Überblick
Vereinfachen Sie den Arbeitsablauf von Prüfungen
Die OLYMPUS Stream Software bietet intelligente Schritt-für-Schritt-Arbeitsabläufe für die Aufnahme scharfer, klarer Bilder für quantitative Messungen und die Berichterstellung in Übereinstimmung mit den aktuellen Normen. Anwender mit unterschiedlichster Erfahrung können komplexe Bildanalyseaufgaben ausführen, von der Bildaufnahme bis zur Erstellung von normenkonformen Berichten – unter allen denkbaren Bedingungen für die Bildgebung.
Konzipiert für die flexible Anwendung, bietet die Software ein breites Spektrum an Funktionen, die für schnelle, präzise Prüfungen einer Vielzahl von Proben erforderlich sind und gleichzeitig die Sicherheit und Zuverlässigkeit der Daten wahren. Mit optionalen Lösungen kann die OLYMPUS Stream Software an die jeweilige Anwendung, wie zum Beispiel Qualitätsanalyse, Forschung und Entwicklung, Prozessentwicklung und Qualitätskontrolle, angepasst werden.
Testen Sie OLYMPUS Stream 30 Tage lang kostenlos.
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Anwenderfreundliche Benutzerschnittstelle und Schritt-für-Schritt-Anleitung
Smarte Technologien für gestochen scharfe Bilder
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Zeit sparen bei mehrfach wiederholten Aufgaben
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Konzipiert für Hardware von Olympus
Nahtlose Integration mit Olympus Lichtmikroskopen
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Kompatibel mit den meisten Olympus Digitalkameras
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Spezielle Mikroskopieverfahren
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Software-Lösungen für anspruchsvolle Prüfaufgaben
Moderne Bildgebungslösungen
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Software-Lösungen für die Metallographie (Metall- und Gießereiindustrie)
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Software-Lösungen für den Maschinenbau (Automobil- und metallverarbeitende Industrie)
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Software-Lösungen für die Elektronik (Elektronik- und Halbleiterindustrie)
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Software-Lösungen für Oberflächenbeschichtungen und dünne Filmüberzüge (Beschichtungsindustrie)
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Intelligente Technologie
Schritt-für-Schritt-Anleitung
Die dynamische Benutzeroberfläche hilft, Desktop-Wirrwarr und Verwechslungen zu reduzieren: Es werden nur die Werkzeuge und Funktionen angezeigt, die Sie benutzen möchten. Die Benutzeroberfläche führt Sie durch alle Schritte des Prozesses, von der Bildaufnahme über die Bildverarbeitung bis hin zur Berichterstellung. Mit den intuitiven Werkzeugen der Software können sowohl einfache als komplexe Messungen durchgeführt werden.
Smarte Technologien für gestochen scharfe Bilder
![]() | Befinden Sie sich häufig in den folgenden Situationen?
Die OLYMPUS Stream Software ist die Lösung. |
Einfache Layouts
Die durchdachten Layouts der Software umfassen den zur Durchführung einer Aufgabe erforderlichen Mindestsatz an Funktionen. Vereinfachte Layouts tragen zur Straffung des Arbeitsablaufs der Prüfung bei und führen den Anwender durch den Prüfprozess.
Bildaufnahme: Erfassen Sie Ihr Bild mit nur einem Mausklick
Werkzeuge für Live-Bilder
Bestimmung der Porengröße mit digitalen Fadenkreuzen in Echtzeit (Querschnitt durch ein Druckguss-Werkstück) | Die Software unterstützt Live-Bildfunktionen für sofortiges Feedback. Die Software ermöglicht die Interaktion mit dem Live-Bild, das automatisch kalibriert wird, und die Durchführung quantitativer Messungen. |
Quick Panorama (Schnelles Panorma) und Extended Depth of Focus (Größere Schärfentiefe)
Schnelles Erstellen von Probenbildern, die über den Standard-Schärfentiefebereich oder das Standardsehfeld hinausgehen. Mit der Funktion Instant-EFI Extended Focus Image) lassen sich unter Nutzung der Fein-Fokussierung mehrere auf verschiedenen Z-Ebenen aufgenommene Bilder zu einem einzelnen kombinierten, durchgehend scharfen Gesamtbild zusammenfassen. Instant-MIA (Multiple Image Alignment) erleichtert die Aufnahme von Panoramabildern: Der XY-Tisch wird softwaregesteuert bewegt; ein motorisierter Tisch ist nicht länger erforderlich.
Instant-EFI-Bild eines Kristalls: Selbst in Bildbereichen mit niedrigem Kontrast wird ein vollständig scharfgestelltes Bild erstellt.
Instant-MIA-Bild einer Münze
Bildeinstellungen wiederaufrufen
Bereits verwendete Kameraeinstellungen können zur Aufnahme wiederholbarer Bilder mit gleichbleibendem Erscheinungsbild schnell wiederaufgerufen werden. Bei Einsatz eines motorisierten Mikroskops können mithilfe dieser Funktion zuvor verwendete Hardware-Einstellungen erneut genutzt werden. Wird ein Mikroskop der Serien BX, GX oder MX verwendet, führt die Software durch die Schritte, die zum manuellen Aufrufen der Einstellungen erforderlich sind.
