Solutions industrielles
Le logiciel OLYMPUS Stream propose des processus intelligents, étape par étape, pour obtenir des images nettes et prêtes pour effectuer des mesures quantitatives et générer des rapports professionnels conformément aux normes les plus récentes. Les utilisateurs de tous niveaux d'expérience peuvent effectuer des analyses complexes d'images, allant de l'acquisition d’image à la génération de rapports standard, quel que soit l'état des images.
Conçu pour être flexible, le logiciel dispose d'une large gamme de fonctions nécessaires pour effectuer des observations rapides et précises sur divers échantillons tout en maintenant la sécurité et la fiabilité des données. Des solutions proposées en option permettent aux utilisateurs d'adapter le logiciel OLYMPUS Stream à leur application, notamment l'analyse de la qualité, la recherche et développement, le développement de procédés et le contrôle qualité.
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Dynamique, l'interface utilisateur réduit l'encombrement de l’écran en affichant uniquement les outils et les fonctions que vous souhaitez utiliser. L'interface vous guide tout au long des étapes, y compris la capture et le traitement des images et la génération de rapports. Des mesures simples et complexes peuvent être réalisées avec la même facilité grâce aux outils intuitifs du logiciel.
Rencontrez-vous fréquemment les situations suivantes ?
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution.
La disposition organisée du logiciel affiche le minimum de fonctions nécessaires pour effectuer les tâches requises. Ces dispositions simplifiées rationalisent les travaux d'inspection et guident les utilisateurs tout au long du processus d’inspection.
Acquisition d'image : capturez votre image en un simple clic de souris
Estimation de la taille des pores à l'aide des réticules numériques en temps réel (section transversale d’un moulage sous pression)
Le logiciel prend en charge les fonctions d'image vidéo pour une rétroaction immédiate. Le logiciel vous permet d'interagir avec l'image vidéo, qui est automatiquement calibrée, et d'effectuer des mesures quantitatives.
Créez rapidement des images qui dépassent la profondeur de mise au point standard ou le champ de vision. La fonction instantanée de mise au point étendue de l’image (EFI) utilise le réglage affiné de la mise au point pour combiner de nombreuses images prises à différents niveaux sur l'axe Z et former une image combinée unique complètement nette. L'alignement d’images multiples (MIA) facilite la création d'images panoramiques par un simple déplacement de la platine XY ; une platine motorisée n’est plus requise.
Image instantanée EFI d'un cristal : une image complètement focalisée est créée même dans des zones de faible contraste de l'échantillon
Image instantanée en MIA d’une pièce
Le système vous permet de rappeler rapidement les réglages précédents de la caméra afin de capturer des images reproductibles avec un aspect cohérent. Dans le cas d’un microscope motorisé, cette fonction peut récupérer automatiquement les précédents paramètres matériels. Si vous utilisez un microscope de la série BX, GX ou MX, le logiciel vous guide pour récupérer manuellement les réglages.
| Étapes de l'opération | Opérateur A | Opérateur B |
| Des opérateurs différents utilisent des réglages différents |
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| Vérification des réglages |
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| Synchronisation des réglages d'observation |
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| Réglages identiques, quels que soient les opérateurs |
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Profilométrie 3D d'une trace d'usure
Cette solution crée des cartes de hauteur à partir de piles d’images acquises automatiquement ou manuellement avec différentes positions sur l'axe Z. L’image qui en résulte peut être visualisée en trois dimensions grâce à la vue de surface. Des mesures peuvent être réalisée, telles que les profils 3D et les différences de hauteur entre deux ou plusieurs points, et les résultats peuvent être exportés vers des classeurs et des feuilles de calcul Microsoft Excel.
Avez-vous déjà rencontré les problèmes suivants ?
Capture d’images
Mesures
Partage
Le logiciel OLYMPUS Stream est la solution.
Le logiciel vous guide pour utiliser les fonctions dans le bon ordre lors de l’analyse d’images, y compris avec des méthodes conformes aux normes internationales les plus courantes. Dans le cas d’une platine motorisée, la fonction d’alignement accélère votre travail à plusieurs endroits de l’échantillon. Veuillez-vous reporter à l'onglet Solution pour en savoir plus sur les solutions de matériaux.
