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Oberflächenprofil der Lichtleiterplatte für LCDs / Berührungslose 3D-Formmessung mit einem Lasermikroskop


Anwendungsbereich

Spezialfolien werden in einem optischen System zu einer Einheit laminiert, damit Flüssigkristallanzeigen (LCDs) gleichmäßig hell leuchten. Bei kleinen Displays lenkt eine Lichtleiterplatte das Licht durch das Display. Das Licht aus einer Lichtquelle, z. B. von LEDs an der Kante eines Displays, wird von der Lichtleiterplatte gestreut sowie wiederholt reflektiert, so dass es die Vorderseite der Lichtleiterplatte ausleuchtet. Die Dichte der Oberflächenunregelmäßigkeiten auf der Lichtleiterplatte ist so gewählt, dass die Streuung des Lichts mit zunehmender Entfernung von der Lichtquelle zunimmt. Das von der Lichtleiterplatte abgestrahlte Licht wird durch eine Diffusorplatte gleichförmig gemacht. Anschließend wird das Licht durch die Prismenplatte gesammelt, verstärkt und durch das TFT-Panel geleitet. Die Bewertung des Oberflächenprofils bzw. der Rauheit der Lichtleiterplatte erleichtert es, eine gleichmäßige Helligkeit bei LCD-Displays zu gewährleisten.

Die Lösung von Olympus

Mit dem LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT von Olympus können der Verjüngungswinkel der Lichtleiterplatte und die Dichte bzw. Höhe der Erhebungen und Vertiefungen mit hoher Auflösung und Wiedergabetreue gemessen werden. Dank dedizierter Objektive mit hoher numerischer Apertur und dem modernen optischen System, das optimal an die Eigenschaften des 405-nm-Lasers angepasst wurde, kann das LEXT Mikroskop LEXT das Profil unregelmäßiger, zuvor nicht erkennbarer Flanken erfassen, dreidimensionale Daten zuverlässiger erkennen und die Qualität von Lichtleiterplatten sicherstellen.

Dreidimensionales Oberflächenprofil einer Lichtleiterplatte

3D-Oberflächenprofil einer Lichtleiterpplatte

100X-Objektiv; 1x Zoom

Olympus IMS

Verwendete Produkte

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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