Bedienschritt | Bediener A | Bediener B |
Verschiedene Bediener verwenden verschiedene Einstellungen | ||
Einfaches Bestätigen der korrekten Einstellungen | ||
Synchronisieren der Mikroskopeinstellungen | ||
Trotz verschiedener Bediener bleiben die Einstellungen dieselben |
Software-Lösung 3D
Oberflächenanalyse mittels 3D-Profilometrie | Mit dieser Software-Lösung können aus automatisch oder manuell aufgenommenen Bilderstapeln mit verschiedenen Z-Positionen Höhenkarten erstellt werden. Die resultierenden Bilder können mithilfe der Oberflächenansicht dreidimensional dargestellt werden. An den Bildern lassen sich Messungen, zum Beispiel von 3D-Profilen und Höhenunterschieden zwischen zwei oder mehreren Punkten durchführen, und die Ergebnisse können in Arbeitsmappen und Microsoft Excel Arbeitsblätter exportiert werden. |
Zeit sparen
Sind Ihnen die folgenden Probleme schon einmal begegnet?
Bildaufnahme
- Ich möchte wiederholt und effizient Bilder von größeren Bereichen aufnehmen.
Messung
- Ich kann mir nicht merken, in welcher Reihenfolge die Funktionen ausgeführt werden müssen.
- Ich benötige quantitative Informationen über meine Probe.
Gemeinsame Nutzung
- Ich möchte einen Bericht schnell erstellen und bearbeiten.
- Ich möchte das Bild mit seiner entsprechenden Vergrößerung darstellen.
- Ich muss einen Bericht erstellen, der den Anforderungen meines Kunden entspricht.
- Ich muss meinen Bericht mit einem anderen Bild und neuen Messwerten aktualisieren.
Die OLYMPUS Stream Software ist die Lösung.
Angeleitete Bedienung für spezielle Analysen
Bei der Bildanalyse führt Sie die Software in der richtigen Reihenfolge durch die Funktionen, Methoden, die den wichtigsten internationalen Normen entsprechen, eingeschlossen. Die Verwendung eines motorisierten Tisches beschleunigt über die Ausrichtungsfunktion die Arbeit an verschiedenen Positionen der Probe. Auf der Registerkarte Lösungen finden Sie weitere Informationen über die Software-Lösung für Werkstoffe.
Automatische Kalibrierung
![]() | Bei der automatischen Kalibrierungsfunktion wird ein Standardmikrometer zur Kalibrierung des Mikroskops verwendet. Anschließend wird automatisch ein Kalibrierungsbericht erstellt. So wird die durch unterschiedliche Anwender bedingte Variabilität bei der Kalibrierung ausgeschlossen, was zu verlässlicheren Messungen führt. |
Automatische Prüfwerkzeuge
Die automatischen Werkzeuge der Software erstellen einen sehr umfangreichen Datensatz in wenigen Minuten. Durch die automatische Vergrößerungskalibrierung mithilfe eines kalibrierten Gitternetzes wird gewährleistet, dass die Bilder mit dem richtigen Maßstabsbalken angezeigt und die Messungen bestätigt werden. Bei Verwendung von motorisierten XYZ-Tischen können große Bereiche automatisch dargestellt werden, was die Aufnahme von hochauflösenden Bildern großer Probenbereiche ermöglicht.
Scharfes und kontrastreiches MIA-Bild des Musters eines integrierten Schaltkreises (IC) (Dunkelfeldbeleuchtung mit 20x Objektiv)
Quantitative Informationen, auf die es ankommt
Mit den Software-Werkzeugen lassen sich quantitative Informationen über die Probe gewinnen. Interaktive Messungen an Live- und Standbildern liefern die grundlegenden Informationen zu Länge, Fläche und Durchmesser eines Merkmals, und die Resultate sind im Bild direkt sichtbar.
Erweiterte interaktive Messfunktionen wie der Zauberstab und komplexe polygonale Formen ermöglichen die halbautomatische Messung von Flächen, während die Software-Lösung zum Zählen und Messen den Zugriff auf mehr als hundert einzelne Partikelparameter für die quantitative Analyse auf der Grundlage des Schwellenwertverfahrens bietet.
Basismessung (Supraleiter) | Zauberstab (Supraleiter) | Objekterkennung (Supraleiter) |
Effiziente Berichterstellung
Oft dauert die Erstellung eines Berichts länger als die Bildaufnahme und die Messungen selbst. Die Software bietet Werkzeuge für die wiederholte Erstellung informativer und detaillierter Berichte auf der Grundlage vorformulierter Vorlagen. Die Bearbeitung ist einfach und die fertigen Berichte können in Microsoft Word oder PowerPoint exportiert werden Darüber hinaus ermöglicht die Berichtfunktion der Software das digitale Zoomen und Vergrößern von aufgenommenen Bildern. Die Berichtdateien sind nicht übermäßig groß und lassen sich daher leicht per E-Mail versenden.
