事例・お役立ち資料
ウェビナー：腐食画像処理のための腐食アレイ（デュアルリニアアレイ）プローブ
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オリンパスは、腐食検査用に、探傷器で使用される従来のUT探触子より優れた新しいデュアルリニアアレイ（Dual Linear Array™）プローブを導入します。 このフェイズドアレイ・ソリューションでは、ビームの走査範囲が広い、スキャン速度が速い、C-スキャン画像のデータポイント密度が高いなどの特長があり、効率のよい探傷が行えるようになりました。 ピッチキャッチ技術により、腐食検査アプリケーションにおける表面近くの分解能と孔食検出が改善され、危険な壁薄化に対する検出確率が改善されました。 このウェビナーでは、OmniScanの基本設定、検査、および配管腐食のOmniPCによるライブ分析とレポート作成について、概要を説明します。
Chris Magruder（オリンパスAUTマネージャー）：Chris Magruderは、オリンパスフェイズドアレイAUTのマネージャーで、検査ビジネスに20年以上従事し、PAシステムの開発と納入に12年以上従事しています。 世界中のあらゆるレベルのサービス会社およびエンドユーザーと協力し、フェイズドアレイアプリケーションの開発とサポートを行っています。
最初の放送日：2015年3月4日
ウェビナー：腐食画像処理のための腐食アレイ（デュアルリニアアレイ）プローブ
このウェビナーでは、OmniScanの基本設定、検査、および配管腐食のOmniPCによるライブ分析とレポート作成について、概要を説明します。 |
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