Olympus Logo

Kontakt Kontakt

  • Produkte▾
    • ZfP-Lösungen▾
      • Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte▾
        • Ultraschallprüfgeräte
        • Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
        • Wirbelstromgeräte
        • Wirbelstrom-Array-Geräte
        • Bindungsprüfung
      • Dickenmesser▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Schallköpfe und Zubehör
      • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren▾
        • Ultraschallköpfe
        • Wirbelstromsonden
        • Sensoren für die Röhrenprüfung
        • Phased-Array-Sensoren
        • BondMaster Probes
      • Automatisierte Prüfsysteme▾
        • Prüfsystem für Eisenbahnräder
        • Lösungen für die Stabprüfung
        • Lösungen für die Rohrprüfung
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • ZfP-Systemkomponenten▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung▾
        • Scanner zur Schweißnahtprüfung
        • Scanner zur Korrosionsprüfung
        • Scanner zur Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
        • Scanner-Zubehör
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD▾
      • RFA-Handanalysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element Analysator
        • DELTA Professional
      • Kompakte und portable RFA-Analysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Mobiler RFA-Tischanalysator Xpert für Verbrauchersicherheit gemäß RoHS-Richtlinien
      • Online RFA-Analysatoren▾
        • Vanta iX
      • XRD-Analysatoren▾
        • Portabler TERRA II XRD-Analysator
        • BTX III XRD-Tischanalysator
      • OEM-Lösungen▾
        • X-STREAM
      • Anwendungen und Lösungen
      • Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskop-Lösungen▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Konfokale Lasermikroskope▾
        • OLS5100
      • Digitale Mikroskope
      • Messmikroskope▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector Serie für technische Sauberkeit▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Lichtmikroskope▾
        • Aufrechte Mikroskope
        • Inversmikroskope
        • Modular aufgebaute Mikroskope
      • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen▾
        • MX63 / MX63L
        • Al120
        • AL120-12
      • Stereomikroskope▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitalkameras▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • Bildanalysesoftware▾
        • OLYMPUS Stream
      • Mikro-Spektrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektive▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
        • Mikrometer
      • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten▾
        • Lösungen zur Geräteintegration
        • Objektive
        • Mikroskopstative
        • Superweitwinkel-Tubuslinse
        • Mikroskopmodule
        • Modulare Mikroskope
      • Microscope FAQ
    • Videoskope und Endoskope▾
      • Videoskopsysteme▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Sehr lange IPLEX Videoskopeinführungsteile
      • Glasfaser-Endoskope▾
        • Fiberskope mit geringem Durchmesser
      • Starre Industrie-Endoskope▾
        • Starre Standard-Endoskope
        • Schwenkprisma Endoskope
        • Zoom-Schwenkprisma Endoskope
        • MK modulares Mini-Endoskop
        • Endoskope für Triebwerke
      • Lichtquellen
      • Inspektions-Assistenz-Software▾
        • InHelp
  • Industriezweige
  • Learn
  • Blog
  • Multimedia
  • Servicebereich▾
    • Kontakt
    • Kundenservice
    • XRF and XRD Technical Support
    • Servicecenter
    • Kundenspezifische Finanzierungslösungen
    • Same Day Shipping Program
    • Olympus Scientific Cloud
    • Software-Downloads
    • ISO-Zertifizierungen
    • MSDS-Datenblätter
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Produktinformation
    • Product Service Termination List
    • Auslaufmodelle und veraltete Produkte
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Shop
  • Suche
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Lösungen für die Industrie
InSight Blog
Startseite/ Blog
Ideen einreichen
Search Results
Back to all posts
Weld inspector engineer planning his weld inspection using blueprints of the process piping in a pharmaceutical plant

Tips to Ease Your Code-Compliant Visual Inspection Imaging Recording and Reporting

By Masakazu Wada - 22 April, 2021
Portable XRF and XRD analysis

Portable XRF and XRD Analysis Applications from A to Z

By Michelle Wright - 20 April, 2021
Handheld XRF accessories

Unboxing the Vanta™ XRF Analyzer: What Accessories Come in the Kit?

By Michelle Wright - 15 April, 2021
Aerial view construction engineers working at construction site

Improving the Efficiency of Quality Assurance Teams through Microscope Inspections

By Kristopher Lee - 13 April, 2021
Pharmaceutical plant employee wearing personal protective equipment (PPE) checking the readouts on processing equipment with a stainless steel processing pipe in the foreground

3 Ways to Maintain Pristine Pipe Welds in Pharmaceutical Plants Using RVI

By Hafees Fraisada - 8 April, 2021
Handheld XRF analysis of radioactive contamination at Chernobyl

Handheld XRF Measures Radioactive Contamination at Chernobyl for Research and Cleanup

By Michelle Wright - 6 April, 2021
The role of women in NDT or women in NDE is the focus of the gender diversity paper. This paper also covers nde 4.0, the ndt industry in general and women in STEM.

Role of Women in the Pursuit of NDE 4.0

22 März, 2021
Limestone analysis with pXRF and pXRD analyzers

Advantages of Limestone Analysis with pXRF and pXRD Analyzers

By Howard Yu - 11 März, 2021
Aircraft inspection using eddy current testing

Taking Flight with an NDT Level III—Aircraft Inspection Using Eddy Current Testing

By Betsy Kenaston - 9 März, 2021
Olympus AxSEAM long seam pipe scanner set up on a half-pipe standard with a longitudinal weld and an OmniScan X3 phased array flaw detector with full matrix capture (FMC) total focusing method (TFM) capabilities.

A Powerful, Portable Pipe-Inspection Duo: the AxSEAM™ Scanner and OmniScan™ X3 Flaw Detector—A Customer Review

By Sarah Williams - 4 März, 2021
pXRF for soil analysis

Soil Research Using pXRF Reveals the Ancient Human Impact on Landscape Development

By Michelle Wright - 2 März, 2021
Pharmaceutical plant worker inspecting a gauge on a medicine processing tank as part of drug manufacturing process

Keeping an Eye on Contamination in the Pharmaceutical Processing Line

By Hafees Fraisada - 25 Februar, 2021
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5
  • 6
  • 7
  • 8
  • 9
  • 10
  • 11
  • 12
  • »
  • InSight Blog AnmeldungInSight Blog Anmeldung
Teilen
x
Stichwortsuche
Beliebte Themen
Thickness Gage Ultrasonic Automotive XRF XRD Metal Manufacturing Inspection Service Industrial Microscopes Mining & Geology Environment RVI Conventional Ultrasound Vanta Academic Research Aerospace Energy Infrastructure Medical Devices Oil & Gas Security & Defense Electronics OmniScan Phased Array Eddy Current Cleanliness Inspection Flaw Detection IPLEX Digital Microscope Safety Handheld XRF
Autoren
Masakazu Wada
Marketing Specialist, Remote Visual Inspection
Michelle Wright
Marketing Specialist, Analytical Instruments
Kristopher Lee
Manager, Marketing Communications
Hafees Fraisada
Product Marketing Manager, EMEA
Show all authors
Blog Posts By Date
InSight Blog Sign-up
You will be unable to submit the form unless you turn your javascript on.
Are you sure you want to submit this form?

By clicking subscribe you are agreeing to our privacy policy which can be found here.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Kontakt
  • Newsletter abonnieren
Startseite/ Blog
Drucken

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | | Über uns | Careers | Careers | Sitemap

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | | Über uns | Imprint | Careers | Careers | Sitemap

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting...

You are being redirected to our local site.