La fonction d’étalonnage automatique utilise un micromètre standard pour étalonner le microscope. Elle génère automatiquement un rapport d’étalonnage. Cette fonction élimine la variabilité de l’utilisateur dans le processus d’étalonnage afin d'obtenir des mesures plus fiables.
Les outils automatisés du logiciel peuvent générer une grande quantité de données en quelques minutes. Grâce à l'étalonnage automatique du grossissement à l’aide d’un réticule de balayage, vos images sont affichées avec la bonne échelle et vos mesures sont confirmées. Des images de larges zones peuvent être automatiquement crées à l’aide des platines XYZ motorisées. Résultat : des images haute résolution de larges zones.
Image MIA nette et fortement contrastée d'un modèle de circuit intégré (observation sur fond noir avec objectif 20X)
Les outils du logiciel fournissent des informations quantitatives sur votre échantillon. Les mesures interactives effectuées sur des images vidéo et fixes fournissent les dimensions de base (longueur, aire et diamètre). Les résultats sont directement visibles sur l'image.
La baguette magique et des formes de polygones complexes pour mesurer des aires en mode semi-automatique figurent parmi les mesures interactives avancées. La solution de comptage et de mesure donne également accès à plus d'une centaine de paramètres de particule pour réaliser une analyse quantitative basée sur la méthode des seuils.
Mesures de base (supra conducteur)
Baguette magique (supra conducteur)
Détection d'objets (supra conducteur)
Générer un rapport peut souvent prendre plus de temps que la capture de l’image et la prise des mesures. Grâce au logiciel, vous pouvez générer, de façon répétée, des rapports intelligents et complexes fondés sur des modèles prédéfinis. L’édition est simplifiée et les rapports peuvent être exportés vers Microsoft Word, Excel ou PowerPoint. La fonction de génération de rapports permet aussi de faire un zoom numérique et d’agrandir les images capturées. La taille des fichiers est raisonnable afin de faciliter l’échange de données par messagerie électronique.
Rapport professionnel récapitulant les données de décompte de particules
Outil de mesure puissant et convivial, OLYMPUS Stream a été développé pour les microscopes Olympus avec l’aide d’utilisateurs expérimentés. Pour mieux répondre aux besoins de chaque utilisateur, le système logiciel OLYMPUS Stream propose plusieurs types de licences contenant chacune une combinaison d’applications, allant de la simple entrée de gamme OLYMPUS Stream Start à des combinaisons plus avancées.
Le logiciel OLYMPUS Stream est disponible en quatre packs selon les fonctionnalités : Start, Basic, Essentials et Motion.
Des modules de solution matériaux, spécifiques à certaines applications, peuvent être ajoutés pour rationaliser les tâches d'analyse répétitives. Les représentants d'Olympus sont à votre disposition pour vous aider à déterminer le pack le mieux adapté à vos besoins.
Microscope BX53M et système logiciel
Le microscope BX53M utilise des fonctions codées qui intègrent les paramètres matériels du microscope dans le logiciel OLYMPUS Stream. Le procédé d'observation, l'intensité de l'éclairage et la position de l'objectif sont tous enregistrés par le logiciel et/ou le clavier de commande. Les réglages du microscope peuvent être automatiquement enregistrés avec chaque image, ce qui facilite la reproduction ultérieure des réglages et fournit la documentation nécessaire pour créer des rapports.
Microscope GX53 et système logiciel
Nos caméras numériques offrent un affichage haute résolution et un transfert rapide des images. Elles sont complétées par un logiciel qui inclut tous les outils nécessaires pour répondre aux exigences complexes de la métallurgie actuelle.
Choisissez parmi des modules étendus de mesures, de métallographie standard et de métallographie avancée spécifiques aux applications (plus d'une douzaine de routines propres à des applications sont disponibles) ; collectez automatiquement des données et générez des rapports conformes aux spécifications courantes des normes ASTM et ISO.
Microscope intégré et système logiciel
Nous proposons plusieurs plates-formes logicielles qui s'intègrent à nos statifs de microscope pour semi-conducteurs. Elles permettent de commander toutes les fonctions motorisées, y compris la caméra numérique et la platine motorisée. Chaque interface est conçue pour une inspection et un contrôle de base, une analyse avancée des images, ou des inspections sur site et des revues de défauts répétées.
