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Panoramica

Microscopio a scansione laser LEXT™ OLS5100 3D

Microscopio laser per l'analisi di materiali

Flusso di lavoro efficiente, esperimenti più veloci

Progettato per l'analisi dei guasti e la ricerca industriale dei materiali, il microscopio laser OLS5100 combina una precisione di misura e delle prestazioni ottiche eccezionali con delle funzionalità efficienti che rendono il microscopio facile da utilizzare. Misura con precisione la forma e le irregolarità superficiali a un livello submicrometrico in modo veloce e efficiente per semplificare il flusso di lavoro mediante dati affidabili.

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Semplificazione degli esperimenti relativi alla scienza dei materiali e all'analisi dei guasti La funzionalità Smart Experiment Manager semplifica i flussi di lavoro delle osservazioni 3D submicrometriche e degli esperimenti di analisi dei guasti automatizzando le operazioni che risultavano precedentemente dispendiose in termini di tempo. Automaticamente crea il piano di esperimenti Compila automaticamente i dati nella matrice del piano di esperimenti, riducendo le probabilità di errori Dati più chiari attraverso gli strumenti di visualizzazione delle tendenze

Semplificazione degli esperimenti relativi alla scienza dei materiali e all'analisi dei guasti

La funzionalità Smart Experiment Manager semplifica i flussi di lavoro delle osservazioni 3D submicrometriche e degli esperimenti di analisi dei guasti automatizzando le operazioni che risultavano precedentemente dispendiose in termini di tempo.

Automaticamente crea il piano di esperimenti
Compila automaticamente i dati nella matrice del piano di esperimenti, riducendo le probabilità di errori
Dati più chiari attraverso gli strumenti di visualizzazione delle tendenze

Precisione delle misure garantita

Gli obiettivi del microscopio LEXT assicurano l'acquisizione di dati di misura precisi. In combinazione con la funzionalità Smart Lens Advisor è possibile acquisire dei dati precisi e affidabili.

Precisione delle misure garantita^*
Le ottiche Olympus di riconosciuta qualità riducono l'aberrazione per rilevare la forma corretta del campione nell'intero campo visivo
La funzionalità Smart Lens Advisor guida la scelta dell'obiettivo ottimale per le proprie misure di irregolarità

^*Le informazioni (inclusa la precisione garantita) riportate in questa pagina web sono basate sulle condizioni definite da Olympus.

Microscopia a scansione laser di facile uso L'uso del microscopio è semplice sia per operatori inesperti che esperti grazie al software progettato con attenzione. Facile acquisizione di dati precisi: posizionamento del campione sul tavolino e pressione del pulsante di avvio Prestazioni di misura che garantiscono l'adattabilità all'ambiente operativo dell'utente

Microscopia a scansione laser di facile uso

L'uso del microscopio è semplice sia per operatori inesperti che esperti grazie al software progettato con attenzione.

Facile acquisizione di dati precisi: posizionamento del campione sul tavolino e pressione del pulsante di avvio
Prestazioni di misura che garantiscono l'adattabilità all'ambiente operativo dell'utente

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Software

Semplificazione della gestione degli esperimenti relativi alla scienza dei materiali e all'analisi dei guasti

Durante i test sui nuovi materiali la gestione delle condizioni degli esperimenti risulta complessa. Grazie alla funzionalità Smart Experiment Manager del microscopio laser OLS5100 è possibile semplificare il processo automatizzando le operazioni principali come il piano degli esperimenti.

Completamento delle operazioni di misura fino al 30% più veloce^*
Piano di scansione compilato automaticamente nel momento di acquisizione dei dati
Non perdete tempo nella trascrizione dei dati, il software la esegue al posto vostro

*Confrontato con l'OLS5000

matrice degli esperimenti per la scienza dei materiali

Automatico inserimento dei dati

Il software aggiunge automaticamente i valori acquisiti alla matrice del piano di esperimenti in modo da minimizzare la possibilità di errori di inserimento dati. Attraverso appena un paio di click è possibile esportare i dati in un documento Excel.

