Descripción general

Microscopía avanzada simplificada Diseñada dando prioridad a la modularidad, la serie BX3M proporciona versatilidad para un amplio abanico de aplicaciones industriales y de ciencia de materiales. Con una integración mejorada con el software PRECiV, el BX53M ofrece un flujo de trabajo transparente para los usuarios de la microscopía estándar y procesamiento de imágenes digitales desde la observación hasta la creación de informes. Pruebe la serie BX53M

Microscopía avanzada simplificada

Diseñada dando prioridad a la modularidad, la serie BX3M proporciona versatilidad para un amplio abanico de aplicaciones industriales y de ciencia de materiales. Con una integración mejorada con el software PRECiV, el BX53M ofrece un flujo de trabajo transparente para los usuarios de la microscopía estándar y procesamiento de imágenes digitales desde la observación hasta la creación de informes.

Pruebe la serie BX53M

	Elija el mejor modelo Seleccione entre las seis sugerencias de configuración del BX53M para obtener flexibilidad según las características que necesita. Para uso general: Básico, Estándar, Avanzado Para uso específico: Fluorescencia, Infrarrojo, Polarización Varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios Diseño modular para construir su sistema a su manera Obtenga más información

Elija el mejor modelo

Seleccione entre las seis sugerencias de configuración del BX53M para obtener flexibilidad según las características que necesita.

Para uso general: Básico, Estándar, Avanzado
Para uso específico: Fluorescencia, Infrarrojo, Polarización
Varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios
Diseño modular para construir su sistema a su manera

Obtenga más información

Cómodo y fácil de usar El BX53M simplifica las complejas tareas de microscopía a través de unos controles bien diseñados y fáciles de utilizar. Los usuarios pueden sacar el máximo rendimiento del microscopio sin necesidad de una formación extensa. El funcionamiento fácil y cómodo del BX53M también mejora la reproducibilidad minimizando el error humano. Iluminador sencillo Controles a carácter intuitivo del microscopio Encuentre el enfoque rápidamente Iluminación consistente Manejo fácil y ergonómico Fácil restauración de los ajustes del microscopio Funciones de medición básicas Obtenga más información

Cómodo y fácil de usar

El BX53M simplifica las complejas tareas de microscopía a través de unos controles bien diseñados y fáciles de utilizar. Los usuarios pueden sacar el máximo rendimiento del microscopio sin necesidad de una formación extensa. El funcionamiento fácil y cómodo del BX53M también mejora la reproducibilidad minimizando el error humano.

Iluminador sencillo
Controles a carácter intuitivo del microscopio
Encuentre el enfoque rápidamente
Iluminación consistente
Manejo fácil y ergonómico
Fácil restauración de los ajustes del microscopio
Funciones de medición básicas

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	Funcional El BX53M mantiene los métodos tradicionales de contraste de la microscopía convencional, como campo claro, campo oscuro, luz polarizada y contraste de interferencia diferencial. A medida que se desarrollan nuevos materiales, muchas de las dificultades asociadas a los defectos de detección a través de métodos de contraste estándar pueden resolverse a través de técnicas de microscopía avanzada para conseguir unas inspecciones más precisas y fiables. Las nuevas técnicas y opciones de iluminación para la adquisición de imágenes incluidas en el PRECiV ponen al alcance de los usuarios más opciones para evaluar sus muestras y documentar los hallazgos. Lo invisible se hace visible Cree imágenes totalmente enfocadas Mueva fácilmente la platina para las panorámicas Capture tanto las áreas claras como oscuras Flexibilidad para adaptarse a las preferencias de observación y análisis Adaptabilidad a una amplia variedad de muestras Obtenga más información

Funcional

El BX53M mantiene los métodos tradicionales de contraste de la microscopía convencional, como campo claro, campo oscuro, luz polarizada y contraste de interferencia diferencial. A medida que se desarrollan nuevos materiales, muchas de las dificultades asociadas a los defectos de detección a través de métodos de contraste estándar pueden resolverse a través de técnicas de microscopía avanzada para conseguir unas inspecciones más precisas y fiables. Las nuevas técnicas y opciones de iluminación para la adquisición de imágenes incluidas en el PRECiV ponen al alcance de los usuarios más opciones para evaluar sus muestras y documentar los hallazgos.

Lo invisible se hace visible
Cree imágenes totalmente enfocadas
Mueva fácilmente la platina para las panorámicas
Capture tanto las áreas claras como oscuras
Flexibilidad para adaptarse a las preferencias de observación y análisis
Adaptabilidad a una amplia variedad de muestras

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Ópticas de vanguardia

La historia de Olympus en cuanto al desarrollo de ópticas de alta calidad se ha traducido en un récord de calidad óptica de fiabilidad demostrada y microscopios que ofrecen una precisión excelente de medición.

Rendimiento óptico superior
Iluminación con LED blanco de alta intensidad y temperatura de color estable
Facilita una medición precisa
Aplicación mosaico transparente

Obtenga más información

_{Control de aberración de frente de onda}

_{Frente de onda incorrecto}

Onda buena (control de aberración de frente de onda)

_{Frente de onda correcto (objetivo UIS2)}

Configuraciones

Concepto de sistema modular de gran fiabilidad
Nunca había sido tan sencillo

A continuación, se proporciona seis sugerencias de configuración de la serie BX53M para brindarle la flexibilidad de elegir las características necesarias a su aplicación.