Professioneller Bericht mit einer Zusammenfassung von Partikelzählungsdaten
Ihr System
Individualisieren Sie Ihr Softwarepaket
Die für Mikroskope von Olympus entwickelte Software OLYMPUS Stream ist ein leistungsstarkes und benutzerfreundliches Messwerkzeug. Bei Verwendung der UIS2-Objektive von Olympus mit einem konventionellen Mikroskop müssen die optischen Parameter nicht manuell erfasst werden. Auch eine Vergrößerungskalibrierung ist nicht erforderlich, wenn Bilder von unseren Mikroskopen der DSX- und LEXT-Serie importiert werden. Die Software ist in verschiedenen Paketen für Einsteiger und Fortgeschrittene erhältlich.
OLYMPUS Stream Softwarepakete
Die OLYMPUS Stream Software ist in vier Paketen mit unterschiedlichen Funktionen erhältlich – Start, Basic, Essentials und Motion.
Zur Straffung sich wiederholender Analyseaufgaben können anwendungsspezifische Module der Software-Lösung für Werkstoffe hinzugefügt werden. Vertreter von Olympus können Sie bei der Auswahl des für Sie geeigneten Pakets beraten.
Nahtlose Integration mit den meisten Lichtmikroskopen von Olympus
Steuerung von aufrechten Mikroskopen
![]() BX53M Mikroskop- und Softwaresystem | Das Mikroskop BX53M arbeitet mit codierten Funktionen, durch die die Integration der Hardware-Einstellungen des Mikroskops mit der OLYMPUS Stream Software möglich ist. Das Mikroskopieverfahren, die Beleuchtungsintensität und die Objektivposition werden von der Software und/oder vom Handgerät aufgezeichnet. Die Mikroskopeinstellungen können automatisch mit jedem Bild zusammen gespeichert werden, was die Reproduktion der Einstellungen zu einem späteren Zeitpunkt und ihre Dokumentation für die Berichterstellung erleichtert. |
Steuerung von Invers-Mikroskopen
GX53 Mikroskop- und Softwaresystem |
Unsere Digitalkameras bieten eine hochauflösende Ansicht und schnelle Bildübertragung, und unsere Software umfasst alle für die aktuellen komplexen Anforderungen der Metallurgie erforderlichen Werkzeuge.
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Steuerung von Halbleiter-Mikroskopen
Integriertes Mikroskop- und Softwaresystem | Wir bieten mehrere Software-Plattformen an, die sich in unsere Halbleitermikroskop-Stative integrieren lassen und mit denen sich alle motorisierten Funktionen, einschließlich der Digitalkamera und des motorisierten Tisches, steuern lassen. Alle Benutzeroberflächen sind für einfache Prüfung und Kontrolle, erweiterte Bildanalyse oder wiederholte Inspektionen am Standort und Defektprüfungen konzipiert. |
Steuerung von Stereomikroskopen
SZX16 Mikroskop- und Softwaresystem | Der motorisierte Fokustrieb unserer Stereomikroskope ermöglicht effiziente und vollautomatische digitale Dokumentation mit Extended Focal Imaging (EFI). Es können sogar Pseudo-3D-Bilder erstellt werden. Die Software bietet Werkzeuge für unterschiedlichste Aufgaben von einfachen 2D-Messungen bis hin zu komplexen Phasenanalysen und unterstützt eine Vielzahl von Arbeitsabläufen wie Beobachtung, Berichterstellung, Datenbankerstellung und Archivierung. |
Höhere Leistungsfähigkeit für Olympus Konfokal- und Digitalmikroskope
Die OLYMPUS Stream Software kann zusammen mit allen Digitalmikroskopen der DSX-Serie und dem LEXT 3D Laser-Scanning-Mikroskop für die Nachbearbeitung (Stream Desktop) verwendet werden.
LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop | Digitalmikroskope der DSX-Serie |
Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop ansehen
DSX Digitalmikroskope ansehen
Unterstützt die meisten Olympus Digitalkameras
Auflösung und Farbtreue
Die rauscharmen, hochaufgelösten Bilder eines 9-Megapixel-Sensors machen es möglich, tief in die Probe hineinzuzoomen und ihre Strukturen sichtbar zu machen (Sandstein) | Mit der hervorragenden räumlichen Auflösung in Kombination mit einer hohen Pixelzahl lässt sich die volle optische Auflösung der Objektive nutzen. Strukturen und Details der kleinsten Proben können dargestellt werden, selbst bei Verwendung von Objektiven mit geringer Vergrößerung. Dank der hochauflösenden Bilder können Benutzer Beobachtungen ausschließlich am Bildschirm vornehmen und somit auf die Nutzung von Okularen verzichten. |
Mit Infrarot (IR) mehr erkennen
Hellfeldbild 5X, aufgenommen mit der DP23M Monochromkamera
| Der IR-Bildgebungsmodus ist ein Basiswerkzeug für die Qualitätskontrolle und F&E-Labors. Der IR-Modus ermöglicht eine zerstörungsfreie Prüfung durch Siliziumschichten von verpackten Produkten im letzten Schritt der Fertigung. |
Spezielle Mikroskopieverfahren für die Materialforschung
HDR-Bildgebung für stärkeren Kontrast
Die HDR-Bildgebung (High Dynamic Range) verbessert den Bildkontrast bei schwierigen Bedingungen (sehr helle und sehr dunkle Bereiche im selben Bild). In diesem Modus können alle Kameras verwendet werden, welche die OLYMPUS Stream-Software unterstützen, außerdem Spezialkameras mit einem verfügbaren Live-Modus.
