OLYMPUS Stream
Vue d’ensemble
Simplifiez vos travaux d'inspection
Le logiciel OLYMPUS Stream propose des processus intelligents, étape par étape, pour obtenir des images nettes et prêtes pour effectuer des mesures quantitatives et générer des rapports professionnels conformément aux normes les plus récentes. Les utilisateurs de tous niveaux d'expérience peuvent effectuer des analyses complexes d'images, allant de l'acquisition d’image à la génération de rapports standard, quel que soit l'état des images.
Conçu pour être flexible, le logiciel dispose d'une large gamme de fonctions nécessaires pour effectuer des observations rapides et précises sur divers échantillons tout en maintenant la sécurité et la fiabilité des données. Des solutions proposées en option permettent aux utilisateurs d'adapter le logiciel OLYMPUS Stream à leur application, notamment l'analyse de la qualité, la recherche et développement, le développement de procédés et le contrôle qualité.
Essayez gratuitement OLYMPUS Stream pendant 30 jours.
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Interface facile à utiliser et consignes étape par étape
Des technologies intelligentes pour acquérir des images nettes
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Gagnez du temps sur les tâches répétitives
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Conçu pour le matériel Olympus
Intégration parfaite avec les microscopes optiques Olympus
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Compatible avec la plupart des caméras numériques Olympus
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Procédés d'observation dédiés
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Résoudre les problématiques d'inspection
Solutions d'imagerie avancées
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Solutions pour la métallographie (secteurs des métaux et de la fonderie)
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Solutions pour le traitement des métaux (secteurs des pièces automobiles et des pièces usinées)
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Solutions pour l’électronique (secteurs des appareils électroniques et des semi-conducteurs)
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Solutions pour revêtements de surface et dépôts de film minces (industries du revêtement)
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Technologie intelligente
Consignes étape par étape
Dynamique, l'interface utilisateur réduit l'encombrement de l’écran en affichant uniquement les outils et les fonctions que vous souhaitez utiliser. L'interface vous guide tout au long des étapes, y compris la capture et le traitement des images et la génération de rapports. Des mesures simples et complexes peuvent être réalisées avec la même facilité grâce aux outils intuitifs du logiciel.
Des technologies intelligentes pour des images nettes
 | Rencontrez-vous fréquemment les situations suivantes ?
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution. |
Simplification de la disposition de l'écran
La disposition organisée du logiciel affiche le minimum de fonctions nécessaires pour effectuer les tâches requises. Ces dispositions simplifiées rationalisent les travaux d'inspection et guident les utilisateurs tout au long du processus d’inspection.
Acquisition d'image : capturez votre image en un simple clic de souris
Outils pour les images vidéo
Estimation de la taille des pores à l'aide des réticules numériques en temps réel (section transversale d’un moulage sous pression) | Le logiciel prend en charge les fonctions d'image vidéo pour une rétroaction immédiate. Le logiciel vous permet d'interagir avec l'image vidéo, qui est automatiquement calibrée, et d'effectuer des mesures quantitatives. |
Panorama rapide et profondeur de mise au point étendue
Créez rapidement des images qui dépassent la profondeur de mise au point standard ou le champ de vision. La fonction instantanée de mise au point étendue de l’image (EFI) utilise le réglage affiné de la mise au point pour combiner de nombreuses images prises à différents niveaux sur l'axe Z et former une image combinée unique complètement nette. L'alignement d’images multiples (MIA) facilite la création d'images panoramiques par un simple déplacement de la platine XY ; une platine motorisée n’est plus requise.
Image instantanée EFI d'un cristal : une image complètement focalisée est créée même dans des zones à faible contraste de l'échantillon
Image instantanée en MIA d’une pièce
Rappel des paramètres d’acquisition
Le système vous permet de rappeler rapidement les réglages précédents de la caméra afin de capturer des images reproductibles avec un aspect cohérent. Dans le cas d’un microscope motorisé, cette fonction peut récupérer automatiquement les précédents paramètres matériels. Si vous utilisez un microscope de la série BX, GX ou MX, le logiciel vous guide pour récupérer manuellement les réglages.
| Étapes de l'opération | Opérateur A | Opérateur B |
| Des opérateurs différents utilisent des réglages différents |
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| Vérification des réglages |
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| Synchronisation des réglages d'observation |
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| Réglages identiques, quels que soient les opérateurs |
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Solution 3D
Profilométrie 3D d'une trace d'usure | Cette solution crée des cartes de hauteur à partir de piles d’images acquises automatiquement ou manuellement avec différentes positions sur l'axe Z. L’image qui en résulte peut être visualisée en trois dimensions grâce à la vue de surface. Des mesures peuvent être réalisée, telles que les profils 3D et les différences de hauteur entre deux ou plusieurs points, et les résultats peuvent être exportés vers des classeurs et des feuilles de calcul Microsoft Excel. |
Gain de temps
Avez-vous déjà rencontré les problèmes suivants ?
Capture d’images
- Je souhaite prendre des images de grandes zones de manière répétée et efficace.
Mesures
- Je ne me souviens pas de l’ordre des fonctions à utiliser.
- J'ai besoin d'informations quantitatives de mon échantillon.
Partage
- Je veux créer et éditer rapidement un rapport.
- J’aimerais afficher l’image avec le grossissement.
- J'ai besoin de créer un rapport qui répond aux besoins de mon client.
- J'ai besoin de mettre à jour mon rapport avec une nouvelle image et une nouvelle mesure.
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution.
Utilisation guidée pour des analyses spécifiques
Le logiciel vous guide pour utiliser les fonctions dans le bon ordre lors de l’analyse d’images, y compris avec des méthodes conformes aux normes internationales les plus courantes. Dans le cas d’une platine motorisée, la fonction d’alignement accélère votre travail à plusieurs endroits de l’échantillon. Veuillez vous reporter à l'onglet « Solution » pour en savoir plus sur les solutions de matériaux.
Étalonnage automatique
 | La fonction d’étalonnage automatique utilise un micromètre standard pour étalonner le microscope. Elle génère automatiquement un rapport d’étalonnage. Cette fonction élimine la variabilité de l’utilisateur dans le processus d’étalonnage afin d'obtenir des mesures plus fiables. |
Outils d'inspection automatisés
Les outils automatisés du logiciel peuvent générer une grande quantité de données en quelques minutes. Grâce à l'étalonnage automatique du grossissement à l’aide d’un réticule de balayage, vos images sont affichées avec la bonne échelle et vos mesures sont confirmées. Des images de larges zones peuvent être automatiquement crées à l’aide des platines XYZ motorisées. Résultat : des images haute résolution de larges zones.
Image MIA nette et fortement contrastée d'un modèle de circuit intégré (observation sur fond noir avec objectif 20X)
Des informations quantitatives qui ont de la valeur
Les outils du logiciel fournissent des informations quantitatives sur votre échantillon. Les mesures interactives effectuées sur des images vidéo et fixes fournissent les dimensions de base (longueur, aire et diamètre). Les résultats sont directement visibles sur l'image.
La baguette magique et des formes de polygones complexes pour mesurer des aires en mode semi-automatique figurent parmi les mesures interactives avancées. La solution de comptage et de mesure donne également accès à plus d'une centaine de paramètres de particule pour réaliser une analyse quantitative basée sur la méthode des seuils.
Mesures de base (supra conducteur) |
Baguette magique (supra conducteur) |
Détection d'objets (supra conducteur) |
Génération efficace de rapports
Générer un rapport peut souvent prendre plus de temps que la capture de l’image et la prise des mesures. Grâce au logiciel, vous pouvez générer, de façon répétée, des rapports intelligents et complexes fondés sur des modèles prédéfinis. L’édition est simplifiée et les rapports peuvent être exportés vers Microsoft Word, Excel ou PowerPoint. La fonction de génération de rapports permet aussi de faire un zoom numérique et d’agrandir les images capturées. La taille des fichiers est raisonnable afin de faciliter l’échange de données par messagerie électronique.
Rapport professionnel récapitulant les données de décompte de particules
Votre système
Adaptez le logiciel à vos besoins
Développé spécialement pour les microscopes Olympus, le logiciel OLYMPUS Stream est un outil de mesure puissant et convivial. Grâce à ce logiciel, l’utilisateur n’a pas à enregistrer manuellement les paramètres optiques des objectifs UIS2 d’Olympus quand il utilise ceux-ci avec un microscope classique. Plus besoin non plus d’étalonner le grossissement du microscope lorsque les images acquises sont importées depuis nos microscopes DSX ou LEXT. Le logiciel est disponible en plusieurs versions, allant de progiciel d’entrée de gamme à celui rassemblant les fonctionnalités plus avancées.
Progiciels OLYMPUS Stream
OLYMPUS Stream est disponible en quatre progiciels selon les fonctionnalités : Start, Basic, Essentials et Motion.
Des modules de fonctionnalités dédiées aux matériaux, spécifiques à certaines applications, peuvent être ajoutés pour optimiser les tâches d’analyse répétitives. Les représentants d’Olympus sont à votre disposition pour vous aider à déterminer le progiciel le mieux adapté à vos besoins.
S’intègre parfaitement aux microscopes optiques Olympus
Microscopes droits de contrôle
 Microscope BX53M et système logiciel | Le microscope BX53M utilise des fonctions codées qui intègrent les paramètres matériels du microscope dans le logiciel OLYMPUS Stream. Le procédé d’observation, l’intensité de l’éclairage et la position de l’objectif sont tous enregistrés par le logiciel et/ou le clavier de commande. Les réglages du microscope peuvent être automatiquement enregistrés avec chaque image, ce qui facilite la reproduction ultérieure des réglages et fournit la documentation nécessaire pour créer des rapports. |
Microscopes inversés de contrôle
Microscope GX53 et système logiciel | Nos caméras numériques offrent un affichage haute résolution et un transfert rapide des images. Elles sont complétées par un logiciel qui inclut tous les outils nécessaires pour répondre aux exigences complexes de la métallurgie actuelle. |
Microscopes pour le contrôle des semi-conducteurs
Microscope intégré et système logiciel | Nous proposons plusieurs plateformes logicielles qui s’intègrent à nos statifs de microscope pour semi-conducteurs. Elles permettent de commander toutes les fonctions motorisées, y compris la caméra numérique et la platine motorisée. Chaque interface est conçue pour une inspection et un contrôle de base, une analyse avancée des images, ou des inspections sur site et analyses de défauts répétées. |
Stéréomicroscopes de contrôle
Microscope SZX16 et système logiciel | Le réglage motorisé de la mise au point de notre stéréomicroscope automatise les documentations numériques créées à l’aide de l’EFI (imagerie focalisée étendue). Il permet également de produire des pseudo-images 3D. Le logiciel est doté d’outils pour effectuer des mesures 2D simples ainsi que des analyses de phase complexes. Il prend en charge de nombreuses opérations dont l’observation, la génération de rapports, la création de bases de données et l’archivage. |
Amélioration de la puissance des microscopes confocaux et numériques d’Olympus
Utilisez le logiciel OLYMPUS Stream pour le post-traitement (ordinateur Stream) avec la gamme complète de microscopes numériques de la série DSX et le microscope laser de mesure 3D LEXT.
Microscope laser de mesure 3D LEXT |
Série de microscopes numériques DSX |
Voir le microscope laser de mesure 3D LEXT
Voir le microscope numérique DSX
Compatible avec la plupart des caméras numériques Olympus
Résolution et fidélité des couleurs
Le faible bruit de fond et les images haute résolution du capteur 9 mégapixels permettent à l’utilisateur de zoomer en profondeur dans l’échantillon pour révéler des structures (grès). | L’excellente résolution spatiale combiné à un nombre élevé de pixels exploite la résolution optique complète des objectifs et permet d’obtenir une image des structures et des détails dans les plus petits échantillons, même avec des objectifs à faible grossissement. Les images haute définition vous permettent de réaliser des observations directement à l’écran, sans utiliser les oculaires. |
Une meilleure visualisation grâce à l’infrarouge (IR)
Image à fond clair 5x obtenue avec la caméra monochrome DP23M : | Le mode d’imagerie IR est un outil fondamental pour les responsables du contrôle qualité et les laboratoires de recherche et développement. L’infrarouge permet l’inspection non destructrice à travers les couches de silicium de produits encapsulés lors des étapes finales de fabrication. |
Procédés d’observation dédiés aux sciences des matériaux
Imagerie HDR pour un meilleur contraste
L’imagerie à gamme dynamique étendue (HDR) améliore le contraste de l’image dans des conditions difficiles (zones très lumineuses et zones très sombres dans la même image). Toutes les caméras compatibles avec le logiciel OLYMPUS Stream peuvent être utilisées dans ce mode. Les caméras dédiées disposent d’un mode vidéo.
Exposition parfaite pour les zones sombres et les zones lumineuses grâce au HDR (échantillon : ampoule d’injecteur de carburant) |
Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR (échantillon : coupe de magnésite) |
Mode d’observation MIX pour visualiser la structure de la surface d’un échantillon
Le logiciel prend en charge notre mode d’observation combinée (MIX).
