Contáctenos
Contáctenos
Productos
▾
Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
▾
Detectores de defectos
▾
Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
Instrumentos Phased Array
Instrumentos por corrientes de Foucault
Instrumentos por corrientes de Foucault multielementos
Control de adherencia
Medidores de espesores portátiles
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Sondas y accesorios
72DL PLUS
Sondas (palpadores)
▾
Sondas monoelemento y duales
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas para inspeccionar tubos/tuberías
Sondas Phased Array
BondMaster Probes
Sistemas de inspección automatizados
▾
Sistema de inspección de ruedas
Sistemas de inspección de barras
Sistemas de inspección de tubos
Inspección de soldaduras por fricción-agitación
Instrumentos de END para sistemas industriales
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Escáneres industriales para END
▾
Escáneres para inspeccionar soldaduras
Escáneres para inspeccionar la corrosión
Escáneres para inspeccionar componentes aeroespaciales
Accesorios para escáneres
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Software WeldSight
Software TomoView
Software NDT SetupBuilder
Software Automated Detection Technology
Software OmniPC 4
Analizadores XRF y XRD
▾
Analizadores XRF portátiles
▾
Vanta
Vanta Element
Analizadores XRF portátiles y compactos
▾
Vanta
Vanta Element
GoldXpert
Analizador Xpert para RoHS y bienes de consumo
Analizadores XRF
▾
Vanta iX
Soluciones OEM
▾
Analizadores X-STREAM
Principales aplicaciones y soluciones
Olympus Scientific Cloud
Soluciones de microscopia
▾
Microscopios láser confocales
▾
OLS5100
Microscopios digitales
Microscopios de medición
▾
STM7
STM7-BSW
Inspector de limpieza
▾
OLYMPUS CIX100
Microscopios ópticos
▾
Microscopios verticales
Microscopios invertidos
Microscopios modulares
Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopios AR
▾
SZX-AR1
Estereomicroscopios
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Cámaras digitales
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análisis de imágenes
▾
PRECiV
OLYMPUS Stream
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Lentes de objetivo
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetivos de interferometría de luz blanca
Micrometer
Accesorios de microscopios para integración
Preguntas frecuentes sobre los microscopios
Soluciones personalizadas
Videoscopios y boroscopios
▾
Videoscopios
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite
IPLEX TX
Solución de sonda larga IPLEX
Fibroscopios
▾
Fibroscopios de diámetro pequeño
Fuentes de luz
Software de asistencia de inspección
▾
InHelp
Industrias
Material didáctico
Aprendizaje
Blog
Servicios y asistencia
▾
Contáctenos
Servicio al cliente
XRF and XRD Technical Support
Centros de servicio
Soluciones de financiación personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Descarga de programas informáticos
User Manuals
Certificaciones ISO
Fichas de datos técnicos de seguridad (FDS)
Código de conformidad y ética de Olympus
Información acerca de los productos
Product Service Termination List
Productos descatalogados y obsoletos
Terms and Conditions of Supply
CIC
Olympus Technolab
Microscope Classroom
Arrendamiento
Tienda
Portal de empleo
Carreras
Buscar
My Account
IMS Log in
IMS Registration
My Apps
My Devices
My Data
OSC Marketplace
My Organization
OSC Log in
OSC Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Soluciones industriales
Portal de empleo
Portal de empleo
Explore nuestro sitio Web
Explore nuestro sitio Web
Inicio
/
Mapa del sitio
Productos
Soluciones para inspeccionar defectos y espesores
Detectores de defectos
Detectores de defectos portátiles por ultrasonido
EPOCH 6LT
