Olympus Logo

Kontakt Kontakt

  • Produkte▾
    • ZfP-Lösungen▾
      • Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte▾
        • Ultraschallprüfgeräte
        • Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
        • Wirbelstromgeräte
        • Wirbelstrom-Array-Geräte
        • Bindungsprüfung
      • Dickenmesser▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Schallköpfe und Zubehör
      • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren▾
        • Ultraschallköpfe
        • Wirbelstromsonden
        • Sensoren für die Röhrenprüfung
        • Phased-Array-Sensoren
        • BondMaster Probes
      • Automatisierte Prüfsysteme▾
        • Prüfsystem für Eisenbahnräder
        • Lösungen für die Stabprüfung
        • Lösungen für die Rohrprüfung
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • ZfP-Systemkomponenten▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung▾
        • Scanner zur Schweißnahtprüfung
        • Scanner für die Korrosionsprüfung
        • Scanner für die Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
        • Scanner-Zubehör
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD▾
      • RFA-Handanalysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Kompakte und portable RFA-Analysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert für Verbrauchersicherheit und RoHS
      • Online RFA-Analysatoren▾
        • FOX-IQ
      • XRD-Analysatoren▾
        • Portabler TERRA XRD-Analysator
        • BTX XRD-Tischanalysator
      • OEM-Lösungen▾
        • X-STREAM
      • Anwendungsmöglichkeiten
      • Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskop-Lösungen▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Konfokale Lasermikroskope▾
        • OLS5100
      • Digitale Mikroskope
      • Messmikroskope▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector Serie für technische Sauberkeit▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Lichtmikroskope▾
        • Aufrechte Mikroskope
        • Inversmikroskope
        • Modular aufgebaute Mikroskope
      • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen▾
        • MX63 / MX63L
        • Al120
        • AL120-12
      • Stereomikroskope▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitalkameras▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Bildanalysesoftware▾
        • OLYMPUS Stream
      • Mikro-Spektrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektive▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
        • Mikrometer
      • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten▾
        • Lösungen zur Geräteintegration
        • Objektive
        • Mikroskopstative
        • Superweitwinkel-Tubuslinse
        • Mikroskopmodule
        • Modulare Mikroskope
      • Microscope FAQ
    • Videoskope und Endoskope▾
      • Videoskopsysteme▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Sehr lange IPLEX Videoskopeinführungsteile
      • Glasfaser-Endoskope▾
        • Fiberskope mit geringem Durchmesser
      • Starre Industrie-Endoskope▾
        • Starre Standard-Endoskope
        • Schwenkprisma Endoskope
        • Zoom-Schwenkprisma Endoskope
        • MK modulares Mini-Endoskop
        • Endoskope für Triebwerke
      • Lichtquellen
      • Inspektions-Assistenz-Software▾
        • InHelp
  • Industriezweige
  • Blog
  • Multimedia
  • Servicebereich▾
    • Kontakt
    • Olympus Scientific Cloud
    • Training Academy
    • Customer Service
    • Servicecenter
    • Softwaredownloads
    • Produktinformation
    • Auslaufmodelle und veraltete Produkte
    • Product Service Termination List
    • ISO-Zertifikation
    • MSDS-Datenblätter
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Custom Financing Solutions
  • Rentals
  • Shop
  • Suche
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Lösungen für die Industrie

Scanner für die Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern

Startseite/ Produkte/ ZfP-Lösungen/ Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung/ Scan…

RollerFORM Sensor

Der RollerFORM Phased-Array-Sensor, der speziell zur Vereinfachung einer tauchtechnikartigen, hochwertigen Ultraschallprüfung von Verbundwerkstoffen (CFK) entwickelt wurde. Der RollerFORM Sensor bietet einen kostengünstigen Ersatz zu einem kompletten 2D-Weggebersystem und eine praktische Alternative zur Tauchtechnik.

Produkt sehen

Mini-Wheel Weggeber

Der Mini-Wheel Weggeber wird zur Lokalisierung und Größenbestimmung von Fehlern entlang der Scan-Achse eingesetzt. Er synchronisiert die Datenerfassung mit der Sensorbewegung. Er ist zudem wasserfest und mit den Standard Olympus PA-Vorlaufkeilen kompatibel.

Produkt sehen

GLIDER Scanner

Die GLIDER Scanner sind Weggeber-Scanner mit 2 Achsen (X-Y) zur manuellen Prüfung von leicht gekrümmten oder flachen Oberflächen von Verbundwerkstoffen. Der von Saugfüßen gehaltene Scanner eignet sich besonders für den Raster-Scan. Technologien: ECA, EC, UT, PA.

Produkt sehen

VersaMOUSE-Scanner

Der VersaMOUSE Scanner ist für die lineare codierte Prüfung und einem Phased-Array-Sensor. Dank des integrierten Taktgeberknopfes eignet er sich für 2D-Aufzeichnungen, wie bei der Prüfung von CFK-Platten und der Korrosionsprüfung. Der VersaMOUSE Scanner kann Einzeilen-Scans auf einer Wegachse durchführen und dann die Position in lotrechter Richtung übersetzen. Ein anderer Einzeilen-Scan folgt dem vorherigen Scan. Dies wird wiederholt, um eine vollständige 2D-Darstellung des Prüfbereichs zu erstellen.

Produkt sehen

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Kontakt
  • ZfP-Lösungen
    • Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte
    • Dickenmesser
    • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren
    • Automatisierte Prüfsysteme
    • ZfP-Systemkomponenten
    • Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung
      • Scanner zur Schweißnahtprüfung
      • Scanner für die Korrosionsprüfung
      • Scanner für die Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
        • RollerFORM
        • Mini-Wheel
        • GLIDER
        • VersaMOUSE
      • Scanner-Zubehör
    • Olympus Scientific Cloud
  • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD
  • Mikroskop-Lösungen
  • Videoskope und Endoskope
  • Newsletter abonnieren
Startseite/ Produkte/ ZfP-Lösungen/ Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung/ Scan…
Drucken

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Careers | Careers | Sitemap

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Imprint | Careers | Careers | Sitemap

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Diese Seite verwendet Cookies, um die Leistung zu verbessern, Datenverkehr zu analysieren und Werbeanzeigen zu personalisieren. Wenn Sie Ihre Browser-Einstellungen nicht ändern, werden weiterhin Cookies auf dieser Webseite verwendet. Um zu erfahren wie Cookies auf dieser Webseite verwendet werden und wie Sie unsere Verwendung von Cookies beschränken, lesen Sie unsere Cookie-Richtlinie.

OK
Cancel