Descripción general
Soluciones personalizadas para sus necesidades
Nuestra misión es proporcionarle soluciones de inspección hechas a medida para optimizar su flujo de trabajo. | Gracias a nuestra línea de productos de renombre mundial, construimos y creamos soluciones de inspección de hardware y software personalizadas. Nuestros productos específicos para microscopios cuentan con características que aumentan significativamente la variedad de muestras a analizar. Asimismo, podemos trabajar directamente con usted con respecto a sistemas de hardware y software para impulsar sus requisitos de ensayo automatizado. |
Soluciones específicasDescubra nuestras soluciones especialmente desarrolladas para ampliar la capacidad de su equipamiento de inspección para aplicaciones específicas.  Software personalizadoSoluciones de software para flujos de trabajo personalizados dedicados a inspecciones microscópicas industriales.  Soluciones microscópicas de escaneo láserFunciones avanzadas para microscopios de escaneo láser dedicadas a muestras de gran dimensión y pesadas.  Soluciones microscópicas digitalesObtenga datos más reveladores a partir de muestras más grandes.  Soluciones de microscopía ópticaSoportes versátiles para inspeccionar componentes grandes y pesados. |
| Proceso hecho a medidaSi no puede encontrar lo que busca en nuestros productos seleccionados, nuestras soluciones completamente personalizadas ofrecen más opciones. Es posible agregar funciones específicas a su equipamiento con el fin de superar los desafíos de su aplicación de inspección de forma rápida y efectiva. Tan sólo envíenos una solicitud de personalización por medio del formulario a continuación y nosotros nos pondremos en contacto con usted para discutir sobre la solución deseada. |
Microscopios láser industriales
Capacidad más allá de lo convencionalImplemente todas las funciones avanzadas del microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 para muestras grandes y pesadas. |
|
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina una precisión y un rendimiento óptico excepcionales con herramientas inteligentes que dan como resultado un sistema fácil de usar. Los productos dirigidos del Grupo de soluciones personalizadas permiten que las funciones avanzadas del sistema OLS5100 sean usadas en una amplia variedad de componentes. |
Personalizar su OLS5100
- Platinas para componentes pesados
- Grandes soportes en puente
- Estaciones de trabajo de gran estabilidad
- Soporte superior estable de piedra
- Unidad antivibratoria activa de mesa
- Cajas de control ambiental
- Accesorios personalizados
- Soporte giratorio de vacío para obleas
- Soporte giratorio para obleas
- Fijación de rosca
Microscopio de escaneo láser OLS5100™: Perfeccione sus mediciones a escala nanométrica en muestras grandes
El microscopio OLS5100 presenta múltiples opciones de personalización que favorecen las mediciones a escala nanométrica (nm) de componentes electrónicos grandes (p. ej., obleas/plaquetas de silicio y PCB), como también de componentes pesados (p. ej., piezas automotrices). Estas opciones cuentan con:
- Platinas motorizadas de hasta 300 × 300 mm para la inspección de muestras grandes y pesadas
- Platinas con mayor capacidad de carga de hasta 30 kg
- Desplazamiento manual en Z para una fácil medición de muestras de diferentes alturas
Ver el folleto para más información
Gran soporte en puente OLS5100: Alta estabilidad para la medición de muestras súper grandesLa estabilidad es un factor clave en la inspección de alta resolución de componentes, como las obleas/plaquetas electrónicas de silicio, los componentes electrónicos o las grandes piezas automotrices. El gran soporte en puente personalizable está diseñado para garantizar la precisión y la exactitud de las mediciones llevadas a cabo con el microscopio LEXT OLS5100. Presenta las siguientes características/funciones:
|
Estaciones de trabajo personalizables de gran estabilidad: Máxima precisión de mediciónPara alcanzar una óptima precisión de medición durante las inspecciones a escala nanométrica (nm) de muestras (p. j., productos electrónicos) se requiere un instrumento capaz de minimizar el efecto de las vibraciones externas. Nuestras estaciones de trabajo de gran estabilidad permiten inspecciones precisas a escala nanométrica (nm). Las estaciones de trabajo integran:
Estos componentes dedicados a las estaciones de trabajo pueden ser usados para personalizar una solución llave en mano completa, o pueden ser comprados individualmente según sus requisitos. |
Soporte superior estable de piedra: Entorno de trabajo optimizadoLograr condiciones ambientales adecuadas para una precisión óptima al ejecutar una inspección a escala nanométrica (nm) de la electrónica u otros objetos puede ser un desafío. El soporte superior de piedra garantiza que los operadores puedan obtener mediciones fiables con alta resolución.
