Precious Metal Alloys on Your Bench and In Your Case
Improving the Efficiency of Wind Turbine Inspections
Increasing the Brightness of Remote Visual Inspection (RVI) Instruments
4 Ways to Measure Coatings
Coherent Adaptive Focusing Technology for the Inspection of Complex Geometry
Improved Inspection of Composite Wind Turbine Blades with Accessible, Advanced Ultrasonic Phased Array Technology
In-Service Corrosion Mapping—Challenges for the Chemical Industry
Phased Array Scan Planning and Modeling for Weld inspection
 Показать больше
  Показать больше

Блог

Narrowing the List of Suspects—Linking Metal Contamination in Food to the Production Line
7 Capabilities That Make Technical Cleanliness Inspections Easy for Novice Operators
Shining Like a Diamond…or Rhinestone: Identifying Precious Gems with XRF Analyzers
5 Ways the OLYMPUS CIX100 Cleanliness Inspector Delivers Reproducible Results
Мгновенный доступ к результатам РФА из любой точки мира с приложением Vanta™ Data Viewer
How to Properly Clean and Disinfect Your Industrial Microscope
3 Reasons to Add a Working Channel Scope to Your RVI Toolbox
5 причин перейти на новый OmniScan X3
Компания Austin Hayes Ltd. использует портативные РФ-анализаторы для безопасной утилизации армейских деревянных ящиков
Как облако упрощает управление данными коррозионного мониторинга
Оптимизируйте свой рабочий процесс с помощью Olympus Scientific Cloud 3.0
 Показать больше
  Показать больше
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Обратная связь
  • Обратная связь
  • Visit The Blog
  • Resources by Industry
    • Academic Research
    • Aerospace
    • Automotive
    • Chemical
    • Electronics
    • Energy
    • Environment
    • Glass & Ceramic
    • Metal
    • Mining & Geology
    • Oil & Gas
    • Plastic
    • Railway
    • Security & Defense
    • Specialty
  • Popular FAQs
    • Ultrasonic Testing FAQ
    • Transducer FAQs
    • Microscope FAQs
    • RollerFORM FAQs
    • COBRA Scanner FAQs
  • Popular App Notes
    • Eddy Current Flaw Detection
    • Phased Array Flaw Detection
    • Microscope Solutions
    • Optical Metrology
    • Ultrasonic Flaw Detection and Thickness Gaging
    • Videoscopes
    • XRF / XRD
  • Подписаться на информационный бюллетень
Главная/ Ресурсы
Печать

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel