- Descripción general
- Configuraciones
- Facilidad de uso
- Funcionalidad
- Calidad de imagen
- Aplicaciones
- Especificaciones
- Recursos
Descripción general
Microscopía avanzada simplificadaCon un diseño que pone énfasis en la modularidad, la serie BX3M proporciona versatilidad para una amplia serie de aplicaciones industriales y de ciencia de los materiales. Mediante una integración mejorada a través del software PRECiV, el BX53M ofrece un flujo de trabajo sin problemas para los usuarios de la microscopía estándar y procesamiento de imágenes digitales, desde la observación hasta la creación de informes. Pruebe la serie BX53M | ![]() |
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![]() | Elija el mejor modeloHay seis sugerencias de configuración para el BX53M a fin de ofrecerle la flexibilidad deseada según las características que requiere.
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Cómodo y fácil de usarEl BX53M simplifica las complejas tareas de microscopía a través de unos controles bien diseñados y fáciles de usar. Los usuarios pueden sacar el máximo rendimiento del microscopio sin necesidad de una formación extensa. El funcionamiento fácil y cómodo del BX53M también mejora la reproducibilidad mitigando el error humano.
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![]() | FuncionalEl BX53M continua ofreciendo los métodos tradicionales de contraste de la microscopía convencional, como el campo claro, el campo oscuro, la luz polarizada y el contraste de interferencia diferencial. A medida que se desarrollan nuevos materiales, muchas de las dificultades asociadas a la detección de defectos por los métodos de contraste estándar pueden ser resueltas a través de técnicas avanzadas de microscopía con el fin de llegar a inspecciones más precisas y fiables. Por tanto, las nuevas técnicas y opciones de iluminación para la adquisición de imágenes que trae el alberga el software PRECiV ponen al alcance de los usuarios más opciones para evaluar sus muestras y documentar los hallazgos.
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Óptica de vanguardiaNuestra historia se ha centrado en el desarrollo de una óptica de alta calidad, que nos ha llevado a superar el récord de una óptica de elevada calidad comprobada y microscopios de excelente precisión de medición.
Obtenga más información | Control de aberración de frente de onda
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Configuraciones
Sistema modular altamente fiableA continuación, se proporcionan seis sugerencias de configuración de la serie BX53M para brindarle la flexibilidad de elegir las características necesarias a su aplicación. |
Uso general | Use específico | |||||||||
Entry (básico)Fácil configuración con características básicas | Standard (estándar)
Fácil de utilizar con
| Advanced (avanzado)Admite numerosas funciones avanzadas | Fluorescence (fluorescencia)
Adecuado para
| Infrared (infrarrojo)Desarrollado para la observación de la luz infrarroja (infrarrojo) a fin de inspeccionar circuitos integrados | Polarization (polarización)Desarrollado para observar las características de birrefringencia | |||||
Filtro de color LCD | Microestructura con granos | Hilo de cobre de bobina | Resinas en patrón de circuito impreso | Estratificación de silicio en patrón de circuito impreso | Amianto | |||||
Ver ficha de especificaciones
Entry (básico) | Standard (estándar) | Advanced (avanzado) | Fluorescence (fluorescencia) | Infrared (infrarrojo) | Polarization (polarización) | |
Estativo del microscopio | Reflejada o reflejada/transmitida | Reflejada o reflejada/transmitida | Reflejada | Transmitida | ||
Estándar | R-BF o T-BF | R-BF o T-BF o DF | R-BF o T-BF o DF o MIX | R-BF o T-BF o DF o FL | R-BF o IR | T-BF o POL |
Opción | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
Iluminador sencillo | - | ![]() | ![]() | - | - | - |
Leyenda de apertura | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
Hardware codificado | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
Índice de escala de enfoque | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
Control de intensidad de luz | ![]() | ![]() | ![]() | - | - | ![]() |
Funcionamiento del interruptor manual | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
Observación MIX | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
Objetivos | Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones | Seleccione entre los tres objetivos según sus aplicaciones | Objetivos para la luz infrarroja | Objetivos para la luz polarizada | ||
Platina | Seleccione entre las cinco platinas según el tamaño de sus muestras | Seleccione entre las cinco platinas según el tamaño de sus muestras | Platina para la luz polarizada |
MÉTODO DE OBSERVACIÓN
R-BF: Campo claro (Reflejada)
*La observación T-BF puede usarse al seleccionar el estativo del microscopio de luz reflejada/luz transmitida.