Klare Darstellung sowohl der dunklen wie auch der hellen Teile dank HDR (Probe: Kraftstoffeinspritzkolben) | Kontrastverstärkung durch HDR (Probe: Schliffe von Magnesit) |
MIX-Beleuchtung zur Darstellung der Oberflächenstruktur einer Probe
Die Software unterstützt MIX-Beleuchtung
Bei dieser Beleuchtungstechnik werden gerichtete Dunkelfeldbeleuchtung – mit einem LED-Ring zur Beleuchtung eines oder mehrerer Quadranten zu einem gegebenen Zeitpunkt – und das Hellfeld-, Fluoreszenz- oder Polarisationsverfahren kombiniert. Dies ermöglicht das Hervorheben von Defekten und die Unterscheidung zwischen erhabenen Flächen und Vertiefungen, die mit herkömmlichen Mikroskopen meist schwer zu erkennen sind. Die MIX-Beleuchtung reduziert den Lichthof einer Probe und eignet sich zur Visualisierung der Oberflächentextur einer Probe.
Herkömmlich: Bei der Hellfeldbeleuchtung strahlt das Licht senkrecht auf die Probe ein. Bei der herkömmlichen Dunkelfeldbeleuchtung werden Kratzer und Unregelmäßigkeiten an einer flachen Oberfläche durch Beleuchtung von der Seite des Objektivs her deutlich dargestellt. | Erweiterte Methode: MIX-Beleuchtung ist eine Kombination aus Hellfeld und gerichteter Dunkelfeldbeleuchtung mit einem LED-Ring. Die LED können zur Auswahl der Beleuchtungsrichtung unterschiedlich angesteuert werden. |
Lösungen
Lösungen für anspruchsvolle Prüfaufgaben
Industrielabore benötigen für Standardarbeitsabläufe in der Regel wiederholbare und reproduzierbare Ergebnisse. Die OLYMPUS Stream Software erleichtert Prüfung, Messung und Analyse mithilfe eines einfachen und zuverlässigen Arbeitsablaufs. Die Software bietet eine Vielzahl von Werkzeugen für verschiedene materialwissenschaftliche Analysen, die Ergebnisse liefern, auf die Sie sich verlassen können.
OLYMPUS Industriemikroskope unterstützen Lösungen für metallurgische Analysen
Software-Lösung zum Zählen und Messen
Die Software-Lösung zum Zählen und Messen nutzt modernste Schwellenwertverfahren, um Merkmale wie Partikel und Kratzer zuverlässig vom Hintergrund zu unterscheiden. Mehr als 50 verschiedene Objektmess- und -klassifizierungsparameter stehen zur Verfügung, darunter Form, Größe, Position und Pixeleigenschaften.
Herkömmliche Software | Geätztes Stahl-Mikrogefüge | OLYMPUS Stream |
Ergebnisse der Kornklassifizierung
Effiziente Analyse
Beispiel für die Einstellung des Makro-Managers für die Funktion zum Zählen und Messen | Mit dem Makro-Manager können komplexe Messaufgaben programmiert und anschließend mit einem einzigen Klick ausgeführt werden. |
Leistungsstarke Bildfilter
Kontrastverstärkung mit dem DCE-Filter (Dendrit in Aluminiumguss) | Die Software bietet eine Vielzahl nützlicher Filter für Kantenerkennung, Glättung und andere Zwecke. |
TruAI Deep-Learning-Technologie
Bei der Bildsegmentierung mit herkömmlichen Schwellenwertverfahren anhand der Helligkeit oder Farbe können wichtige Informationen oder Ziele in den Proben übersehen werden. Die OLYMPUS Stream TruAI Lösung bietet mit der Deep-Learning-Technologie einen genaueren Segmentierungsansatz, der eine reproduzierbare und robuste Analyse ermöglicht, einschließlich Instanzsegmentierung zur Zerlegung eines Bilds in einzelne Instanzen eines Objekts.
- Intuitive Benutzeroberfläche zur effizienten Beschriftung von Bildern und zum Trainieren robuster Modelle mit hervorragenden Generalisierungseigenschaften
- Vortrainierte Netze können bei zukünftigen Analysen für eine ähnliche Anwendung verwendet werden.
- Die Bildsegmentierung mit Deep-Learning ist für diverse materialwissenschaftliche Anwendungen nützlich, darunter die Metallanalyse, die Qualitätskontrolle von Halbleitern und die Mineralogie.
Weitere Informationen über TruAI Deep-Learning

Originalbild einer Braunkohlenflugasche (links) mit OLYMPUS Stream/PRECiV, Bildsegmentierung mit herkömmlichen Schwellwertverfahren (rechts).

Originalbild einer Braunkohlenflugasche (links) in OLYMPUS Stream/PRECiV, Deep Learning Bildsegmentierung (rechts).
Dreidimensionale Messung und Linienprofile
Die OLYMPUS Stream 3D-Lösung bietet eine codierte, motorgesteuerte Z-Steuerung und sofortige EFI mit Höhenkartierung zur Vermessung einer dreidimensionalen Probe.
3D-Oberflächenansicht (Testprobe für Oberflächenrauheit) | Einzelansicht und 3D-Profilmessung |
Lösungen für die Metallographie
Metallographische Analysen werden in der Materialentwicklung, der Eingangsprüfung, der Produktions- und Fertigungskontrolle und der Fehleranalyse eingesetzt.
