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Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductor El campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas. La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto patrones como colores.	_{Campo oscuro}	_{MIX (campo claro + campo oscuro)}

Patrón de circuito integrado en una pastilla de semiconductor

El campo oscuro se utiliza para detectar rasguños o defectos minúsculos en una muestra o para inspeccionar muestras con superficies con efecto espejo, como las pastillas.

La iluminación MIX permite a los usuarios visualizar tanto patrones como colores.

Campo oscuro

_{Campo oscuro}

MIX (campo claro + campo oscuro)

_{MIX (campo claro + campo oscuro)}

_{Fluorescencia}	_{MIX (fluorescencia + campo oscuro)}	Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductor La fluorescencia es usada para las muestras que emiten luz cuando se iluminan con un cubo de filtros especialmente diseñado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado.

Fluorescencia

_{Fluorescencia}

MIX (fluorescencia + campo oscuro)

_{MIX (fluorescencia + campo oscuro)}

Residuo fotorresistente en una pastilla de semiconductor

La fluorescencia es usada para las muestras que emiten luz cuando se iluminan con un cubo de filtros especialmente diseñado, lo que permite detectar la contaminación y los residuos fotorresistentes.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto de residuos fotorresistentes como de patrones de circuito integrado.

Filtro de color LCD Esta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio. La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito.	_{Luz transmitida}	_{MIX (luz transmitida + campo claro)}

Filtro de color LCD

Esta técnica de observación es adecuada para muestras transparentes, tales como materiales de LCD, plástico y vidrio.

La iluminación combinada (MIX) permite la observación tanto del color de filtro como el patrón de circuito.

Luz transmitida

_{Luz transmitida}

MIX (luz transmitida + campo claro)

_{MIX (luz transmitida + campo claro)}

_{Campo claro}	_{Contraste de interferencia diferencial (DIC)}	Hierro fundido con grafito esferoidal El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Campo claro

_{Campo claro}

Contraste de interferencia diferencial (DIC)

_{Contraste de interferencia diferencial (DIC)}

Hierro fundido con grafito esferoidal

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Sericita El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.	_{Campo claro}	_{Luz polarizada}

Sericita

El contraste de interferencia diferencial (DIC) es una técnica de observación donde la altura de una muestra, normalmente no detectable en el campo claro, se visualiza como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Campo claro

_{Campo claro}

Luz polarizada

_{Luz polarizada}

_{Luz infrarroja (IR)}		Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impreso La luz infrarroja es usada para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio.

Luz infrarroja (IR)

_{Luz infrarroja (IR)}

Adherencia de pastillas en un patrón de circuito impreso

La luz infrarroja es usada para observar defectos internos en los chips de circuitos integrados y otros dispositivos fabricados con silicio sobre vidrio.

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