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Ejemplos de configuraciones para la ciencia de materiales
Diseño modular que permite varias configuraciones para satisfacer los requisitos de los usuarios.
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Serie BX53M con combinación de luz reflejada y luz reflejada/transmitidaHay dos tipos de estativos microscópicos en la serie BX3M, uno sirve para la luz reflejada y el otro para la luz reflejada y la transmitida. Ambos estativos pueden configurarse con componentes manuales, codificados o motorizados. Los estativos están equipados con la capacidad de descarga electrostática (ESD) para proteger las muestras electrónicas. | Ejemplo de configuración del BX53MRF-S | Ejemplo de configuración del BX53MTRF-S |
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![]() | Combinación IR del BX53MLos objetivos infrarrojos (de luz infrarroja) son usados en las aplicaciones de inspección, medición y procesamiento de semiconductores en las que se requiere un procesamiento de imágenes del silicio para ver el patrón. Los objetivos infrarrojos (IR) de 5X a 100X cuentan con la corrección de aberraciones cromáticas aplicable desde las longitudes de onda de luz visible hasta las del infrarrojo cercano. En los trabajos de alta magnificación, rotar el collar de corrección de la serie de lentes LCPLNIR permitirá corregir las aberraciones causadas por el espesor de la muestra. Con un solo objetivo, es posible obtener una imagen clara. Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo IR. |
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Combinación de luz polarizada del BX53MLos objetivos ópticos de polarización BX53M habilitan a los geólogos con las herramientas necesarias para un procesamiento de imágenes óptico con luz polarizada de alto contraste. Tanto la identificación de minerales, la investigación de características ópticas de los cristales, la observación de secciones de roca sólida así como otras aplicaciones benefician de la estabilidad del sistema y la alineación óptica precisa. | Configuración ortoscópica del BX53-P | Configuración conoscópica/ortoscópica del BX53-P |
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Lente Bertrand para observaciones conoscópicas y ortoscópicasLa alternación entre la observación ortoscópica y conoscópica puede llevarse a cabo de forma fácil y rápida con un accesorio de observación conoscópica U-CPA. Su tipo enfocable permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. El tope de campo Bertrand permite obtener imágenes conoscópicas claras y nítidas constantemente. | ![]() |
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![]() | Amplia variedad de compensadores y placas de ondaExisten cinco compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. El retardo de medición oscila entre 0 y 20 λ. Para llevar a cabo mediciones más fáciles y obtener imágenes de alto contraste, es posible usar los compensadores Berek y Senarmont que cambian el nivel de retardo a través del completo campo visual. |
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Rango de medición de los compensadores
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*R = nivel de retardo |
Objetivos ópticos sin tensiónGracias a nuestra sofisticada tecnología de diseño y fabricación, los objetivos sin tensión UPLFLN-P reducen la presión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen. | Haga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo UPLFLN-PHaga clic aquí para obtener más detalles acerca de las lentes de objetivo PLN-P / ACHN-P |
![]() | Sistema BXFMEl BXFM puede adaptarse a aplicaciones especiales o integrarse en otros instrumentos. La construcción modular proporciona una adaptación directa a entornos y configuraciones únicos con una variedad de iluminadores pequeños especiales y soportes de fijación. |
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Diseño modular para un sistema a su manera |
Estativos microscópicosHay dos estativos microscópicos para la luz reflejada y uno también presenta la capacidad de luz transmitida. Hay un adaptador disponible para elevar el iluminador con el fin de adaptarse a las muestras de mayor altura.
Accesorios prácticos para su uso en microscopía
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SoportesPara aplicaciones de microscopía en las que la muestra no encaja en un estativo; el iluminador y los objetivos ópticos pueden montarse en un soporte de mayor tamaño o en otro dispositivo. Configuración del iluminador de BXFM + BX53M
Configuración del iluminador de BXFM + U-KMAS
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TubosPara el procesamiento microscópico de imágenes con oculares o para la observación por cámara, seleccione los tubos según el tipo de procesamiento de imágenes y la postura de operación requeridos durante la observación.