Uso general			Use específico

Básico Fácil configuración con características básicas	Estándar Fácil de utilizar con actualizaciones versátiles	Avanzado Admite numerosas funciones avanzadas	Fluorescencia Adecuada para observación de fluorescencia	Luz infrarroja Desarrollada para la observación de infrarrojos a fin de inspeccionar circuitos integrados	Polarización Desarrollada para observar las características de birrefringencia
_{Filtro de color LCD} ^{(Transmitida/BF)}	_{Microestructura con granos} ^ferríticos ^{(Reflejada/DF)}	_{Hilo de cobre de bobina} ^{(BF + DF/MIX)}	_{Resinas en patrón de circuito impreso} ^{(FL + DF/MIX)}	_{Estratificación de silicio en patrón de circuito impreso} ^(IR)	_Amianto ^(POL)

Ver ficha de especificaciones

	Básico	Estándar	Avanzado	Fluorescencia	Luz infrarroja	Polarización
Estativo del microscopio	Reflejada o reflejada/transmitida		Reflejada o reflejada/transmitida		Reflejada	Transmitida
Estándar	R-BF o T-BF	R-BF o T-BF o DF	R-BF o T-BF o DF o MIX	R-BF o T-BF o DF o FL	R-BF o IR	T-BF o POL
Opción	DIC	DIC MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
Iluminador sencillo	－			－	－	－
Leyenda de apertura	－				－
Hardware codificado	－				－
Índice de escala de enfoque
Control de intensidad de luz				－	－
Funcionamiento del interruptor manual					－	－
Observación MIX					－	－
Objetivos	Seleccione entre los 3 objetivos según sus aplicaciones		Seleccione entre los 3 objetivos según sus aplicaciones		Objetivos para la luz infrarroja	Objetivos para la luz polarizada
Platina	Seleccione entre las 5 platinas según el tamaño de sus muestras		Seleccione entre las 5 platinas según el tamaño de sus muestras			Platina para la luz polarizada

MÉTODO DE OBSERVACIÓN

R-BF: Campo claro (Reflejada)
T-BF: Campo claro (Reflejada/transmitida)
DF: Campo oscuro
DIC: Contraste de interferencia diferencial / polarización sencilla
MIX: Observación combinada
FL: Fluorescencia
IR: Infrarrojo
POL: Polarización

_{*La observación T-BF se puede usar al seleccionar el estativo del microscopio de luz reflejada/luz transmitida.}

: Estándar
: Opción

Configuraciones de ejemplo para la ciencia de los materiales

Diseño modular que permite varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios.
A continuación, puede encontrar algunos ejemplos de configuración para la ciencia de materiales.

Serie BX53M con combinación de luz reflejada y luz reflejada/luz transmitida Hay dos tipos de estativos de microscopios en la serie BX3M, uno solo para la luz reflejada y otro para la luz reflejada y la transmitida. Ambos estativos pueden configurarse con componentes manuales, codificados o motorizados. Los estativos están equipados con la capacidad de descarga electrostática (ESD) para proteger las muestras electrónicas.	_{Configuración de ejemplo del BX53MRF-S}	_{Configuración de ejemplo del BX53MTRF-S}

Serie BX53M con combinación de luz reflejada y luz reflejada/luz transmitida

Hay dos tipos de estativos de microscopios en la serie BX3M, uno solo para la luz reflejada y otro para la luz reflejada y la transmitida. Ambos estativos pueden configurarse con componentes manuales, codificados o motorizados. Los estativos están equipados con la capacidad de descarga electrostática (ESD) para proteger las muestras electrónicas.

Configuración de ejemplo del BX53MRF-S

_{Configuración de ejemplo del BX53MRF-S}

Configuración de ejemplo del BX53MTRF-S

_{Configuración de ejemplo del BX53MTRF-S}

	Combinación IR del BX53M Los objetivos de infrarrojos pueden utilizarse para el procesamiento de aplicaciones donde se requiere imágenes a través de silicio para ver el patrón. Los objetivos de infrarrojos (IR) de 5X a 100X están disponibles con la corrección de las aberraciones cromáticas de las longitudes de onda de luz visible a través del infrarrojo cercano. Para los trabajos de alto aumento, la rotación del collar de corrección de la serie de lentes LCPLNIR corrige las aberraciones causadas por el espesor de la muestra. Con un objetivo simple se obtiene una imagen clara. Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo IR

Combinación IR del BX53M

Los objetivos de infrarrojos pueden utilizarse para el procesamiento de aplicaciones donde se requiere imágenes a través de silicio para ver el patrón. Los objetivos de infrarrojos (IR) de 5X a 100X están disponibles con la corrección de las aberraciones cromáticas de las longitudes de onda de luz visible a través del infrarrojo cercano. Para los trabajos de alto aumento, la rotación del collar de corrección de la serie de lentes LCPLNIR corrige las aberraciones causadas por el espesor de la muestra. Con un objetivo simple se obtiene una imagen clara.

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo IR

Combinación de luz polarizada del BX53M Los objetivos ópticos de combinación de luz polarizada BX53M proporcionan a los geólogos las herramientas adecuadas para un procesamiento de imágenes con luz polarizada de alto contraste. Las aplicaciones como la identificación de minerales, la investigación de características ópticas de los cristales y la observación de las secciones de roca sólida se benefician de la estabilidad del sistema y la alineación óptica precisa.	_{Configuración ortoscópica del BX53-P}	_{Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P}

Combinación de luz polarizada del BX53M

Los objetivos ópticos de combinación de luz polarizada BX53M proporcionan a los geólogos las herramientas adecuadas para un procesamiento de imágenes con luz polarizada de alto contraste. Las aplicaciones como la identificación de minerales, la investigación de características ópticas de los cristales y la observación de las secciones de roca sólida se benefician de la estabilidad del sistema y la alineación óptica precisa.

Configuración ortoscópica del BX53-P

_{Configuración ortoscópica del BX53-P}

Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P

_{Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P}

Lente de Bertrand para observaciones de tipo conoscópico y ortoscópico El cambio entre la observación ortoscópica y conoscópica puede efectuarse de forma fácil y rápida con un accesorio de observación conoscópica U-CPA. Su tipo enfocable permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. El tope de campo de visión de Bertrand permite obtener imágenes conoscópicas claras y nítidas constantemente.

Lente de Bertrand para observaciones de tipo conoscópico y ortoscópico

El cambio entre la observación ortoscópica y conoscópica puede efectuarse de forma fácil y rápida con un accesorio de observación conoscópica U-CPA. Su tipo enfocable permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. El tope de campo de visión de Bertrand permite obtener imágenes conoscópicas claras y nítidas constantemente.

