Kontakt z nami
Kontakt z nami
Produkty
▾
Defektoskopy
▾
Defektoskopy
▾
Przenośne defektoskopy ultradźwiękowe
Urządzenia z głowicami sektorowymi (Phased Array)
Produkty prądowirowe
Produkty do badań techniką prądów wirowych
Badanie połączeń
Ręczne grubościomierze ultradźwiękowe
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Głowice i Akcesoria
72DL PLUS
Głowice i Przetworniki
▾
Głowice Panametrics UT
Sondy prądowirowe
Sondy do inspekcji rur
Głowice Wieloprzetwornikowe (Phased Array) R/D Tech
Sondy BondMaster
Zintegrowane systemy badań
▾
Sondy do badania kół
Systemy inspekcji prętów
Systemy inspekcji rur
Friction Stir Weld Inspection
Aparatura do automnatycznych systemów NDT
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Skanery Przemysłowe
▾
Skanery do inspekcji spoin
Skanery do inspekcji korozji
Skanery do inspekcji podzespołów lotniczych
Akcesoria do skanerów
The Olympus Scientific Cloud
Software
▾
WeldSight™ Software
TomoView Software
Oprogramowanie NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
XRF i XRD Analizatory
▾
Ręczne analizatory XRF
▾
Vanta
Vanta Element
Kompaktowe i przenośne analizatory XRF
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Rozwiązania OEM
▾
X-STREAM
Tabela zastosowań i rozwiązań
The Olympus Scientific Cloud
Rozwiązania z mikroskopami
▾
Laserowe mikroskopy konfokalne
▾
OLS5100
Mikroskopy cyfrowe
▾
Mikroskopy cyfrowe
Mikroskopy pomiarowe
▾
STM7
STM7-BSW
System kontroli czystości technicznej
▾
OLYMPUS CIX100
Mikroskopy świetlne
▾
Mikroskopy pionowe
Mikroskopy odwrócone
Modular Microscopes
Mikroskopy do inspekcji półprzewodników i wyświetlaczy panelowych
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR Microscopes
▾
SZX-AR1
Mikroskopy stereoskopowe
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Kamery cyfrowe
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Oprogramowanie do analizy obrazów
▾
PRECiV
OLYMPUS Stream
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Soczewki obiektywów
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Obiektyw do interferometrii w świetle białym
Micrometer
Podzespoły mikroskopowe OEM do integracji
Mikroskop — często zadawane pytania
Customized Solutions
Customized Solutions
Wideoskopy, boroskopy
▾
Wideoskopy przemysłowe
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Długie endoskopy IPLEX
Fiberoskop przemysłowy
▾
Fiberoskopy o małej średnicy
Źródło światła
Oprogramowanie wspomagające inspekcję
▾
InHelp
Przemysły
Resources
Learn
Blog
Wsparcie Klienta
▾
Kontakt
Consultation Reception about Introduction
Customer Service
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Home
Ośrodki Serwisowe
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Pobieranie oprogramowania
User Manuals
Certyfikaty ISO
Karty charakterystyk MSDS
Compliance and Ethics at Evident
Ważne informacje
Product Service Termination List
Produkty Zdezaktualizowane
▾
Multiscan MS5800 do Badania Rur
▾
MultiView Software
TubePro Software
Warunki dostaw
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
Rentals
Shop
Careers
Wyszukaj
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Cloud Log in
Cloud Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Rozwiązania dla przemysłu
Careers
Careers
Przeglądaj naszą stronę
Przeglądaj naszą stronę
Strona główna
/
Mapa strony
Produkty
Defektoskopy
Defektoskopy
Przenośne defektoskopy ultradźwiękowe
EPOCH 6LT
Overview
Software Features
Specifications
Applications
Resources
EPOCH 650
Głowice i Przetworniki
EPOCH 6LS
Overview
Specifications
