Olympus Logo

Contáctenos Contáctenos

  • Productos▾
    • Soluciones para inspeccionar defectos y espesores▾
      • Detectores de defectos▾
        • Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
        • Equipos de ultrasonidos phased array
        • Equipos por corrientes de Foucault
        • Productos de corrientes de Foucault multielementos
        • Control de adherencia
      • Medidores de espesores portátiles▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Sondas (palpadores) y accesorios
      • Sondas▾
        • Sondas monoelemento y duales
        • Sondas de corrientes de Foucault
        • Probes for Tube Inspection
        • Sondas de ultrasonido multielemento (Phased Array)
        • BondMaster Probes
      • Sistemas de inspección automatizados▾
        • Wheel Inspection System
        • Soluciones para inspeccionar barras
        • Soluciones para inspeccionar tubos
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • Instrumentación para sistemas industriales de END▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Escáneres industriales▾
        • Escáneres de inspección para soldaduras
        • Escáneres de inspección para la corrosión
        • Escáneres para la inspección de componentes aeroespaciales y de aerogeneradores
        • Accesorios de escáneres
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analizadores XRF y XRD▾
      • Analizadores XRF portátiles▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analizadores XRF portátiles y compactos▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • Analizador GoldXpert
        • Xpert dedicado a la seguridad del consumidor y cumplimiento de la directiva RoHS
      • Analizadores XRF▾
        • Analizador FOX-IQ
      • Analizadores XRD▾
        • Analizador XRD portátil TERRA
        • Analizador XRD BTX de mesa
      • Soluciones OEM▾
        • X-STREAM
      • Soluciones clave para aplicaciones
      • Olympus Scientific Cloud
    • Soluciones de microscopia▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Microscopios láser confocales▾
        • OLS5100
      • Microscopios digitales
      • Microscopios de medición▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector de limpieza▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopios ópticos▾
        • Microscopios verticales
        • Microscopios invertidos
        • Microscopios modulares
      • Microscopios de inspección de semiconductores y pantallas planas▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Estereomicroscopios▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Cámaras digitales▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Software de análisis de imágenes▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Lentes de objetivo▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objetivos de interferometría de luz blanca
        • Micrometer
      • Componentes de microscopia para integración▾
        • Soluciones de integración de componentes
        • Lentes de objetivo
        • Estativos de microscopio óptico
        • Lente de tubo de amplio alcance
        • Módulos para microscopio óptico
        • Conjuntos de microscopio modulares
      • Preguntas frecuentes sobre los microscopios
    • Videoscopios y boroscopios ▾
      • Videoscopios▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Solución de sonda larga IPLEX
      • Fibroscopios▾
        • Fibroscopios de diámetro pequeño
      • Boroscopios rígidos▾
        • Boroscopios rígidos estandar
        • Boroscopios de prisma basculante
        • Boroscopios de prisma basculante con Zoom.
        • Mini-boroscopios Modulares MK
        • Boróscopios para motores aeronáuticos.
      • Fuentes de luz
      • Software de asistencia de inspección▾
        • InHelp
  • Industrias
  • Blog
  • Material didáctico
  • Servicios y asistencia▾
    • Contáctenos
    • Olympus Scientific Cloud
    • Escuelas de capacitación
    • Customer Service
    • Centros de servicio
    • Descarga de programas informáticos
    • Información acerca de los productos
    • Productos descatalogados y obsoletos
    • Product Service Termination List
    • Certificación ISO
    • Ficha de datos de seguridad (FDS)
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Custom Financing Solutions
  • Arrendamiento
  • Shop
  • Buscar
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Soluciones industriales
Soluciones de microscopia

USPM-RU III

ContáctenosContáctenos
Obtenga una cotizaciónObtenga una cotización
Pida su ejemplarPruébelo en su aplicaciónPida su ejemplarPruébelo en su aplicación
USPM-RUIII Micro Spectrophotome
Inicio/ Productos/ Micro Spectrophotometer/ USPM-RU III
Loading...
  • Descripción
  • Especificaciones
  • Material didáctico

Descripción

The USPM-RU III is a reflectometer that provides highly accurate spectral reflectivity measurements of small, curved, and thin samples without interference from rear surface-reflected light.
*This product is not available in all locations.

Measuring Image
Measuring Image

Measuring even minute areas

The curved surface of the lens can be measured from a minute spot as small as ø60 µm formed on the sample surface. This provides the ability to use a goniometer to examine even the curved side lenses or other optical component.