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IluminadoresEl iluminador proyecta la luz sobre la muestra según el método de observación seleccionado. El software se comunica con los iluminadores codificados para leer la posición del cubo y reconocer automáticamente el método de observación. | ![]() |
Función codificada | Fuente de luz | BF | DF | DIC | POL | IR | FL | MIX | AS/FS | ||
1 | BX3M-RLAS-S | Tres posiciones fijas de cubo | LED - Integrado | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
2 | BX3M-URAS-S | Posición de cuatro cubos acoplables | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
Halógeno | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
Mercurio/guía de luz | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
Halógeno | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
4 | BX3M-KMA-S | LED - Integrado | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
5 | BX3-ARM | Brazo mecánico para luz transmitida | |||||||||
6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
Halógeno | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - |
Fuentes de luzFuentes de luz y fuentes de alimentación para la iluminación de las muestras. Seleccione la fuente de luz adecuada para el método de observación. | ![]() |
Configuración de fuente de luz LED estándar
Configuración de fuente de luz de fluorescencia
| Configuración de fuente de luz halógena y luz infrarroja
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PortaobjetivosSujeción para objetivos y deslizadores. Seleccione según el número y tipos de objetivos necesarios; también con/sin fijación de deslizador. | ![]() |
Tipo | Orificios | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
N.º de
agujeros de centrado | ||
1 | U-P4RE | Manual | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
2 | U-5RE-2 | Manual | 5 | ■ | |||||
3 | U-5RES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ||||
4 | U-D6RE | Manual | 6 | ■ | ■ | ||||
5 | U-D6RES | Codificado | 6 | ■ | ■ | ||||
6 | U-D5BDREMC | Motorizado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
7 | U-D6BDRE | Manual | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
8 | U-D5BDRES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
9 | U-D6BDRES-S | Codificado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
10 | U-D6REMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ||||
11 | U-D6BDREMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizado | 5 | ■ | ■ |
DeslizadoresSeleccione el deslizador para complementar la observación tradicional. El deslizador DIC brinda información topográfica acerca de la muestra con opciones para maximizar el contraste o la resolución. El deslizador MIX proporciona flexibilidad de iluminación con una fuente de LED en la trayectoria del campo oscuro. | ![]() |
Deslizador DIC
*1 Con 1.25X y 2.5X no se soporta la observación DIC.
Deslizador MIX
| Cable
*MIXR solamente |
Caja de control e interruptores manualesCajas de control para establecer la comunicación entre el hardware del microscopio, un(a) PC y los interruptores manuales para la visualización y control del hardware. Configuración de la caja de control BX3M-CB (CBFM)
Cable
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PlatinasPlatinas y placas de platinas para la colocación de la muestra. Seleccione la platina según la forma y tamaño de la muestra. | ![]() |
Configuración de platina de 150 mm × 100 mm
Configuración de platina de 76 mm × 52 mm
| Configuración de platina de 100 mm × 100 mm
Otros
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Adaptadores para cámaraAdaptador para la observación por cámara. Seleccionable desde el campo visual y magnificación necesarios. El rango de la observación real puede calcularse mediante esta fórmula: campo de visión real (mm de diagonal) = visualización de campo (número de visualización) ÷ magnificación del objetivo. |
Magnificación | Ajuste de centrado | Área de imagen de CCD (número de campo) mm | ||||
2/3 pulg. | 1/1,8 pulg. | 1/2 pulg. | ||||
1 | U-TV1x-2 con U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
2 | U-TV1xC | 1 | ø de 2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
OcularesLos ocular permiten visualizar directamente a través del microscopio. Seleccione su ocular según el campo visual deseado.
| ![]() |
Filtros ópticosLos filtros ópticos convierten la luz expuesta hacia la muestra en diferentes tipos de iluminación. Seleccione el filtro adecuado según los requisitos de observación. | ![]() |
BF, DF, FL
POL, DIC
| IR
Luz transmitida
Otros
*AN y PO no son necesarios al usar BX3M-RLAS-S y U-FDICR |
CondensadoresLos condensadores recogen y enfocan la luz transmitida. Sirve para la observación con luz transmitida.
| ![]() |
Cubos de espejosCubo de espejos para BX3M-URAS-S. Seleccione la unidad para la observación necesaria.