Urządzenia z głowicami sektorowymi (Phased Array)
OmniScan X3 and OmniScan X3 64
Advanced Analysis
OmniScan MX2
OmniScan SX
FOCUS PX / PC / SDK
PipeWIZARD
Produkty prądowirowe
NORTEC 600
Skanery rotujące do inspecji otworów dla Nortec
Sondy do inspekcji rur
Attached Eddy Current Probes
Detachable Eddy Current Probes
Eddy Current Titanium Probes
Eddy Current High-resolution Probes
Eddy Current Flexible bullet Probes
Eddy Current CARTER Super Magnetic Bias Probe
Eddy Current Airgun Probes
Eddy Current Array Tube Probe
Remote Field Probes
Near Field Probes
Magnetic Flux Leakage Probes
IRIS Probes
Probe Selection Guide
MultiScan MS5800 for Tube Inspection
Produkty do badań techniką prądów wirowych
OmniScan MX ECA/ECT
Sondy prądowirowe
Right Angle Surface Probes
Straight Shaft Surface Probes
Angle Shaft Surface Probes
Flexible Shaft Surface Probes
Bent Shaft Surface Probes
Pencil Surface Probes
All Other Surface Probes
Rotating Plastic Scanner Probes
Rotating Stainless Steel Scanner Probes
Other Scanner Probes
Manual Bolt Hole Probes
Spot Probes
Ring/Donut Probes
Sliding Probes
Conductivity Probes and Standards
Weld Probes
Cables and Adaptors
Standards
Eddy Current Probe Selection Information
Probe Types and Their Usage
Badanie połączeń
BondMaster 600
Sondy BondMaster
Mechanical Impedance Analysis (MIA) Probes
Resonance Probes
BondMaster Probe Kits
35RDC
Ręczne grubościomierze ultradźwiękowe
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna-Mike 8600
35RDC
Głowice i Akcesoria
72DL PLUS
Głowice i Przetworniki
Głowice Panametrics UT
Wiązka kątowa
Norma europejska Atlas
Kliny i głowice AWS
Kliny CDS
Kontaktowe
Z linią opóźniającą
Podwójne
DC Series
EMAT
Wysokiej częstotliwości
High-Frequency Standoff Transducers
Immersyjne
Zanurzeniowe specjalne
Zanurzeniowe — akcesoria
Kątowe z klienem wewnętrznym
Czołowe z falą poprzeczną
Z osłoną powierzchni czołowej
RTD
Aplikacje specjalne
Do spoin punktowych
Standardowe Kątowe
TOFD
Bloczki testowe
Przewody do głowic
Substancje sprzęgające i adaptery
Sondy prądowirowe
Sondy do inspekcji rur
Głowice Wieloprzetwornikowe (Phased Array) R/D Tech
EdgeFORM
Seria do badań spoin
Sondy Dual Matrix Array do korozji
Resources
Sondy Dual Array do badań korozji
Elastyczne sondy Phased Array
Ręczne sondy kontaktowe
Sondy kątowe o małej powierzchni
Sondy uniwersalne
Sondy do pomiarów wykonywanych w pobliżu ścian
Sondy kątowe o dużej głębi penetracji
Immersyjne
Sondy o zakrzywionej matrycy
Kliny i głowice Phased Array do zanurzeniowych badań narozników
Sondy ze zintegrowanym klinem i zgodne z normami
Kliny
Sonda HTHA
Sondy BondMaster
Zintegrowane systemy badań
Sondy do badania kół
Systemy inspekcji prętów
System inspekcji prętów (BIS)
System inspekcji prętów (BIS) — badania techniką prądów wirowych mozaikowych
Specifications
Obrotowy system inspekcji kęsów (RBIS)
FOX-IQ
Square Billet Inspection System (SBIS)
Systemy inspekcji rur
Obrotowy system inspekcji rur (PRS)
Inspekcja rur ERW na linii
In-Line ERW High-Temperature Inspection System
Inspekcja rur ERW poza linią
FOX-IQ
PipeWIZARD
System inspekcji rur LSAW
Tube End Inspection System (TEIS)
Overview
Software and Acquisition Unit
Specification
Resources
Friction Stir Weld Inspection
Aparatura do automnatycznych systemów NDT
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Skanery Przemysłowe
Skanery do inspekcji spoin
AxSEAM
SteerROVER
WeldROVER
HST-Lite
Enkoder
COBRA
HSMT Compact
HSMT-Flex
HST-X04
VersaMOUSE
Wire Encoder
Overview
Resources
Skanery do inspekcji korozji
