Olympus Logo

Обратная связь   Обратная связь  

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Вихретоковые матрицы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и аксессуары
      • Датчики и преобразователи▾
        • Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
        • BondMaster Probes
      • Автоматизированные системы контроля▾
        • Система контроля колесных пар ж/д вагонов
        • Системы контроля прутков
        • Системы контроля труб
        • Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
      • Оборудование НК ▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры НК▾
        • Сканеры для контроля сварных соединений
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Сканеры для аэрокосмической промышленности
        • Комплектующие сканеров
      • Olympus Scientific Cloud
      • Software▾
        • Программное обеспечение WeldSight™
        • Программное обеспечение TomoView
        • Программное обеспечение NDT SetupBuilder
        • Automated Detection Technology Software
        • Программное обеспечение OmniPC 4
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
      • Компактные переносные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • XPert для оценки соответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • Vanta iX
      • Рентгеновские дифрактометры (XRD)▾
        • Портативный дифрактометр TERRA II
        • Настольный рентгеновский дифрактометр BTX III
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
      • Olympus Scientific Cloud
    • Промышленные микроскопы▾
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5100
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM
      • Industrial Microscope FAQ
      • Customized Solutions
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
  • Отрасли
  • Ресурсы
  • Обучение
  • Блог
  • Поддержка▾
    • Контакты
    • Служба поддержки клиентов
    • XRF and XRD Technical Support
    • Сервисные центры
    • Custom Financing Solutions
    • Olympus Scientific Cloud
    • Программное обеспечение
    • Instruction Manual Downloads
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Информация о продукции
    • Product Service Termination List
    • Оборудование снятое с производства
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Shop
  • Careers
  • Careers
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения
Карьера
Карьера

Ресурсы

Главная/ Ресурсы
All Filters
Search
Resources Technologies
Resources Industries
Resource Content Type
Products
Изделие

Resources Technologies

See all options(+10)

Hide options(-10)

Resources Industries

See all options(+33)

Hide options(-33)

Resource Content Type

See all options(+12)

Hide options(-12)

Изделие

Show All Filters

Initializing...Found ${total} results.No results found.

Указания по применению

Identifying Minerals and Contaminants in Water and Food Using Portable XRFIdentifying Minerals and Contaminants in Water and Food Using Portable XRF
Portable XRF and XRD at the Mine SitePortable XRF and XRD at the Mine Site
Uranium Mining and Exploration Using Portable XRFUranium Mining and Exploration Using Portable XRF
Iron Ore Analysis Using Portable XRF and XRDIron Ore Analysis Using Portable XRF and XRD
Copper Foil Surface Roughness for 5G Printed Circuit BoardsCopper Foil Surface Roughness for 5G Printed Circuit Boards
Использование фазированной решетки для контроля труб с толщиной стенки более 50,8 ммИспользование фазированной решетки для контроля труб с толщиной стенки более 50,8 мм
See all +421

Видео

Observación de muestras de microelectronica con el Olympus DSX 1000.Observación de muestras de microelectronica con el Olympus DSX 1000.
Combining Portable XRF and Machine Learning to Interpret Geochemical DataCombining Portable XRF and Machine Learning to Interpret Geochemical Data
Introducing the WeldSight™ Remote Connect App for the OmniScan™ X3 Flaw DetectorIntroducing the WeldSight™ Remote Connect App for the OmniScan™ X3 Flaw Detector
INSPECTION 360: Learn about MXU 5.7 and WeldSight 1.3INSPECTION 360: Learn about MXU 5.7 and WeldSight 1.3
Olympus Stream™ Tutorial: Train a Neural NetworkOlympus Stream™ Tutorial: Train a Neural Network
What’s New with the OmniScan™ X3 Flaw Detector’s Software, MXU version 5.7, and OmniPC 5.7 SoftwareWhat’s New with the OmniScan™ X3 Flaw Detector’s Software, MXU version 5.7, and OmniPC 5.7 Software
See all +379

Infographics

EPOCH 6LT User Interface Quick GuideEPOCH 6LT User Interface Quick Guide
Vanta™ iX In-Line XRF AnalyzerVanta™ iX In-Line XRF Analyzer
How the Inspection Project Manager App Transforms Thickness Gauge Data ManagementHow the Inspection Project Manager App Transforms Thickness Gauge Data Management
How it Works: Full Matrix Capture (FMC) and the Total Focusing Method (TFM)How it Works: Full Matrix Capture (FMC) and the Total Focusing Method (TFM)
Phased Array Ultrasonic Testing (PAUT) Weld Flaw Characterization ChartPhased Array Ultrasonic Testing (PAUT) Weld Flaw Characterization Chart
Get Your Custom Phased Array ProbeGet Your Custom Phased Array Probe
See all +47

