Olympus Logo

Kontakt Kontakt

  • Produkte▾
    • ZfP-Lösungen▾
      • Prüfgeräte▾
        • Ultraschallprüfgeräte
        • Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
        • Wirbelstromgeräte
        • Wirbelstrom-Array-Geräte
        • Bindungsprüfung
      • Handprüfgeräte für die Dickenmessung▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Schallköpfe und Zubehör
      • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren▾
        • Ultraschallköpfe
        • Wirbelstromsonden
        • Sensoren für die Röhrenprüfung
        • Phased-Array-Sensoren
        • BondMaster Probes
      • Integrierte Prüfsysteme
▾
        • Wheel Inspection System
        • Lösungen für die Stabprüfung
        • Lösungen für die Rohrprüfung
      • ZfP-Anlagenkomponenten▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Industriescanner▾
        • Scanner zur Schweißnahtprüfung
        • Scanner für die Korrosionsprüfung
        • Scanner für die Prüfung in der Luft- und Raumfahrt
        • Scanner-Zubehör
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD▾
      • RFA-Handanalysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Kompakte und portable RFA-Analysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert für Verbrauchersicherheit und RoHS
      • Online RFA-Analysatoren▾
        • FOX-IQ
      • XRD-Analysatoren▾
        • Portabler TERRA XRD-Analysator
        • BTX XRD-Tischanalysator
      • OEM-Lösungen▾
        • X-STREAM
      • Anwendungsmöglichkeiten
      • Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskop-Lösungen▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Konfokale Lasermikroskope▾
        • OLS5000
      • Digitale Mikroskope
      • Messmikroskope▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector Serie für technische Sauberkeit▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Lichtmikroskope▾
        • Aufrechte Mikroskope
        • Inversmikroskope
        • Modular aufgebaute Mikroskope
      • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen▾
        • MX63 / MX63L
        • Al120
        • AL120-12
      • Stereomikroskope▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitalkameras▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Bildanalysesoftware▾
        • OLYMPUS Stream
      • Mikro-Spektrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektive▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
        • Mikrometer
      • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten▾
        • Lösungen zur Geräteintegration
        • Objektive
        • Mikroskopstative
        • Superweitwinkel-Tubuslinse
        • Mikroskopmodule
        • Modulare Mikroskope
      • Microscope FAQ
    • Industrie-Endoskope, Borescope
▾
      • Videoskopsysteme▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • Sehr lange IPLEX Videoskopeinführungsteile
      • Fiberskope (flexibel)▾
        • Fiberskope mit geringem Durchmesser
      • Starre Industrie-Endoskope▾
        • Starre Standard Boreskope
        • Schwenkprisma Boreskopepe
        • Zoom-Schwenkprisma Boreskope
        • MK modulares Mini-Boreskop
        • Triebwerks Boreskope
      • Lichtquellen
      • Inspektions-Assistenz-Software▾
        • InHelp
  • Industriezweige
  • Blog
  • Multimedia
  • Servicebereich▾
    • Kontakt
    • Olympus Scientific Cloud
    • Training Academy
    • Customer Service
    • Servicecenter
    • Softwaredownloads
    • Produktinformation
    • Auslaufmodelle und veraltete Produkte
    • Product Service Termination List
    • ISO-Zertifikation
    • MSDS-Datenblätter
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Rentals
  • Shop
  • Suche
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Lösungen für die Industrie

Konfokale Lasermikroskope

Startseite/ Produkte/ Konfokale Lasermikroskope

Die konfokalen Lasermikroskope von Olympus bieten eine hervorragende Bildqualität und genaue 3D-Messungen durch zerstörungsfreie Kontrastverfahren mit einem erweiterten optischen System. Die Bedienung ist einfach ohne Probenaufbereitung.

LEXT OLS5000

Mit dem konfokalen LEXT OLS5000 Laser-Scanning-Mikroskop können Sie auf einfachste Weise berührungslose und zerstörungsfreie 3D-Prüfungen und Messungen vornehmen. Durch einfaches Anklicken der Startschaltfläche lassen sich feinste Formen im Submikrometerbereich messen. Die Kombination aus Bedienerfreundlichkeit und zukunftsweisenden Funktionen sorgt für eine viermal schnellere Prüfgeschwindigkeit als bei unserem Vorgängermodell. LEXT Objektive mit langem Arbeitsabstand und Erweiterungsstativ-Option erlauben die Prüfung von bis zu 210 mm großen Objekten.

Produkt sehen

LEXT OLS4500

LEXT OLS4500 is Nano Search Microscope which is combined a laser microscope and scanning probe microscope (SPM) in the same instrument to allow observation and measurement over a wide range of magnifications (from around 50x up to 1,000,000x)

Produkt sehen

Zusätzliche Softwarelösungen

Die Bildanalysesoftware von Olympus erweitert die Leistungsfähigkeit der konfokalen Opto-Digital- und Lasermikroskope von Olympus, da sie zusätzliche erweiterte Materiallösungen für Ihre Analyse- und Prüfanforderungen bereitstellt.

OLYMPUS Stream

OLYMPUS Stream image analysis software offers fast, efficient inspection workflows for all process steps for image acquisition, quantitative measurements and image analysis, reporting, and advanced materials science inspections tasks.

Produkt sehen

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Kontakt
  • ZfP-Lösungen
  • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD
  • Mikroskop-Lösungen
    • Scanning Probe Microscopy
    • Konfokale Lasermikroskope
      • OLS5000
    • Digitale Mikroskope
    • Messmikroskope
    • Inspector Serie für technische Sauberkeit
    • Lichtmikroskope
    • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen
    • Stereomikroskope
    • Digitalkameras
    • Bildanalysesoftware
    • Mikro-Spektrophotometer
    • Objektive
    • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten
    • Microscope FAQ
  • Industrie-Endoskope, Borescope

  • Newsletter abonnieren


Surface Roughness Measurement Portal

Startseite/ Produkte/ Konfokale Lasermikroskope
Drucken

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Careers | Careers | Sitemap

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Imprint | Careers | Careers | Sitemap

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Diese Seite verwendet Cookies, um die Leistung zu verbessern, Datenverkehr zu analysieren und Werbeanzeigen zu personalisieren. Wenn Sie Ihre Browser-Einstellungen nicht ändern, werden weiterhin Cookies auf dieser Webseite verwendet. Um zu erfahren wie Cookies auf dieser Webseite verwendet werden und wie Sie unsere Verwendung von Cookies beschränken, lesen Sie unsere Cookie-Richtlinie.

OK
Cancel