	Amplia variedad de compensadores y placas de onda Existen seis compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. Los niveles de retraso de medición oscilan entre 0 y 20 λ. Para llevar a cabo mediciones más fáciles y obtener imágenes de alto contraste, es posible usar los compensadores Berek y Senarmont que cambian el nivel de retraso a través del completo campo de visión.

Amplia variedad de compensadores y placas de onda

Existen seis compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. Los niveles de retraso de medición oscilan entre 0 y 20 λ. Para llevar a cabo mediciones más fáciles y obtener imágenes de alto contraste, es posible usar los compensadores Berek y Senarmont que cambian el nivel de retraso a través del completo campo de visión.

Rango de medición de los compensadores

Compensador	Rango de medición	Aplicación principal
Grueso Berek (U-CTB)	Desde 0 hasta 11.000 nm (20 λ)	Medición de nivel de retraso alto (R^*>3 λ) (cristales, macromoléculas, fibras, etc.)
Berek (U-CBE)	Desde 0 hasta 1.640 nm (3 λ)	Medición de nivel de retraso (cristales, macromoléculas, organismos vivos, etc.)
Compensador Senarmont (U-CSE)	Desde 0 hasta 546 nm (1 λ)	Medición de nivel de retraso (cristales, organismos vivos, etc.) Optimización del contraste de imagen (organismos vivos, etc.)
Compensador Brace-Koehler 1/10 λ (U-CBR1)	Desde 0 hasta 55 nm (1/10 λ)	Medición de bajo nivel de retraso (organismos vivos, etc.) Optimización del contraste de imagen (organismos vivos, etc.)
Compensador Brace-Koehler 1/30 λ (U-CBE2)	Desde 0 hasta 20 nm (1/30 λ)	Medición del contraste de imagen (organismos vivos, etc.)
Cuña de cuarzo (U-CWE2)	Desde 500 hasta 2.200 nm (4 λ)	Medición aproximada del nivel de retraso (cristales, macromoléculas, etc.)

_{*R = nivel de retraso

Para una medición más precisa, se recomienda que los compensadores (salvo U-CWE2) se utilicen junto con el filtro de interferencia 45-IF546.}

Objetivos ópticos sin tensión

Gracias al diseño y a la tecnología de fabricación sofisticados de Olympus, los objetivos sin tensión UPLFLN-P reducen la tensión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen.

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo UPLFLN-P

Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo PLN-P / ACHN-P

	Sistema BXFM El BXFM puede adaptarse a aplicaciones especiales o integrarse en otros instrumentos. La construcción modular proporciona una adaptación directa a entornos y configuraciones únicos con una variedad de iluminadores pequeños especiales y monturas de fijación.

Sistema BXFM

El BXFM puede adaptarse a aplicaciones especiales o integrarse en otros instrumentos. La construcción modular proporciona una adaptación directa a entornos y configuraciones únicos con una variedad de iluminadores pequeños especiales y monturas de fijación.

Diseño modular para construir su sistema a su manera

Estativos de microscopios

Hay dos estativos de microscopios para la luz reflejada y uno también tiene capacidad de luz transmitida. Hay disponible un adaptador para elevar el iluminador para adaptarse a las muestras de mayor altura.

		Luz reflejada	Luz transmitida	Altura de la muestra
1	BX53MRF-S	■	－	Desde 0 hasta 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	Desde 0 hasta 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	Desde 40 hasta 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	Desde 40 hasta 75 mm

Accesorios prácticos para su uso en microscopía

－	HP-2	Prensa manual
－	COVER-018	Cubierta antipolvo

Estativos microscópicos

Soportes

Para aplicaciones de microscopía en las que la muestra no encaja en un estativo, el iluminador y los objetivos ópticos pueden montarse en un soporte de mayor tamaño o en otro instrumento.

Configuración del iluminador de BXFM + BX53M

1	BXFM-F	La interfaz del estativo es un pilar de sujeción de 32 mm para montaje en pared
2	BX3M-ILH	Soporte del iluminador
3	BXFM-ILHSPU	Resorte de descarga para BXFM
5	SZ-STL	Soporte grande

Configuración del iluminador de BXFM + U-KMAS

1	BXFM-F	La interfaz del estativo es un pilar de sujeción de 32 mm para montaje en pared
4	BXFM-ILHS	Soporte de U-KMAS
5	SZ-STL	Soporte grande

Soportes

Tubos

Para el procesamiento microscópico de imágenes con oculares o para la observación por cámara, seleccione los tubos según el tipo de procesamiento de imágenes y la postura de operación requeridos durante la observación.

		FN	Tipo	Tipo de ángulo	Imagen	Número de mecanismos de ajuste de dioptrías
1	U-TR30-2	22	Trinocular	Fijación	Invertida	1
2	Invertida	22	Trinocular para infrarrojos	Fijación	Invertida	1
3	U-ETR-4	22	Trinocular	Fijación	Vertical	－
4	U-TTR-2	22	Trinocular	Inclinable	Invertida	－
5	U-SWTR-3	26.5	Trinocular	Fijación	Invertida	－
6	U-SWETTR-5	26.5	Trinocular	Inclinable	Vertical	－
7	U-TLU	22	Puerto simple	－	－	－
8	U-SWATLU	26.5	Puerto simple	－	－	－

Iluminadores

El iluminador proyecta la luz sobre la muestra según el método de observación seleccionado. El software comunica con los iluminadores codificados para leer la posición del cubo y reconoce automáticamente el método de observación.

		Función codificada	Fuente de luz	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	3 posiciones fijas de cubo	LED - Integrado	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Posición de 4 cubos acoplables	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halógeno	■	■	■	■	■	－	■	■
			Mercurio/guía de luz	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halógeno	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED - Integrado	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Brazo mecánico para luz transmitida
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halógeno	■	－	■	■	■	－	■	－

Fuentes de luz

Fuentes de luz y fuentes de alimentación para la iluminación de las muestras. Seleccione la fuente de luz adecuada para el método de observación.

