Overview
Microscopio a scansione laser LEXT™ OLS5100 3D
Microscopio laser per l'analisi di materiali
Flusso di lavoro efficiente, esperimenti più veloci
Progettato per l'analisi dei guasti e la ricerca industriale dei materiali, il microscopio laser OLS5100 combina una precisione di misura e delle prestazioni ottiche eccezionali con delle funzionalità efficienti che rendono il microscopio facile da utilizzare. Misura con precisione la forma e le irregolarità superficiali a un livello submicrometrico in modo veloce e efficiente per semplificare il flusso di lavoro mediante dati affidabili.
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Semplificazione degli esperimenti relativi alla scienza dei materiali e all'analisi dei guastiLa funzionalità Smart Experiment Manager semplifica i flussi di lavoro delle osservazioni 3D submicrometriche e degli esperimenti di analisi dei guasti automatizzando le operazioni che risultavano precedentemente dispendiose in termini di tempo.
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Precisione delle misure garantita
Gli obiettivi del microscopio LEXT assicurano l'acquisizione di dati di misura precisi. In combinazione con la funzionalità Smart Lens Advisor è possibile acquisire dei dati precisi e affidabili.
- Precisione delle misure garantita*
- Le ottiche Olympus di riconosciuta qualità riducono l'aberrazione per rilevare la forma corretta del campione nell'intero campo visivo
- La funzionalità Smart Lens Advisor guida la scelta dell'obiettivo ottimale per le proprie misure di irregolarità
Microscopia a scansione laser di facile usoL'uso del microscopio è semplice sia per operatori inesperti che esperti grazie al software progettato con attenzione.
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Software
Semplificazione della gestione degli esperimenti relativi alla scienza dei materiali e all'analisi dei guasti
Durante i test sui nuovi materiali la gestione delle condizioni degli esperimenti risulta complessa. Grazie alla funzionalità Smart Experiment Manager del microscopio laser OLS5100 è possibile semplificare il processo automatizzando le operazioni principali come il piano degli esperimenti.
- Completamento delle operazioni di misura fino al 30% più veloce*
- Piano di scansione compilato automaticamente nel momento di acquisizione dei dati
- Non perdete tempo nella trascrizione dei dati, il software la esegue al posto vostro
*Confrontato con l'OLS5000
Automatico inserimento dei dati
Il software aggiunge automaticamente i valori acquisiti alla matrice del piano di esperimenti in modo da minimizzare la possibilità di errori di inserimento dati. Attraverso appena un paio di click è possibile esportare i dati in un documento Excel.
Facile organizzazione dei dati delle condizioni degli esperimenti
È possibile cliccare su ogni cella del piano degli esperimenti e il software genererà automaticamente un nome del file contenente le condizioni di valutazione per un'archiviazione dei dati semplificata. Ogni file contiene i dati e le immagini associate.
Acquisizione dei dati completa
Il microscopio scansiona il campione in base al piano di esperimenti generato dal software, evitando l'esclusione di dati o la ripetizione delle misure.
Facile individuazione di problemi sui dati
Una mappatura cromatica contribuisce Se si evidenzia un problema è possibile individuarlo e risolverlo anticipatamente nel processo.
Scelta dell'obiettivo ottimale
La funzionalità Smart Lens Advisor aiuta a selezionare l'obiettivo ottimale in rapporto alla propria applicazione di misura dell'irregolarità superficiale. Inserendo alcune informazioni di base, come il campo visivo e l'obiettivo che si vogliono utilizzare, la funzionalità Advisor definirà il grado di idoneità per l'applicazione.
Facile acquisizione dei dati
Sia nel caso di utenti inesperti che esperti, i dati possono essere acquisiti in modo veloce e facile con la funzionalità Smart Scan II. Posizionare il campione sul tavolino, premere il pulsante di avvio e il microscopio si occupa del resto.