FlexoFORM
Overview
Scanning Options
Resources
SteerROVER
MapSCANNER
MapROVER
HydroFORM Scanner
ChainSCANNER
GLIDER
VersaMOUSE
Mini-Wheel
Skanery do inspekcji podzespołów lotniczych
RollerFORM
Mini-Wheel
GLIDER
VersaMOUSE
Akcesoria do skanerów
Pompa wody CFU
TRPP 5810 — zdalny Nadajnik/Przedwzmacniacz
Elastomer sprzęgający
Interbox
The Olympus Scientific Cloud
Software
WeldSight™ Software
TomoView Software
TomoVIEWER Software - GRATIS
Oprogramowanie NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
XRF i XRD Analizatory
Ręczne analizatory XRF
Vanta
Vanta Element
Kompaktowe i przenośne analizatory XRF
Vanta
Vanta Element
Vanta GX
In-Line XRF Analysis
Rozwiązania OEM
X-STREAM
Tabela zastosowań i rozwiązań
The Olympus Scientific Cloud
Rozwiązania z mikroskopami
Laserowe mikroskopy konfokalne
OLS5100
Mikroskopy cyfrowe
Mikroskopy cyfrowe
Mikroskopy pomiarowe
STM7
STM7-BSW
System kontroli czystości technicznej
OLYMPUS CIX100
Mikroskopy świetlne
Mikroskopy pionowe
BX53M
Zastosowania
Mikroskopy odwrócone
Rozwiązania w dziedzinie mikroskopów odwróconych
GX53
Modular Microscopes
BXFM
BXFM-S
Mikroskopy do inspekcji półprzewodników i wyświetlaczy panelowych
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
AR Microscopes
SZX-AR1
Mikroskopy stereoskopowe
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Kamery cyfrowe
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Oprogramowanie do analizy obrazów
PRECiV
OLYMPUS Stream
Micro Spectrophotometer
USPM-RU-W
Soczewki obiektywów
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Obiektyw do interferometrii w świetle białym
Micrometer
Podzespoły mikroskopowe OEM do integracji
Mikroskop — często zadawane pytania
Customized Solutions
Customized Solutions
Wideoskopy, boroskopy
Wideoskopy przemysłowe
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite and IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Długie endoskopy IPLEX
Fiberoskop przemysłowy
Fiberoskopy o małej średnicy
Źródło światła
Oprogramowanie wspomagające inspekcję
InHelp
Przemysły
Resources
Learn
Blog
Wsparcie Klienta
Kontakt
Consultation Reception about Introduction
Customer Service
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
Home
Ośrodki Serwisowe
Custom Financing Solutions
Olympus Scientific Cloud
Pobieranie oprogramowania
User Manuals
Certyfikaty ISO
Karty charakterystyk MSDS
Compliance and Ethics at Evident
Ważne informacje
Product Service Termination List
Produkty Zdezaktualizowane
Multiscan MS5800 do Badania Rur
MultiView Software
TubePro Software
Warunki dostaw
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
Rentals
Shop
Careers
Landing Pages
5G Device Measurement and Inspection Solutions
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey
ANI Drip Campaign: Lead paint - Hazardous Substance Survey 2
ANI Drip Campaign: PMI Test
ANI Drip Campaign: PMI Test 2
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey
ANI Drip Campaign: Salt damage screening survey 2
ASNT Fall Conference 2020
ASNT Fall Conference 2021
ASNT Fall Conference 2022
Analytical Solutions for Battery Recycling and Reprocessing
Analytical Solutions for Metal Content in Battery Manufacturing
Asia Pacific Technology Centre
Assembly Process
Automotive Solutions
Aviation Solutions
BX53M for Automotive
BX53M for Electronic
Cast Iron Solutions
Chart Comparison Solutions
Control 2020 Voucher
Covid Response
DSX Microscopes for Automotive
DSX Mircoscopes for Electronics
DSX1000
Dendrite Arm Spacing Solutions
Dicing
Die Bonding
Drilling Holes