Las unidades antivibración activas pueden integrarse a la perfección en el soporte del microscopio, lo que forma una solución muy compacta, o pueden adaptarse a una unidad antivibración de escritorio, según las necesidades de su inspección. |
Unidad antivibratoria activa de mesa: Elimine pequeñas vibraciones para una mayor precisiónEn el caso de aplicaciones que requieren una resolución de escala nm, como la inspección de obleas/plaquetas electrónicas, incluso los pasos ligeros o el ruido menor pueden afectar la precisión de la medición. La unidad antivibración activa de mesa está diseñada para eliminar las vibraciones externas, y cuenta con múltiples funciones que aumentan la estabilidad y la precisión de la medición:
|
Cajas de control ambiental: Una herramienta poderosa en la inspección de salas blancasLa protección del microscopio proporciona un entorno de trabajo ambiental que mejora la precisión de la medición y reduce el sonido de escaneo cuando se usan los sistemas LEXT estándar. A fin de permitir que los usuarios puedan mantener flujos de trabajo de inspección eficientes con protección, la caja de control ambiental posee varias características innovadoras de diseño :
|
Mandril de vacío microporoso: Óptima fijación para muestras delicadasLa inspección precisa de elementos delgados y flexibles, como las películas RFID, los paneles solares y las obleas/plaquetas de silicio, requiere portamuestras que proporcionen una fuerza de sujeción uniforme y no rebasen la deformación mínima de la muestra. El mandril de vacío microporoso mantiene la planitud y la integridad de las muestras delicadas a lo largo de la inspección. Esto se logra usando una succión uniforme a través de microporos en lugar de orificios o ranuras de succión.
|
Soporte giratorio de vacío para obleas: Accesorio estable y seguro para obleas/plaquetas electrónicasLos soportes de muestras deben facilitar el desplazamiento a través de las muestras y una fijación estable para garantizar una inspección eficiente de las obleas/plaquetas de silicio. El soporte de vacío para obleas posee varias características que agilizan la distribución del trabajo de inspección en obleas/plaquetas electrónicas:
|
Soporte giratorio para obleas: Rentabilizar la inspección de obleas/plaquetasEl soporte giratorio para obleas/plaquetas proporciona una alternativa sencilla y rentable para fijar las muestras donde no se requiere succión al vacío.