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Software-Lösungen für den Maschinenbau (Automobil- und metallverarbeitende Industrie)
Damit hochwertige Teile produziert werden können, werden Kratzer, Risse, Porengröße und Kontaminationen während des Herstellungsprozesses streng überwacht.
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Software-Lösungen für die Elektronik (Elektronik- und Halbleiterindustrie)
Für Leiterplatinen werden sehr dünne Platten beschichtet. Ein wichtiger Schritt bei der Kontrolle der Produktqualität ist die Überprüfung der Homogenität dieser Beschichtung.
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Software-Lösungen für Oberflächenbeschichtungen und dünne Filmüberzüge (Beschichtungsindustrie)
Oberflächenbeschichtungen sind beliebige Gemische aus filmbildenden Materialien, die Farbpigmente, Lösemittel und weitere Zusätze enthalten. Sie werden auf eine Oberfläche aufgetragen, gehärtet oder getrocknet und ergeben einen dünnen Film, der eine Funktion erfüllt oder dekorativen Zwecken dient.
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Kundenspezifische Workflow-Lösungen
Unser Customizing-Team entwickelt in der OLYMPUS Stream Software individuelle Arbeitsabläufe für spezifische Anwendungsszenarien. Die Software-Bedienung wird auf Ihre Anforderungen abgestimmt, sodass Sie Herausforderungen schnell lösen und Ihre Ziele bei mikroskopischen Prüfungen in der Industrie erreichen können. Weitere Informationen über Lösungen für individuelle Arbeitsabläufe |
Materials Solutions für jeden Zweck
Lösungen | Beschreibung |
Grain Intercept (Korngrößenbestimmung, Linienschnittverfahren) |
Stahlhersteller verwenden diese Software-Lösung zur Messung und Kontrolle der Korngröße nach dem Schneiden, Polieren oder Ätzen von Stahlproben.
Diese Funktion basiert auf der Überlagerung von „Testlinien“ und dem Auszählen der Schnittpunkte mit den Korngrenzen. |
Grain Planimetric (Korngrößenbestimmung, planimetrisch) |
Stahlhersteller verwenden diese Software-Lösung zur Messung und Kontrolle der Korngröße nach dem Schneiden, Polieren oder Ätzen von Stahlproben.
Mit dieser Funktion lassen sich Grenzen für jedes Korn rekonstruieren und es lässt sich die Korngrößen mit dem Flächenprozentanteil der zweiten Phase bestimmen. |
Non-Metallic Inclusions (Nichtmetallische Einschlüsse) | Stahlhersteller verwenden diese Software-Lösung zur Messung und Kontrolle der Form und Größe nichtmetallischer Einschlüsse (Oxid, Aluminiumoxid, Sulfid oder Silikat) in Stahl. |
Cast Iron (Gusseisen) | Diese Software-Lösung wird von Metallgussherstellern verwendet, welche die Kugelgrafitbildung in Metallguss bestimmen und kontrollieren müssen, um die mechanischen Eigenschaften ihrer Gussprodukte zu prüfen. |
Chart Comparison (Richtreihenvergleich) | Ein Live- oder Standbild wird zu Vergleichszwecken einem Standarddiagramm überlagert. Es steht eine Funktionsvorschau zur Verfügung. |
Dendrite Arm Spacing (Dendritenarmabstand) | Mit dieser Lösung wird der mittlere Dendritenarmabstand in Aluminiumguss manuell oder automatisch bestimmt. |
Layer Thickness (Schichtdicke) | Mit der Lösung zur Bestimmung der Schichtdicke können eine oder mehrere Schichten eines Probenquerschnitts gemessen werden. Die Formen werden definiert und die Schichten automatisch gemessen. |
Coating Thickness (Beschichtungsdicke) | Diese Software-Lösung erlaubt die Messung der Beschichtungsdicke an Aufsichtbildern mit dem Calotest. |
Automatische Messungen | Mit dieser Software-Lösung lassen sich auf Kantenerkennung basierende Messungen in einem Live-Bild mit Mustererkennung durchführen. |
Throwing Power (Streufähigkeit) | Mit dieser Software-Lösung wird die Verteilung der Kupferschichtdicke in Durchgangsbohrungen oder Mikrobohrungen gemessen. |
Porosity (Porosität) | Diese Software-Lösung ermöglicht entweder die Messung des Flächenanteils von Poren oder der Anzahl der Oberflächenporen mithilfe von ROIs (kreisförmig, dreieckig, rechteckig und polygonal) und Schwellenwerten. |
Particle Distribution (Partikelverteilung) | Diese Software-Lösung wird zur Erstellung von Histogrammen und Tabellen zur Partikelgrößenverteilung aus mehreren Bildern oder Bilderserien verwendet. |
Erweiterte Phasenanalyse | Diese Software-Lösung bietet eine neue integrierte Lösung für Phasenanalysen an einer Auswahl verschiedener Bereiche von Interess (ROIs) wie Dreiecke, Kreise, Rechtecke und Polygone. |
Lösungen | Metall/Guss | Automobilindustrie | Glas/Keramik | Beschichtung | Verbrauchsgüter | Elektronische Geräte |