Descripción
Funciones y características software
Especificaciones
Aplicaciones
Material didáctico
EPOCH 650
Sondas (palpadores) y transductores
EPOCH 6LS
Overview
Specifications
Instrumentos Phased Array
OmniScan X3 y OmniScan X3 64
Análisis avanzados
OmniScan MX2
OmniScan SX
FOCUS PX / PC / SDK
PipeWIZARD
Instrumentos por corrientes de Foucault
Nortec 600
Escáneres rotativos para perforaciones de remaches
MultiScan MS5800 para la inspección de tubos
MultiView: un programa informático multitecnológico
Software TubePro
Sondas para inspeccionar tubos
Sondas de bobinas por corrientes de Foucault
Sondas de corrientes de Foucault para la inspección de sistemas de acondicionamiento de aire
Sondas de titanio de corrientes de Focault
Sondas de corrientes de Foucault de alta resolución
Sondas de corrientes de Foucault de tipo bala flexibles
Eddy Current CARTER Super Magnetic Bias Probe
Eddy Current Airgun Probes
Sonda tubular de ECA
Sondas con campo remoto
Sondas de campo cercano
Sondas de flujo magnético disperso
Sondas con IRIS
Guía de selección de sondas
MultiScan MS5800 para la inspección de tubos
Instrumentos por corrientes de Foucault multielementos
OmniScan MX ECA/ECT
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas de 90° para inspección superficial
Sondas rectas para inspección superficial
Sondas de eje flexible para inspeccionar superficies
Sondas de eje flexible para inspeccionar superficies
Bent Shaft Surface Probes
Sondas para superficies de tipo lápiz óptico
Sondas adicionales para la inspección de superficies
Rotating Plastic Scanner Probes
Sondas de acero inoxidable para escáneres rotativos
Otras sondas de escáner
Sondas manuales para inspeccionar perforaciones de pernos/remaches
Sondas puntuales
Sondas de tipo anillo/rosca
Sondas deslizantes
Sondas de conductividad y bloques de calibración (estándares)
Sondas para soldaduras
Cables y adaptadores
Estándares/Normas
Información para seleccionar una sonda de corrientes de Foucault
Tipos de sonda y uso
Control de adherencia
BondMaster 600
Sondas BondMaster
Sondas de análisis de impedancia mecánica (MIA)
Sondas de resonancia
Kits de sondas BondMaster
35RDC
Medidores de espesores portátiles
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Sondas y accesorios
72DL PLUS
Sondas (palpadores)
Sondas monoelemento y duales
Sondas de haz angular
Sondas Atlas estándar para Europa
Sondas y suelas (zapatas) AWS
Suelas (zapatas) CDS
Sondas de contacto
Sondas con líneas de retardo
Sondas duales
Serie DC
EMAT
Sondas de alta frecuencia
Sondas de alta frecuencia con separador (punto muerto)
Sondas de inmersión
Sondas de inmersión especiales
Accesorios de inmersión
Sondas de haz angular integral
Sondas de onda transversal a incidencia normal
Sonda con frente protegido
RTD
Aplicaciones especiales
Soldadura por puntos
Haz de ángulo estándar
Difracción de tiempo de vuelo
Bloques de calibración
Cables de sondas
Acoplantes y adaptadores
Sondas de corrientes de Foucault
Sondas para inspeccionar tubos/tuberías
Sondas Phased Array
EdgeFORM
Serie de sondas para inspeccionar soldaduras
Sondas Dual Array para soldaduras
Material didáctico
Sonda Dual Array para corrosión
Sonda flexible de ultrasonido multielemento (PA)
Sondas de contacto manual
Sondas para espacios reducidos
Sondas universales
Sondas de pared cercana
Sondas de penetración profunda
Sondas de inmersión
Sondas convexas
Suelas (zapatas) angulares de inmersión para sondas convexas
Suelas (zapatas) integradas y sondas de conformidad normativa
Suelas (zapatas)
Sonda para identificar ataque de hidrógeno caliente (HTHA)
BondMaster Probes
Sistemas de inspección automatizados
Sistema de inspección de ruedas
Sistemas de inspección de barras
