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Overview

LEXT OLS5100 3D-Laser-Scanning-Mikroskop

Laser-Mikroskop für die Materialanalyse

Hintergrund

Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.

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Vereinfachte Untersuchungen für die Werkstofftechnik und Fehleranalyse Der Smart Experiment Manager vereinfacht die Untersuchungsabläufe von 3D-Betrachtungen und Fehleranalysen im Submikrometerbereich, indem einst zeitaufwändige Aufgaben automatisiert werden. Automatische Erstellung von Untersuchungsplänen Automatische Übertragung der Daten in die Tabelle des Untersuchungsplans, was mögliche Eingabefehlern verringert Klare Visualisierungstools für Datentrendanalysen

Vereinfachte Untersuchungen für die Werkstofftechnik und Fehleranalyse

Der Smart Experiment Manager vereinfacht die Untersuchungsabläufe von 3D-Betrachtungen und Fehleranalysen im Submikrometerbereich, indem einst zeitaufwändige Aufgaben automatisiert werden.

Automatische Erstellung von Untersuchungsplänen
Automatische Übertragung der Daten in die Tabelle des Untersuchungsplans, was mögliche Eingabefehlern verringert
Klare Visualisierungstools für Datentrendanalysen

Garantierte Messgenauigkeit

LEXT Mikroskopobjektive liefern hochpräzise Messdaten. In Verbindung mit dem Smart Lens Advisor können Daten genau und zuverlässig erfasst werden.

Garantierte Messgenauigkeit*
Die bekannte Optik von Olympus reduziert die Aberration, um die korrekte Form der Probe im gesamten Sichtfeld zu erfassen
Smart Lens Advisor ermöglicht die Auswahl eines geeigneten Objektivs für die Messung der Oberflächenrauheit

^* Die Informationen, einschließlich der garantierten Genauigkeit, auf dieser Webseite basieren auf den von Olympus festgelegten Bedingungen.

Einfache Laser-Scanning-Mikroskopie Die Verwendung des Mikroskops ist für Bediener mit und ohne Erfahrung dank der intuitiven Software einfach. Einfachen Datenerfassung – Probe auf den Tisch legen und die Starttaste drücken Garantierte Messleistung je nach Betriebsumgebung

Einfache Laser-Scanning-Mikroskopie

Die Verwendung des Mikroskops ist für Bediener mit und ohne Erfahrung dank der intuitiven Software einfach.

Einfachen Datenerfassung – Probe auf den Tisch legen und die Starttaste drücken
Garantierte Messleistung je nach Betriebsumgebung

In der Broschüre

erfahren Sie mehr über das OLS5100 Laser-Mikroskop.

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Software

Vereinfachte Untersuchungen für die Werkstofftechnik und Fehleranalyse

Die Verwaltung der Untersuchungsbedingungen bei der Prüfung neuer Materialien ist kompliziert. Daher vereinfacht der Smart Experiment Manager des OLS5100 Laser-Mikroskops den Prozess mit automatischen Hauptschritten, wie die Erstellung des Untersuchungsplans.

Bis zu 30 % schnellere^* Durchführung von Messaufgaben
Die Daten werden während der Erfassung automatisch in den Prüfplan übertragen
Keine Zeitverschwendung mehr mit der Übertragung von Daten dank der Software

* Im Vergleich zu OLS5000

Tabelle einer werkstofftechnischen Untersuchung

Automatische Dateneingabe

Die Software überträgt die Werte automatisch in die Tabelle. So wird das Risiko von Eingabefehlern minimiert. Mit nur wenigen Klicks können Daten in eine Excel-Tabelle exportiert werden.

Einfache Datenverwaltung von Untersuchungsbedingen

Jede Zelle kann im Prüfplan angeklickt werden. Die Software generiert automatisch einen Dateinamen, der die Bewertungsbedingungen für eine einfache Rückverfolgung enthält. Jede Datei enthält die verknüpften Bilder und Daten.