Cette technique d’illumination combine l’observation en champ sombre directionnel, qui utilise une DEL circulaire pour éclairer un ou plusieurs quadrants à un moment donné, et la microscopie à fond clair, en fluorescence ou à lumière polarisée pour mettre en évidence des défauts et des différences de reliefs à partir de creux difficiles à observer avec des microscopes conventionnels. L’observation MIX, qui contribue à réduire le halo d’un échantillon, est utile pour visualiser la texture de la surface d’un échantillon.
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Conventionnel : Un fond clair projette la lumière directement sur l’échantillon tandis qu’un fond noir traditionnel met en évidence les rayures et les imperfections sur une surface plane en éclairant l’échantillon depuis le côté de l’objectif. | Avancé : MIX est une combinaison d’un fond clair et d’un fond noir directionnel à partir d’un anneau de DEL ; les DEL peuvent être réglées pour sélectionner la direction de l’éclairage. | ||
Solutions
Résolvez vos problématiques d’inspection
Les procédures de fonctionnement standard des laboratoires industriels exigent souvent d’obtenir des résultats reproductibles. Le logiciel OLYMPUS Stream facilite l'inspection, les mesures et les analyses grâce à un processus simple et fiable. Le logiciel propose un éventail d'outils applicables à différentes analyses en sciences des matériaux pour avoir une confiance totale dans vos résultats.
Les microscopes industriels OLYMPUS accompagnent les solutions d’analyse métallurgique.
Solution de comptage et de mesure
La solution de comptage et de mesure du logiciel applique des méthodes de seuils avancées pour séparer de l’arrière-plan des objets, tels que des particules et des rayures. Plus de 50 paramètres différents de mesure et de classification d’objets sont disponibles, notamment des paramètres de forme, de taille, de position et de propriétés des pixels.
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Logiciel conventionnel | Microstructure de l'acier attaqué | OLYMPUS Stream |
Résultats de classification des grains
Analyses efficaces
Exemple de configuration du gestionnaire macro pour le comptage et la mesure | Vous pouvez prérégler des tâches complexes d'imagerie et de mesure avec le gestionnaire de macro, puis les exécuter avec un simple clic. |
Puissants filtres d’image
Amélioration du contraste à l’aide du filtre DCE (dendrite dans une pièce fondue en aluminium) | OLYMPUS Stream dispose d’une variété de filtres destinés, entre autres, à la détection des bords et au lissage. |
Technologie TruAI™ basée sur l’apprentissage profond
La segmentation d’images à l’aide de méthodes de seuil traditionnelles qui dépendent de la luminosité ou de la couleur peut manquer des informations ou des cibles essentielles dans les échantillons. La solution TruAI d’OLYMPUS Stream propose une approche de segmentation plus précise à l’aide de la technologie d’apprentissage profond, pour une analyse hautement reproductible et robuste.
- Interface utilisateur intuitive pour marquer efficacement des images et entraîner des modèles robustes avec d’excellentes propriétés de généralisation
- Réseaux neuronaux préentraînés pouvant être appliqués à des analyses futures pour une application similaire
- Segmentation d’images à l’aide de l’apprentissage profond utile pour diverses applications en sciences des matériaux, notamment l’analyse des métaux, le contrôle de la qualité des semi-conducteurs et la minéralogie
En savoir plus sur l’apprentissage profond TruAI
Image originale de cendres volantes de lignite (à gauche) dans OLYMPUS Stream/PRECiV, segmentation de l’image à l’aide de méthodes de seuillage classiques (à droite)
Image originale de cendres volantes de lignite (à gauche) dans OLYMPUS Stream/PRECiV, segmentation de l’image par apprentissage profond (à droite)
Profils de ligne et de mesure 3D
La solution 3D d’OLYMPUS Stream permet un contrôle de l’axe Z codé et motorisé et une imagerie à profondeur de champ étendue instantanée avec une fonctionnalité de cartographie de la hauteur pour mesurer un échantillon en 3D.
Vue de surface 3D (échantillon de test de rugosité) |
Vue simple et mesure de profil en 3D |
Solutions pour métallographie
| La métallographie est utilisée dans le développement de matériaux, l’inspection à la réception, la production et le contrôle de la fabrication, ainsi que pour l’analyse des défaillances.
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Solutions pour le traitement des métaux (secteurs des pièces automobiles et des pièces usinées)
| Afin de produire des pièces de haute qualité, les rayures, les fissures, la taille des pores et la contamination doivent être strictement surveillées pendant le processus de production.
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Solutions pour l’électronique (secteurs des appareils électroniques et des semi-conducteurs)
| Dans les circuits imprimés, des plaques très fines sont revêtues, et la vérification de l’homogénéité de ce revêtement est un élément clé de la qualité du produit.