Sistema de inspección de barras (BIS) por ultrasonido multielemento (Phased Array)
Sistema de inspección de barras (BIS) por corrientes de Foucault (EC)
Especificaciones
Sistema de inspección rotativa de barras (RBIS)
FOX-IQ
Sistema de inspección para palanquillas cuadradas (SBIS)
Sistemas de inspección de tubos
Sistema de inspección rotativa de tubos (RTIS)
Sistema de inspección para líneas de producción de tubos soldados por resistencia eléctrica (ERW)
Sistema de inspección para tubos ERW en líneas de producción de alta temperatura
Inspección fuera de línea de tubos soldados por resistencia eléctrica
FOX-IQ
PipeWIZARD
LSAW Tube Inspection System
Tube End Inspection System (TEIS)
Descripción general
Software y unidad de adquisición
Especificación
Recursos
Inspección de soldaduras por fricción-agitación
Instrumentos de END para sistemas industriales
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Escáneres industriales para END
Escáneres para inspeccionar soldaduras
AxSEAM
SteerROVER
WeldROVER
HST-Lite
Mini-Wheel
COBRA
HSMT-Compact
HSMT-Flex
HST-X04
VersaMOUSE
Escáneres para inspeccionar la corrosión
FlexoFORM
Descripción
Opciones de escaneo
Material didáctico
SteerROVER
MapSCANNER
MapROVER
HydroFORM / RexoFORM
ChainSCANNER
GLIDER
VersaMOUSE
Mini-Wheel
Escáneres para inspeccionar componentes aeroespaciales
RollerFORM
Mini-Wheel
GLIDER
VersaMOUSE
Accesorios para escáneres
Unidad de alimentación eléctrica de acoplante
Emisor/preamplificador remoto TRPP 5810
Acoplante de elastómero
Caja de contacto intermedia (Interbox)
Olympus Scientific Cloud
Software
Software WeldSight
Software TomoView
Software TomoVIEWER gratuito
Software NDT SetupBuilder
Software Automated Detection Technology
Software OmniPC 4
Analizadores XRF y XRD
Analizadores XRF portátiles
Vanta
Vanta Element
Analizadores XRF portátiles y compactos
Vanta
Vanta Element
GoldXpert
Analizador Xpert para RoHS y bienes de consumo
Analizadores XRF
Vanta iX
Soluciones OEM
Analizadores X-STREAM
Principales aplicaciones y soluciones
Olympus Scientific Cloud
Soluciones de microscopia
Microscopios láser confocales
OLS5100
Microscopios digitales
Microscopios de medición
STM7
STM7-BSW
Inspector de limpieza
OLYMPUS CIX100
Microscopios ópticos
Microscopios verticales
BX53M
Aplicaciones
Microscopios invertidos
Soluciones de microscopía invertida
GX53
Microscopios modulares
BXFM-A
BXFM
BXFM-S
Microscopios de inspección para semiconductores y pantallas planas
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopios AR
SZX-AR1
Estereomicroscopios
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Cámaras digitales
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Software de análisis de imágenes
PRECiV
OLYMPUS Stream
Micro Spectrophotometer
USPM-RU-W
Lentes de objetivo
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objetivos de interferometría de luz blanca
Micrometer
Accesorios de microscopios para integración
Preguntas frecuentes sobre los microscopios
Soluciones personalizadas
Videoscopios y boroscopios
Videoscopios
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite
IPLEX TX
Solución de sonda larga IPLEX
Fibroscopios
Fibroscopios de diámetro pequeño
Fuentes de luz
Software de asistencia de inspección
InHelp
Industrias
Material didáctico
Aprendizaje
Blog
Servicios y asistencia
Contáctenos
Servicio al cliente
XRF and XRD Technical Support
Centros de servicio
Soluciones de financiación personalizadas
Olympus Scientific Cloud
Descarga de programas informáticos
User Manuals
Certificaciones ISO
Fichas de datos técnicos de seguridad (FDS)
Código de conformidad y ética de Olympus
Información acerca de los productos
Product Service Termination List
Productos descatalogados y obsoletos
Terms and Conditions of Supply