Bedingungen einer werkstofftechnischen Untersuchung

Umfassende Datenerfassung

Das Mikroskop scannt die Proben gemäß einem von der Software erstellten Prüfplan. So wird verhindert, dass Daten übersehen werden oder Arbeiten wiederholt werden müssen.

Leichte Erkennung von Datenproblemen

Eine farbige Karte hilft bei der Interpretation der Untersuchungsdaten. So kann sichergestellt werden, dass keine Daten fehlen und keine Fehler vorliegen. Wenn Problemen auftreten, können diese früher im Prozess erkannt und behoben werden.

Datenvisualisierung einer werkstofftechnischen Untersuchung

Auswahl des richtigen Objektivs

Der Smart Lens Advisor unterstützt die Auswahl des richtigen Objektivs zur Messung der Oberflächenrauheit. Nach Eingabe von allgemeinen Informationen, wie Sehfeld und Objektiv, die verwendet werden sollen, gibt der Advisor die Eignung für die Anwendung an.

Einfache Datenerfassung

Bediener mit und ohne Erfahrung können mit der Smart Scan II Funktion schnell und einfach Daten erfassen. Es muss lediglich eine Probe auf den Tisch gelegt und die Starttaste gedrückt werden. Den Rest erledigt das Mikroskop.

Datenerfassung bei einer werkstofftechnischen Untersuchung

In der Broschüre

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Specifications

Haupteinheit

Modell		OLS5100-SAF	OLS5100-SMF	OLS5100-LAF	OLS5100-EAF
Gesamtvergrößerung		54x–17,280x
Sehfeld		16–5,120 µm
Messprinzip	Optisches System	Konfokales Laser-Scanning-Mikroskop mit Auflichtbeleuchtung Konfokales Laser-Scanning-DIC-Mikroskop mit Auflichtbeleuchtung Farbe Farb-DIC
Messprinzip	Detektor	Laser: Photomultiplier (2 Kanäle) Farbe: CMOS-Farbkamera
Höhenmessung	Anzeigeauflösung	0,5 nm
Höhenmessung	Dynamikbereich	16 Bit
Höhenmessung	Wiederholbarkeit σ_n-1^{1 2 *5}	5X: 0,45 μm, 10X: 0,1 μm, 20X: 0,03 μm, 50X: 0,012 μm, 100X: 0,012 μm
Höhenmessung	Genauigkeit ^{1 3 *5}	0,15+L/100 μm (L: Messlänge [μm])
Höhenmessung	Genauigkeit des zusammengefügten Bildes ^{1 3 *5}	10x: 5,0 + L/100 μm, 20x oder höher: 1,0 + L/100 μm (L: Stitching-Länge [μm])
Höhenmessung	Messrauschen (Sq noise) ^{1 4 *5}	1 nm (Typ)
Breitenmessung	Anzeigeauflösung	1 nm
Breitenmessung	Wiederholbarkeit 3σ_n-1 ^{1 2 *5}	5X: 0.4 μm, 10X: 0.2 μm, 20X: 0.05 μm, 50X: 0.04 μm, 100X: 0.02 μm
Breitenmessung	Genauigkeit ^{1 3 *5}	Messwert +/- 1,5 %
Breitenmessung	Genauigkeit des zusammengefügten Bildes ^{1 3 *5}	10X: 24 + 0,5L μm, 20X: 15 + 0,5L μm, 50X: 9 + 0,5L μm, 100X: 7 + 0,5L μm (L: Stitching-Länge [mm])
Maximale Anzahl der Messpunkte bei einer Einzelmessung		4096 Pixel × 4096 Pixel
Maximale Anzahl Messpunkte		36 Megapixel
XY-Tischkonfiguration	Längenmessmodul	•	—	—	•
XY-Tischkonfiguration	Arbeitsbereich	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 Zoll) Motorgesteuert	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 Zoll) Manuell	300 × 300 mm (11,8 × 11,8 Zoll) Motorgesteuert	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 Zoll) Motorgesteuert
Maximale Probenhöhe		100 × 100 mm (3,9 × 3,9 Zoll)	30 mm (1,2 Zoll)	30 mm (1,2 Zoll)	210 mm (8,3 Zoll)
Laser-Lichtquelle	Wellenlänge	405 nm
Laser-Lichtquelle	Maximale Leistung	0,95 mW
Laser-Lichtquelle	Laserklasse	Klasse 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)
Farblichtquelle		Weißlicht-LED
Elektrische Leistung		240 W	240 W	278 W	240 W
Masse	Mikroskopgehäuse	Ca. 31 kg	Ca. 32 kg	Ca. 50 kg	Ca. 43 kg
Masse	Steuereinheit	Ca. 12 kg

