Descripción general
Microscopio de escaneo láser 3D LEXT™ OLS5100
Microscopio láser para analizar materiales
Un proceso inteligente para experimentos más rápidos
Desarrollado para análisis de defectos e investigaciones de ingeniería de materiales, el microscopio láser OLS5100 combina una fiabilidad de medición y un rendimiento óptico excepcionales, enriquecidos por herramientas inteligentes que facilitan el uso del microscopio. Mida la geometría y la rugosidad superficial de un material a una escala submicrométrica, contando con la rapidez y eficiencia necesaria para simplificar su proceso de trabajo y obtener datos en los cuales confiar.
Visualizar el video
Experimentos más fáciles en la ingeniería de materiales y análisis de defectosLa función «Smart Experiment Manager» simplifica los procesos de trabajo experimentales destinados al análisis de defectos y la observación 3D submicrónica mediante una automatización de tareas que antes requerían mucho tiempo.
|
Fiabilidad de medición garantizada
Los objetivos del microscopio LEXT proporcionan datos de medición de alta fiabilidad. Y, en combinación con el asistente «Smart Lens Advisor», usted podrá adquirir datos precisos en los cuales confiar.
- Obtenga una fiabilidad de medición garantizada*.
- Reduzca la aberración gracias a los reconocidos dispositivos ópticos de Olympus para capturar la forma correcta de su muestra a través de todo el campo de visión.
- Use el asistente «Smart Lens Advisor» para seleccionar el objetivo apropiado a fin de medir la rugosidad.

Facilidad en la microscopía de escaneo láserUsar el microscopio LEXT™ OLS5100 es fácil tanto para los principiantes como para los expertos debido a su software que ha sido desarrollado concienzudamente para todo tipo de usuario.
|

Software
Una gestión sencilla para experimentos de ingeniería de materiales y análisis de defectos
Manejar las condiciones experimentales cuando se analizan nuevos materiales es complejo; no obstante, la función «Smart Experiment Manager» del microscopio láser OLS5100 simplifica dicha tarea al automatizar los pasos clave, como en la creación del plan experimental.
- Complete sus tareas de medición hasta en un 30 % más rápido*.
- Su plan de escaneo puede compilarse automáticamente a medida que los datos son adquiridos.
- No pierda tiempo transcribiendo datos, el software hace esta tarea por usted.
*Comparación con el OLS5000
Sencilla organización de datos sobre las condiciones experimentales
Al hacer clic en cada celda del plan experimental, el software generará automáticamente un nombre de archivo que incorpora las condiciones de evaluación para facilitar el mantenimiento de registros. Cada archivo contiene las imágenes y los datos asociados.

Problemas de datos fácilmente detectables
Un mapa de codificación cromática le ayudará a comprender los datos de su experimento y a verificar que no hayan omisiones o errores. De existir un problema, es posible encontrarlo y solucionarlo en una etapa temprana del proceso.

Obtenga la lente de objetivo apropiada
El asistente «Smart Lens Advisor» ayuda a seleccionar la lente de objetivo más apropiada en función de su aplicación de medición de rugosidad superficial. Introduzca información básica (p. ej., el campo de visión y la lente que desea usar), y el asistente lo guiará sobre qué es lo más conveniente para su aplicación.
Fácil adquisición de datos
Tanto los usuarios experimentados como los principiantes pueden adquirir datos de forma rápida y fácil con la función Smart Scan II. Tan sólo coloque la muestra en la platina, presione el botón de inicio y el microscopio hará el resto.


Especificaciones
Unidad principal
Modelo | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | ||
---|---|---|---|---|---|---|
Magnificación total | De 54x a 17.280x | |||||
Campo de visión | De 16 µm a 5,120 µm | |||||
Principio de medida | Sistema óptico |
Microscopio láser confocal: escaneo láser de tipo reflexión
Microscopio DIC confocal: escaneo láser de tipo reflexión Color Color - Contraste de interferencia diferencial (DIC) | ||||
Principio de medida | Elemento receptor de luz |
Láser: Fotomultiplicador (2 canales)
Color: Cámara en colores CMOS | ||||
Medición de altura | Resolución de pantalla | 0,5 nm | ||||
Medición de altura | Rango dinámico | 16 bits | ||||
Medición de altura | Repetibilidad de σn-1*1 *2 *5 | 5X: 0,45 μm; 10X: 0,1 μm; 20X: 0,03 μm; 50X: 0,012 μm; 100X: 0,012 μm | ||||
Medición de altura | Precisión *1 *3 *5 | 0,15+L/100μm (L: Longitud de medida [μm]) | ||||
Medición de altura | Precisión para imágenes de tipo mosaico *1 *3 *5 | 10X: 5,0+L/100 μm; 20X o superior: 1,0+L/100 μm. L: Longitud de unión [μm] | ||||
Medición de altura | Ruido de medición (ruido Sq) *1 *4 *5 | 1 nm (tipo) | ||||
Medición de ancho | Resolución de pantalla | 1 nm | ||||
Medición de ancho | Repetibilidad de 3σn-1 *1 *2 *5 | 5X: 0.4 μm, 10X: 0.2 μm, 20X: 0.05 μm, 50X: 0.04 μm, 100X: 0.02 μm | ||||
Medición de ancho | Precisión *1 *3 *5 | Valor de medida de +/- 1,5 % | ||||
Medición de ancho | Precisión para imágenes de tipo mosaico *1 *3 *5 | 10X: 24+0,5L μm; 20X: 15+0,5L μm; 50X: 9+0,5L μm; 100X: 7+0,5L μm. L: Longitud de unión [mm] | ||||
Cantidad máxima de puntos de datos en una sola medición | 4096 × 4096 píxeles | |||||
Número máximo de puntos de medición | 36 megapíxeles | |||||
Configuración de platina XY | Módulo de medición de longitud | • | A. N. | A. N. | • | |
Configuración de platina XY | Rango de funcionamiento | 100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pulg.) Motorizado | 100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pulg.) Manual | 300 × 300 mm (11,8 × 11,8 pulg.) Motorizado | 100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pulg.) Motorizado | |
Altura máxima de muestra | 100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pulg.) | 30 mm (1,2 pulg.) | 30 mm (1,2 pulg.) | 210 mm (8,3 pulg.) | ||
Fuente de luz láser | Longitud de onda | 405 nm | ||||
Fuente de luz láser | Salida máxima | 0,95 mW | ||||
Fuente de luz láser | Clase de láser | Clase 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) | ||||
Fuente de luz en color | LED blanco | |||||
Potencia eléctrica | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | ||
Masa | Cuerpo del microscopio | Aprox. 31 kg (68,3 lb) | Aprox. 32 kg (70,5 lb) | Aprox. 50 kg (110,2 lb) | Aprox. 43 kg (94,8 lb) | |
Masa | Caja de control | Aprox. 12 kg (26,5 lb) |
*1 Función garantizada al ser usada bajo condiciones de temperatura y temperatura ambiente constantes (temperatura: 20˚C ± 1˚C, humedad: 50 % ± 10 %) conforme con las normas ISO554 (1976) y JIS Z-8703(1983).
*2 Para 20x o más cuando se mide con los objetivos de la serie MPLAPON LEXT.
*3 Al ser medido con los objetivos destinados al LEXT.
*4 Valor típico cuando se mide con el objetivo MPLAPON100XLEXT. Puede diferir del valor garantizado.
*5 Garantizado por el Sistema de certificación de Olympus.
** La licencia OS de Windows 10 ha sido certificada para el controlador del microscopio proporcionado por Olympus. Por lo tanto, las condiciones de la licencia de Microsoft se aplican y usted las acepta. Consulte a continuación las condiciones de la licencia de Microsoft.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm
Objetivos
Series | Modelo | Apertura numérica (A. N.) | Distancia de trabajo (D. T.) [mm] |
---|---|---|---|
Lente de objetivo UIS2 | MPLFLN2.5x | 0,08 | 10,7 |
MPLFLN5x | 0,15 | 20 | |
Lente de objetivo LEXT específica (10X) | MPLFLN10xLEXT | 0,3 | 10,4 |
Lente de objetivo LEXT específica (tipo de alto rendimiento) | MPLAPON20xLEXT | 0,6 | 1 |
MPLAPON50xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
MPLAPON100xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
Lente de objetivo LEXT específica (tipo de larga distancia de trabajo) | LMPLFLN20xLEXT | 0,45 | 6,5 |
LMPLFLN50xLEXT | 0,6 | 5.2 | |
LMPLFLN100xLEXT | 0,8 | 3,4 | |
Lente de distancia de trabajo súper larga | SLMPLN20x | 0,25 | 25 |
SLMPLN50x | 0,35 | 18 | |
SLMPLN100x | 0,6 | 7,6 | |
Larga distancia de trabajo para lente LCD | LCPLFLN20xLCD | 0,45 | 8.3-7.4 |
LCPLFLN50xLCD | 0,7 | 3.0-2.2 | |
LCPLFLN100xLCD | 0,85 | 1.2-0.9 |
Programa de aplicaciones
Software de serie | OLS51-BSW | |||
---|---|---|---|---|
Funciones informáticas de serie | Aplicación de adquisición de datos | Aplicación de análisis (análisis simple) | ||
Aplicación para el paquete de platina motorizada*1 | OLS50-S-MSP | |||
Aplicación de análisis avanzado*2 | OLS50-S-AA | |||
Aplicación de medición de espesor de película | OLS50-S-FT | |||
Aplicación de medición automática de perfiles | OLS50-S-ED | |||
Aplicación de análisis de partículas | OLS50-S-PA | |||
Aplicación de asistencia experimental completa | OLS51-S-ETA | |||
Aplicación de análisis de ángulo superficial de cilindro/esfera | OLS50-S-SA |
*1 Incluye la función de adquisición de datos de aplicación automática de mosaico y la función de adquisición de datos multiárea.
*2 Incluye Análisis de perfil, Análisis de diferencia, Análisis de altura de paso, Análisis de superficie, Análisis de área/volumen, Análisis de rugosidad de línea, Análisis de rugosidad de área y Análisis de histograma.
Microscopios láser Olympus

Ejemplo de configuración de OLS5100-SAF
OLS5100-SAF
| ||
OLS5100-EAF
| ||
OLS5100-SMF
| ||
OLS5100-LAF
|