CIC
Olympus Technolab
Microscope Classroom
Arrendamiento
Tienda
Portal de empleo
Carreras
Landing Pages
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey 2
ANI Drip Campaign: PMI Test
ANI Drip Campaign: PMI Test 2
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey 2
ASNT Fall Conference 2020
ASNT Fall Conference 2021
Adhesión del metal de soldadura (soldador) en la PCB
Adhesión en soldaduras de chips
Automotive Solutions
Aviation Solutions
BX53M for Automotive
BX53M for Electronic
Centro Tecnológico de Asia Pacífico
Conozca su material
Control 2020 Voucher
Cortar y Pulir
Corte en dados
Covid Response
DSX Microscopes for Automotive
DSX Mircoscopes for Electronics
DSX1000
Diseño IC
EP50 digital camera for industrial microscopes
Empaque
Evident Around the World
FABTECH 2019
Fabricación de capa interna
Fabricación de sustrato
Fast Failure Analysis
Fotolitografía
IPLEX GX/GT for Inspection Services
IPLEX GX/GT for Manufacturing Inspection
IPLEX GX/GT for Turbines Inspection
IPLEX NX
IPLEX-NX
ISRI 2021 Raffle Form
K-Show
Kit de inspección para turbina eólica
Kits de inspección visual: Mantenimiento de equipamiento dedicado a la fabricación de semiconductores
Kits de inspección visual: Solución para los productos farmacéuticos, alimenticios y bebidas
MRAI International Indian Material Recycling Conference 2022
Marcado láser
Medición de dimensiones precisa y garantizada
Mining Convention 2019
Montaje de piezas eléctricas en la superficie
OLS5000 for Automotive
OLS5100
Olympus @ MRO Europe
Olympus Same Day Shipping
Orificios de perforación
Precise, Non-Contact Surface Roughness Measurement
Procesamiento de la capa externa
Proceso de ensamble
Proceso de fabricación de electrodos
Pódcast Inspect Tech NDT
Request Olympus NDT Training and Support
Request Remote Application Support
Soluciones de inspección visual Helicópteros y pequeñas aeronaves
Soluciones de inspección visual para defensa y seguridad
Soluciones de inspección visual:
Soluciones de inspección visual: Centrales nucleares
Soluciones de inspección visual: Mantenimiento de plantas industriales
Soluciones de inspección visual: Mantenimiento en los centros de datos
Soluciones de medición e inspección microscópicas Desarrollo y fabricación de vehículos eléctricos
Soluciones ergonómicas
Soluciones microscópicas: Fabricación de baterías de estado sólid
Soluciones microscópicas: Fabricación de engranajes y cojinetes
Soluciones microscópicas: Fabricación de motores
Soluciones microscópicas: Fabricación de semiconductores
Soluciones microscópicas: Fabricación de unidades de control de potencia
Soluciones microscópicas: fabricación de baterías de iones de litio
Soluciones microscópicas: fabricación de tarjetas/placas de circuito impreso (PCB)
Soluciones para la inspección y medición de dispositivos 5G
Step into Our Microscope Studio for a One-on-One Virtual Demo
Tecnología TruAI
Uniones por hilos metálicos
Vanta Element
Visite nuestras salas de exposición centradas en la microscopía industrial
Visual Inspection Solution for Casting Inspection
Visual Inspection Solution for Oil and Gas Processing Facility Maintenance
Visual Inspection Solutions
Wind Power Solutions
analytica virtual 2020
olympuslinks
productronica 2019 Voucher
vanta build your analyzer
vanta virtual demo
ハンドヘルド蛍光X線分析計 学術研究における用途事例をご紹介!
即納在庫あり! 年度末おすすめ商品&キャンペーンのご案内
学術研究用途における分析の事例:その他
学術研究用途における分析の事例:文化財・考古学
学術研究用途における分析の事例:環境リサイクル・材料
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第1回
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第2回
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contáctenos
Suscríbase a los boletines de noticias
Inicio
/
Mapa del sitio
Imprimir
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.