Configuración de fuente de luz LED estándar Configuración de fuente de luz LED estándar

1	BX3M-LEDR	Portalámparas de lámpara LED para luz reflejada
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro y campo claro cuando es necesario
3	BX3M-PSLED	Fuente de alimentación para portalámparas de lámpara LED, necesita el sistema BXFM
4	BX3M-LEDT	Portalámparas de lámpara LED para luz transmitida

Configuración de fuente de luz de fluorescencia

5	U-LLGAD	Adaptador de guía de luz
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro cuando es necesario
6	U-LLG150	Guía de luz, longitud: 1,5 m
7	U-LGPS	Fuente de luz para fluorescencia
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Portalámparas para lámpara de mercurio dedicada a la fluorescencia
2	U-RCV	Convertidor de campo oscuro para BX3M-URAS-S, necesario para la observación con campo oscuro cuando es necesario
10	U-RFL-T	Fuente de alimentación para lámpara de mercurio de 100 W

Configuración de fuente de luz halógena y luz infrarroja

11	U-LH100IR	Portalámparas de lámpara halógena para infrarrojos
12	U-RMT	Cable de extensión para el portalámparas de lámpara halógena, longitud del cable 1,7 m (requiere cable de extensión cuando es necesario)
13, 14	TH4-100 (200)	Fuente de alimentación de 100 V (200 V) de especificación para lámpara halógena de 100 W/50 W
15	TH4-HS	Interruptor manual para intensidad de luz de halógena (atenuador TH4-100 (200) sin interruptor manual)

Portaobjetivos

Sujeción para objetivos y deslizadores. Seleccione según el número y tipos de objetivos necesarios; también con/sin fijación de deslizador.

		Tipo	Orificios	BF	DF	DIC	MIX	ESD	N.º de orificios de centrado
1	U-P4RE	Manual	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manual	5	■
3	U-5RES-ESD	Codificado	5	■				■
4	U-D6RE	Manual	6	■		■
5	U-D6RES	Codificado	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorizado	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manual	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Codificado	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Codificado	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorizado	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorizado	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorizado	5	■	■

Deslizadores

Seleccione el deslizador para complementar la observación tradicional. El deslizador DIC proporciona información topográfica acerca de la muestra con opciones para maximizar el contraste o la resolución. El deslizador MIX proporciona flexibilidad de iluminación con una fuente de LED en la trayectoria del campo oscuro.

Deslizador DIC

		Tipo	Cantidad de flexibilidad transversal	Objetivos disponibles
1	U-DICR	Estándar	Mediano	MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN y LCPLFLN-LCD

Deslizador MIX

		Objetivos disponibles
2	U-MIXR	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Cable

U-MIXRCBL*

Cable de U-MIXR, longitud del cable: 0,5 m

_{*MIXR solo}

Caja de control e interruptores manuales

Cajas de control para conectar el hardware del microscopio con un PC y los interruptores manuales para la visualización y control del hardware.

Configuración de BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Caja de control para el sistema BX53M
2	BX3M-CBFM	Caja de control para el sistema BXFM
3	BX3M-HS	Control de observación MIX, indicador de hardware codificado, botón de función de software (PRECiV)
4	BX3M-HSRE	Rotación de portaobjetivos motorizado

Cable

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Cable de portaobjetivos motorizado, longitud del cable: 0,2 m

Cajas de control e interruptores manuales

Platinas

Platinas y placas de platinas para la colocación de la muestra. Seleccione la platina según la forma y tamaño de la muestra.

Configuración de platina de 150 mm × 100 mm

1	U-SIC64	Platina con mango de superficie superior plana de 150 mm × 100 mm
2	U-SHG (T)	Manejo mejorado mediante mango de caucho de silicona (tipo grueso)
3	U-SP64	Placa de platina para U-SIC64
4	U-WHP64	Placa de pastilla para U-SIC64
5	BH2-WHR43	Soporte de pastilla para 4-3 pulg.
6	BH2-WHR54	Soporte de pastilla para 5-4 pulg.
7	BH2-WHR65	Soporte de pastilla para 6-5 pulg.
8	U-SPG64	Placa de vidrio para U-SIC64

Configuración de platina de 76 mm × 52 mm

13	U-SVR M	Platina con mango derecho de 76 mm × 52 mm
2	U-SHG (T)	Manejo mejorado mediante mango de caucho de silicona (tipo grueso)
14	U-MSSP	Placa de platina para U-SVR (/L) M
15, 16	U-HR (L) D-4	Soporte para portaobjetos para apertura derecha (izquierda)
17, 18	U-HR (L) DT-4	Soporte para portaobjetos para apertura derecha (izquierda), para presionar el cristal del portaobjetos sobre la superficie superior de la platina, la muestra es difícil de elevar

Configuración de platina de 100 mm × 100 mm

9	U-SIC4R 2	Platina con mango derecho de 105 mm × 100 mm
10	U-MSSP4	Placa de platina para U-SIC4R (L) 2
11	U-WHP2	Placa de pastilla para U-SIC4R (L) 2
6	BH2-WHR43	Soporte de pastilla para 4-3 pulg.
12	U-MSSPG	Placa de vidrio para U-SIC4R

Otros

19	U-SRG2	Platina giratoria
20	U-SRP	Platina giratoria para POL, desde cualquier posición la función de clic de enganche puede ser de 45°
21	U-FMP	Platina mecánica para U-SRP/U-SRG2

Adaptadores para cámara

Adaptador para observación de la cámara. Seleccionable desde el campo de visión y aumento necesario. El rango del campo de observación real puede calcularse mediante esta fórmula: campo de visión real (mm de diagonal) = visualización campo (número de visualización) ÷ aumento del objetivo.