*Solo para la iluminación episcópica coaxial | ![]() |
Tubos intermediosDiferentes tipos de accesorios para varios propósitos. Para su uso entre el tubo y el iluminador.
| ![]() |
Objetivos UIS2Los objetivos sirven para ampliar la observación de su muestra. Seleccione el objetivo que se adapte a la distancia de trabajo, el poder de resolución y el método de observación de cada aplicación. Haga clic aquí para obtener más información acerca de las lentes de objetivo UIS2 |
Facilidad de uso
Técnicas tradicionales facilitadas:
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Controles microscópicos intuitivos:
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Encuentre el enfoque rápidamenteEl índice escalar de enfoque situado en el estativo permite acceder rápidamente al punto focal. Los operadores pueden ajustar el punto focal sin visualizar la muestra a través de un ocular, lo que supone un ahorro de tiempo al inspeccionar muestras que tienen alturas diferentes. | ![]() |
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![]() | ![]() | Funcionamiento sencillo y ergonómicoLa eficacia de trabajo del usuario reposa en el diseño de un sistema. Los usuarios de microscopios monopuestos y aquellos que integran el software de análisis de imágenes PRECiV se benefician de los prácticos controles de mando que exponen claramente la posición del hardware. El mando simple permite al usuario centrarse en su muestra y en la inspección que debe realizar. |
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Para una iluminación homogénea:
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![]() |
Para restablecer los ajustes del microscopio:
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Funcionalidad
Revelar lo invisible:
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![]() | Crear imágenes totalmente enfocadas: EFILa función de imagen focal extendida (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura es superior a la de la profundidad de enfoque del objetivo y las apila para crear una imagen que está totalmente focalizada. La función EFI puede ejecutarse con el eje Z manual o el motorizado y crea un mapa de altura para disfrutar de una visualización clara de la estructura. También es posible construir una imagen EFI, estando fuera de línea, con la función PRECiV Desktop. |
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Capture áreas claras y oscuras: HDRCon el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, sigla en inglés) ajusta las diferencias a nivel de la iluminación dentro de una imagen para reducir los destellos (o el deslumbramiento). El HDR mejora la calidad visual de las imágenes digitales; por ende, permite generar informes de nivel profesional. | ![]() Partes oscuras y claras claramente expuestas por el HDR (muestra: bombilla del inyector de combustible) | ![]() Mejoramiento del contraste por HDR
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![]() Imagen instantánea de una moneda tratada con la función MIA. | Desplazamiento sencillo de platina para panorámicas: MIA instantáneaAhora le es posible unir imágenes de forma fácil y rápida con tan sólo mover los tornillos axiales X e Y en la platina manual; no se requiere la platina motorizada. El software PRECiV usa un reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica que ofrece a los usuarios un campo visual más amplio que un único fotograma. |
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Función de medición versátil |
Funciones de medición rutinarias o básicasHay disponibles varias funciones de medición en el PRECiV para que el usuario pueda obtener datos útiles de las imágenes. Para un control e inspección de calidad, suelen necesitarse características de medición en las imágenes. Todos los niveles de licencias PRECiV incluyen funciones de medición interactivas, como distancias, ángulos, rectángulos, círculos, elipses y polígonos. Todos los resultados medidos se guardan con los archivos de imagen para su posterior documentación. | ![]() |
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![]() | Recuento y mediciónLa detección de objetos y la medición de la distribución del tamaño se encuentran entre las aplicaciones más importantes del procesamiento de imágenes digital. El PRECiV incorpora un motor de detección que utiliza métodos de valor umbral para separar con fiabilidad objetos (p. ej., partículas, arañazos, etc.) del fondo. |
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Soluciones para la ciencia de los materialesEl software PRECiV ofrece una interfaz a carácter intuitivo basada en el flujo de trabajo para un análisis de imágenes complejo. Basta con un clic de botón para ejecutar las tareas analíticas de imágenes más complejas de forma rápida y precisa y en conformidad con las normativas industriales más comunes. Dada la reducción considerable del tiempo de procesamiento para las tareas repetidas, los científicos de materiales pueden centrarse en el análisis y la investigación. Los complementos modulares para los diagramas de inclusiones e intersecciones (tb. interceptos) pueden aplicarse de forma fácil en cualquier momento. | ![]() |