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Solutions pour revêtements de surface et dépôts de film minces (industries du revêtement)
| Les revêtements de surface sont un mélange de matériaux qui contiennent des pigments, des solvants et d’autres additifs, et qui, lorsqu’ils sont appliqués à une surface et durcis ou séchés, forment un film fin qui est fonctionnel et souvent décoratif.
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Solutions de processus personnalisées
| L’équipe de personnalisation d’Olympus conçoit des procédures d’analyse sur mesure dans le logiciel d’analyse d’images OLYMPUS Stream pour des applications spécifiques. Le processus d’utilisation du logiciel est configuré selon vos besoins afin que vous puissiez résoudre rapidement les problèmes et atteindre vos objectifs lors de vos inspections à l’aide de microscopes industriels. En savoir plus sur les solutions de processus personnalisées |
Des solutions pour matériaux adaptées à chaque domaine
| Solutions | Descriptions |
| Grain Intercept (granulométrie – comptage des interceptions) |
Les producteurs d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la taille des grains après la coupe transversale, le polissage ou l’attaque d’échantillons en acier.
Cette fonction est basée sur la superposition de « lignes de test » et le comptage du nombre de points d’interception de ces lignes avec les joints de grains. |
| Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) |
Les producteurs d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la taille des grains après la coupe transversale, le polissage ou l’attaque d’échantillons en acier.
Cette fonction reconstruit les joints de chaque grain et mesure la taille des grains avec le pourcentage de surface de la seconde phase. |
| Non-Metallic Inclusions (inclusions non métalliques) | Les producteurs d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la forme et la taille des inclusions non métalliques (oxyde, alumine, sulfure ou silicate) dans l’acier. |
| Cast Iron (fonte) | Les fabricants de pièces moulées utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la nodularité du graphite et pour vérifier les caractéristiques mécaniques de leurs produits de fonderie. |
| Chart Comparison (comparaison avec abaques) | Une image fixe ou en temps réel peut être superposée sur des abaques standards à des fins de comparaison. L’aperçu de la fonction est disponible. |
| Dendrite Arm Spacing (espacement entre les branches dendritiques) | Cette solution est utilisée pour déterminer manuellement ou automatiquement l’espacement moyen entre les branches dendritiques dans la fonte d’aluminium. |
| Layer Thickness (épaisseur des couches) | La solution Layer Thickness (épaisseur des couches) permet de mesurer une ou plusieurs couches d’un échantillon en coupe transversale. Les formes sont définies et les couches sont mesurées de manière automatique. |
| Coating Thickness (épaisseur de revêtement) | Cette solution permet de mesurer l’épaisseur du revêtement à partir d’images en vue de dessus au moyen de la méthode du Calotest. |
| Automatic Measurements (mesures automatiques) | Cette solution est utilisée pour effectuer, sur une image en temps réel, des mesures fondées sur la détection des bords avec reconnaissance des formes. |
| Throwing Power (pouvoir de pénétration) | Cette solution permet de mesurer la distribution de l’épaisseur d’un placage en cuivre dans des trous traversants ou des microtrous d’interconnexion. |
| Porosity (porosité) | Cette solution permet de mesurer les pores, soit en proportion de la surface ou en nombre de pores à l’aide de régions d’intérêt (circulaires, triangulaires, rectangulaires et polygonales) et de seuils. |
| Particle Distribution (distribution des particules) | Cette solution permet de créer des histogrammes et des tableaux de distribution de la taille des particules à partir d’images multiples ou de séries d’images. |
| Advanced Phase Analysis (analyse de phase avancée) | Cette fonctionnalité offre une nouvelle solution intégrée d’analyse de phase sur un choix de régions d’intérêt, y compris des triangles, des cercles, des rectangles et des polygones. |
| Solutions | Métal/moulage | Automobile | Verre/céramique | Revêtement | Biens de consommation | Appareils électroniques |
| Grain Intercept (granulométrie – comptage des interceptions) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Inclusion par méthode du champ le plus sale) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (fonte) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (comparaison avec abaques) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (épaisseur des couches) | ■ | |||||
| Coating Thickness (épaisseur de revêtement) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (mesures automatiques) | ■ | ■ | ||||
| Throwing Power (pouvoir de pénétration) | ■ | ■ | ||||
