OLYMPUS Stream
Vue d’ensemble
Simplifiez vos travaux d'inspection
Le logiciel OLYMPUS Stream propose des processus intelligents, étape par étape, pour obtenir des images nettes et prêtes pour effectuer des mesures quantitatives et générer des rapports professionnels conformément aux normes les plus récentes. Les utilisateurs de tous niveaux d'expérience peuvent effectuer des analyses complexes d'images, allant de l'acquisition d’image à la génération de rapports standard, quel que soit l'état des images.
Conçu pour être flexible, le logiciel dispose d'une large gamme de fonctions nécessaires pour effectuer des observations rapides et précises sur divers échantillons tout en maintenant la sécurité et la fiabilité des données. Des solutions proposées en option permettent aux utilisateurs d'adapter le logiciel OLYMPUS Stream à leur application, notamment l'analyse de la qualité, la recherche et développement, le développement de procédés et le contrôle qualité.
Essayez gratuitement OLYMPUS Stream pendant 30 jours.
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Interface facile à utiliser et consignes étape par étape
Des technologies intelligentes pour acquérir des images nettes
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Gagnez du temps sur les tâches répétitives
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Conçu pour le matériel Olympus
Intégration parfaite avec les microscopes optiques Olympus
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Compatible avec la plupart des caméras numériques Olympus
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Procédés d'observation dédiés
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Résoudre les problématiques d'inspection
Solutions d'imagerie avancées
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Solutions pour la métallographie (secteurs des métaux et de la fonderie)
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Solutions pour le traitement des métaux (secteurs des pièces automobiles et des pièces usinées)
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Solutions pour l’électronique (secteurs des appareils électroniques et des semi-conducteurs)
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Solutions pour revêtements de surface et dépôts de film minces (industries du revêtement)
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Facilité d’utilisation
Consignes étape par étape
Dynamique, l'interface utilisateur réduit l'encombrement de l’écran en affichant uniquement les outils et les fonctions que vous souhaitez utiliser. L'interface vous guide tout au long des étapes, y compris la capture et le traitement des images et la génération de rapports. Des mesures simples et complexes peuvent être réalisées avec la même facilité grâce aux outils intuitifs du logiciel.
Des technologies intelligentes pour des images nettes
 | Rencontrez-vous fréquemment les situations suivantes ?
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution. |
Simplification de la disposition de l'écran
La disposition organisée du logiciel affiche le minimum de fonctions nécessaires pour effectuer les tâches requises. Ces dispositions simplifiées rationalisent les travaux d'inspection et guident les utilisateurs tout au long du processus d’inspection.
Acquisition d'image : capturez votre image en un simple clic de souris
Outils pour les images vidéo
Estimation de la taille des pores à l'aide des réticules numériques en temps réel (section transversale d’un moulage sous pression) | Le logiciel prend en charge les fonctions d'image vidéo pour une rétroaction immédiate. Le logiciel vous permet d'interagir avec l'image vidéo, qui est automatiquement calibrée, et d'effectuer des mesures quantitatives. |
Panorama rapide et profondeur de mise au point étendue
Créez rapidement des images qui dépassent la profondeur de mise au point standard ou le champ de vision. La fonction instantanée de mise au point étendue de l’image (EFI) utilise le réglage affiné de la mise au point pour combiner de nombreuses images prises à différents niveaux sur l'axe Z et former une image combinée unique complètement nette. L'alignement d’images multiples (MIA) facilite la création d'images panoramiques par un simple déplacement de la platine XY ; une platine motorisée n’est plus requise.
Image instantanée EFI d'un cristal : une image complètement focalisée est créée même dans des zones de faible contraste de l'échantillon
Image instantanée en MIA d’une pièce
Rappel des paramètres d’acquisition
Le système vous permet de rappeler rapidement les réglages précédents de la caméra afin de capturer des images reproductibles avec un aspect cohérent. Dans le cas d’un microscope motorisé, cette fonction peut récupérer automatiquement les précédents paramètres matériels. Si vous utilisez un microscope de la série BX, GX ou MX, le logiciel vous guide pour récupérer manuellement les réglages.
| Étapes de l'opération | Opérateur A | Opérateur B |
| Des opérateurs différents utilisent des réglages différents |
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| Vérification des réglages |
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| Synchronisation des réglages d'observation |
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| Réglages identiques, quels que soient les opérateurs |
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Solution 3D
Profilométrie 3D d'une trace d'usure | Cette solution crée des cartes de hauteur à partir de piles d’images acquises automatiquement ou manuellement avec différentes positions sur l'axe Z. L’image qui en résulte peut être visualisée en trois dimensions grâce à la vue de surface. Des mesures peuvent être réalisée, telles que les profils 3D et les différences de hauteur entre deux ou plusieurs points, et les résultats peuvent être exportés vers des classeurs et des feuilles de calcul Microsoft Excel. |
Gain de temps
Avez-vous déjà rencontré les problèmes suivants ?