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![]() Vista superficial 3D (muestra en ensayo de rugosidad) | ![]() Vista simple y medida de perfil 3D | Medición de muestra 3DSi usa una unidad de enfoque motorizada externa, es posible capturar una imagen EFI y visualizarla en 3D rápidamente. Los datos de altura adquiridos pueden ser usados en las mediciones 3D del perfil o a partir de la imagen de vista simple. |
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Más información sobre PRECiV |
Vea más tipos y tamaños de muestrasLa nueva platina de 150 × 100 mm proporciona un desplazamiento más extenso en la dirección X que los modelos anteriores. Esto, sumado al diseño meseta de la superficie, permite colocar muestras de gran tamaño o varias muestras en la platina. La placa de la platina cuenta con roscas para acoplar el portamuestras. La platina de mayor tamaño ofrece flexibilidad a los usuarios al permitirles inspeccionar más muestras en un microscopio, lo que les ahorra un espacio de laboratorio útil. La torsión ajustable de la platina facilita un posicionamiento fino bajo una alta magnificación con un campo visual angosto. |
Flexibilidad para la altura y el peso de la muestraEs posible montar muestras de hasta 105 mm en la platina con una unidad modular opcional. Gracias al mecanismo de enfoque mejorado, el microscopio puede admitir un peso total (muestra + platina) de hasta 6 kg. Esto significa que pueden inspeccionarse muestras más grandes y más pesadas en el BX53M, lo que conllevará a usar menos microscopios en un laboratorio. El posicionamiento estratégico de un soporte giratorio para obleas (plaquetas) electrónicas de 6 pulgadas no centradas permite a los usuarios observar toda la superficie de la oblea con tan sólo rotar el soporte durante el desplazamiento por el rango de recorrido de 100 mm. El ajuste de torsión de la platina está optimizado para facilitar el uso y la cómoda sujeción de la empuñadura para encontrar la región de interés de la muestra. | ![]() BX53MRF-S |
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![]() BXFM | Flexibilidad para el tamaño de la muestraCuando las muestras son demasiado grandes para colocarlas en una platina de un microscopio tradicional, los componentes ópticos principales destinados a la microscopía de luz reflejada pueden adoptar una configuración modular. Este sistema modular, el BXFM, puede montarse en una platina de mayor tamaño a través de una vara o montarse en otro instrumento de elección mediante un soporte de montaje. Esto permite que los usuario saquen el máximo provecho de nuestra reconocida óptica incluso cuando sus muestras son únicas en tamaño y forma. |
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Proteja sus dispositivos electrónicos de descargas electrostáticas: compatible con el programa de ESDEl BX53M se dota de la capacidad de disipación de ESD que protege a los dispositivos electrónicos de la electricidad estática generada por factores humanos o ambientales. |
Calidad de imagen
Nuestra óptica de vanguardia |
Combinación de alta apertura numérica y larga distancia de trabajo
Las lentes de objetivo son cruciales para el buen rendimiento de un microscopio.
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Conozca más sobre los objetivos MXPLFLN |
Rendimiento óptico superior:
| ![]() Frente de onda incorrecto | ![]() Frente de onda correcto (objetivo UIS2) |
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![]() Luz halógena: El color varía con la intensidad de la luz. | ![]() LED: El color es homogéneo en función de la intensidad de luz y más claro que con la luz halógena. |
Temperatura de color uniforme:
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Calidad superior para un rendimiento avanzado |
Facilita una medición precisa:
| ![]() |
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![]() Oblea semiconductora (imagen binarizada): |
Aplicación mosaico sin problemas:
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Más información sobre PRECiV |
Aplicaciones
Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductorEl campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas. La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto los patrones como los colores. | MIX (campo claro + campo oscuro) | Campo oscuro |
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Fluorescencia | MIX (fluorescencia + campo oscuro) | Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductorLa fluorescencia se usa en el caso de muestras que emiten luz cuando son iluminadas con un cubo de filtros especialmente desarrollado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado. |
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Filtro de color LCDEsta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito. | Luz transmitida | MIX (luz transmitida + campo claro) |
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Campo claro | Contraste de interferencia diferencial (DIC) | Hierro fundido con grafito esferoidalEl contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales. |