Вебинары

Automated ERW Process-Control Inspection Using PA and Conventional UT TechnologyAutomated ERW Process-Control Inspection Using PA and Conventional UT Technology
OLYMPUS Stream™ Software—A New Standard for Microscope Digital Imaging Workflow FlexibilityOLYMPUS Stream™ Software—A New Standard for Microscope Digital Imaging Workflow Flexibility
Olympus ECA Solutions DemoOlympus ECA Solutions Demo
Olympus HTHA-Optimized Probes and TechniquesOlympus HTHA-Optimized Probes and Techniques
Simplified Long Seam Scanning Solution—Demonstration of the AxSEAM ScannerSimplified Long Seam Scanning Solution—Demonstration of the AxSEAM Scanner
Demonstration of Essential Videoscope Features for Remote Visual Inspection (RVI)Demonstration of Essential Videoscope Features for Remote Visual Inspection (RVI)
See all +94

Учебные материалы

Контроль продольных сварных швов с помощью сканера AxSEAM™Контроль продольных сварных швов с помощью сканера AxSEAM™
Эффективное управление данными толщинометрии с помощью подключенного к облачному сервису толщиномераЭффективное управление данными толщинометрии с помощью подключенного к облачному сервису толщиномера
Use of the Total Focusing Method with the Envelope FeatureUse of the Total Focusing Method with the Envelope Feature
Фазированные фокусирующие призмы позволяют снизить процент отбраковки за счет улучшения разрешения при измерении размеров дефектовФазированные фокусирующие призмы позволяют снизить процент отбраковки за счет улучшения разрешения при измерении размеров дефектов
План режиме TFM с отображением карты акустического воздействия (AIM)План режиме TFM с отображением карты акустического воздействия (AIM)
A Fast, Safe Alternative for Weld InspectionsA Fast, Safe Alternative for Weld Inspections
See all +27

Учебные материалы

Ultrasonic Flaw Detection TutorialUltrasonic Flaw Detection Tutorial
Технология применения фазированных решеток — Вводный курсТехнология применения фазированных решеток — Вводный курс
Вводный курс по контролю вихретовокой матрицейВводный курс по контролю вихретовокой матрицей
Ultrasonic Thickness Gauge TutorialUltrasonic Thickness Gauge Tutorial
See all +0

Брошюры

DSX1000 Customized SolutionDSX1000 Customized Solution
Automated On-Belt Analysis with the Vanta™ iX In-Line XRF AnalyzerAutomated On-Belt Analysis with the Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer
Bar Inspection System— Eddy Current Array (BIS-ECA)Bar Inspection System— Eddy Current Array (BIS-ECA)
Цифровой микроскоп DSX1000 — Краткое руководство по началу работыЦифровой микроскоп DSX1000 — Краткое руководство по началу работы
Цифровой микроскоп DSX1000 — БрошюраЦифровой микроскоп DSX1000 — Брошюра
Flyer Visual Inspection Kits for Casting InspectionFlyer Visual Inspection Kits for Casting Inspection
See all +307

Решения

Petrochemical Pipe and Oil & Gas Pipeline Inspection SolutionsPetrochemical Pipe and Oil & Gas Pipeline Inspection Solutions
Vanta Metal Fabrication SolutionsVanta Metal Fabrication Solutions
Vessel Inspection SolutionsVessel Inspection Solutions
Metal Industry Inspection SolutionsMetal Industry Inspection Solutions
Aerospace Inspections SolutionsAerospace Inspections Solutions
Gas Turbine Inspection SolutionsGas Turbine Inspection Solutions
See all +27

Case Studies

Smooth Sailing with a Flaw Detector for Yacht Repair and SurveysSmooth Sailing with a Flaw Detector for Yacht Repair and Surveys
Taking Flight with an NDT Level III—Aircraft Inspection Using Eddy Current TestingTaking Flight with an NDT Level III—Aircraft Inspection Using Eddy Current Testing
Пример из практики: Оценка роста трещин в конструкциях при циклической нагрузке с использованием метода общей фокусировки (TFM)Пример из практики: Оценка роста трещин в конструкциях при циклической нагрузке с использованием метода общей фокусировки (TFM)
The 38DL PLUS™ Ultrasonic Thickness Gauge Is an Asset to Asset Reliability InspectionsThe 38DL PLUS™ Ultrasonic Thickness Gauge Is an Asset to Asset Reliability Inspections
Ruckus Composites Inspects Thousands of Bikes with One Ultrasonic Thickness GageRuckus Composites Inspects Thousands of Bikes with One Ultrasonic Thickness Gage
Artemis Testing Lab Identifies Authentic Artifacts Using XRF AnalysisArtemis Testing Lab Identifies Authentic Artifacts Using XRF Analysis
See all +8