Facile organizzazione dei dati delle condizioni degli esperimenti

È possibile cliccare su ogni cella del piano degli esperimenti e il software genererà automaticamente un nome del file contenente le condizioni di valutazione per un'archiviazione dei dati semplificata. Ogni file contiene i dati e le immagini associate.

condizioni degli esperimenti per le scienze dei materiali

Acquisizione dei dati completa

Il microscopio scansiona il campione in base al piano di esperimenti generato dal software, evitando l'esclusione di dati o la ripetizione delle misure.

Facile individuazione di problemi sui dati

Una mappatura cromatica contribuisce Se si evidenzia un problema è possibile individuarlo e risolverlo anticipatamente nel processo.

visualizzazione dei dati delle scienze dei materiali

Scelta dell'obiettivo ottimale

La funzionalità Smart Lens Advisor aiuta a selezionare l'obiettivo ottimale in rapporto alla propria applicazione di misura dell'irregolarità superficiale. Inserendo alcune informazioni di base, come il campo visivo e l'obiettivo che si vogliono utilizzare, la funzionalità Advisor definirà il grado di idoneità per l'applicazione.

Facile acquisizione dei dati

Sia nel caso di utenti inesperti che esperti, i dati possono essere acquisiti in modo veloce e facile con la funzionalità Smart Scan II. Posizionare il campione sul tavolino, premere il pulsante di avvio e il microscopio si occupa del resto.

acquisizione dei dati dei materiali industriali

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Specifiche tecniche

Unità principale

Modello		OLS5100-SAF	OLS5100-SMF	OLS5100-LAF	OLS5100-EAF
Ingrandimento totale		54x–17,280x
Campo visivo		16 µm–5,120 µm
Principio di misura	Sistema ottico	Microscopio confocale a scansione laser a riflessione Microscopio confocale a scansione laser-DIC a riflessione Colore Colore-DIC
Principio di misura	Elemento di acquisizione della luce	Laser: Fotomoltiplicatore (2 canali) Colore: Fotocamera CMOS a colori
Misura dell'altezza	Risoluzione del display	0,5 nm
Misura dell'altezza	Campo dinamico	16 bit
Misura dell'altezza	Ripetibilità σ_n-1^{1 2 *5}	5X: 0,45 μm, 10X: 0,1 μm, 20X: 0,03 μm, 50X: 0,012 μm, 100X: 0,012 μm
Misura dell'altezza	Precisione ^{1 3 *5}	0,15+L/100 μm (L: lunghezza di misurazione [μm])
Misura dell'altezza	Precisione per immagini combinate ^{1 3 *5}	10X: 5,0+L/100 μm, 20X o superiore: 1,0+L/100 μm (L: Lunghezza stitching [μm])
Misura dell'altezza	Rumore di misura (valore efficace del rumore) ^{1 4 *5}	1 nm (Tipo)
Misura dell'ampiezza	Risoluzione del display	1 nm
Misura dell'ampiezza	Ripetibilità 3σ_n-1 ^{1 2 *5}	5X: 0.4 μm, 10X: 0.2 μm, 20X: 0.05 μm, 50X: 0.04 μm, 100X: 0.02 μm
Misura dell'ampiezza	Precisione ^{1 3 *5}	Valore di misura di +/- 1.5%
Misura dell'ampiezza	Precisione per immagini combinate ^{1 3 *5}	10X: 24+0,5L μm, 20X : 15+0,5L μm, 50X : 9+0,5L μm, 100X : 7+0,5L μm (L: Lunghezza stitching [mm])
Numero massimo di punti di misurazione in una singola misura		4096 × 4096 pixel
Numero massimo di punti di misurazione		36 megapixel
Configurazione tavolino XY	Modulo di misura della lunghezza	•	ND	ND	•
Configurazione tavolino XY	Intervallo operativo	100 × 100 mm Motorizzato	100 × 100 mm Manuale	300 × 300 mm Motorizzato	100 × 100 mm Motorizzato
Altezza campione massima		100 × 100 mm	30 mm	30 mm	210 mm
Generatore di luce laser	Lunghezza d’onda	405 nm
Generatore di luce laser	Uscita massima	0,95 mW
Generatore di luce laser	Classe laser	Classe 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)
Fonte di luce a colori		LED bianco
Alimentazione elettrica		240 W	240 W	278 W	240 W
Massa	Microscopio	Circa 31 kg	Circa 32 kg	Circa 50 kg	Circa 43 kg
Massa	Unità di controllo	Circa 12 kg