		Aumento	Ajuste de centrado	Área de imagen de CCD (número de campo) mm
		Aumento	Ajuste de centrado	2/3 pulg.	1/1,8 pulg.	1/2 pulg.
1	U-TV1x-2 con U-CMAD3	1	－	10,7	8,8	8
2	U-TV1xC	1	ø de 2 mm	10,7	8,8	8
3	U-TV0.63xC	0,63	－	17	14	12,7
4	U-TV0.63xC	0,5	－	21,4	17,6	16
5	U-TV0.35xC-2	0,35	－	－	－	22
6	U-TV0.25xC	0,25	－	－	－	－

Oculares

Ocular para visualizar directamente a través del microscopio. Seleccione según el campo de visión deseado.

		FN (mm)	Mecanismo de ajuste dióptrico	Retícula cruzada integrada
1	WHN10x	22
2	WHN10x-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Filtros ópticos

Los filtros ópticos convierten la luz de exposición sobre la muestra a tipos diferentes de iluminación. Seleccione el filtro adecuado según los requisitos de observación.

BF, DF, FL

1, 2	U-25ND25,6	Filtro de densidad neutra, transmitancia de 25 %, 6 %
3	U-25LBD	Filtro de color de luz diurna
4	U-25LBA	Filtro de color de luz halógena
5	U-25IF550	Filtro verde
6	U-25L42	Filtro de corte UV
7	U-25Y48	Filtro amarillo
8	U-25FR	Filtro mate (necesario para el BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	La dirección de la polarización es fija
10	U-AN360-3	La dirección de la polarización es giratoria
11	U-AN360P-2	La dirección de la polarización de alta calidad es giratoria
12	U-PO3	La dirección de la polarización es fija
13	U-POTP3	La dirección de la polarización es fija, para su uso con U-DICRH
14	45-IF546	Filtro verde de ø de 45 mm para POL

IR

15	U-AN360IR	La dirección de la polarización infrarroja es giratoria (reduce el halo en la observación de infrarrojo cuando se utiliza en combinación con U-AN360IR y U-POIR)
16	U-POIR	La dirección de polarización infrarroja es fija
17	U-BP1100IR	Filtro de paso de banda: 1100 nm
18	U-BP1200IR	Filtro de paso de banda: 1200 nm

Luz transmitida

19	43IF550-W45	Filtro verde de ø 45 mm
20	U-POT	Filtro polarizador

Otros

22

U-25

Filtro vacío, para su uso con filtros de ø de 25 mm del usuario

_{*AN y PO no son necesarios cuando se utiliza BX3M-RLAS-S y U-FDICR}

Condensadores

Los condensadores recogen y enfocan la luz transmitida. Se utilizan para la observación con luz transmitida.

1	U-AC2	Condensador Abbe (disponible desde objetivos de 5x)
2	U-SC3	Condensador abatible (disponible desde objetivos de 1.25x)
3	U-LWCD	Condensador de distancia de trabajo larga para placa de vidrio (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Condensador abatible para POL

Unidades de espejo

Unidad de espejo para BX3M-URAS-S. Seleccione la unidad para la observación necesaria.

1	U-FBF	Para BF, filtro N. D. desmontable
2	U-FDF	Para DF
3	U-FDICR	Para POL, la posición de los prismas de Nicol cruzados es fija
4	U-FBFL	Para BF, el filtro N. D. integrado (Es necesario tanto para BF* como FL)
5	U-FWUS	Para FL ultra violeta: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Para FL azul: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Para FL verde: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Unidad de espejo vacía

_{*Solo para iluminación episcópica coaxial}

Tubos intermedios

Tipos diferentes de accesorios para varios propósitos. Para su uso entre el tubo y el iluminador.

1	U-CA	Cambiador de aumentos (1X, 1,25X; 1,6X; 2X)
2	U-TRU	Unidad intermedia del trinocular

Objetivos UIS2

Los objetivos amplían la muestra. Seleccione el objetivo que se adapte a la distancia de trabajo, el poder de resolución y el método de observación de cada aplicación.

Haga clic aquí para obtener detalles acerca de las lentes de objetivo UIS2

Facilidad de uso

Técnicas tradicionales facilitadas:
Iluminador sencillo

El iluminador minimiza las acciones complicadas que generalmente son necesarias durante el manejo del microscopio. Una rueda de ajuste situada en la parte frontal del iluminador permite al usuario cambiar fácilmente el método de observación. El operador puede cambiar rápidamente entre los métodos de observación utilizados de forma más frecuente en la microscopía con luz reflejada, por ejemplo desde el campo claro, al campo oscuro o la luz polarizada, para poder cambiar de forma inmediata entre tipos diferentes de análisis. Además, la observación de luz polarizada simple puede ajustarse girando el analizador.

Controles a carácter intuitivo del microscopio:
ajustes sencillos de tope de apertura y campo

El uso del tope de apertura correcto y los ajustes de tope de campo proporciona un buen contraste de la imagen y hace un uso completo de la apertura numérica del objetivo. La leyenda guía al usuario para realizar un correcto ajuste de acuerdo con el método de observación y el objetivo en uso.

Encuentre el enfoque rápidamente

El índice de escala de enfoque situado en el estativo permite acceder rápidamente al punto focal. Los operadores pueden ajustar el punto focal sin visualizar la muestra a través de un ocular, lo que supone un ahorro de tiempo al inspeccionar muestras que tienen alturas diferentes.

Interruptor manual para la rotación del portaobjetivos motorizado

Manejo sencillo y cómodo

Un diseño de sistema que afecta a la eficacia del trabajo de los usuarios. Los usuarios tanto de microscopios monopuestos como de aquellos que se integran en el software de análisis de imágenes PRECiV se benefician de los prácticos controles del mando que muestran claramente la posición del hardware. El mando simple permite al usuario centrarse en su muestra y en la inspección que debe realizar.

Para una iluminación consistente:
Control de intensidad de luz

Durante la configuración inicial, puede ajustarse la intensidad de la iluminación para adaptarse a la configuración específica del hardware del iluminador codificado y el portaobjetivos codificado.

Para restablecer los ajustes del microscopio:
Hardware codificado

Las funciones codificadas integran los ajustes del sistema del BX53M con el software de análisis de imágenes PRECiV. El software registra automáticamente el método de observación, la intensidad de iluminación y el aumento, y almacena todos estos parámetros con las imágenes asociadas. Dado que los operadores siempre realizan inspecciones con los mismos ajustes de observación, se pueden ofrecer unos resultados de inspección fiables.

Funcionalidad

Lo invisible se hace visible:
observación MIX

La tecnología de observación MIX del BX53M combina los métodos de iluminación tradicional con la iluminación de campo oscuro. Cuando se utiliza el deslizador MIX, su anillo de indicadores LED ilumina el campo oscuro direccional sobre la muestra. Esto tiene un efecto similar al campo oscuro tradicional, aunque ofrece la capacidad de seleccionar un cuadrante de indicadores LED a fin de dirigir la luz desde ángulos diferentes. Esta combinación de campo oscuro y campo claro direccional, la fluorescencia o la polarización se denomina iluminación MIX y es especialmente útil para resaltar los defectos y diferenciar las superficies elevadas de las hundidas.

Cree unas imágenes totalmente enfocadas: EFI

La función de imágenes de enfoque extendido (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura es superior a la de la profundidad de enfoque del objetivo y las apila para crear una imagen que está totalmente en el foco. La función EFI puede ejecutarse bien con el eje Z manual o motorizado; además, crea un mapa para una disfrutar de una visualización de estructura clara. También es posible construir una imagen EFI, estando fuera de línea, con la función PRECiV Desktop.

Capture tanto áreas claras como oscuras: HDR

Al usar el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, por sus siglas en inglés) ajusta las diferencias en el brillo dentro de una imagen para reducir los destellos (o deslumbramiento). El HDR mejora la calidad visual de las imágenes digitales y, por lo tanto, ayuda a generar informes de aspecto profesional.

_{El HDR permite una exposición clara para las partes tanto oscuras como claras (muestra: cubeta del inyector de combustible)}

Mejoramiento del contraste por HDR (muestra: magnesita cortada)

_{Mejora del contraste a través de HDR

(muestra: magnesita cortada)}

_{Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA}

Desplace fácilmente la platina para una panorámica: MIA instantánea

Ahora puede superponer imágenes de forma fácil y rápida simplemente moviendo las perillas XY de la platina manual; no es necesario utilizar una platina motorizada. El software PRECiV usa un reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica que da a los usuarios un campo visual más amplio que un único fotograma.

Función de medición versátil

Funciones de medición rutinarias o básicas

Hay disponibles varias funciones de medición en el PRECiV para que el usuario pueda obtener datos útiles de las imágenes. Para un control e inspección de calidad, suelen necesitarse características de medición en las imágenes. Todos los niveles de licencia del software PRECiV incluyen funciones de medición interactivas, como distancias, ángulos, rectángulos, círculos, elipses y polígonos. Todos los resultados medidos se guardan con los archivos de imagen para su posterior documentación.

Conteo y medición

La detección de objetos y la medición de la distribución del tamaño se incluyen entre las aplicaciones más importantes del procesamiento de imágenes digitales. El PRECiV incorpora un motor de detección que utiliza métodos de umbral para separar con fiabilidad objetos (por ejemplo, partículas, arañazos) del fondo.

Soluciones de ciencias de materiales

El software PRECiV ofrece una interfaz a carácter intuitivo basada en el flujo de trabajo para un análisis de imágenes complejo. Basta con un clic de botón para ejecutar las tareas analíticas de imágenes más complejas de forma rápida y precisa y en conformidad con las normativas industriales más comunes. Con una reducción considerable del tiempo de procesamiento para las tareas repetidas, los científicos de materiales pueden centrarse en el análisis y la investigación. Hay disponibles complementos modulares para las inclusiones, y los diagramas de intersección pueden realizarse de forma fácil en cualquier momento.

_{Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad)}

_{Vista simple y medida de perfil 3D}

Medición de muestra 3D

Al utilizar una unidad de enfoque motorizada externa, es posible capturar una imagen EFI y visualizarla en 3D rápidamente. Los datos de altura adquiridos se pueden utilizar en las mediciones 3D del perfil o a partir de la imagen de vista simple.

Planificado para ser compatible con PRECiV v.1.2.

Más información acerca de PRECiV

Vea más tipos y tamaños de muestras

La nueva platina de 150 × 100 mm proporciona un desplazamiento más largo en la dirección X que los modelos anteriores. Esto, sumado al diseño plano superior de la superficie, permite colocar muestras de gran tamaño o varias muestras en la platina. La placa de la platina cuenta con roscas para acoplar el portamuestras. La platina de mayor tamaño ofrece flexibilidad a los usuarios al permitirles inspeccionar más muestras en un microscopio, lo que les ahorra un espacio de laboratorio valioso. La torsión ajustable de la platina facilita un posicionamiento fino bajo un aumento alto con un campo de visión estrecho.

Flexibilidad para la altura y peso de la muestra

Es posible montar muestras de hasta 105 mm en la platina con una unidad modular opcional. Gracias al mecanismo de enfoque mejorado, el microscopio puede admitir un peso total (muestra + platina) de hasta 6 kg. Esto supone que se pueden inspeccionar muestras más grandes y más pesadas en el BX53M, por lo que se necesitan menos microscopios en el laboratorio. El posicionamiento estratégico de un soporte giratorio para pastillas de 6 pulgadas no centradas permite a los usuarios observar toda la superficie de la pastilla simplemente rotando el soporte al desplazarse por el rango de recorrido de 100 mm. El ajuste de la torsión de la platina está optimizado para facilitar el uso y la cómoda empuñadura del mango facilita encontrar la región de interés de la muestra.

_BX53MRF-S

_BXFM

Flexibilidad para el tamaño de la muestra

Cuando las muestras son demasiado grandes para colocarlas en una platina de un microscopio tradicional, los componentes ópticos principales para la microscopía de luz reflejada pueden configurarse mediante una configuración modular. Este sistema modular, el BXFM, puede montarse en una platina de mayor tamaño a través de una vara o montarse en otro instrumento de elección mediante un soporte de montaje. Esto permite a los usuarios aprovecharse de las reconocidas ópticas de Olympus incluso cuando sus muestras son únicas en tamaño y forma.

Proteja sus dispositivos electrónicos de la descarga electrostática: compatible con ESD

El BX53M tiene una capacidad de disipación de ESD que protege a los dispositivos electrónicos la electricidad estática generada por factores humanos o ambientales.

Calidad de imagen

Una historia de ópticas de vanguardia

Combinación de alta apertura numérica y larga distancia de trabajo

Las lentes de objetivos son cruciales para el rendimiento de un microscopio.
Los objetivos MXPLFLN añaden profundidad a la serie MPLFLN, ya que llevan un procesamiento de imágenes de iluminación episcópica mediante la maximización al mismo tiempo de la apertura numérica y la distancia de trabajo. Las resoluciones más altas con aumentos de 20X y 50X, por lo general, significan distancias de trabajo más cortas, lo que conlleva a que una muestra o un objetivo se retraiga durante el intercambio de objetivos. En muchos casos, la distancia de trabajo de 3 mm de la serie MXPLFLN elimina este problema, lo que permite inspecciones más rápidas con menos posibilidades de que el objetivo entre en contacto con la muestra.

Objetivo de 50X convencional: NA 0,8, ancho de 1 mm / MXPLFLN50X: NA 0,8, ancho de 3mm

tabla

Conozca más sobre los objetivos MXPLFLN

Rendimiento óptico superior:
Control de aberración de frente de onda

El rendimiento óptico de las lentes de objetivo afecta directamente la calidad de las imágenes de observación y los resultados de los análisis. Los objetivos de alto aumento UIS2 de Olympus están desarrollados para minimizar las aberraciones del frente de onda, lo que brinda un rendimiento óptico fiable.

Obtenga información acerca de las lentes de objetivo UIS2

_{Frente de onda incorrecto}

_{Frente de onda correcto (objetivo UIS2)}

_{Luz halógena: el color varía con la intensidad de luz.}

_{LED: el color es consistente con la intensidad de luz y más claro que con la luz halógena.}
^{* Todas las imágenes capturadas con la exposición automática}

Temperatura de color consistente:
Iluminación con LED blanco de alta intensidad

El BX53M utiliza fuentes de luz de LED blanco de alta intensidad tanto para luz reflejada como luz transmitida. El LED mantiene una temperatura de color consistente independientemente de la intensidad. Los indicadores LED proporcionan una iluminación eficiente y de larga autonomía para las aplicaciones de ciencias de materiales.

Calidad superior para un rendimiento avanzado

Facilita una medición precisa:
Calibración automática

De forma parecida a los microscopios digitales, la calibración automática está disponible cuando se usa PRECiV. La calibración automática elimina la variabilidad humana en el proceso de calibración, traduciéndose en mediciones más fiables. Este tipo de calibración usa un algoritmo que calcula automáticamente la calibración correcta de un promedio de múltiples puntos de medición. De esta forma, se minimiza la variación introducida por diferentes operadores y se mantiene una precisión uniforme para mejorar la fiabilidad de la verificación regular.

Pastilla de semiconductor (imagen binarizada): la corrección de sombreado produce una iluminación uniforme a lo largo del campo de visión.

_{Pastilla de semiconductor (imagen binarizada):

la corrección de sombreado produce una iluminación uniforme a lo largo del campo visual.}

Aplicación mosaico transparente:
corrección de sombreado de la imagen

El software PRECiV presenta una corrección de sombreado que permite adaptar este último alrededor de los ángulos (esquinas) de una imagen. A usarlo con ajustes de umbral de intensidad, la corrección de sombreado proporciona un análisis más preciso.

Más información sobre PRECiV

Aplicaciones

Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductor

El campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas.

La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto los patrones como los colores.

MIX (campo claro + campo oscuro)

_{MIX (campo claro + campo oscuro)}

Campo oscuro

_{Campo oscuro}

Fluorescencia

_{Fluorescencia}

MIX (fluorescencia + campo oscuro)

_{MIX (fluorescencia + campo oscuro)}

Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductor

La fluorescencia se usa en el caso de muestras que emiten luz cuando son iluminadas con un cubo de filtros especialmente desarrollado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado.

Filtro de color LCD

Esta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito.

Luz transmitida

_{Luz transmitida}

MIX (luz transmitida + campo claro)

_{MIX (luz transmitida + campo claro)}

Campo claro

_{Campo claro}

Contraste de interferencia diferencial (DIC)

_{Contraste de interferencia diferencial (DIC)}

Hierro fundido con grafito esferoidal

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Sericita

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Campo claro

_{Campo claro}

Luz polarizada

_{Luz polarizada}

Luz infrarroja (IR)

_{Luz infrarroja (IR)}

Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impreso

La luz infrarroja se usa para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio.

Especificaciones

ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO GENERAL

			Básico		Estándar		Avanzado
Sistema óptico			Sistema óptico UIS2 (con corrección infinita)
Unidad principal	Estativo del microscopio		BX53MRF-S (Reflejado)	BX53MTRF-S (Reflejado/transmitido)	BX53MRF-S (Reflejado)	BX53MTRF-S (Reflejado/transmitido)	BX53MRF-S (Reflejado)	BX53MTRF-S (Reflejado/transmitido)
	Enfoque		Recorrido: 25 mm Recorrido fino por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso
	Altura máx. de la muestra		Reflejado: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD) Reflejado/transmitido: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD)
	Tubo de observación	Campo amplio (F.N.22)	U-TR30-2-2 Invertido: trinocular
	Iluminación	Luz reflejada Luz transmitida	BX3M-KMA-S LED blanco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), interbloqueo de BF/DF		BX3M-RLAS-S Codificado, LED blanco, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), interbloqueo de BF/DF
			－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores: Abbe/de larga distancia de trabajo	－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores: Abbe/de larga distancia de trabajo	－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores: Abbe/de larga distancia de trabajo
	Portaobjetivos giratorio		U-5RE-2 Para BF: quíntuple		U-D6BDRE Para BF/DF: séxtuple			U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado
	Ocular（F.N.22)		WHN10 WHN10X-H
	Observación MIX		－					BX3M-CB Caja de control BX3M-HS Interruptor manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para la observación con luz reflejada U-MIXRCBL Cable para MIXR
	Condensador (distancia de trabajo larga)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Cable de alimentación		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Peso		Reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg) Reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)
Objetivos	Conjunto de MPLFLN		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/POL/FL		－
	Conjunto de MPLFLN BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
	Conjunto de MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
	Conjunto de MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL
Platina (X x Y)	Conjunto de 76 mm x 52 mm		U-SVRM, U-MSSP Platina con mango derecho coaxial / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión
	Conjunto de 100 mm x 100 mm		U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm		U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto de 150 mm x 100 mm		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
Opción	Conjunto de observación MIX*		BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Tubos intermedios		U-DICR
	Filtros		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador		43IF550-W45, U-POT
	Placa de platina		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2
	Portamuestras		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Mango de caucho		U-SHG, U-SHGT

_{*No puede utilizarse con U-5RE-2.}

UNIDADES BX53M / BXFM ESD

Elementos	Estativo del microscopio	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Iluminador	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Portaobjetivos	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Platina	U-SIC4R2, U-MSSP4

ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO ESPECÍFICO

				Fluorescencia		Luz infrarroja	Polarizada
Sistema óptico				Sistema óptico UIS2 (con corrección infinita)
Unidad principal	Estativo del microscopio			BX53MRF-S (Reflejado)	BX53MTRF-S (Reflejado/transmitido)	BX53MRF-S (Reflejado)	BX53MTRF-S (Reflejado/transmitido)
	Enfoque			Recorrido: 25 mm Recorrido fino por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso
	Altura máx. de la muestra			Reflejada: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD) Reflejada/transmitida: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD)
	Tubo de observación	Campo amplio (F.N.22)		U-TR30-2 Invertido: trinocular		U-TR30IR Invertido: trinocular para IR	U-TR30-2 Invertido: trinocular
		Accesorio intermedio para luz polarizada (U-CPA)	Lentes de Bertrand	－		－	Enfocable
			Tope de campo de visión de Bertrand	－		－	Diámetro ø de 3,4 mm (fijo)
			Acople o desacople el cambiador de lente Bertrand entre la observación ortoscópica y conoscópica	－		－	Posición del deslizador ● introducido Posición del deslizador ○ extraído
			Ranura del analizador	－		－	Analizador giratorio con ranura (U-AN360P-2)
	Iluminación	Luz reflejada	Observación FL	BX3M-URAS-S Luz reflejada universal codificada, torreta de unidades de espejo de 4 posiciones, (estándar: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF, etc.) Con FS, AS (con mecanismo de centrado), con mecanismo de obturador		－	－
			Observación IR	－		BX3M-RLA-S Lámpara halógena de 100 W para IR, BF/IR, AS (con mecanismo de centrado) U-LH100IR (incluido HAL-L de 12 V 10 W) Fuente de luz halógena para IR de 100 W TH4-100 Fuente de alimentación de 100 W TH4-HS Interruptor manual U-RMT Cable de extensión	－
		Luz transmitida	Observación POL	－		－	BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo
	Portaobjetivos giratorio			U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado		U-5RE-2 Para BF: quíntuple	U-P4RE Cuádruple, componentes centrables extraíbles Platina de retardo de 1/4 de longitud de onda (U-TAD), placa tintada (U-TP530) y pueden acoplarse varios compensadores a través del adaptador de placa (U-TAD)
	Ocular（F.N.22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Unidades de espejo			U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro N. D. integrado U-FBF Para BF, filtro N. D. detectable U-FWUS Para FL ultra violeta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde		－
	Filtro / polarizador / analizador			U-25FR Filtro mate		U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trayectoria de banda para IR	43IF550-W45 Filtro verde
				U-POIR Deslizador de polarizador reflejado para IR		U-AN360IR Deslizador de polarizador reflejado para IR	U-AN360P-2 Rotación esférica de 360° Ángulo mínimo de rotación 0,1°
	Condensador			U-LWCD Larga distancia de trabajo		－	U-POC-2 Condensador acromático sin presión. Polarizador giratorio de 360° con lente superior acromática rebatible. El tope de clic en la posición "0°" es ajustable. A. N. 0,9 (lente superior dentro)/A. N. 0,18 (lente superior fuera) Diafragma de apertura de iris: ajustable de 2 mm a 21 mm de diámetro
	Deslizador/compensadores			－			U-TAD Deslizador (adaptador de placa)
							U-TP530 Placa tintada U-TP137 Platina de retardo de 1/4 de longitud de onda
	Cable de alimentación			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Peso			Reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg)	Reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)	Aprox. 18,9 kg (estativo del microscopio 7,4 kg)	Aprox. 16,2 kg (estativo del microscopio 7,6 kg)
Fuente de luz FL reflejada	Guía de luz			U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, conjunto de guía de luz		－	－
	Lámpara de mercurio			U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV conjunto de lámpara de mercurio		－	－
Objetivos	Conjunto de MPLFLN			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto de MPLFLN BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto de MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto de MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto IR			－		LMPLN5XIR, 10XIR, LCPLN20XIR, 50XIR, 100XIR Observación IR	－
	Conjunto POL			－		－	UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Observación POL
Platina (X x Y)	Conjunto de 76 mm x 52 mm			U-SVRM, U-MSSP Platina con mango izquierdo coaxial / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión
	Conjunto de 100 mm x 100 mm			U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con mango izquierdo coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm			U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto de 150 mm x 100 mm			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y
	Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio)
	Conjunto POL			－			U-SRP+U-FMP Platina giratoria polarizadora + platina mecánica
Opción	Conjunto de observación MIX*			BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Tubos intermedios			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtros			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador			43IF550-W45, U-POT
	Placa de platina			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2
	Portamuestras			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Mango de caucho			U-SHG, U-SHGT