Posters

Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
Understanding FMC and TFM TechnologiesUnderstanding FMC and TFM Technologies
NDT Probes Infographic PosterNDT Probes Infographic Poster
How Laser Scanning Confocal Microscopy Benefits 3D PrintingHow Laser Scanning Confocal Microscopy Benefits 3D Printing
Geochemical Analysis of Iron-Enriched Soil in Meherrin, VirginiaGeochemical Analysis of Iron-Enriched Soil in Meherrin, Virginia
Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)Understanding X-Ray Fluorescence (XRF)
See all +8

Books

Advanced Optical Metrology 06: CompositesAdvanced Optical Metrology 06: Composites
Phased Array Technology - Cutting Out the NoisePhased Array Technology - Cutting Out the Noise
Ultrasonic Flaw Detection TutorialUltrasonic Flaw Detection Tutorial
Advanced Optical Metrology 05: ElectronicsAdvanced Optical Metrology 05: Electronics
Advanced Optical Metrology 04: RoughnessAdvanced Optical Metrology 04: Roughness
Overcoming the Challenges of Metallographic Examination Using a Digital MicroscopeOvercoming the Challenges of Metallographic Examination Using a Digital Microscope
See all +10

Blog

Mud Logging with Portable XRD: Drilling into the Details with an ExpertMud Logging with Portable XRD: Drilling into the Details with an Expert
Rising to the Occasion: Inspecting Offshore Platform Risers Using Phased ArrayRising to the Occasion: Inspecting Offshore Platform Risers Using Phased Array
5 ловушек, которых следует избегать при выполнении TFM-контроля5 ловушек, которых следует избегать при выполнении TFM-контроля
2 Ways to Optimize the Thickness Measurement Workflow2 Ways to Optimize the Thickness Measurement Workflow
Give Your Wind Blade Inspection an Extra-Large Efficiency BoostGive Your Wind Blade Inspection an Extra-Large Efficiency Boost
Cause for Concern: Detecting Dangerous Mercury Levels in CosmeticsCause for Concern: Detecting Dangerous Mercury Levels in Cosmetics
See all +237
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10
  • 11
  • 12
  • »
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Обратная связь
  • Обратная связь
  • Посетите наш блог
  • Информационные ресурсы
    • Научные исследования
    • Аэрокосмическая промышленность
    • Автомобильная промышленность
    • Химическая промышленность
    • Электронное оборудование
    • Энергетика
    • Окружающая среда
    • Стекло / Керамика
    • Металл
    • Горное дело / Геология
    • Нефтегазовая промышленность
    • Пластик
    • Железная дорога
    • Безопасность
    • Специализированная продукция
  • Учебные материалы
    • Ультразвуковой контроль — Краткий обзор
    • Вводный курс по контролю вихретовокой матрицей
    • Технология применения фазированных решеток — Вводный курс
    • Руководство по толщиномерам
  • Часто задаваемые вопросы
    • Ультразвуковой контроль — Часто задаваемые вопросы
    • Преобразователи — Часто задаваемые вопросы
    • Микроскопы — Часто задаваемые вопросы
    • RollerFORM — Часто задаваемые вопросы
    • Сканер COBRA — Часто задаваемые вопросы
  • Инструкции по применению
    • Вихретоковый контроль
    • Фазированные решетки
    • Микроскопия
    • Оптические измерения
    • Ультразвуковая дефектоскопия и толщинометрия
    • Видеоэндоскопы
    • XRF / XRD
  • Подписаться на информационный бюллетень
Главная/ Ресурсы

Tutorials

Our tutorials provide comprehensive traning on a range of technologies. These trainings are in course format and feature interactive content. These tutorials make great training students or new hires. We also offer on-site classes. Contact your local rep if you’re interested.

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial

Ultrasonic Flaw Detection Tutorial

Ultrasonic flaw detection is a powerful NDT technology and a well established test method in many industries, however it can seem complex to a person who has not worked with it.

Phased Array Tutori

Phased Array Tutorial

This self-guided tutorial is a basic introduction to ultrasonic phased array testing, both for newcomers and for more experienced users who want a review of basic principles.

Eddy Current Array Tutori

Eddy Current Array Tutorial

Eddy current array (ECA) is a nondestructive testing technology that provides the ability to electronically drive multiple eddy current coils, which are placed side by side in the same probe assembly.

Thickness Gage Tutori

Ultrasonic Thickness Gauge Tutorial

This tutorial provides a basic introduction to the theory and practice of ultrasonic thickness gauging, for both newcomers and more experienced users who would like a review.

Печать

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting

You are being redirected to our local site.