Grain Intercept (Korngrößenbestimmung, Linienschnittverfahren) | ■ | ■ | ■ | |||
Grain Planimetric (Korngrößenbestimmung, planimetrisch) | ■ | ■ | ■ | |||
Einschlüsse, schlechtestes Feld | ■ | ■ | ■ | |||
Cast Iron (Gusseisen) | ■ | ■ | ■ | |||
Chart Comparison (Richtreihenvergleich) | ■ | ■ | ■ | |||
Layer Thickness (Schichtdicke) | ■ | |||||
Coating Thickness (Beschichtungsdicke) | ■ | |||||
Automatic Measurements (Automatische Messungen) | ■ | ■ | ||||
Throwing Power (Streufähigkeit) | ■ | ■ | ||||
Porosity (Porosität) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Particle Distribution (Partikelverteilung) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Erweiterte Phasenanalyse | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Lösungen |
Halb-
leiter | Flüssigkeiten und Öle |
Bearbeitete
Teile |
Kohlenstoff/
Verbundwerkstoffe |
Chemikalien/
Kunststoff/ Gummi |
Industrielle
wissenschaftliche Forschung |
Grain Intercept (Korngrößenbestimmung, Linienschnittverfahren) | ■ | ■ | ■ | |||
Grain Planimetric (Korngrößenbestimmung, planimetrisch) | ■ | ■ | ■ | |||
Einschlüsse, schlechtestes Feld | ■ | ■ | ■ | |||
Cast Iron (Gusseisen) | ■ | ■ | ■ | |||
Chart Comparison (Richtreihenvergleich) | ■ | ■ | ■ | |||
Layer Thickness (Schichtdicke) | ■ | ■ | ||||
Coating Thickness (Beschichtungsdicke) | ■ | |||||
Automatic Measurements (Automatische Messungen) | ||||||
Throwing Power (Streufähigkeit) | ||||||
Porosity (Porosität) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Particle Distribution (Partikelverteilung) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Advanced Phase Analysis (Erweiterte Phasenanalyse) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Spezifikationen
Spezifikationen der Hauptlizenzen
■: Standard □: Optional | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
Bildaufnahme | Einfache Bildaufnahme, einschließlich HDR und automatische Kalibrierung der Vergrößerung sowie Live-HDR*1 und Positionsnavigation*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Software-Autofokus*2 und Videoaufnahme (AVI-Format) | ■ | ■ | ■ | |||
Zeitraffer, Instant EFI und Instant/manuelles MIA*3 | □ | ■ | ■ | |||
Motorgesteuerte EFI-/MIA- und Z-Stapel-Erfassung | □ | □ | ■ | |||
Bild- und Anpassungswerkzeuge | Anzeige einfacher Werkzeuge (Bildverlauf, Eigenschaften, Navigator, Galerieanzeige)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Anmerkungen, Ebenenverwaltung, Maßstabsleiste, Fadenkreuz, Infostempelanzeige und Bildfilter | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Digitales Fadenkreuz/Raster, Linienprofilanzeige, Meine Funktion, Layoutmanagement und Macro Manager | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
Messungen/Bildanalyse | Einfache interaktive Messung (Abstand, Winkel, Rechtecke, Kreise, Ellipsen, Polygone, Abstand zwischen Kreisen, Winkelmesser und Lineal) und Datenexport nach MS-Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Phasenanalyse, Zauberstab, Freihand-Linienzug, interpoliertes Polygon, Morphologiefilter und Bildarithmetik | □ | ■ | ■ | ■ | ||
3D-Messungen, 3D-Profilmessungen und 3D-Oberflächenansicht | □ | □ | ■ | ■ | ||
Berichte*5 | Berichterstellung (MS-Word- und MS-Excel-Format) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Erstellung der Präsentation | □ | □ | □ | □ | ||
Datenverwaltung | Stream Dokumentenspeicherung*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Workgroup-Datenbank mit strukturiertem Datenformat | □ | □ | □ | □ | ||
Geräteunterstützung | Olympus Mikroskope*7 und Olympus Kameras*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
Kameras und Bildquellenkonverter anderer Hersteller*9 | ■ | ■ | ■ | |||
Tischsteuerungen anderer Hersteller*9 | □ | □ | ■ |
PC-Anforderungen | |
CPU | Intel Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon |
RAM / Festplatte / DVD-Laufwerk | 4 GB oder mehr (8 GB empfohlen)/2,4 GB oder mehr freier Speicherplatz/Kompatibilität mit DVD+R DL |
Betriebssystem*10 | Windows 10 Pro (64-Bit), Windows 8.1 (64-Bit) Pro |
.NET Framework | Version 4.6.2 oder höher |
Grafikkarte*11 | Monitorauflösung 1280 x 1024 mit 32-Bit-Grafikkarte |
Webbrowser | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 oder 11 |
*1 DP74-Kamera erforderlich, für Live-HDR-Funktion 64-Bit-Betriebssystem erforderlich.
*2 Olympus Mikroskop mit motorgesteuerter Z-Achse oder externer motorgesteuerter Z-Achse mit OLYMPUS Stream Motion oder Automatisierungslösung erforderlich.
*3 Instant MIA funktioniert möglicherweise mit einigen Kameras nicht korrekt.
