Evident LogoOlympus Logo

Soluciones microscópicas:
Fabricación de tarjetas/placas de circuito impreso (PCB)

Fabricación de sustrato

En la fabricación del sustrato se usa vidrio líquido y resina epoxi para después aplicar un revestimiento laminar de cobre. La rugosidad superficial de la hoja/lámina de cobre debe ser inspeccionado meticulosamente ya que afecta la calidad de la placa de circuito impreso (PCB).

Análisis superficial de sustratos de cobre

Cualquier defecto diminuto puede tener efectos negativos en la calidad del sustrato. Los inspectores deben detectar y medir la dimensión de dichos defectos (a nivel micrométrico) en la superficie del sustrato de cobre.

Solución Olympus

El microscopio digital DSX1000 proporciona imágenes 3D, lo que permite analizar la condición superficial de sustratos de cobre. Asimismo, el microscopio puede medir el ancho y la profundidad de defectos diminutos.

Microscopio digital de la serie DSX

Microscopio digital de la serie DSX

Análisis superficial del sustrato

Análisis superficial del sustrato

Notas de aplicación

Explore las aplicaciones relacionadas:

Inspección de uniones por hilo con un microscopio digital
Utilización del microscopio láser confocal OLS5000 de Olympus para medir la rugosidad superficial de placas de circuito impreso Más información
Medición de la rugosidad superficial de los colectores de electrodos con batería de iones de litio
Medición de la rugosidad superficial de los colectores de electrodos con batería de iones de litio Más información

Análisis superficial de sustratos de cobre

Una superficie rugosa de sustrato de cobre puede afectar la calidad de la laminación; por lo tanto, medir la rugosidad superficial del sustrato de cobre es crucial para asegurar la calidad de las placas de circuito impreso (PCB). Cabe agregar que medir esta rugosidad con un método de contacto podría crear defectos en el sustrato de cobre.

Solución Olympus

Los microscopios de escaneo láser de la serie OLS de Olympus permiten desarrollar mediciones de rugosidad sin contacto para superficies de sustratos de cobre. Miden sin dañar la superficie y permiten capturar los datos de una superficie rugosa de forma más precisas que con un interferómetro de luz blanca debido a la alta resolución lateral.

Microscopio de escaneo láser de la serie OLS

Microscopio de escaneo láser de la serie OLS

Análisis superficial del sustrato

Análisis superficial del sustrato

Notas de aplicación

Explore las aplicaciones relacionadas:

Inspección de uniones por hilo con un microscopio digital
Utilización del microscopio láser confocal OLS5000 de Olympus para medir la rugosidad superficial de placas de circuito impreso Más información
Medición de la rugosidad superficial de los colectores de electrodos con batería de iones de litio
Medición de la rugosidad superficial de los colectores de electrodos con batería de iones de litio Más información
Evaluación de rugosidad en tarjetas de memoria
Evaluación de rugosidad en tarjetas de memoria Más información
Not available in your country.
Not available in your country.
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.