Microscope SZX16 et système logiciel
Le réglage motorisé de la mise au point de notre stéréomicroscope automatise les documentations numériques créées à l'aide de l'EFI (imagerie focalisée étendue). Il permet également de produire des pseudo-images 3D. Le logiciel est doté d'outils pour effectuer des mesures 2D simples ainsi que des analyses de phase complexes. Il prend en charge de nombreuses opérations dont l'observation, la génération de rapports, la création de bases de données et l'archivage.
Utilisez le logiciel OLYMPUS Stream pour le post-traitement (ordinateur Stream) avec la gamme complète de microscopes numériques de la série DSX et le microscope laser de mesure 3D LEXT.
Microscope laser de mesure 3D LEXT
Série de microscopes numériques DSX
> Afficher le microscope laser de mesure 3D LEXT
> Afficher le microscope numérique DSX
L’excellente résolution spatiale combiné à un nombre élevé de pixels exploite la résolution optique complète des objectifs et permet d'obtenir une image des structures et des détails dans les plus petits échantillons, même avec des objectifs à faible grossissement. Les images haute définition permettent d’effectuer des observations à l'écran sans utiliser les oculaires.
Le faible bruit et les images de haute résolution du capteur 9 mégapixels permettent à l'utilisateur de zoomer en profondeur dans l’échantillon pour révéler des structures (grès).
> Afficher nos caméras numériques
L'imagerie à plage dynamique élevée (HDR) améliore le contraste de l'image dans des conditions difficiles (zones très lumineuses et zones très sombres dans la même image). Toutes les caméras compatibles avec le logiciel OLYMPUS Stream peuvent être utilisées dans ce mode. Les caméras dédiées disposent d'un mode vidéo.
Exposition parfaite pour les zones sombres et les zones lumineuses grâce au HDR (échantillon : ampoule d’injecteur de carburant)
Amélioration du contraste grâce au HDR (échantillon : coupe de magnésite)
Cette technique d'illumination combine un fond noir directionnel, qui utilise une LED circulaire pour éclairer un ou plusieurs quadrants à un moment donné, et le fond clair, la fluorescence ou la polarisation, pour mettre en évidence des défauts et des différences de reliefs à partir de creux difficiles à observer avec des microscopes conventionnels. L'observation MIX, qui contribue à réduire le halo d'un échantillon, est utile pour visualiser la texture de la surface d'un échantillon.
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Conventionnel : un fond clair projette la lumière directement sur l'échantillon tandis qu'un fond noir traditionnel met en évidence les rayures et les imperfections sur une surface plane en éclairant l'échantillon depuis le côté de l'objectif. |
Avancé : MIX est une combinaison d'un fond clair
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Les procédures de fonctionnement standard des laboratoires industriels exigent souvent d’obtenir des résultats reproductibles. Le logiciel OLYMPUS Stream facilite l'inspection, les mesures et les analyses grâce à un processus simple et fiable. Le logiciel propose un éventail d'outils applicables à différentes analyses en sciences des matériaux pour avoir une confiance totale dans vos résultats.
Les microscopes industriels OLYMPUS accompagnent les solutions d’analyse métallurgique
La solution de comptage et de mesure du logiciel applique des méthodes de seuils avancées pour séparer de l’arrière-plan des objets, tels que des particules et des rayures. Plus de 50 paramètres de mesure et de classification d’objet sont disponibles, avec des propriétés de forme, de taille, de position et de valeur de pixel.
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Logiciel conventionnel |
Microstructure de l'acier attaqué
| OLYMPUS Stream |
Résultats de classification des grains
Exemple de configuration du gestionnaire macro pour le comptage et la mesure
Vous pouvez prérégler des tâches complexes d'imagerie et de mesure avec le gestionnaire de macro, puis les exécuter avec un simple clic.
Amélioration du contraste à l’aide du filtre DCE (dendrite dans une pièce fondue en aluminium)
OLYMPUS Stream dispose d’une variété de filtres destinés, entre autres, à la détection des bords et au lissage.
La solution 3D d’OLYMPUS Stream permet un contrôle de l’axe Z codé et motorisé et un EFI instantané avec une fonctionnalité de cartographie de la hauteur pour mesurer un échantillon en 3D.
Vue de surface 3D (échantillon de test de rugosité)
Vue simple et mesure de profil 3D
La métallographie est utilisée dans le développement de matériaux, l’inspection à la réception, la production et le contrôle de la fabrication, ainsi que pour l’analyse des défaillances.