*4 Schreiben und Lesen aller wichtigen Dateiformate und Öffnen der proprietären Formate von Olympus (DSX-, LEXT- und POIR-Dateiformate).
*5 Erfordert die vorherige Installation von Microsoft Word 2010, 2013, 2016, 2019 oder Office 365 (wird nicht mitgeliefert).
*6 Erfordert Microsoft SQL Server Express.
*7 Unterstützt BX53M, BX2, IX2, GX, GX53, SZX, SZX2, SZX-ZE, MX, MX63, MX63L, MVX, STM7-CB, CBS, BX3M-CB, BX3M-CBFM und BX-REMCB.
*8 Unterstützt LC20, LC30, LC35, DP22, DP23, DP27, DP28, DP73, DP74, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10, DP23M.
*9 Informationen zu unterstützten Geräten erhalten Sie von Olympus.
*10 Olympus Kameras funktionieren mit allen unterstützten Betriebssystemen.
*11 Bei DP74 erforderliche Konfigurationen für Live-HDR. CUDA-fähige Grafikkarte der Firma NVIDIA (Compute Capability 2.1 oder höher). Grafikkartentreiber für CUDA 9.1 oder höher.
Spezifikationen für spezielle Software-Lösungen
Lösungen | Kompatibilität | Funktionen | |||
Basic | Essentials | Motion | Desktop | Art der Messung | |
3D | □ | □ | Enthalten | Teilweise enthalten* | 3D-Oberflächenansicht, 3D-Messung, 3D-Profilmessung, motorgesteuerter Z-Stapel/EFI, Instant EFI mit Höhenkarte (erfordert codierte oder motorgesteuerte Z-Achse) |
Automatisierung | □ | □ | Enthalten | Automatisierungslösung (motorgesteuerte/manuelle/Instant-MIA, motorgesteuertes/Instant-EFI ohne Höhenkarte (erfordert codierte oder motorgesteuerte XYZ-Achse), auch mit Zeitraffer | |
Weld Measurement (Schweißnahtmessung) | □ | □ | □ | □ | Software-Lösung Weld Measurement (Schweißnahtmessung) (Messung des geometrischen Verzugs durch Wärmeeinwirkung beim Schweißen) |
Count & Measure (Zählen und Messen) | □ | □ | □ | □ |
Es sind mehrere Schwellenwertverfahren verfügbar (automatisch, manuell HSV, manuell und adaptiv).
Das System kann automatisch mehrere Parameter aller segmentierten Objekte messen (Fläche, Seitenverhältnis, Bisektor, Begrenzungsrechteck, Schwerpunkt, ID, Masseschwerpunkt, Intensitätswerte, Konvexität, Durchmesser, Dehnung, Feret, Extent, Abstand zum direkten Nachbarn, Orientierung, Rand, Radius, Form, Rundheit usw.). Tabellenkalkulation und Diagramme mit Einzel- und Verteilungsmessungen |
TruAI Deep-Learning-Technologie | □ | □ | □ | Präzise und automatische Bildsegmentierung, einschließlich Instanzsegmentierung |
* Verwendung der mit der Bildaufnahme verbundenen Funktionen nicht möglich
Spezifikationen für Werkstoff-Lösungen
Lösungen | Kompatibilität | Ausgabe | ||||
Basic | Essentials/Motion | Desktop | Automatische Berichterstellung | Arbeitsmappe mit Einzelmessungen | Speichern aller Ergebnisse in den Bildeigenschaften | |
Grain Intercept (Korngrößenbestimmung, Linienschnittverfahren) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Grain Planimetric (Korngrößenbestimmung, planimetrisch) | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
Non-Metallic Inclusions (Nichtmetallische Einschlüsse) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Cast Iron (Gusseisen) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Chart Comparison (Richtreihenvergleich) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
Layer Thickness (Schichtdicke) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
Coating Thickness (Beschichtungsdicke) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Dendrite Arm Spacing (Dendritenarm-Abstand) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Automatic Measurements (Automatische Messungen) | □ | □ | ■ | |||
Throwing Power (Streufähigkeit) | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
Porosity (Porosität) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Particle Distribution (Partikelverteilung) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
Advanced Phase Analysis (Erweiterte Phasenanalyse) | □ | Enthalten | Enthalten | ■ | ■ |
Lösungen | Funktionen | ||
Art der Messung | Unterstützte Standards |
Mehrere Tischpositionen*1 Probenausrichtung*1 | |
Grain Intercept (Korngrößenbestimmung, Linienschnittverfahren) |
Musterauswahl (Kreise, Kreuz, Kreuz & Kreise, vertikale Linien, horizontale Linien, horizontale & vertikale Linien)
Definition der Anzahl der Prüflinien zur Bestimmung der Korndehnung Anzeige des g-Wertes im Werkzeug-Fenster „Material Solution“ | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
Grain Planimetric (Korngrößenbestimmung, planimetrisch) |
Automatische Extraktion der Korngrenzen
