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Visão geral

Microscópio de varredura a laser 3D LEXT™ OLS5100

Microscópio a laser para análise de materiais

Fluxo de trabalho inteligente, experimentos mais rápidos

Construído para análise de falhas e pesquisa de engenharia de materiais, o microscópio a laser OLS5100 combina precisão de medição excepcional e desempenho óptico com ferramentas inteligentes que tornam o microscópio fácil de usar. Meça com precisão a forma e a rugosidade da superfície no nível submicron de forma rápida e eficiente para simplificar seu fluxo de trabalho com dados nos quais você pode confiar.

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Engenharia de materiais mais fácil e experimentos de análise de falhas O Smart Experiment Manager torna seus fluxos de trabalho de experimentos de observação em 3D submicrônico e análise de falhas mais simples, automatizando tarefas que antes consumiam tempo. Cria automaticamente seu plano de experimento Preenche automaticamente os dados para a matriz do seu plano de experimento, reduzindo a chance de erros de entrada Ferramentas de visualização de tendências de dados claras

Engenharia de materiais mais fácil e experimentos de análise de falhas

O Smart Experiment Manager torna seus fluxos de trabalho de experimentos de observação em 3D submicrônico e análise de falhas mais simples, automatizando tarefas que antes consumiam tempo.

Cria automaticamente seu plano de experimento
Preenche automaticamente os dados para a matriz do seu plano de experimento, reduzindo a chance de erros de entrada
Ferramentas de visualização de tendências de dados claras

Precisão de medição garantida

As objetivas do microscópio LEXT fornecem dados de medição altamente precisos. Emparelhado com o Smart Lens Advisor, você pode adquirir dados precisos nos quais pode confiar.

Precisão de medição garantida^*
A renomada óptica Olympus reduz a aberração para capturar a forma correta de sua amostra em todo o campo de visão
O Smart Lens Advisor ajuda você a escolher a lente objetiva certa para sua medição de rugosidade

^*As informações, incluindo precisão garantida, nesta página da web são baseadas nas condições estabelecidas pela Olympus.

lente objetiva de microscópio industrial

Microscopia de varredura a laser fácil Usar o microscópio é fácil para usuários novatos e experientes, graças ao software cuidadosamente projetado. Obtenha dados precisos facilmente - coloque sua amostra no palco e pressione o botão iniciar Garantia de desempenho de medição adaptada ao seu ambiente operacional

Microscopia de varredura a laser fácil

Usar o microscópio é fácil para usuários novatos e experientes, graças ao software cuidadosamente projetado.

Obtenha dados precisos facilmente - coloque sua amostra no palco e pressione o botão iniciar
Garantia de desempenho de medição adaptada ao seu ambiente operacional

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Software

Engenharia de materiais simples e gerenciamento de experimentos de análise de falhas

Gerenciar as condições do experimento ao testar novos materiais é complicado, portanto, o Smart Experiment Manager do microscópio a laser OLS5100 simplifica o processo, automatizando etapas importantes, como a criação do plano de experimento.

Conclua suas tarefas de medição até 30% mais rápido^*
O plano de varredura é preenchido automaticamente com os dados conforme são adquiridos
Não perca tempo transcrevendo dados — o software faz isso por você

*Comparado com OLS5000

matriz de experimentos de ciências materiais

Entrada automática de dados

O software adiciona valores automaticamente à matriz do plano de experimento para minimizar a chance de erros de entrada. Com apenas alguns cliques, você pode exportar seus dados para uma planilha do Excel.

Organização de dados de condição de experiência fácil

Você pode clicar em cada célula no plano de experimento, e o software irá gerar automaticamente um nome de arquivo que contém as condições de avaliação para fácil manutenção de registros. Cada arquivo contém as imagens e dados associados.

condições de experimento de ciência material

Captura de dados abrangente

O microscópio verifica sua amostra de acordo com o plano de experimento gerado pelo software para que você saiba que não está perdendo dados ou refazendo o trabalho.

Encontre problemas de dados facilmente

Um mapa de cores ajuda você a entender os dados do seu experimento e verificar se nenhum dado está faltando e se não há erros. Se houver um problema, você pode localizar e corrigi-lo no início do processo.

visualização de dados de ciências materiais

Escolha a lente objetiva certa

O Smart Lens Advisor ajuda você a escolher a lente objetiva certa para sua aplicação de medição de rugosidade de superfície. Insira algumas informações básicas — como o campo de visão e as lentes que você deseja usar — e o consultor dirá o quão adequado é para o aplicativo.

Fácil aquisição de dados

Usuários experientes e novatos podem adquirir dados de forma rápida e fácil com o recurso Smart Scan II. Coloque a amostra na platina, pressione o botão iniciar e o microscópio faz o resto.