Principle of Eliminating Rear Surface Reflection
Principle of Eliminating Rear Surface Reflection

Reduces backside interference

Accurate measurement of surface reflectivity can be performed without the costly steps that are typically needed to prevent rear surface reflection. Rear surface-reflected light is reduced by means of special optics that block out all out of focus light reflection similar to a confocal system. Whether your optical component is spherical, aspherical or flat the USPM-RU III does not require sample prep through anti-reflection treatments


Fast Results

Quick, highly repeatable measurements can be achieved in seconds using a flat filed grating, line sensor and high -speed spectrophotometry.


XY Chromaticity
XY Chromaticity

X-Y Chromaticy Diagrams and L*A*B Measurement

Object color can be measured based on spectrophotometric colorimetry determined from the prismatic reflectivity.


Software

Reflectivity graph image
Reflectivity graph image
Reflectivity text data image
Reflectivity text data image

Especificaciones

Lens Spectral Reflectivity Measurement Device USPM-RU III: Specifications

Measurement wavelength 380nm - 780nm
Measurement method Comparison measurement using reference specimen
Sample N.A.* 0.12 (using 10x objective lens)
0.24 (using 20x objective lens)
* it differs from objective lens' N.A.
Sample W.D. 10.1 mm (using 10x objective lens)
3.1 mm (using 20x objective lens)
Sample curvature radius -1R - ∞, +1R - ∞
Sample measurement range Approximately ø60 µm (using 10x objective lens)
Approximately ø30 µm (using 20x objective lens)
Measurement repeatability (2σ) ±0.1 % and less (during 380 nm - 410 nm measurement)
±0.01 % and less (during 410 nm - 700 nm measurement)
Display resolution 1 nm
Measurement time A few secs-several secs (it differs from sampling time)
Light source Halogen lamp 12 V 100W
Z-direction movement range of the stage 85mm
PC interface USB
Weight Unit Approximately 20 kg
Power source for light source: Approximately 3 kg
Control box: Approximately 8 kg
External dimensions Unit: 300 (W) x 550 (D) x 570 (H) mm
Power source for light source: 150 (w) x 250 (D) x 140 (H) mm
Control box: 220 (W) x 250 (D) x 140 (H) mm
Power Source Power source for light source: 100 V (2.8A)/220 V AC
Control box: 100 V (0.2A)/220V AC
Environment for use Installed at the horizontal plane with no vibration
Temperature: 23 ±5°C
Humidity: 60% or less
An environment is not subject to air fluctuation

* Absolute accuracy complying with traceability system is not guaranteed.

Material didáctico

Catálogos

USPM-RUIII Micro Spectrophotome
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Contáctenos

Please, choose division
Suscríbase al boletín electrónico de noticias para estar al corriente de ofertas especiales, productos o aplicaciones nuevas.

  • ContáctenosContáctenos
  • Obtenga una cotizaciónObtenga una cotización
  • Pida su ejemplarPruébelo en su aplicaciónPida su ejemplarPruébelo en su aplicación
  • Contáctenos
  • Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
  • Analizadores XRF y XRD
  • Soluciones de microscopia
    • Scanning Probe Microscopy
    • Microscopios láser confocales
    • Microscopios digitales
    • Microscopios de medición
    • Inspector de limpieza
    • Microscopios ópticos
    • Microscopios de inspección de semiconductores y pantallas planas
    • Estereomicroscopios
    • Cámaras digitales
    • Software de análisis de imágenes
    • Micro Spectrophotometer
      • USPM-RU-W
      • USPM-RU III
    • Lentes de objetivo
    • Componentes de microscopia para integración
    • Preguntas frecuentes sobre los microscopios
  • Videoscopios y boroscopios
  • Suscríbase a los boletines de noticias
Inicio/ Productos/ Micro Spectrophotometer/ USPM-RU III
Imprimir

Copyright OLYMPUS CORPORATION, todos los derechos reservados.

Global | Condiciones de uso | Política de privacidad | Cookies | Acerca de nosotros | Portal de empleo | Portal de empleo | Mapa del sitio

Copyright OLYMPUS CORPORATION, todos los derechos reservados.

Global | Condiciones de uso | Política de privacidad | Cookies | Acerca de nosotros | Imprint | Portal de empleo | Portal de empleo | Mapa del sitio

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Este sitio web usa cookies para mejorar su rendimiento, analizar el tráfico y para fines de valoración de anuncios. Si no cambia la configuración de sus opciones web, las cookies seguirán siendo utilizadas por este sitio web. Para obtener más información sobre cómo usamos las cookies en este sitio web y cómo puede restringir nuestro uso de cookies, por favor revise nuestra política de cookies.

OK
Cancel