|
Fijación de rosca: Fácil inspección con accesorios personalizadosCon frecuencia, son necesarios accesorios personalizados para poder sujetar tuberías/tubos, cubos u otros objetos irregulares durante una inspección. La fijación de rosca, dotada de 68 roscas M3 distribuidas uniformemente y con una medida de 150 mm × 110 mm × 5,5 mm, permite acomodar una amplia variedad de accesorios personalizados para una fijación versátil de muestras. |
Nota de aplicaciónAutomatizar las mediciones de rugosidad de área en componentes de automoción críticosLos componentes de un motor de combustión interna deben ser fabricados conforme a tolerancias estrictas y estándares de acabado de superficies exigentes para lograr un rendimiento óptimo del motor. El microscopio de escaneo láser 3D LEXT™ OLS5100 permite llevar a cabo mediciones de rugosidad sin contacto y con alta precisión de áreas superficiales. Por consiguiente, es muy adecuado para el control de calidad de componentes de automoción. |
|
Con el fin de mejorar la distribución del trabajo en la medición de la rugosidad de áreas superficiales, un fabricante contactó a Evident y expuso los requisitos que necesitaba satisfacer. Evident colaboró con el fabricante para crear de forma conjunta una solución altamente automatizada y personalizada usando un microscopio LEXT. La solución completa automatizó completamente las siguientes tareas:
Automatizar el flujo de trabajo mejora de forma significativa la productividad y reduce el error del operador. Además, las mediciones de precisión deben ser llevadas a cabo bajo condiciones ambientales controladas. En el caso de esta aplicación, el fabricante también requería que se registrase y almacenase la temperatura local y la vibración de fondo en el servidor MES. Evident se aseguró de que estas características sean integradas al sistema del fabricante. |
Microscopios digitales
Capacidad más allá de lo convencionalAumente el potencial de su microscopio digital DSX1000 mediante componentes personalizados para inspeccionar muestras grandes y altas. |
|
El microscopio digital DSX1000 combina facilidad de uso con funciones avanzadas para optimizar la distribución de su trabajo durante una inspección. Optimice su microscopio digital con soluciones hechas a medida para inspeccionar muestras grandes y altas. |
Personalice su microscopio digital |
Estativos verticalesMediciones de gran magnificación a partir de muestras grandes El estativo vertical DSX1000 hecho a medida permite llevar a cabo mediciones precisas de muestras grandes o pesadas. |
Cabezal de zoom con fluorescenciaVer más con la fluorescencia Desvele más defectos durante la inspección. Entre sus aplicaciones destacan la medición de dimensiones críticas de obleas/plaquetas de silicio y la identificación de grietas en soldaduras de placas de circuito impreso. |
Estivos basculantes/inclinablesMediciones precisas de grandes muestras a partir de múltiples ángulos Estativo basculante/inclinable que agiliza su inspección y proporciona información mejorada a partir de muestras voluminosas. |
Importancia del productoAnillo de luz LED segmentado: Inspección detallada prácticamente 3DLas aplicaciones de inspección, como el análisis forense de documentos, la detección de grietas o el análisis de pinturas y barnices, pueden ser optimizadas gracias a diferentes longitudes de onda de luz. |
|
Evident ha desarrollado anillos de luz LED segmentados para el microscopio DSX1000 con el fin de desvelar los detalles finos de las muestras durante las inspecciones:
|
Microscopios ópticos
Capacidad más allá de lo convencionalSoportes versátiles para inspeccionar muestras mucho más grandes |
|
Los microscopios ópticos (de luz) son usados en el control/aseguramiento de calidad y para llevar a cabo exámenes detallados de materiales, dispositivos electrónicos, metales y productos químicos recientemente desarrollados. Los microscopios estereoscópicos o estereomicroscopios ofrecen una visión estereoscópica clara y potenciada a través de una operación cómoda y ergonómica. Los soportes personalizados para los microscopios ópticos (de luz) y estereoscópicos (estereomicroscopios) proporcionan alta estabilidad para una mayor precisión de medición, con desplazamiento en Z motorizado para agilizar la inspección de muestras grandes. |
Soportes de puente BXFMSoportes estables para la inspección de componentes grandes La inspección de muestras grandes o altas requiere un soporte grande y estable con opciones flexibles, como el desplazamiento manual o motorizado en Z y la opción de enfoque de alta velocidad. Nuestros soportes de puente BXFM brindan una solución poderosa para inspeccionar muestras grandes. |
Soportes de una sola columnaFácil ajuste para la inspección de muestras grandes La capacidad para ajustar rápidamente la altura de un microscopio es clave para una inspección eficiente cuando se toman medidas de muestras de tamaño variable. |
Nota de aplicaciónAdquirir la máxima cantidad de medidas en un mínimo de tiempo
|