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SericitaEl contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales. | Campo claro | Luz polarizada |
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Luz infrarroja (IR) | Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impresoLa luz infrarroja se usa para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio. |
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Especificaciones
ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO GENERAL |
Entry (básico) | Standard (estándar) | Advanced (avanzado) | |||||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (con corrección al infinito) | ||||||||
Unidad principal | Estativo del microscopio | BX53MRF-S (reflejada) | BX53MTRF-S (reflejada/transmitida) | BX53MRF-S (reflejada) | BX53MTRF-S (reflejada/transmitida) | BX53MRF-S (reflejada) | BX53MTRF-S (reflejada/transmitida) | ||
Enfoque |
Recorrido: 25 mm
Recorrido fino por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso | ||||||||
Altura máx. de la muestra |
Reflejada: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD)
Reflejada/transmitida: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD) | ||||||||
Tubo de observación | Campo amplio (F.N.22) | U-TR30-2-2 Invertido: trinocular | |||||||
Iluminación |
Luz reflejada
Luz transmitida | BX3M-KMA-S LED blanco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), enclavamiento BF/DF | BX3M-RLAS-S Codificado, LED blanco, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (con mecanismo de centrado), enclavamiento BF/DF | ||||||
- | BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo | - | BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo | - | BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo | ||||
Portaobjetivos giratorio | U-5RE-2 Para BF: quíntuple | U-D6BDRE Para BF/DF: séxtuple | U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado | ||||||
Ocular(FN22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
Observación MIX | - | BX3M-CB Caja de control BX3M-HS Conmutador manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para la observación con luz reflejada U-MIXRCBL Cable para MIXR | |||||||
Condensador (distancia de trabajo larga) | - | U-LWCD | - | U-LWCD | - | U-LWCD | |||
Cable de alimentación | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
Peso |
Con luz reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg)
Con luz reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg) | ||||||||
Objetivos | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/POL/FL | - | ||||||
Conjunto MPLFLN BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Conjuntos MPLFLN-BD y LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Juegos MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Platina (X x Y) | Conjunto de 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina con mango derecho coaxial / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión | |||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y | ||||||||
Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio) | ||||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y | ||||||||
Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con mango derecho coaxial de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio) | ||||||||
Opción | Conjunto de observación MIX* | BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL | - | ||||||
DIC* | U-DICR | ||||||||
Tubos intermedios | U-DICR | ||||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U--550IF550, U-42L42, U-25, U-25FR | ||||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
Placa de la platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
Soporte de muestras | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
Mango de caucho | U-SHG, U-SHGT |
*No puede utilizarse con U-5RE-2.
UNIDADES BX53M / BXFM ESD
Elementos | Estativo del microscopio | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
Iluminador | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
Portaobjetivos | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U--D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
Platina | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
ESPECIFICACIONES DE CONFIGURACIÓN SUGERIDA DEL BX53M PARA USO ESPECÍFICO |
Fluorescencia | Luz infrarroja | Polarizada | |||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (con corrección infinita) | ||||||
Unidad principal | Estativo del microscopio | BX53MRF-S (reflejada) | BX53MTRF-S (reflejada/transmitida) | BX53MRF-S (reflejada) | BX53MTRF-S (reflejada/transmitida) | ||
Enfoque |
Desplazamiento/carrera: 25 mm
Desplazamiento (carrera) micrométrico por rotación: 100 μm Graduación mínima: 1 μm Con tope de límite superior, ajuste de torsión para el mando de enfoque grueso | ||||||
Altura máx. de la muestra |
Con luz reflejada: 65 mm (sin separador), 105 mm (con BX3M-ARMAD)
Con luz reflejada/transmitida: 35 mm (sin separador), 75 mm (con BX3M-ARMAD) | ||||||
Tubo de observación | Campo amplio (FN22) | U-TR30-2 Invertido: trinocular | U-TR30IR Invertido: trinocular para IR | U-TR30-2 Invertido: trinocular | |||
Accesorio intermedio para luz polarizada (U-CPA) | Lentes Bertrand | - | - | Enfocable | |||