| Porosity (porosité) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (distribution des particules) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (analyse de phase avancée) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Solutions |
Semi-
conducteurs | Liquides et huiles |
Pièces
usinées |
Carbone/
composites |
Produits chimiques/
plastique/ caoutchouc | Recherche |
| Grain Intercept (granulométrie – comptage des interceptions) | ■ | ■ | ■ | |||
| Grain Planimetric (granulométrie – méthode planimétrique) | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion Worst Field (Inclusion par méthode du champ le plus sale) | ■ | ■ | ■ | |||
| Cast Iron (fonte) | ■ | ■ | ■ | |||
| Chart Comparison (comparaison avec abaques) | ■ | ■ | ■ | |||
| Layer Thickness (épaisseur des couches) | ■ | ■ | ||||
| Coating Thickness (épaisseur de revêtement) | ■ | |||||
| Automatic Measurements (mesures automatiques) | ||||||
| Throwing Power (pouvoir de pénétration) | ||||||
| Porosity (porosité) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Particle Distribution (distribution des particules) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Advanced Phase Analysis (analyse de phase avancée) | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
Caractéristiques techniques
Principales caractéristiques des licences
| ■ : Standard □ : En option | Start | Basic | Essentials | Motion | Desktop | |
| Acquisition d’images | Acquisition d’image basique comprenant la fonction HDR et l’étalonnage automatique du grossissement et de l’HDR en temps réel*1, ainsi que la navigation de position*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Mise au point automatique par le logiciel*2 et acquisition d’images vidéo (format avi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Imagerie séquentielle, fonctions EFI instantanée et MIA instantanée/manuelle*3 | □ | ■ | ■ | |||
| Acquisitions par fonctions EFI/MIA motorisées et empilement de mises au point | □ | □ | ■ | |||
| Outils d’imagerie et de personnalisation | Fenêtres d’outils basiques (historique de l’image, propriétés, navigateur, galerie)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Annotations, gestion des couches, échelle, réticule, affichage d’informations et filtres d’image | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Réticule/grille numérique, affichage de profil de ligne, fonction personnalisée (« My function »), gestion de la disposition de l’affichage à l’écran et gestionnaire de macros (« Macro Manager ») | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures / analyse d’image | Mesure interactive de base (distance, angles, rectangles, cercles, ellipses, polygones, distance de cercle à cercle et rapporteur laser et rapporteur de ligne) et exportation des données dans MS Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phases, baguette magique, polyligne à main levée, polygone interpolé, filtre morphologique et opérations arithmétiques sur l’image | □ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures 3D, mesures du profil 3D et vue 3D de la surface | □ | □ | ■ | ■ | ||
| Création de rapports*5 | Production de rapports (formats MS Word et MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Création de présentations | □ | □ | □ | □ | ||
| Gestion des données | Stockage de documents Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Base de données pour groupe de travail avec format de données structuré | □ | □ | □ | □ | ||
| Appareils compatibles | Microscopes Olympus*7 et caméras Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Caméras et convertisseurs de source d’image autres qu’Olympus*9 | ■ | ■ | ■ | |||
| Contrôleur de platine autre qu’Olympus*9 | □ | □ | ■ | |||
| Configuration PC requise | |
| Processeur | Intel® Core i5, Intel® Core i7, Intel® Xeon |
| Mémoire RAM/disque dur/lecteur DVD | 4 Go ou plus (8 Go recommandés)/2,4 Go ou plus d’espace libre/compatible avec les disques DVD+R DL |
| Systèmes d’exploitation*10 | Windows 10 Pro (64 bits) , Windows 8.1 (64 bits) Pro |
| .NET Framework | Version 4.6.2 ou ultérieure |
| Carte graphique*11 | Résolution de l’écran de 1280 × 1024 avec carte vidéo de 32 bits |
| Navigateur Internet | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 ou 11 |
*1 Requiert la caméra DP74 ; la fonction Live HDR requiert un système d’exploitation 64 bits.
*2 Requiert un microscope Olympus avec un axe Z motorisé ou un axe Z externe motorisé avec OLYMPUS Stream Motion ou une solution d’automatisation.
*3 La fonction MIA instantanée peut ne pas fonctionner correctement avec certaines caméras.
*4 Écriture et lecture de la plupart des formats de fichier, ouverture des formats propres à Olympus (formats de fichiers DSX, LEXT et POIR).
*5 Nécessite d’installer au préalable Microsoft Word 2010, 2013, 2016, 2019 ou Office 365 (non fourni).
*6 Utilise Microsoft SQL Server Express.
*7 Compatible avec les systèmes BX53M, BX2, IX2, GX, GX53, SZX, SZX2, SZX-ZE, MX, MX63, MX63L, MVX, STM7-CB, CBS, BX3M-CB, BX3M-CBFM et BX-REMCB.