Capture d’images
- Je souhaite prendre des images de grandes zones de manière répétée et efficace.
Mesures
- Je ne me souviens pas de l’ordre des fonctions à utiliser.
- J'ai besoin d'informations quantitatives de mon échantillon.
Partage
- Je veux créer et éditer rapidement un rapport.
- J’aimerais afficher l’image avec le grossissement.
- J'ai besoin de créer un rapport qui répond aux besoins de mon client.
- J'ai besoin de mettre à jour mon rapport avec une nouvelle image et une nouvelle mesure.
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution.
Utilisation guidée pour des analyses spécifiques
Le logiciel vous guide pour utiliser les fonctions dans le bon ordre lors de l’analyse d’images, y compris avec des méthodes conformes aux normes internationales les plus courantes. Dans le cas d’une platine motorisée, la fonction d’alignement accélère votre travail à plusieurs endroits de l’échantillon. Veuillez-vous reporter à l'onglet Solution pour en savoir plus sur les solutions de matériaux.
Étalonnage automatique
 | La fonction d’étalonnage automatique utilise un micromètre standard pour étalonner le microscope. Elle génère automatiquement un rapport d’étalonnage. Cette fonction élimine la variabilité de l’utilisateur dans le processus d’étalonnage afin d'obtenir des mesures plus fiables. |
Outils d'inspection automatisés
Les outils automatisés du logiciel peuvent générer une grande quantité de données en quelques minutes. Grâce à l'étalonnage automatique du grossissement à l’aide d’un réticule de balayage, vos images sont affichées avec la bonne échelle et vos mesures sont confirmées. Des images de larges zones peuvent être automatiquement crées à l’aide des platines XYZ motorisées. Résultat : des images haute résolution de larges zones.
Image MIA nette et fortement contrastée d'un modèle de circuit intégré (observation sur fond noir avec objectif 20X)
Des informations quantitatives qui ont de la valeur
Les outils du logiciel fournissent des informations quantitatives sur votre échantillon. Les mesures interactives effectuées sur des images vidéo et fixes fournissent les dimensions de base (longueur, aire et diamètre). Les résultats sont directement visibles sur l'image.
La baguette magique et des formes de polygones complexes pour mesurer des aires en mode semi-automatique figurent parmi les mesures interactives avancées. La solution de comptage et de mesure donne également accès à plus d'une centaine de paramètres de particule pour réaliser une analyse quantitative basée sur la méthode des seuils.
Mesures de base (supra conducteur) |
Baguette magique (supra conducteur) |
Détection d'objets (supra conducteur) |
Génération efficace de rapports
Générer un rapport peut souvent prendre plus de temps que la capture de l’image et la prise des mesures. Grâce au logiciel, vous pouvez générer, de façon répétée, des rapports intelligents et complexes fondés sur des modèles prédéfinis. L’édition est simplifiée et les rapports peuvent être exportés vers Microsoft Word, Excel ou PowerPoint. La fonction de génération de rapports permet aussi de faire un zoom numérique et d’agrandir les images capturées. La taille des fichiers est raisonnable afin de faciliter l’échange de données par messagerie électronique.
Rapport professionnel récapitulant les données de décompte de particules
Votre système
Adaptez le logiciel à vos besoins
Outil de mesure puissant et convivial, OLYMPUS Stream a été développé pour les microscopes Olympus avec l’aide d’utilisateurs expérimentés. Pour mieux répondre aux besoins de chaque utilisateur, le système logiciel OLYMPUS Stream propose plusieurs types de licences contenant chacune une combinaison d’applications, allant de la simple entrée de gamme OLYMPUS Stream Start à des combinaisons plus avancées.
Packs OLYMPUS Stream
Le logiciel OLYMPUS Stream est disponible en quatre packs selon les fonctionnalités : Start, Basic, Essentials et Motion.