*1 Garantiert bei Verwendung bei konstanter Temperatur und in einer Umgebung mit konstanter Temperatur (Temperatur: 20 ˚C ± 1 ˚C, Luftfeuchtigkeit: 50 % ± 10 %), festgelegt in ISO554(1976), JIS Z-8703(1983).
*2 Für 20X oder höher bei Messung mit Objektiven der Serie MPLAPON LEXT.
*3 Bei Messung mit speziellem LEXT Objektiv.
*4 Typische Werte bei Messung mit dem MPLAPON100XLEXT Objektiv, können vom garantierten Wert abweichen.
*5 Garantiert gemäß dem Olympus Zertifizierungssystem.

** Die Betriebssystem-Lizenz für Windows 10 wurde für den von Olympus bereitgestellten Mikroskop-Controller zertifiziert. Daher gelten die Lizenzbedingungen von Microsoft, und Sie erklären sich mit den Bedingungen einverstanden. Im Folgenden finden Sie die Lizenzbedingungen von Microsoft.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm

Objektive

Serie	Modell	Numerische Apertur (NA)	Arbeitsabstand (WD) (mm)
UIS2-Objektiv	MPLFLN2.5x	0,08	10,7
UIS2-Objektiv	MPLFLN5x	0,15	20
Spezielles LEXT Objektiv (10X)	MPLFLN10xLEXT	0,3	10,4
Spezielles LEXT Objektiv (Hochleistungstyp)	MPLAPON20xLEXT	0,6	1
	MPLAPON50xLEXT	0,95	0,35
	MPLAPON100xLEXT	0,95	0,35
Spezielles LEXT Objektiv (mit langem Arbeitsabstand)	LMPLFLN20xLEXT	0,45	6,5
	LMPLFLN50xLEXT	0,6	5,2
	LMPLFLN100xLEXT	0,8	3,4
Objektiv mit sehr langem Arbeitsabstand	SLMPLN20x	0,25	25
	SLMPLN50x	0,35	18
	SLMPLN100x	0,6	7,6
LCD-Objektiv mit langem Arbeitsabstand	LCPLFLN20xLCD	0,45	8.3-7.4
	LCPLFLN50xLCD	0,7	3.0-2.2
	LCPLFLN100xLCD	0,85	1.2-0.9

Anwendungssoftware

Standard-Software	OLS51-BSW
Standard-Software	Anwendung Datenerfassung	Anwendung Analyse (einfache Analyse)
Anwendungspaket motorischer Tisch *1	OLS50-S-MSP
Anwendung erweiterte Analyse *2	OLS50-S-AA
Anwendung Messung der Foliendicke	OLS50-S-FT
Anwendung automatische Kantenmessung	OLS50-S-ED
Anwendung Partikelanalyse	OLS50-S-PA
Anwendung allgemeiner Untersuchungsassistent	OLS51-S-ETA
Anwendung Analyse von Kugeln/Zylindern/Oberflächenwinkeln	OLS50-S-SA

*1 Einschließlich der Funktionen Datenerfassung mit Auto-Stitching und Datenerfassung in mehreren Bereichen.
*2 Einschließlich Profilanalyse, Differenzanalyse, Analyse der Stufenhöhe, Oberflächenanalyse, Flächen- und Volumenanalyse, Analyse der Linienrauheit, Analyse der Flächenrauheit und Histogrammanalyse.