*8 Compatible avec les systèmes LC20, LC30, LC35, DP22, DP23, DP27, DP28, DP73, DP74, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10 et DP23M.
*9 Veuillez contacter Olympus pour obtenir des informations sur les appareils compatibles.
*10 Les caméras Olympus fonctionnent avec tous les systèmes d’exploitation compatibles.
*11 Configurations requises pour la fonction Live HDR sur la DP74. Carte graphique compatible avec la technologie CUDA fabriquée par NVIDIA (capacité de calcul de 2.1 ou plus). Pilote de carte graphique compatible avec CUDA 9.1 et autres versions plus récentes.
Caractéristiques des fonctionnalités spéciales
| Fonctionnalités | Compatibilité | Fonctions | |||
| Basic | Essentials | Motion | Desktop | Type de mesure | |
| 3D | □ | □ | Incluse | Partiellement incluse* | Vue 3D de la surface, mesures 3D, mesures du profil 3D, fonctions d’empilement de mises au point/EFI motorisées, fonction EFI instantanée avec cartographie de la hauteur (requiert un axe des Z codé ou motorisé). |
| Automatisation | □ | □ | Incluse | Solution d’automatisation (fonction MIA motorisée/manuelle/instantanée, fonction EFI motorisée/instantanée sans cartographie de hauteur (nécessité de disposer d’axes XYZ codés ou motorisés) et avec imagerie séquentielle. | |
| Mesure de soudures | □ | □ | □ | □ | Fonctionnalité de mesure de soudures (mesures de la distorsion géométrique induite par la chaleur pendant le soudage). |
| Comptage et mesure | □ | □ | □ | □ |
Plusieurs méthodes de seuillage d’image sont disponibles (automatique, TSV manuel, manuelle et adaptative).
Le système peut automatiquement mesurer plusieurs paramètres sur tous les objets segmentés (surface, rapport de forme, bissectrice, rectangle de délimitation, centre de gravité, ID, centre de masse, valeurs d’intensité, convexité, diamètres, allongement, diamètre de Féret, étendue, distance des plus proches voisins, orientation, périmètre, rayon, forme, sphéricité, etc.) Tableur et abaques avec mesures individuelles et mesures de distribution. |
Technologie TruAI™ basée sur l’apprentissage profond | □ | □ | □ | Segmentation d’images précise et automatisée, y compris fonctionnalité de segmentation par contours (« instance segmentation ») | |
* Impossibilité d’utiliser les fonctions relatives aux acquisitions d’images
Caractéristiques des solutions dédiées aux matériaux
| Fonctionnalités | Compatibilité | Résultat | ||||
| Basic | Essentials/Motion | Desktop | Création automatique de rapports | Classeur avec mesure individuelle | Stockage de tous les résultats dans les propriétés de l’image | |
| Granulométrie – mesure par intercepts | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Granulométrie – méthode planimétrique | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
| Inclusions non métalliques | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Fonte | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Comparaison avec abaques | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Épaisseur de couche | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Épaisseur de revêtement | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Espacement entre bras dendritiques | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Mesures automatiques | □ | □ | ■ | |||
| Pouvoir de pénétration | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
| Porosité | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Distribution des particules | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase avancée | □ | Incluse | Incluse | ■ | ■ | |
| Fonctionnalités | Fonctions | ||
| Type de mesure | Normes prises en charge | Emplacements de platine multiples *1 / Alignement de l’échantillon *1 | |
| Granulométrie – comptage des interceptions |
Choix de formes (cercles, croix, croix et cercles, lignes verticales, lignes horizontales, lignes verticales et horizontales)
Définition du nombre de lignes de test pour la détermination de l’allongement du grain Affichage de la valeur G de grossissement du microscope dans la fenêtre d’outils « Material Solution » (solutions dédiées aux matériaux) | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Granulométrie – méthode planimétrique |
Extraction automatique des joints de grains
Intervention de l’utilisateur à l’aide des curseurs Stream offrant une plus grande facilité d’utilisation Affiche l’histogramme de la valeur G dans « Material Solution » (solutions dédiées aux matériaux) et la navigation de position *1 pour une interaction directe | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Inclusions non métalliques |
Détection automatique des inclusions non métalliques selon la couleur, la forme et la taille