Afin de produire des pièces de haute qualité, les rayures, les fissures, la taille des pores et la contamination doivent être strictement surveillées pendant le processus de production.
Dans les cartes de circuits imprimés, des plaques très fines reçoivent un revêtement. La vérification de l’homogénéité de ces revêtements est un élément clé de la qualité du produit.
Les revêtements de surface sont un mélange de matériaux qui contiennent des pigments, des solvants et d’autres additifs, et qui, lorsqu’ils sont appliqués à une surface et durcis ou séchés, forment un film fin qui est fonctionnel et souvent décoratif.
| Solutions | Descriptions |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions |
Les fabricants d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la taille des grains après la coupe transversale, le polissage ou l’attaque d’échantillons en acier.
Cette fonction est basée sur la superposition de « lignes de test » et le comptage du nombre de points d’interception de ces lignes avec les joints de grains. |
| Analyse de la granularité - Planimétrie |
Les fabricants d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la taille des grains après la coupe transversale, le polissage ou l’attaque d’échantillons en acier.
Cette fonction reconstruit les joints de chaque grain et mesure la taille des grains avec le pourcentage de surface de la seconde phase. |
| Inclusion par méthode du champ le plus sale | Les fabricants d’acier utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la forme et la taille des inclusions non métalliques (oxyde, alumine, sulfure ou silicate) dans l’acier. |
| Fonte | Les fabricants de pièces moulées utilisent cette solution pour mesurer et contrôler la nodularité du graphite et pour vérifier les caractéristiques mécaniques des produits de fonderie. |
| Comparaison de graphiques | Une image fixe ou vidéo peut être superposée sur des graphiques types à des fins de comparaisons. La fonction Aperçu est disponible. |
| Épaisseur de couche | La solution Épaisseur de couche permet de mesurer une ou plusieurs couches d’un échantillon en coupe transversale. Les formes sont définies et les couches sont mesurées de manière automatique. |
| Épaisseur du revêtement | Cette solution permet de mesurer l’épaisseur du revêtement à partir d’images vues du dessus en utilisant la méthode du Calotest. |
| Mesures automatiques | Cette solution réalise, sur une image vidéo, des mesures basées sur la détection des bords avec reconnaissance des modèles. |
| Profondeur | Cette solution permet de mesurer la distribution de l’épaisseur d’un placage en cuivre dans des trous traversant ou des micro trous d’interconnexion. |
| Porosité | Cette solution permet de mesurer les pores, soit pour la fraction de surface, soit pour le nombre de pores de surface, grâce aux régions d’intérêt (circulaires, triangulaires, rectangulaires et polygonales) et aux seuils. |
| Distribution des particules | Cette solution permet de créer des histogrammes et des tableaux de distribution de la taille des particules à partir d’images multiples ou de séries d’images. |
| Analyse de phase avancée | Cette fonctionnalité offre une nouvelle solution intégrée d’analyse de phase sur un choix de régions d’intérêt, y compris des triangles, des cercles, des rectangles et des polygones. |
| Solutions | Métal/Moulage | Automobile | Verre/céramique | Revêtements | Biens de consommation | Appareils électroniques |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions | ■ | ■ | ■ | |||
| Analyse de la granularité - Planimétrie | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion par méthode du champ le plus sale | ■ | ■ | ■ | |||
| Fonte | ■ | ■ | ■ | |||
| Comparaison de graphiques | ■ | ■ | ■ | |||
| Épaisseur de couche | ■ | |||||
| Épaisseur du revêtement | ■ | |||||
| Mesures automatiques | ■ | ■ | ||||
| Profondeur | ■ | ■ | ||||
| Porosité | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Distribution des particules | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase avancée | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Solutions |
Semi-
conducteurs | Liquides et huiles |
Pièces
usinées |
Carbone/
Composites |
Produits chimiques/
Plastique/ Caoutchouc |
Secteur industriel
Recherche scientifique |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions | ■ | ■ | ■ | |||