Des modules de solution matériaux, spécifiques à certaines applications, peuvent être ajoutés pour rationaliser les tâches d'analyse répétitives. Les représentants d'Olympus sont à votre disposition pour vous aider à déterminer le pack le mieux adapté à vos besoins.
S'intègre parfaitement aux microscopes optiques Olympus
Microscopes droits de contrôle
 Microscope BX53M et système logiciel | Le microscope BX53M utilise des fonctions codées qui intègrent les paramètres matériels du microscope dans le logiciel OLYMPUS Stream. Le procédé d'observation, l'intensité de l'éclairage et la position de l'objectif sont tous enregistrés par le logiciel et/ou le clavier de commande. Les réglages du microscope peuvent être automatiquement enregistrés avec chaque image, ce qui facilite la reproduction ultérieure des réglages et fournit la documentation nécessaire pour créer des rapports. |
Microscopes inversés de contrôle
Microscope GX53 et système logiciel |
Nos caméras numériques offrent un affichage haute résolution et un transfert rapide des images. Elles sont complétées par un logiciel qui inclut tous les outils nécessaires pour répondre aux exigences complexes de la métallurgie actuelle.
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Microscopes de contrôle pour semi-conducteurs
Microscope intégré et système logiciel | Nous proposons plusieurs plates-formes logicielles qui s'intègrent à nos statifs de microscope pour semi-conducteurs. Elles permettent de commander toutes les fonctions motorisées, y compris la caméra numérique et la platine motorisée. Chaque interface est conçue pour une inspection et un contrôle de base, une analyse avancée des images, ou des inspections sur site et des revues de défauts répétées. |
Stéréomicroscopes de contrôle
Microscope SZX16 et système logiciel | Le réglage motorisé de la mise au point de notre stéréomicroscope automatise les documentations numériques créées à l'aide de l'EFI (imagerie focalisée étendue). Il permet également de produire des pseudo-images 3D. Le logiciel est doté d'outils pour effectuer des mesures 2D simples ainsi que des analyses de phase complexes. Il prend en charge de nombreuses opérations dont l'observation, la génération de rapports, la création de bases de données et l'archivage. |
Amélioration de la puissance des microscopes confocaux et numériques d’Olympus
Utilisez le logiciel OLYMPUS Stream pour le post-traitement (ordinateur Stream) avec la gamme complète de microscopes numériques de la série DSX et le microscope laser de mesure 3D LEXT.
Microscope laser de mesure 3D LEXT |
Série de microscopes numériques DSX |
> Afficher le microscope laser de mesure 3D LEXT
> Afficher le microscope numérique DSX
Compatible avec la plupart des caméras numériques Olympus
Résolution et fidélité des couleurs
L’excellente résolution spatiale combiné à un nombre élevé de pixels exploite la résolution optique complète des objectifs et permet d'obtenir une image des structures et des détails dans les plus petits échantillons, même avec des objectifs à faible grossissement. Les images haute définition permettent d’effectuer des observations à l'écran sans utiliser les oculaires.
Le faible bruit et les images de haute résolution du capteur 9 mégapixels permettent à l'utilisateur de zoomer en profondeur dans l’échantillon pour révéler des structures (grès).
> Afficher nos caméras numériques
Procédés d'observation dédiés pour les sciences des matériaux
Imagerie HDR pour un meilleur contraste
L'imagerie à plage dynamique élevée (HDR) améliore le contraste de l'image dans des conditions difficiles (zones très lumineuses et zones très sombres dans la même image). Toutes les caméras compatibles avec le logiciel OLYMPUS Stream peuvent être utilisées dans ce mode. Les caméras dédiées disposent d'un mode vidéo.
Exposition parfaite pour les zones sombres et les zones lumineuses grâce au HDR (échantillon : ampoule d’injecteur de carburant) |
Amélioration du contraste grâce au HDR (échantillon : coupe de magnésite) |
Observation MIX pour visualiser la structure de la surface d'un échantillon
Le logiciel prend en charge notre observation MIX
Cette technique d'illumination combine un fond noir directionnel, qui utilise une LED circulaire pour éclairer un ou plusieurs quadrants à un moment donné, et le fond clair, la fluorescence ou la polarisation, pour mettre en évidence des défauts et des différences de reliefs à partir de creux difficiles à observer avec des microscopes conventionnels. L'observation MIX, qui contribue à réduire le halo d'un échantillon, est utile pour visualiser la texture de la surface d'un échantillon.