Bessere Bedienbarkeit durch Anwenderinteraktion über Stream-Schieber Anzeige des g-Wertes im Werkzeug-Fenster „Material Solution“ und Positionsnavigation*1 zur direkten Interaktion | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
Non-Metallic Inclusions (Nichtmetallische Einschlüsse) |
Automatische Erkennung nichtmetallischer Einschlüsse anhand der Farbe, Form und Größe
Automatische Klassifizierung von Oxiden, Sulfiden, Silikaten und Aluminaten Schlechtestes Feld: Messung des schlechtesten Einschlusses in jedem Feld Live-Anzeige des erkannten Einschlusses mit Bewertung Durchschnittlicher Inhalt: Scannen der gesamte Probe mit einem motorgesteuerten Tisch Bewertung der Einschlüsse in jedem Feld Anzeige des Ergebnisses in Form einer Tabelle „Anzahl der Felder pro Schweregrad“ | ASTM E45-18 (Methode A), DIN 50602:1985 (Methode M), ISO 4967:2013 (Methode A), GB/T 10561-2005 (Methode A, äquivalent zu ISO 4967), JIS G 0555:2003 (Methode A, äquivalent zu ISO 4967), UNI 3244:1980 (Methode M), EN 10247:2017 (Methode P und M), SEP 1571:2017 (Methode M und K), ASTM E45-18 (Methode D), ISO 4967:2013 (Methode B), EN10247:2017 (Methode K). | ■ |
Cast Iron (Gusseisen) |
Bei polierten Proben: automatische Messung der Eigenschaften des Grafitgehalts (Größe, Form und Verteilung)
Bei geätzten Proben: Messung des Ferrit-Perlit-Verhältnisses Integrierter Arbeitsablauf unter Berücksichtigung des Probenzustands (geätzt oder poliert) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (nur für Kugelgrafitbildung) | |
Chart Comparison (Richtreihenvergleich) |
Mehrere Anzeigen verfügbar, einschließlich Live-Überlagerung
Bessere Bedienbarkeit durch Anwenderinteraktion über Stream-Schieber Für statistische Berechnungen mit den ausgewählten Werten | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112: 2010, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998, ISO 4505:1978 | |
Layer Thickness (Schichtdicke) |
Festlegung von Schichtgrenzen mittels automatischer Erkennung, Zauberstab oder manuell (anhand von 2 oder 3 Punkten)
Einzelne Messungen können später hinzugefügt oder gelöscht werden. Die Messung beliebiger Schichten (mit glatten oder unregelmäßigen Rändern) wird unterstützt. Berechnung von Mittelwert, Maximal- und Minimalwert sowie statistische Daten für jede einzelne Schicht mit der Schichtdicken-Messfunktion | ||
Coating Thickness (Beschichtungsdicke) |
Messen von Drucken in Draufsicht
Berechnung der Beschichtungsdicke entsprechend der Probengeometrie | EN 1071-2:2002, VDI 3824: 2001, ISO 26423:2016 | |
Dendrite Arm Spacing (Dendritenarm-Abstand) | Bestimmung des mittleren Dendritenarm-Abstands in Aluminiumgusslegierungen | ||
Automatic Measurements (Automatische Messungen) |
Automatische Abstandsmessung (Punkt zu Punkt, Punkt zu Linie, Kreis zu Kreis, Punkt zu Kreis, Linie zu Kreis)
Automatische Messung des Kreisdurchmessers (Rundheit, Begrenzungsrechteck) Automatische Messung des Winkels zwischen zwei Linien Definition von Toleranzwerten für die Messung und visuelle Validierung Messwiederholbarkeit im Experten- und Benutzermodus | ■ | |
Throwing Power (Streufähigkeit) |
Manuelle Messungen an ausgewählten Messpunkten auf der Probe
Vorgegebene Punkte, die vom Bediener aktiviert werden Auswahl der Durchkontaktierung und Dokumentation der Analyse Bericht und automatische Berechnung auf Grundlage der manuellen Messungen | ||
Porosität |
Porenerfassung je ROI (Dreieck, Kreis, Rechteck, Polygon oder Zauberstab) mit Überlappungsfunktion
Messung der Dichte, Anzahl und spezifischen Fläche der Poren Messung der größten Pore Messung eines bestimmten Größenbereichs | VW 50093/ P6093:2012, | ■ |
Particle Distribution (Partikelverteilung) |
Definition von Partikeln anhand von vereinfachten Schwellenwerteinstellungen
Automatische Klassifizierung anhand eines ausgewählten Parameters (Größe, Farbe oder Form) Messung anhand von ROIs und mehreren Schwellenwerten Definition der Validierung und Codierung gemäß benutzerdefinierter Standards | ■ | |
Advanced Phase Analysis (Erweiterte Phasenanalyse) |
Phasenanteil je ROI (Dreieck, Kreis, Rechteck oder Polygon)
Zauberstab, Freihand-Linienzug, interpoliertes Polygon, Morphologiefilter und Bildarithmetik können ebenfalls verwendet werden Messung des Gesamtphasenanteils pro Phase und pro ROI Wählbare minimale Bereichserfassung | ■ |
*1 Möglich mit OLYMPUS Stream Motion und anderen Stream-Paketen mit Automatisierungslösung
*2 Stream-Diagramm mit der Verteilung kann ausgegeben werden.
Informationen für Kunden, die LEXT und DSX mit OLYMPUS Stream verwenden
Bitte überprüfen Sie hier, ob/seit wann es Einschränkungen der Softwareversionskombination gibt: