Evident LogoOlympus Logo
Informationsmaterialien
Anwendungsbeispiele
Zurück zur Datenbank

Vermessung von Perforationen an einer Pappschachtel


Formmessung im Mikrometerbereich mit Lasermikroskop

Pappschachtel mit Reißverschluss

Pappschachtel mit „Reißverschluss“

1. Anwendung

Lebensmittel werden oft in Pappschachteln verpackt. Viele dieser Schachteln haben im Öffnungsbereich Perforationen, die als „Reißverschluss“ bezeichnet werden. Nach dem Ziehen des „Reißverschlusses“ lässt sich die Schachtel entlang der Perforation leicht öffnen, sodass auf den Inhalt zugegriffen werden kann. Damit sich der Reißverschluss problemlos öffnen lässt, muss sichergestellt werden, dass Tiefe und Winkel der Perforationen stimmen. 

2. Die Lösung von Olympus

Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von Olympus kombiniert mehrere Bilder des konfokalen optischen Systems und ermöglicht so die Beobachtung hochpräziser 3D-Formen selbst bei sehr tiefen Perforationen. Dank spezieller Objektive mit hoher numerischer Apertur und einem speziellen optischen System, das seine maximale Leistung mit dem 405-nm-Halbleiterlaser erzielt, kann das LEXT Mikroskop das Profil einer steilen Neigung klar erfassen. Da das LEXT Mikroskop auch ein optisches Mikroskop ist, können Anwender gleichzeitig sowohl 3D- als auch Farbbilder aufnehmen; die Farbinformationen der Pappschachtel können auf die Perforation überlagert werden, um den visuellen Effekt zu verstärken. Die mit dem LEXT Mikroskop erzielten Messergebnisse können auch zur Anpassung der Abmessungen des Schnittmessers verwendet werden, das für die Arbeiten verwendet wird, sodass Produkte hergestellt werden können, die sich leicht öffnen lassen und verbraucherfreundlich sind.


Bilder

(1) Probe 1
 

Packaging material with a cut_F


(2) Probe 2
 

Packaging material with a cut_L
 


(3) Probe 3

Packaging material with a cut_N

 

Olympus IMS

Verwendete Produkte

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Sorry, this page is not available in your country