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Conventionnel : un fond clair projette la lumière directement sur l'échantillon tandis qu'un fond noir traditionnel met en évidence les rayures et les imperfections sur une surface plane en éclairant l'échantillon depuis le côté de l'objectif. |
Avancé : MIX est une combinaison d'un fond clair
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Solutions
Aiuta nei problemi di ispezione
Le procedure operative standard dei laboratori industriali spesso richiedono dei risultati ripetibili e riproducibili. Il software OLYMPUS Stream facilita le ispezioni, le misure e le analisi attraverso un flusso di lavoro semplice e affidabile. Il software offre diversi strumenti per varie analisi nel campo delle scienze dei materiali, così da poter ottenere dei risultati affidabili.
I microscopi industriali Olympus supportano le soluzioni di analisi metallurgiche
Soluzione Rilevamento (Count-Measure)
La soluzione Count-Measure di OLYMPUS Stream utilizza avanzati metodi delle soglie per separare in modo affidabile oggetti, come particelle e graffi, dallo sfondo. Sono disponibili più di 50 differenti parametri di misura e classificazione degli oggetti, quali le proprietà relative a forma, dimensione, posizione e pixel.
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Software convenzionale | Microstruttura dell'acciaio inciso | OLYMPUS Stream |
Risultati della classificazione dei grani
Analisi efficace
Esempio di configurazione Macro Manager per la soluzione Count-Measure | Macro Manager permette di predefinire le attività di misura e imaging complesse e di eseguirle con un singolo clic. |
Potenti filtri delle immagini
Contrasto migliore mediante il filtro DCE (dendrite in alluminio pressofuso) | Il software offre numerosi filtri utili al riconoscimento dei contorni, smoothing e altri scopi. |
Tecnologia Deep Learning TruAI™
La segmentazione delle immagini, mediante metodi convenzionali di definizione delle soglie che dipendono dalla luminosità o dal colore, potrebbe omettere informazioni fondamentali o target nei campioni. La soluzione TruAI di OLYMPUS Stream offre un approccio di segmentazione più preciso mediante la tecnologia deep learning per un'analisi altamente riproducibile e affidabile.
- Intuitiva interfaccia utente per marcare le immagini in modo efficiente e addestrare dei modelli affidabili con eccellenti proprietà di generalizzazione
- Reti pre-addestrate possono essere applicate a delle analisi successive per un'applicazione simile
- Nell'ambito di diverse applicazioni delle scienze dei materiali, la segmentazione delle immagini mediante deep learning risulta utile per l'analisi dei metalli, il controllo qualità dei semiconduttori e la mineralogia
Maggior informazioni sul deep learning TruAI
Image originale de cendres volantes de charbon brun (à gauche) dans le logiciel OLYMPUS Stream et segmentation effectuée au moyen des méthodes de seuillage habituelles (à droite)
Image originale de cendres volantes de charbon brun (à gauche) dans le logiciel OLYMPUS Stream et segmentation par apprentissage profond (à droite)
Misure 3D e profili lineari
La soluzione 3D di OLYMPUS Stream fornisce il controllo sull'asse Z codificato e motorizzato e l'EFI istantanea con funzionalità di mappatura delle altezze per la misurazione di un campione tridimensionale.
Vista della superficie 3D (campione di analisi irregolare) |
Vista singola e misura del profilo 3D |
Soluzioni per la metallografia
| La metallografia viene usata nell'ambito dello sviluppo dei materiali, dell'ispezione di merce in arrivo, nel controllo dei processi produttivi e nell'analisi dei guasti.
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Soluzioni per il settore produttivo di automobili e macchinari
| Per produrre componenti di elevata qualità è necessario eseguire dei controlli rigorosi di graffi, cricche, dimensione dei pori e stato di contaminazione durante il processo produttivo.
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Soluzioni per il settore elettronico (dispositivi elettronici e semiconduttori)
| Nei circuiti stampati, lamine molto sottili sono rivestite. Verificare l'omogeneità di questo rivestimento rappresenta un aspetto fondamentale per la qualità.
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Soluzioni per il settore dei rivestimenti (rivestimenti superficiali e pellicole sottili)
| Per rivestimenti superficiali si intende qualunque composto di materiale contenente pigmenti, solventi e altri additivi che sia in grado di formare delle pellicole. Quando questo composto viene applicato alla superficie e viene lasciato essiccare, produce una pellicola sottile che risulta funzionale e spesso decorativa.
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Soluzioni personalizzate di flussi di lavoro
| Per semplificare ulteriormente le ispezioni, il team per le personalizzazioni Olympus progetta dei flussi di lavoro personalizzati nel software OLYMPUS Stream per specifiche situazioni applicative. Il processo operativo del software è configurato in base alle esigenze del cliente in modo da risolvere problematiche e raggiungere obiettivi velocemente nelle ispezioni con microscopio industriale. Maggior informazioni sulle soluzioni personalizzate di flussi di lavoro |
Soluzione per i materiali per diversi scopi
| Soluzioni | Descrizioni |
| Grain Intercept (Segmenti intersecanti dei grani) |
I produttori di acciaio utilizzano questa soluzione per misurare e controllare la dimensione dei grani in seguito a sezionamento trasversale, lucidatura, trattamento corrosivo (etching) dei campioni di acciaio.
La funzione è basata sulla sovrapposizione di "segmenti di analisi" e sul conteggio del numero di segmenti intersecanti che si sovrappongono ai contorni dei grani. |
| Grain Planimetric (Planimetria dei grani) |
I produttori di acciaio utilizzano questa soluzione per misurare e controllare la dimensione dei grani in seguito a sezionamento trasversale, lucidatura, trattamento corrosivo (etching) dei campioni di acciaio.
Questa funzione ricostruisce i contorni dei grani per ogni singolo grano e misura i grani con la percentuale dell'area della seconda fase. |
| Non-Metallic Inclusions (inclusioni non metalliche) | I produttori di acciaio utilizzano questa soluzione per misurare e controllare la forma e la dimensione di inclusioni non metalliche (ossidi, allumine, solfiti o silicati) nell'acciaio. |
| Cast Iron (Ghisa) | I produttori di ghisa usano questa soluzione quando devono misurare e controllare la nodularità della grafite e verificare le caratteristiche meccaniche dei propri prodotti in ghisa. |
| Chart Comparison (Confronto di diagrammi) | Un'immagine in tempo reale o statica può essere sovrapposta su diagrammi standard a fini di confronto. Funzione di anteprima. |
| Dendrite Arm Spacing (Distanza interdendritica) | Questa soluzione viene usata per determinare manualmente o automaticamente la distanza interdendritica media nell'alluminio pressofuso. |
| Layer Thickness (Spessore degli strati) | Uno o più strati di un campione sezionato trasversalmente possono essere misurati mediante la soluzione Layer Thickness. Le forme vengono definite e gli strati vengono misurati automaticamente. |
| Coating Thickness (Spessore del rivestimento) | Questa soluzione permette la misura dello spessore dei rivestimenti da immagini con vista superiore, utilizzando il metodo Calotest. |
| Automatic Measurements (Misure automatiche) | Questa soluzione viene usata per effettuare misure in base al riconoscimento dei contorni su un'immagine live con riconoscimento dello schema. |
| Throwing Power (Capacità potenza) | Questa soluzione permette di misurare la distribuzione dello spessore della placcatura in rame in fori passanti o microfori (via). |
| Porosity (Porosità) | Questa soluzione permette di misurare i pori per frazione di superficie o per numero di pori della superficie mediante la selezione dell'area di interesse (circolare, triangolare, rettangolare e poligonale) e le soglie. |
| Distribuzione delle particelle | Questa soluzione viene usata per creare tabelle e istogrammi di distribuzione dimensionale delle particelle attraverso immagini multiple o serie di immagini. |
| Advanced Phase Analysis (Analisi avanzata delle fasi) | Questa funzione offre una nuova soluzione integrata per eseguire analisi delle fasi in base alla selezione di diverse aree di interesse (ROI - regions of interest) come triangoli, cerchi, rettangoli e poligoni. |
| Soluzioni | Metalli | Automotive | Vetro e ceramica | Rivestimenti | Prodotti di consumo | Dispositivi elettronici |
| Grain Intercept (Segmenti intersecanti dei grani) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (Planimetria dei grani) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Campo peggiore delle inclusioni) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (Ghisa) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (Confronto di diagrammi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (Spessore degli strati) | ■ | |||||
| Coating Thickness (Spessore del rivestimento) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (Misure automatiche) | ■ | ■ | ||||
| Throwing Power (Capacità potenza) | ■ | ■ | ||||
| Porosity (Porosità) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Distribuzione delle particelle | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Analisi avanzata delle fasi) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Soluzioni |
Semi
conduttori | Liquidi e oli |
Pezzi
lavorati |
Carbone/
Materiali compositi |
Industria chimica/
Plastica/ Gomma |
Industriale
scientifica industriale |
| Grain Intercept (Segmenti intersecanti dei grani) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (Planimetria dei grani) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Campo peggiore delle inclusioni) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (Ghisa) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (Confronto di diagrammi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (Spessore degli strati) | ■ | ■ | ||||
| Coating Thickness (Spessore del rivestimento) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (Misure automatiche) | ||||||
| Throwing Power (Capacità potenza) | ||||||
| Porosity (Porosità) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Distribuzione delle particelle | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (Analisi avanzata delle fasi) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Caractéristiques techniques
Principales caractéristiques des licences
| ■ : Standard □ : En option | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
| Acquisition d’images | Acquisition d’image basique comprenant le HDR et l’étalonnage automatique du grossissement et HDR en temps réel*1, navigation de position*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Mise au point automatique par le logiciel*2 et acquisition d’images vidéo (format avi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Acquisition temporelle, EFI instantané et MIA instantané/manuel*3 | □ | ■ | ■ | |||
| EFI/MIA motorisé et acquisition par empilement en Z | □ | □ | ■ | |||
| Image et outils de personnalisation | Fenêtres d’outils basiques (historique de l’image, propriétés, navigateur, galerie)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Annotations, gestion des couches, échelle graphique, réticule, affichage d’informations et filtres d’image | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Réticule/grille numérique, affichage de profil de ligne, fonction personnalisée, gestion de la disposition d’écran et gestionnaire de macros | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures / analyse d’image | Mesure interactive de base (distance, angles, rectangles, cercles, ellipses, polygones, distance de cercle à cercle et rapporteur laser et rapporteur de ligne) et exportation des données dans MS-Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase, baguette magique, ligne brisée à main levée, polygone interpolé, filtre morphologique et arithmétique d’image | □ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures 3D, mesures de profil 3D et vue de surface 3D | □ | □ | ■ | ■ | ||
| Génération de rapports*5 | Production de rapports (formats MS Word et MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Création de présentations | □ | □ | □ | □ | ||
| Gestion des données | Stockage de documents Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Base de données pour groupe de travail avec format de données structuré | □ | □ | □ | □ | ||
| Matériel pris en charge | Microscopes Olympus*7 et caméras Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Caméras et convertisseurs de source d’image non-Olympus*9 | ■ | ■ | ■ | |||
| Contrôleur de platine non-Olympus*9 | □ | □ | ■ | |||
| Configuration PC requise | |
| Unité centrale | Intel® Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon |
| Mémoire RAM/Disque dur/Lecteur DVD | 4 Go ou plus (8 Go recommandés)/2,4 Go ou plus d’espace libre/Compatible avec les disques DVD+R DL |
| Systèmes d’exploitation*10 | Windows 10 Pro (64 bits) , Windows 8.1 (64 bits) Pro |
| .NET Framework | Version 4.6.2 ou ultérieure |
| Carte graphique*11 | Résolution de l’écran de 1280 × 1024 avec carte vidéo de 32 bits |
| Navigateur Internet | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 ou 11 |
*1 Requiert la caméra DP74 et la fonction Live HDR requiert un système d’exploitation 64 bits.
*2 Requiert un microscope Olympus avec un axe Z motorisé ou un axe Z externe motorisé avec OLYMPUS Stream Motion ou une solution d’automatisation
*3 La fonction MIA instantanée peut ne pas fonctionner correctement avec certaines caméras
*4 Écriture et lecture de la plupart des formats de fichier, ouverture des formats propres à Olympus (formats de fichiers DSX, LEXT et POIR)
*5 Nécessite d’installer au préalable Microsoft Word 2010, 2013, 2016, 2019 ou Office 365 (non fourni).
*6 Utilise Microsoft SQL Server Express
*7 Compatible avec les microscopes BX53M, BX2, IX2, GX, GX53, SZX, SZX2, SZX-ZE, MX, MX63, MX63L, MVX, STM7-CB, CBS, BX3M-CB, BX3M-CBFM et BX-REMCB.
*8 8 Compatible avec les caméras LC20, LC30, DP22, DP23, DP27, DP28, DP73, DP74, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50 et XM10.
*9 Veuillez contacter Olympus pour obtenir des informations sur les appareils pris en charge
*10 Les caméras Olympus fonctionnent avec tous les systèmes d’exploitation compatibles.
*11 Configurations requises pour le Live HDR sur la DP74. Carte graphique compatible avec la solution CUDA fabriquée par NVIDIA (capacité de calcul de 2.1 ou plus). Pilote de carte graphique compatible avec CUDA 9.1 et autres versions plus récentes.
Caractéristiques de solutions spéciales
□
| Solutions | Compatibilité | Fonctions | |||
| Basic | Essentials | Motion | Desktop | Type de mesure | |
| 3D | □ | □ | Inclus | Partiellement inclus* | Vue de surface 3D, mesure 3D, mesure de profil 3D, empilement en Z motorisé/EFI, EFI instantané avec carte de hauteur (requiert un axe en Z codé ou motorisé). |
| Automatisation des systèmes | □ | □ | Inclus | Solution d’automatisation (MIA motorisé/Manuel/Instantané, EFI Motorisé/Instantané sans carte de hauteur (nécessité des axes XYZ codés ou motorisés) et avec time-lapse. | |
| Mesure de soudage | □ | □ | □ | □ | Solution de mesure de soudures (mesures de la distorsion géométrique induite par la chaleur pendant le soudage). |
| Count & Measure (comptage et mesure) | □ | □ | □ | □ |
Plusieurs méthodes de seuil sont disponibles (automatique, manuelle HSV, manuelle et adaptative).
Le système peut automatiquement mesurer plusieurs paramètres sur tous les objets segmentés (surface, rapport de forme, bissectrice, rectangle de délimitation, centre de gravité, ID, centre de masse, valeurs d’intensité, convexité, diamètres, allongement, diamètre de Féret, étendue, distance des plus proches voisins, orientation, périmètre, rayon, forme, sphéricité, etc.) Tableur et abaques avec mesures individuelles et mesures de distribution. |
Technologie TruAI™ basée sur l’apprentissage profond | □ | □ | □ | Segmentation d’images précise et automatisée | |
* Impossible d’utiliser les fonctions relatives aux acquisitions d’images
Caractéristiques des solutions pour matériaux
| Solutions | Compatibilité | Extrants | ||||
| Basic | Essentials/Motion | Desktop | Production automatique de rapports | Classeur avec mesure individuelle | Stockage de tous les résultats dans les propriétés de l’image | |
| Grain Intercept (granulométrie – comptage des interceptions) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (inclusions non métalliques) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Cast Iron (fonte) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Chart Comparison (comparaison avec abaques) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Layer Thickness (épaisseur des couches) | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Coating Thickness (épaisseur de revêtement) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Dendrite Arm Spacing (espacement entre les branches dendritiques) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Automatic Measurements (mesures automatiques) | □ | □ | ■ | |||
| Throwing Power (pouvoir de pénétration) | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
| Porosity (porosité) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (Distribution des particules) | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (analyse de phase avancée) | □ | Inclus | Inclus | ■ | ■ | |
| Solutions | Fonctions | ||
| Type de mesure | Normes prises en charge |
Emplacements de platine multiples *1 Alignement de l’échantillon *1 | |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions |
Choix de formes (cercles, croix, croix et cercles, lignes verticales, lignes horizontales, lignes verticales et horizontales)
Définition du nombre de lignes de test pour la détermination de l’allongement du grain Affichage de l’indice G dans la fenêtre d’outils de solutions pour les matériaux | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) |
Extraction automatique des limites granulaires
Interaction utilisateur grâce aux curseurs Stream pour plus de facilité d’utilisation Affiche l’histogramme de la valeur G dans Material Solution (solutions pour les matériaux) et la navigation de position *1 pour une interaction directe | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Non-Metallic Inclusions (inclusions non métalliques) |
Détection automatique des inclusions non métalliques selon la couleur, la forme et la taille
Classement automatique des oxydes, sulfures, silicates et aluminates Champ le plus sale : L’inclusion la plus sale sera mesurée sur chaque champ Affichage en temps réel de l’inclusion détectée et de son évaluation Teneur moyenne : L’échantillon est balayé dans son intégralité à l’aide d’une platine motorisée Une évaluation de l’inclusion est réalisée sur chaque champ Le résultat est donné sous la forme d’un tableau intitulé « quantity of fields for each severity level » (quantité de champs pour chaque niveau de sévérité) | ASTM E45-18 (méthode A), DIN 50602:1985 (méthode M), ISO 4967:2013 (méthode A), GB/T 10561-2005 (méthode A, équivalente à ISO 4967), JIS G 0555:2003 (méthode A, équivalente à ISO 4967), UNI 3244:1980 (méthode M), EN 10247:2017 (méthodes P et M), SEP 1571:2017 (méthodes M et K), ASTM E45-18 (méthode D), ISO 4967:2013 (méthode B) et EN10247:2017 (méthode K). | ■ |
| Cast Iron (fonte) |
Sur des échantillons polis : mesure automatique des caractéristiques du graphite (taille, forme et distribution)
Sur des échantillons gravés : mesure du rapport ferrite-perlite Flux de travaux intégré tenant compte de l’état de l’échantillon (gravé ou poli) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (pour la nodularité uniquement) | |
| Chart Comparison (comparaison avec abaques) |
Plusieurs affichages offerts, y compris la superposition en temps réel
Curseurs Stream améliorant l’interaction avec l’utilisateur et offrant une plus grande facilité d’utilisation Calcul de statistiques sur les valeurs sélectionnées | ISO 643:1983, ISO 643:2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112:2010, EN 10247:2007, DIN 50602:1985, SEP 1572:1971, SEP 1520:1998, ISO 4505:1978 | |
| Layer Thickness (épaisseur des couches) |
Possibilité de déterminer les limites des couches par détection automatique, par baguette magique ou en mode manuel (en utilisant 2 ou 3 points)
Possibilité d’ajouter ou de supprimer des mesures individuelles ultérieurement Mesure de tous les types de couches (avec limites régulières ou non) Possibilité de calculer les valeurs moyennes, maximales et minimales, de même que les données statistiques pour chaque couche | ||
| Coating Thickness (épaisseur de revêtement) |
Revêtements imprimés mesurés à partir d’une vue de dessus
Calcul de l’épaisseur du revêtement en fonction de la géométrie de l’échantillon | EN 1071-2:2002, VDI 3824:2001, ISO 26423:2016 | |
| Dendrite Arm Spacing (espacement entre les branches dendritiques) | Détermination de l’espacement moyen entre les branches dendritiques dans les alliages d’aluminium | ||
| Automatic Measurements (mesures automatiques) |
Mesure automatique des distances (point à point, point à ligne, cercle à cercle, point à cercle, ligne à cercle)
Mesure automatique du diamètre de cercles (circularité, rectangle de délimitation) Mesure automatique des angles entre deux lignes Définition des valeurs de tolérance pour la mesure et la validation visuelle Modes expert et utilisateur pour la répétabilité des mesures | ■ | |
| Throwing Power (pouvoir de pénétration) |
Mesures manuelles du point d’intérêt sélectionné sur l’échantillon
Points prédéfinis qui seront déclenchés par l’opérateur Sélection du type de trous d’interconnexion et documentation de l’analyse Rapport et calcul automatique selon les mesures manuelles | ||
| Porosity (porosité) |
Détection des pores par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle, polygone ou baguette magique) avec fonctionnalité de chevauchement
Mesure de la surface spécifique, du nombre et de la densité des pores Mesure du plus gros pore Mesure d’une plage de tailles spécifiée | VW 50093/P6093:2012, | ■ |
| Particle Distribution (Distribution des particules) |
Définition des particules à l’aide de réglages de seuil simplifiés.
Classement automatique selon un paramètre sélectionné (taille, couleur ou forme) Mesure des régions d’intérêt et seuils multiples Définition de la validation et du codage selon les normes définies par l’utilisateur | ■ | |
| Advanced Phase Analysis (analyse de phase avancée) |
Proportion de phases par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle ou polygone)
Baguette magique, polyligne à main levée, polygone interpolé, filtre de morphologie et arithmétique d’image également utilisables Mesure du pourcentage de phase total par phase et par région d’intérêt Détection de la zone minimale sélectionnable | ■ | |
*1 Possible avec OLYMPUS Stream Motion et autres licences Stream avec solution d’automatisation
*2 Un abaque Stream avec la distribution peut être généré
Informations destinées aux clients utilisant LEXT et DSX avec OLYMPUS Stream
Veuillez confirmer ici si depuis, la combinaison des versions du logiciel présente des restrictions comme suit.
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