Specifications
Unità principale
| Modello | OLS5100-SAF | OLS5100-SMF | OLS5100-LAF | OLS5100-EAF | ||
|---|---|---|---|---|---|---|
| Ingrandimento totale | 54x–17,280x | |||||
| Campo visivo | 16 µm–5,120 µm | |||||
| Principio di misura | Sistema ottico |
Microscopio confocale a scansione laser a riflessione
Microscopio confocale a scansione laser-DIC a riflessione Colore Colore-DIC | ||||
| Principio di misura | Elemento di acquisizione della luce |
Laser: Fotomoltiplicatore (2 canali)
Colore: Fotocamera CMOS a colori | ||||
| Misura dell'altezza | Risoluzione del display | 0,5 nm | ||||
| Misura dell'altezza | Campo dinamico | 16 bit | ||||
| Misura dell'altezza | Ripetibilità σn-1*1 *2 *5 | 5X：0,45 μm, 10X：0,1 μm, 20X : 0,03 μm, 50X : 0,012 μm, 100X : 0,012 μm | ||||
| Misura dell'altezza | Precisione *1 *3 *5 | 0,15+L/100 μm (L: lunghezza di misurazione [μm]) | ||||
| Misura dell'altezza | Precisione per immagini combinate *1 *3 *5 | 10X：5,0+L/100 μm, 20X o superiore: 1,0+L/100 μm (L: Lunghezza stitching [μm]) | ||||
| Misura dell'altezza | Rumore di misura (valore efficace del rumore) *1 *4 *5 | 1 nm (Tipo) | ||||
| Misura dell'ampiezza | Risoluzione del display | 1 nm | ||||
| Misura dell'ampiezza | Ripetibilità 3σn-1 *1 *2 *5 | 5X: 0,45 µm, 10X: 0,1 µm, 20X: 0,03 µm, 50X: 0,012 µm, 100X: 0,012 µm | ||||
| Misura dell'ampiezza | Precisione *1 *3 *5 | Valore di misura di +/- 1.5% | ||||
| Misura dell'ampiezza | Precisione per immagini combinate *1 *3 *5 | 10X : 24+0,5L μm, 20X : 15+0,5L μm, 50X : 9+0,5L μm, 100X : 7+0,5L μm (L: Lunghezza stitching [mm]) | ||||
| Numero massimo di punti di misurazione in una singola misura | 4096 × 4096 pixel | |||||
| Numero massimo di punti di misurazione | 36 megapixel | |||||
| Configurazione tavolino XY | Modulo di misura della lunghezza | • | ND | ND | • | |
| Configurazione tavolino XY | Intervallo operativo | 100 × 100 mm Motorizzato | 100 × 100 mm Manuale | 300 × 300 mm Motorizzato | 100 × 100 mm Motorizzato | |
| Altezza campione massima | 100 × 100 mm | 30 mm | 30 mm | 210 mm | ||
| Generatore di luce laser | Lunghezza d’onda | 405 nm | ||||
| Generatore di luce laser | Uscita massima | 0,95 mW | ||||
| Generatore di luce laser | Classe laser | Classe 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014) | ||||
| Fonte di luce a colori | LED bianco | |||||
| Alimentazione elettrica | 240 W | 240 W | 278 W | 240 W | ||
| Massa | Microscopio | Circa 31 kg | Circa 32 kg | Circa 50 kg | Circa 43 kg | |
| Massa | Unità di controllo | Circa 12 kg | ||||
*1 Garantito quando usato a temperatura costante e in ambiente a temperatura costante (temperatura: 20˚C±1˚C, umidità: 50%±10%) come specificato nelle norme ISO554(1976) e JIS Z-8703(1983).
*2 Per 20x o superiore, se la misurazione avviene con obiettivi della serie MPLAPON LEXT.
*3 Quando misurato con l'obiettivo dedicato LEXT.
*4 Valore tipico se la misurazione avviene con l'obiettivo MPLAPON100XLEXT, può differire dal valore garantito.
*5 Garantito dal sistema di certificazione Olympus.
** La licenza del sistema operativo Windows 10 è stata certificata per il controller del microscopio fornito da Olympus. Pertanto, si applicano e si accettano le condizioni di licenza di Microsoft. Per le condizioni di licenza di Microsoft, fare riferimento a quanto segue.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm
Obiettivi
| Serie | Modello | Apertura numerica (NA) | Distanza di lavoro (WD) [mm] |
|---|---|---|---|
| Obiettivi UIS2 | MPLFLN2.5x | 0,08 | 10,7 |
| MPLFLN5x | 0,15 | 20 | |
Obiettivi LEXT dedicati (10X) | MPLFLN10xLEXT | 0,3 | 10,4 |
Obiettivi LEXT dedicati (tipo a alte prestazioni) | MPLAPON20xLEXT | 0,6 | 1 |
| MPLAPON50xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
| MPLAPON100xLEXT | 0,95 | 0,35 | |
Obiettivi dedicati LEXT (tipo a distanza di lavoro lunga) | LMPLFLN20xLEXT | 0,45 | 6,5 |
| LMPLFLN50xLEXT | 0,6 | 5,2 | |
| LMPLFLN100xLEXT | 0,8 | 3,4 | |
| Obiettivi con distanza di lavoro ultra lunga | SLMPLN20x | 0,25 | 25 |
| SLMPLN50x | 0,35 | 18 | |
| SLMPLN100x | 0,6 | 7,6 | |
| Distanza di lavoro lunga per gli obiettivi LCD | LCPLFLN20xLCD | 0,45 | 8.3-7.4 |
| LCPLFLN50xLCD | 0,7 | 3.0-2.2 | |
| LCPLFLN100xLCD | 0,85 | 1.2-0.9 |
Software applicativo
| Software standard | OLS51-BSW | |||
|---|---|---|---|---|
| Software standard | Applicazione per l'acquisizione dei dati | Applicazione per l’analisi (analisi semplice) | ||
| Applicazione del pacchetto del tavolino motorizzato*1 | OLS50-S-MSP | |||
| Applicazione per l’analisi avanzata*2 | OLS50-S-AA | |||
| Applicazione per la misurazione dello spessore della pellicola | OLS50-S-FT | |||
| Applicazione per la misurazione automatica del bordo | OLS50-S-ED | |||
| Applicazione per l’analisi delle particelle | OLS50-S-PA | |||
| Applicazione d'assistenza totale sperimentale | OLS51-S-ETA | |||
| Applicazione per l’analisi dell'angolo di superficie della sfera/ del cilindro | OLS50-S-SA | |||
*1 Comprende le funzioni di acquisizione dati auto-stitching e dati multi-area.
*2 Comprende analisi del profilo, analisi della differenza, analisi dell’altezza di passo, analisi della superficie, analisi di volume/area, analisi della rugosità lineare, analisi della rugosità dell’area e analisi dell’istogramma.
Microscopi laser Olympus
Esempio di configurazione di OLS5100-SAF
OLS5100-SAF
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OLS5100-EAF
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OLS5100-SMF
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OLS5100-LAF
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Unità di controllo