aquisição de dados de engenharia de materiais

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Especificações

Unidade principal

Modelo		OLS5100-SAF	OLS5100-SMF	OLS5100-LAF	OLS5100-EAF
Ampliação total		54x–17,280x
Campo de visão		16 µm–5,120 µm
Princípio de medição	Sistema óptico	Microscópio de varredura a laser confocal de tipo refletivo Microscópio de contraste de interferência diferencial (DIC) a laser de varredura a laser confocal de tipo refletivo Cor Contraste de interferência diferencial (DIC) colorido
Princípio de medição	Elemento receptor de luz	Laser: Fotomultiplicador (2 canais) Cor: câmera colorida CMOS
Medição da altura	Resolução da tela	0,5 nm
Medição da altura	Variação dinâmica	16 bits
Medição da altura	Repetibilidade σ_n-1^{1 2 *5}	5X: 0,45 μm, 10X: 0,1 μm, 20X: 0,03 μm, 50X: 0,012 μm, 100X: 0,012 μm
Medição da altura	Precisão ^{1 3 *5}	0,15+L/100 μm (L: Comprimento de medição [μm])
Medição da altura	Precisão para imagem unida ^{1 3 *5}	10X: 5,0 + L/100 μm, 20X ou superior: 1,0 + L/100 μm (L: comprimento do ponto [μm])
Medição da altura	Ruído de medição (Ruído Sq) ^{1 4 *5}	1 nm (Tipo)
Medição da largura	Resolução da tela	1 nm
Medição da largura	Repetibilidade 3σ_n-1 ^{1 2 *5}	5X: 0.4 μm, 10X: 0.2 μm, 20X: 0.05 μm, 50X: 0.04 μm, 100X: 0.02 μm
Medição da largura	Precisão ^{1 3 *5}	Valor de medição +/- 1,5%
Medição da largura	Precisão para imagem unida ^{1 3 *5}	10X: 24 + 0,5 L μm, 20X: 15 + 0,5 L μm, 50X: 9 + 0,5 L μm, 100X: 7 + 0,5 L μm (L: Comprimento do ponto [mm])
Número máximo de pontos de medição em uma única medição		4.096 píxeis × 4.096 píxeis
Número máximo de pontos de medição		36 megapíxeis
Configuração da platina XY	Módulo de medição do comprimento	•	AN	AN	•
Configuração da platina XY	Intervalo operacional	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pol.) Motorizado	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pol.) Manual	300 × 300 mm (11,8 × 11,8 pol.) Motorizado	100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pol.) Motorizado
Altura máxima da amostra		100 × 100 mm (3,9 × 3,9 pol.)	30 mm (1,2 pol.)	30 mm (1,2 pol.)	210 mm (8,3 pol.)
Fonte de luz laser	Comprimento de onda	405 nm
Fonte de luz laser	Saída máxima	0,95 mW
Fonte de luz laser	Classe de laser	Classe 2 (IEC60825-1:2007, IEC60825-1:2014)
Cor da fonte de luz		LED branco
Potência elétrica		240 W	240 W	278 W	240 W
Massa	Corpo do microscópio	Aprox. 31 kg (68,3 lb)	Aprox. 32 kg (70,5 lb)	Aprox. 50 kg (110,2 lb)	Aprox. 43 kg (94,8 lb)
Massa	Caixa de comando	Aprox. 12 kg (26,5 lb)

*1 Garantido quando usado em temperatura constante e ambiente de temperatura constante (temperatura: 20˚C ± 1˚C, umidade: 50% ± 10%) especificado em ISO554 (1976), JIS Z-8703 (1983).
*2 Para 20x ou superior, quando medido com as objetivas da série MPLAPON LEXT.
*3 Quando medido com a objetiva LEXT dedicada.
*4 Valor típico quando medido com a objetiva MPLAPON100XLEXT e pode diferir do valor garantido.
*5 Garantido ao abrigo do Sistema de certificado da Olympus.

** A licença do sistema operacional Windows 10 foi certificada para o controlador de microscópio (PC) fornecido pela Olympus. Logo, os termos de licença da Microsoft se aplicam e você concorda com os termos. Consulte o seguinte para visualizar os termos de licença da Microsoft.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm

Objetivas

Série	Modelo	Abertura numérica (A.N.)	Distância de trabalho (DT) (mm)
Lente objetiva UIS2	MPLFLN2.5x	0,08	10,7
Lente objetiva UIS2	MPLFLN5x	0,15	20
Lente objetiva LEXT dedicada (10X)	MPLFLN10xLEXT	0,3	10,4
Lente objetiva LEXT dedicada (tipo de alto desempenho)	MPLAPON20xLEXT	0,6	1
	MPLAPON50xLEXT	0,95	0,35
	MPLAPON100xLEXT	0,95	0,35
Lente objetiva dedicada LEXT (tipo distância de trabalho longa)	LMPLFLN20xLEXT	0,45	6,5
	LMPLFLN50xLEXT	0,6	5,2
	LMPLFLN100xLEXT	0,8	3,4
Lente de grande distância de trabalho	SLMPLN20x	0,25	25
	SLMPLN50x	0,35	18
	SLMPLN100x	0,6	7,6
Lente de distância de trabalho longa para LCD	LCPLFLN20xLCD	0,45	8.3-7.4
	LCPLFLN50xLCD	0,7	3.0-2.2
	LCPLFLN100xLCD	0,85	1.2-0.9

Software de aplicação

Software padrão	OLS51-BSW
Software padrão	Aplicativo de aquisição de dados	Aplicativo de análise (análise simples)
Aplicação de embalagem de platina motorizada ^*1	OLS50-S-MSP
Aplicação de análise avançada^*2	OLS50-S-AA
Aplicação de medição de espessura da película	OLS50-S-FT
Aplicação automática de medição de limite	OLS50-S-ED
Aplicação de análise de partículas	OLS50-S-PA
Aplicativo experimental de assistência total	OLS51-S-ETA
Aplicação de análise do ângulo de superfície da esfera/cilindro	OLS50-S-SA

*1 Inclui funções de aquisição de dados de união automática e de múltiplas áreas.
*2 Inclui análise do perfil, análise de diferenças, análise da altura do degrau, análise da superfície, análise da área/volume, análise da rugosidade da linha, análise da rugosidade da área e análise de histogramas.