| Analyse de la granularité - Planimétrie | ■ | ■ | ■ | |||
| Inclusion par méthode du champ le plus sale | ■ | ■ | ■ | |||
| Fonte | ■ | ■ | ■ | |||
| Comparaison de graphiques | ■ | ■ | ■ | |||
| Épaisseur de couche | ■ | ■ | ||||
| Épaisseur du revêtement | ■ | |||||
| Mesures automatiques | ||||||
| Profondeur | ||||||
| Porosité | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Distribution des particules | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase avancée | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| ■: Standard □: En option | Start | Basic | Essentials | Motion | Ordinateur de bureau | |
| Acquisition d’image | Acquisition d’image basique comprenant le HDR et l’étalonnage automatique du grossissement et HDR en temps réel*1, navigation de position*1 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Mise au point automatique par le logiciel*2 et acquisition d’images vidéo (format avi) | ■ | ■ | ■ | |||
| Acquisition temporelle, EFI instantané et MIA instantané/manuel*3 | □ | ■ | ■ | |||
| EFI/MIA motorisé et acquisition par empilement en Z | □ | □ | ■ | |||
| Visualisation d’images vidéo à distance (NetCam) | □ | □ | □ | |||
| Image et outils de personnalisation | Fenêtres d’outils basiques (historique de l’image, propriétés, navigateur, galerie)*4 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Annotations, gestion des couches, échelle, réticule, affichage d’informations et filtres d’image | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Réticule/grille numérique, affichage de profil de ligne, Mes fonctions, gestion de la disposition et gestionnaire de macro | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures / analyse d’image | Mesure interactive de base (distance, angles, rectangles, cercles, ellipses, polygones, distance de cercle à cercle et rapporteur laser et rapporteur de ligne) et exportation des données dans MS-Excel | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase, baguette magique, ligne brisée à main levée, polygone interpolé, filtre morphologique et arithmétique d’image | □ | ■ | ■ | ■ | ||
| Mesures 3D, mesures de profil 3D et vue de surface 3D | □ | □ | ■ | ■ | ||
| Génération de rapports*5 | Génération de rapports (formats MS Word et MS Excel) | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Création de présentations | □ | □ | □ | □ | ||
| Gestion des données | Stockage de documents Stream*6 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Base de données pour groupe de travail avec format de données structuré | □ | □ | □ | □ | ||
| Matériel pris en charge | Microscopes Olympus*7 et caméras Olympus*8 | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| Caméras et convertisseurs de source d’image non-Olympus*9 | ■ | ■ | ■ | |||
| Contrôleur de platine non-Olympus*9 | □ | □ | ■ | |||
| Configuration PC requise | |
| Unité centrale | Intel Core 2 Duo ou supérieur (Intel Core i5, i7 recommandé) |
| Mémoire RAM / Disque dur / Lecteur DVD | 3 Go ou plus (8 Go recommandés)/2,4 Go ou plus d’espace libre/compatible DVD+R DL |
| Système d’exploitation*10 | Windows 10 Pro (32 bits/64 bits) , Windows 8.1 (32 bits/64 bits) Pro, Windows 7 (32 bits/64 bits) Ultimate avec SP1, Windows 7 (32 bits/64 bits) Professional avec SP1 |
| .NET Framework | Version 4.5.2 ou 4.6.1 |
| Carte graphique*11 | Résolution de l’écran 1280 x 1024 avec carte vidéo 32 bits |
| Navigateur Internet | Windows Internet Explorer 8, 9, 10 ou 11 |
*1 Requiert la caméra DP74 et la fonction Live, HDR requiert un système d’exploitation 64 bits
*2 Requiert un microscope Olympus avec un axe Z motorisé ou un axe Z externe motorisé avec OLYMPUS Stream Motion ou une solution d’automatisation
*3 La fonction MIA instantanée peut ne pas fonctionner correctement avec certaines caméras
*4 Écriture et lecture de la plupart des formats de fichier, ouverture des formats propres à Olympus (formats de fichiers DSX, LEXT et POIR)
*5 Requiert Microsoft Office 2016, 2013 (SP1) ou 2010 (SP2)
*6 Utilise Microsoft SQL Server Express
*7 Prend en charge MX61A, MX61, MX61L, MX61A, MX63L, MX63, GX53, BX3M-CB, BX3M-CBFM, BX-UCB, BX-REMCB, IX-UCB, SZX-MDCU, SZX2-MDCU, U-CBS, STM7.
*8 Prend en charge DP21, DP22, DP26, DP27, DP73, DP74, LC20, LC30, SC30, SC50, SC100, SC180, UC30, UC50, UC90, XC10, XC30, XC50, XM10.