Tope de campo visual Bertrand | - | - | Diámetro ø de 3,4 mm (fijo) | ||||
Enganche o desenganche el cambiador de la lente Bertrand entre la observación ortoscópica y conoscópica | - | - |
Posición del deslizador ● introducido
Posición del deslizador ○ extraído | ||||
Ranura del analizador | - | - | Analizador giratorio con ranura (U-AN360P-2) | ||||
Iluminación | Luz reflejada | Observación FL | BX3M-URAS-S Luz reflejada universal codificada, torreta de cubo de espejos de cuatro posiciones, (estándar: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF, etc.); con tope de campo, tope de apertura (dotado de mecanismo de centrado), con mecanismo de obturador | - | - | ||
Observación IR | - | BX3M-RLA-S Lámpara halógena de 100 W para IR, BF/IR, AS (con mecanismo de centrado) U-LH100IR (incluido HAL-L de 12 V 10 W) Fuente de luz halógena para IR de 100 W TH4-100 Fuente de alimentación de 100 W TH4-HS Conmutador manual U-RMT Cable de extensión | - | ||||
Luz transmitida | Observación POL | - | - | BX3M-LEDT LED blanco Condensadores Abbe/de larga distancia de trabajo | |||
Portaobjetivos giratorio | U-D6BDRES-S Para BF/DF: séxtuple, codificado | U-5RE-2 Para BF: quíntuple | U-P4RE Cuádruple, componentes extraíbles con capacidad de centrado Platina de retardo de 1/4 de longitud de onda (U-TAD), placa matizada (U-TP530) y pueden acoplarse varios compensadores a través del adaptador de placa (U-TAD) | ||||
Ocular(FN22) | WHN10X | ||||||
WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
Unidades de espejo | U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro de densidad neutra (D. N.) integrado U-FBF Para BF, filtro de D. N. desmontable U-FWUS Para fluorescencia (FL) ultravioleta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde | - | |||||
Filtro / polarizador / analizador | U-25FR Filtro de difusión baja/media (frost) | U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trayectoria de banda para IR | 43IF550-W45 Filtro verde | ||||
U-POIR Control deslizante del polarizador de dirección reflejada para IR | U-AN360IR Control deslizante del analizador giratorio para IR | U-AN360P-2 Rotación esférica de 360° Ángulo mínimo de rotación 0,1° | |||||
Condensador | U-LWCD Larga distancia de trabajo | - | U-POC-2 Condensador acromático sin tensión. Polarizador giratorio de 360° con lente superior acromática rebatible. El tope de enganche en la posición «0°» es ajustable. A. N. de 0,9 (lente superior interna)/A. N. de 0,18 (lente superior externa) Diafragma de apertura de iris: ajustable de 2 mm a 21 mm de diámetro | ||||
Deslizador/compensadores | - | U-TAD Deslizador (adaptador de placa) | |||||
U-TP530 Placa matizada U-TP137 Placa de retardo de longitud de onda 1/4 | |||||||
Cable de alimentación | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
Peso | Con luz reflejada: aprox. 15,8 kg (estativo del microscopio 7,4 kg) | Con luz reflejada/transmitida: aprox. 18,3 kg (estativo del microscopio 7,6 kg) | Aprox. 18,9 kg (estativo del microscopio 7,4 kg) | Aprox. 16,2 kg (estativo del microscopio 7,6 kg) | |||
Fuente de luz FL reflejada | Guía de luz | Conjunto de guía de luz U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150 | - | - | |||
Lámpara de mercurio | Conjunto de lámpara de mercurio U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV | - | - | ||||
Objetivos | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observación BF/DIC/POL/FL | - | - | |||
Conjunto MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjuntos MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjuntos MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observación BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto IR | - | LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Observación IR | - | ||||
Conjunto POL | - | - | UPLFLN4XP,10XP,20XP,40XP Observación POL | ||||
Platina (X × Y) | Conjunto de 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina con empuñadura coaxial derecha / 76 (X) × 52 (Y) mm, con ajuste de torsión | |||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 100 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y | ||||||
Conjunto de 100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio) | ||||||
Conjunto de 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión y mecanismo de bloqueo en el eje Y | ||||||
Conjunto de 150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina con empuñadura coaxial derecha de gran tamaño / 150 (X) × 100 (Y) mm, con ajuste de torsión y mecanismo de bloqueo en el eje Y (placa de vidrio) | ||||||
Conjunto POL | - | U-SRP+U-FMP Platina giratoria polarizadora + platina mecánica | |||||
Opción | Conjunto de observación MIX* | BX3M-CB, BX2M-HS, U-MIXR, U-MIXRCBL | |||||
DIC* | U-DICR | ||||||
Tubos intermedios | U-DICR | ||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
Placa de la platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
Portamuestras | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
Mango de caucho | U-SHG, U-SHGT |
*No puede usarse con U-5RE-2
Recursos
Notas de aplicaciónVideosSeminarios webCatálogosManualesSoluciones |