曲面、微小エリアの分光反射率測定を実現！

これまでの分光測定機では測定できないレンズや微小な電子部品、薄肉試料も裏面反射光の影響を受けずに高速、高精度な分光反射率測定が可能です。

測定イメージ

曲面・微小領域の反射率測定が可能

対物レンズで試料面に微小スポット（ø60μm）を結ぶため、微細部品のレンズ曲面及びコーティングむらも測定可能です。

裏面反射光カットの原理

裏面からの反射光をカット

特殊光学系の採用により、裏面反射光をカット。
裏面の反射防止処理等を行うことなく、表面のみの反射率を正確に測定できます。

高速測定

フラットフィールドグレーティング及びラインセンサを用いて、同時に全波長を分光することで高速測定を実現。

XY色度図

物体色測定機能

分光反射率から分光測色法に基づき物体色測定ができます。
（XY色度図、L*a*b*色度図）

ソフトウェア

反射率グラフイメージ

反射率テキストデータイメージ

反射率測定機 USPM-RU III：仕様

* 本装置はトレーサビリティ体系に則った絶対精度を保証するものではありません。
* 特注扱いで測定波長440nm〜840nm仕様も対応できます。                                                                                                                                                                                                                                                    *「弊社より提供する顕微鏡コントローラー（PC）はWindow10のOSライセンスが認証済みとなりますので、Microsoft社のライセンス条項が適用され、当該条項に同意頂くことになります。Microsoft社のライセンス条項は以下をご参照ください」

https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_japanese.htm