*9 Veuillez contacter Olympus pour obtenir des informations sur les appareils pris en charge
*10 DP74 prend en charge Windows 10/8.1 (64 bits) et Windows 7 (32 bits/64 bits) La DP73 prend en charge Windows 8.1/7 (64 bits). La SC180/UC90 prend en charge Windows 10/8.1/7 (64 bits).
*11 Configurations requises pour le HDR en temps réel dans le DP74. Carte graphique compatible avec CUDA fabriqué par NVIDIA (capacité de calcul 2.1 ou supérieure). Pilote de processeur graphique compatible avec CUDA 7.0 ou supérieur.
| Solutions | Compatibilité | Fonctions | ||
| Basic/Essentials | Motion | Ordinateur de bureau | Type de mesure | |
| 3D | □ | Inclus | Partiellement inclus* | Vue de surface 3D, mesure 3D, mesure de profil 3D, empilement en Z motorisé/EFI, EFI instantané avec carte de hauteur (requiert un axe en Z codé ou motorisé). |
| Automatisation | □ | Inclus | Solution d’automatisation (MIA motorisé/Manuel/Instantané, EFI Motorisé/Instantané sans carte de hauteur (nécessité des axes XYZ codés ou motorisés) et avec time-lapse. | |
| Mesure de soudage | □ | □ | □ | Solution de mesure de soudage (mesures pour la distorsion géométrique introduite par la chaleur pendant le soudage). |
| Comptage et mesure | □ | □ | □ |
Plusieurs méthodes par seuils sont disponibles (automatique, manuelle HSV, manuelle et adaptative).
Le système peut automatiquement mesurer de multiples paramètres sur tous les objets segmentés (surface, rapport de forme, bissectrice, rectangle de délimitation, centre de gravité, diamètre intérieur, centre de masse, valeurs d’intensité, convexité, diamètres, élongation, Féret, étendue, distance des plus proches voisins, orientation, périmètre, rayon, forme, sphéricité, etc.). Tableur et graphiques avec mesures individuelles et mesures de distribution. |
* Impossible d’utiliser les fonctions relatives aux acquisitions d'images
| Solutions | Compatibilité | Sortie | ||||
| Basic | Essentials/Motion | Desktop | Génération automatique de rapports | Classeur avec mesure individuelle | Stockage de tous les résultats dans les propriétés de l’image | |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de la granularité - Planimétrie | □ | □ | □ | ■ | ■*2 | ■ |
| Inclusion par méthode du champ | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Fonte | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Comparaison d’abraques | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Épaisseur de couche | □ | □ | □ | ■ | ■ | |
| Épaisseur du revêtement | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Mesures automatiques | □ | □ | ■ | |||
| Profondeur | □ | □ | ■ | ■ | ■ | |
| Porosité | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Distribution des particules | □ | □ | □ | ■ | ■ | ■ |
| Analyse de phase avancée | □ | Inclus | Inclus | ■ | ■ | |
| Solutions | Fonctions | ||
| Type de mesure | Normes prises en charge |
Emplacements de platine multiples *1 Alignement de l’échantillon *1 | |
| Analyse de la granulométrie - Méthode par comptage des interceptions |
Sélection du motif (cercles, croix, croix et cercles, lignes verticales, lignes horizontales, lignes verticales et horizontales)
Définition du nombre de lignes de test pour la détermination de l’élongation du grain Affichage de l’indice G dans la palette d’outils Material Solution | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Analyse de la granularité - Planimétrie |
Extraction automatique des limites granulaires
Interaction utilisateur grâce aux curseurs Stream pour plus de facilité d’utilisation Affiche l'histogramme de la valeur G dans Material Solution et la navigation de position *1 pour une interaction directe | ASTM E112-13, ISO 643:2012, JIS G 0551:2013, JIS G 0552:1998, GOST 5639-82, GB/T 6394-2002, DIN 50601:1985, ASTM E1382-97(2015) | ■ |
| Inclusion par méthode du champ |
Automatic detection of non-metallic inclusion using colors, shape, and size