EP50 digital camera for industrial microscopes
Electrode Manufacturing Process
Ergonomic Solutions
Evident Around the World
Evident LINKS
FABTECH 2019
Fast Failure Analysis
Grain Size Solutions
Guaranteed Dimension Measurement Accuracy
IC Design
IPLEX GX/GT for Inspection Services
IPLEX GX/GT for Manufacturing Inspection
IPLEX GX/GT for Turbines Inspection
IPLEX NX
IPLEX-NX
ISO/IEC 17025認定校正ソリューション
ISRI 2021 Raffle Form
InspectTech NDT Podcast
K-Show
Know Your Materials
LEXT OLS5000
Laser Marking
Layer/Coating Thickness Measurement Solutions
MRAI International Indian Material Recycling Conference 2022
Making the Inner Layer
Making the Substrate
Microscope Measurement and Inspection Solutions for Electric Vehicle Development and Manufacturing
Microscope Solutions for Gear and Bearing Manufacturing
Microscope Solutions for Lithium-Ion Battery Manufacturing
Microscope Solutions for Materialography Introduction to Importance of Metallic Materials
Microscope Solutions for Medical Device Manufacturing
Microscope Solutions for Motor Manufacturing
Microscope Solutions for PCB Manufacturing
Microscope Solutions for Power Control Unit Manufacturing
Microscope Solutions for Semiconductor Manufacturing
Microscope Solutions for Solid-State Battery Manufacturing
Mining Convention 2019
Mounting Electronics Parts on the Surface
Non-Metallic Inclusion Solutions
OLS5000 for Automotive
OLS5100
Olympus @ MRO Europe
Olympus Same Day Shipping
Packaging
Particle Distribution Solutions
Pasting the Solder on the PCB
Phase Analysis Solutions
Photolithography
Porosity Analysis Solutions
Power Generation Turbines
Precise, Non-Contact Surface Roughness Measurement
Processing the Outer Layer
Request Olympus NDT Training and Support
Request Remote Application Support
Slicing and Polishing
Step into Our Microscope Studio for a One-on-One Virtual Demo
Thanks for Choosing TRUMPF for Your Laser Needs!
TruAI Technology
Vanta Element
Visit Our Industrial Microscopy Innovation Labs
Visual Inspection Solution for Casting Inspection
Visual Inspection Solution for Oil and Gas Processing Facility Maintenance
Visual Inspection Solution for Pharmaceutical, Food, and Beverage
Visual Inspection Solution for Semiconductor Facility Maintenance
Visual Inspection Solutions
Visual Inspection Solutions for Data Center Maintenance
Visual Inspection Solutions for Defense and Security
Visual Inspection Solutions for Helicopters and Small Aircraft
Visual Inspection Solutions for Industrial Plant Maintenance
Visual Inspection Solutions for Nuclear Power Plants
Wind Power Solutions
Wire Bonding
Zestaw do inspekcji turbin wiatrowych
analytica virtual 2020
productronica 2019 Voucher
vanta build your analyzer
vanta virtual demo
ハンドヘルド蛍光X線分析計 学術研究における用途事例をご紹介!
不確かさとは | 不確かさの定義
不確かさとは | 不確かさの表記方法
不確かさとは | 不確かさ算出の要点
即納在庫あり! 年度末おすすめ商品&キャンペーンのご案内
品質マネジメントシステムの要求事項 | IATF 16949:2016
品質マネジメントシステムの要求事項 | ISO 13485:2016
品質マネジメントシステムの要求事項 | ISO 9001:2015
学術研究用途における分析の事例:その他
学術研究用途における分析の事例:文化財・考古学
学術研究用途における分析の事例:環境リサイクル・材料
導入前のサンプル検証や取得データの解析でお困りの方へ | 導入前後のご相談受付中 |
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第1回
工場設備の『安全・事故防止』に貢献!最新の非破壊検査事例-第2回
測定とは | 国際単位系SI
測定とは | 測定の定義
計量トレーサビリティと校正 | 国際相互認証の仕組み
計量トレーサビリティと校正 | 校正
計量トレーサビリティと校正 | 校正証明書
計量トレーサビリティと校正 | 計量トレーサビリティ
誤差評価 | σ(シグマ)表記
誤差評価 | 誤差評価の概念
誤差評価 | 誤差評価の関連用語
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontakt z nami
Zapisz się do biuletynu informacyjnego
Strona główna
/
Mapa strony
Drukuj
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country