Classement automatique des oxydes, sulfures, silicates et aluminates Champ le plus contaminé : L’inclusion la plus sévère sera mesurée sur chaque champ. Affichage en temps réel de l’inclusion détectée et de son classement Teneur moyenne : L’échantillon est balayé dans son intégralité à l’aide d’une platine motorisée. Un classement des inclusions est réalisé sur chaque champ. Le résultat est donné sous la forme d’un tableau intitulé « Quantity of fields for each severity level » (quantité de champs pour chaque niveau de sévérité). | ASTM E45-18 (méthode A), DIN 50602:1985 (méthode M), ISO 4967:2013 (méthode A), GB/T 10561-2005 (méthode A, équivalente à ISO 4967), JIS G 0555:2003 (méthode A, équivalente à ISO 4967), UNI 3244:1980 (méthode M), EN 10247:2017 (méthodes P et M), SEP 1571:2017 (méthodes M et K), ASTM E45-18 (méthode D), ISO 4967:2013 (méthode B) et EN10247:2017 (méthode K). | ■ |
| Fonte |
Sur des échantillons polis : mesure automatique des caractéristiques du graphite (taille, forme et distribution)
Sur des échantillons gravés : mesure du rapport ferrite-perlite Flux de travaux intégré tenant compte de l’état de l’échantillon (gravé ou poli) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (pour la nodularité uniquement) | |
| Comparaison avec abaques |
Plusieurs affichages proposés, y compris la superposition en temps réel
Intervention de l’utilisateur à l’aide des curseurs Stream offrant une plus grande facilité d’utilisation Calcul de statistiques sur les valeurs sélectionnées | ISO 643:1983, ISO 643:2012, ISO 945-1:2008, ASTM E 112:2010, EN 10247:2007, DIN 50602:1985, SEP 1572:1971, SEP 1520:1998, ISO 4505:1978 | |
| Épaisseur des couches |
Possibilité de déterminer les limites des couches par détection automatique, par baguette magique ou en mode manuel (en utilisant 2 ou 3 points)
Possibilité d’ajouter ou de supprimer des mesures individuelles ultérieurement Prise en charge des mesures de tous les types de couches (avec limites régulières ou non) Possibilité de calculer les valeurs moyennes, maximales et minimales, de même que les données statistiques pour chaque couche | ||
| Épaisseur de revêtement |
Revêtements imprimés mesurés à partir d’une vue de dessus
Calcul de l’épaisseur du revêtement en fonction de la géométrie de l’échantillon | EN 1071-2:2002, VDI 3824:2001, ISO 26423:2016 | |
| Espacement entre les branches dendritiques | Détermination de l’espacement moyen entre les bras dendritiques dans les alliages d’aluminium | ||
| Mesures automatiques |
Mesure automatique de distances (point à point, point à ligne, cercle à cercle, point à cercle, ligne à cercle)
Mesure automatique du diamètre de cercles (circularité, rectangle de délimitation) Mesure automatique des angles entre deux lignes Définition des valeurs de tolérance pour la mesure et la validation visuelle Modes expert et utilisateur pour la répétabilité des mesures | ■ | |
| Pouvoir de pénétration |
Mesures manuelles du point d’intérêt sélectionné sur l’échantillon
Points prédéfinis déclenchés par l’opérateur Sélection du type de trous d’interconnexion et documentation de l’analyse Rapports et calcul automatique selon les mesures manuelles | ||
| Porosité |
Détection des pores par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle, polygone ou baguette magique) avec fonctionnalité de chevauchement
Mesure de la surface spécifique, du nombre et de la densité des pores Mesure du plus gros pore Mesure d’une plage de tailles spécifiée | VW 50093/P6093:2012, | ■ |
| Distribution des particules |
Définition des particules à l’aide de réglages de seuil simplifiés.
Classement automatique selon un paramètre sélectionné (taille, couleur ou forme) Mesure des régions d’intérêt et seuils multiples Définition de la validation et du codage selon les normes définies par l’utilisateur | ■ | |
| Analyse de phase avancée |
Proportion de phases par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle ou polygone)
Baguette magique, polyligne à main levée, polygone interpolé, filtre de morphologie et arithmétique d’image également utilisables Mesure du pourcentage de phase total, par phase et par région d’intérêt Détection de la zone minimale sélectionnable | ■ | |
* 1 Possible avec OLYMPUS Stream Motion et autres licences Stream avec solution d’automatisation
* 2 Un abaque Stream avec la distribution peut être généré.
Informations destinées aux clients utilisant LEXT et DSX avec OLYMPUS Stream
Veuillez consulter le tableau ici, car il y a certaines restrictions relativement à la combinaison des versions logicielles.
Ressources
Notes d’application
Vidéos
Webinaires
Manuels
Solutions
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