*1 Garantito quando usato a temperatura costante e in ambiente a temperatura costante (temperatura: 20˚C±1˚C, umidità: 50%±10%) come specificato nelle norme ISO554(1976) e JIS Z-8703(1983).
*2 Per 20x o superiore, se la misurazione avviene con obiettivi della serie MPLAPON LEXT.
*3 Quando misurato con l'obiettivo dedicato LEXT.
*4 Valore tipico se la misurazione avviene con l'obiettivo MPLAPON100XLEXT, può differire dal valore garantito.
*5 Garantito dal sistema di certificazione Olympus.

** La licenza del sistema operativo Windows 10 è stata certificata per il controller del microscopio fornito da Olympus. Pertanto, si applicano e si accettano le condizioni di licenza di Microsoft. Per le condizioni di licenza di Microsoft, fare riferimento a quanto segue.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm

Obiettivi

Serie	Modello	Apertura numerica (NA)	Distanza di lavoro (WD) [mm]
Obiettivi UIS2	MPLFLN2.5x	0,08	10,7
Obiettivi UIS2	MPLFLN5x	0,15	20
Obiettivi LEXT dedicati (10X)	MPLFLN10xLEXT	0,3	10,4
Obiettivi LEXT dedicati (tipo a alte prestazioni)	MPLAPON20xLEXT	0,6	1
	MPLAPON50xLEXT	0,95	0,35
	MPLAPON100xLEXT	0,95	0,35
Obiettivi dedicati LEXT (tipo a distanza di lavoro lunga)	LMPLFLN20xLEXT	0,45	6,5
	LMPLFLN50xLEXT	0,6	5,2
	LMPLFLN100xLEXT	0,8	3,4
Obiettivi con distanza di lavoro ultra lunga	SLMPLN20x	0,25	25
	SLMPLN50x	0,35	18
	SLMPLN100x	0,6	7,6
Distanza di lavoro lunga per gli obiettivi LCD	LCPLFLN20xLCD	0,45	8.3-7.4
	LCPLFLN50xLCD	0,7	3.0-2.2
	LCPLFLN100xLCD	0,85	1.2-0.9

Software applicativo

Software standard	OLS51-BSW
Software standard	Applicazione per l'acquisizione dei dati	Applicazione per l’analisi (analisi semplice)
Applicazione del pacchetto del tavolino motorizzato^*1	OLS50-S-MSP
Applicazione per l’analisi avanzata^*2	OLS50-S-AA
Applicazione per la misurazione dello spessore della pellicola	OLS50-S-FT
Applicazione per la misurazione automatica del bordo	OLS50-S-ED
Applicazione per l’analisi delle particelle	OLS50-S-PA
Applicazione d'assistenza totale sperimentale	OLS51-S-ETA
Applicazione per l’analisi dell'angolo di superficie della sfera/ del cilindro	OLS50-S-SA

*1 Comprende le funzioni di acquisizione dati auto-stitching e dati multi-area.
*2 Comprende analisi del profilo, analisi della differenza, analisi dell’altezza di passo, analisi della superficie, analisi di volume/area, analisi della rugosità lineare, analisi della rugosità dell’area e analisi dell’istogramma.