Automatic classification of oxides, sulfides, silicates, and aluminates Worst field: On each field the worst inclusion will be measured Live display of the detected inclusion with its rating Average content: The entire sample is scanned with a motorized stage On each field an inclusion rating is performed The result is given as a table “quantity of fields for each severity level” | [Worst field] ASTM E45-18 (method A), DIN 50602:1985(method M), ISO 4967:2013 (method A),GB/T 10561-2005 (method A, equivalent to ISO 4967), JIS G 0555:2003 (method A, equivalent to ISO 4967), UNI 3244:1980(method M), EN 10247:2017 (methods P and M), SEP 1571:2017 (method M), [Average content] ASTM E45-18 (method D), ISO 4967:2013 (method B), EN 10247:2017 (methods K) | ■ |
| Fonte |
Sur des échantillons polis : mesure automatiquement les caractéristiques du graphite (taille, forme et distribution)
Sur des échantillons attaqués : mesure la proportion ferrite/perlite Flux de travaux intégré tenant compte de l’état de l’échantillon (attaqué ou poli) | EN ISO 945-1:2018, ASTM A247-17, JIS G 5502:2001, KS D 4302:2006, GB/T 9441-2009, ISO 16112:2017, JIS G 5505:2013, NF A04-197:2017, ASTM E2567-16a (for nodularity only) | |
| Comparaison de graphiques |
Affichages multiples disponibles, y compris la superposition vidéo
Interaction utilisateur via les curseurs Stream pour une plus grande facilité d’utilisation Calcul de statistiques sur les valeurs sélectionnées | ISO 643: 1983, ISO 643: 2012, ISO 945: 2008, ASTM E 112: 2010, EN 10247: 2007, DIN 50602: 1985, SEP 1572: 1971, SEP 1520: 1998, ISO 4505:1978 | |
| Épaisseur de couche |
Les limites des couches peuvent être spécifiées par le biais de la détection automatique, de la baguette magique ou du mode manuel (en utilisant 2 ou 3 points).
Des mesures individuelles peuvent être ajoutées ou supprimées ultérieurement La solution prend en charge tous les types de couche (avec des limites régulières ou non). La mesure de l’épaisseur des couches permet de calculer les valeurs moyennes, maximales ou minimales, et les données statistiques pour chaque couche. | ||
| Épaisseur du revêtement |
Les empreintes sont mesurées à partir d’une vue de dessus
Calcul de l’épaisseur des revêtements en fonction de la géométrie de l’échantillon | EN 1071: 2002, VDI 3824: 2001, ISO 26423:2016 | |
| Dendrite Arm Spacing | Determines the mean dendrite arm spacing in cast aluminum alloys | ||
| Mesures automatiques |
Mesure automatique des distances (point à point, point à ligne, cercle à cercle, point à cercle, ligne à cercle)
Mesure automatique du diamètre de cercle (circularité, zone de surface) Mesure automatique des angles entre deux lignes Définition des valeurs de tolérance pour la mesure et la validation visuelle Mode expert et utilisateur pour la répétabilité de la mesure | ■ | |
| Profondeur |
Mesures manuelles sur la région d’intérêt sélectionnée sur l’échantillon
Points prédéfinis qui seront déclenchés par l’opérateur Sélection du type de trous et documentation de l’analyse Rapports et calcul automatique selon les mesures manuelles | ||
| Porosité |
Détection des pores par région d’intérêt (triangle, cercle, rectangle, polygone ou baguette magique) avec fonctionnalité de chevauchement
Mesure de la zone spécifique, du nombre et de la densité des pores Mesure de la plus grosse porosité Mesure d’une plage de tailles spécifiée | VW 50093/ P6093:2012, VDG P201-2002, VDG P202-2010, VDG P211-2010 | ■ |
| Distribution des particules |
Définition des particules à l’aide de réglages de seuils simplifiés.
Classement automatique selon un paramètre sélectionné (taille, couleur ou forme) Mesure des régions d'intérêt et seuils multiples Définition de la validation et du codage selon les normes définies par l’utilisateur | ■ | |
| Analyse de phase avancée |
Fraction de phase par région d'intérêt (triangle, cercle, rectangle ou polygone)
Baguette magique, ligne brisée à main levée, polygone interpolé, filtre de morphologie et arithmétique d’image également utilisables Mesure du pourcentage de phase total par phase et par région d’intérêt Détection de la zone minimale sélectionnable | ■ | |
*1 Possible avec OLYMPUS Stream Motion et autres licences Stream avec solution d’automatisation
*2 Un graphique Stream avec la distribution peut être généré.
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