Olympus Logo

Обратная связь Обратная связь

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Матричные вихретоковые дефектоскопы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и комплектующие
      • Датчики и преобразователи▾
        • Ультразвуковые ПЭП
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные ПЭП
        • BondMaster Probes
      • Интегрированные системы контроля▾
        • Wheel Inspection System
        • Решения для контроля прутков
        • Решения для контроля труб
      • Контрольно-измерительные приборы НК▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры▾
        • Сканеры для контроля сварных швов
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Контроль качества в аэрокосмической промышленности
        • Комплектующие для сканеров
      • Olympus Scientific Cloud
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные ручные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Портативные компактные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert для контроля качества ТНП и их cоответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • FOX-IQ
      • Рентгеновские дифрактометры ▾
        • Переносной дифрактометр TERRA
        • Настольный дифрактометр BTX
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
      • Olympus Scientific Cloud
    • Промышленные микроскопы▾
      • Сканирующие зондовые микроскопы▾
        • OLS4500
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5000
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM▾
        • Equipment Integration Solutions
        • Objective Lenses
        • Optical Microscope Frames
        • Super Wide Tube Lens
        • Optical Microscope Modules
        • Modular Microscope Assemblies
      • Microscope FAQ
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
        • Бороскопы для контроля авиационных двигателей
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
  • Отрасли
  • Блог
  • Ресурсы
  • Поддержка▾
    • Контакты
    • Olympus Scientific Cloud
    • Обучение
    • Customer Service
    • Сервисные центры
    • Программное обеспечение
    • Информация о продукции
    • Оборудование снятое с производства
    • Product Service Termination List
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Rentals
  • Shop
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения

Лазерные конфокальные микроскопы

Главная/ Продукты/ Лазерные конфокальные микроскопы

Лазерный конфокальный микроскоп Olympus обеспечивает высочайшее качество изображения и точные 3D-измерения, благодаря усовершенствованным оптическим компонентам. Предварительный этап очень прост и не требует специальной подготовки образца.

LEXT OLS5000

Благодаря конфокальному лазерному сканирующему микроскопу Olympus LEXT OLS5000 проведение бесконтактного неразрушающего 3D анализа и измерений стало еще проще. Одно нажатие кнопки пуска, и пользователь может сразу приступить к измерениям мельчайших объектов на субмикронном уровне. Простота использования в комбинации с передовыми технологиями для обеспечения скорости сбора данных, в четыре раза превышающей таковую для микроскопа предыдущей модели. Если же вам нужно провести анализ объекта большего размера, объективы с длинным фокусным расстоянием и опция широкоугольного обзора помогут вам в этом — ведь в конфигурации с ними система позволяет исследовать объекты размером до 210 мм.

Посмотреть продукт

LEXT OLS4500

LEXT OLS4500 is Nano Search Microscope which is combined a laser microscope and scanning probe microscope (SPM) in the same instrument to allow observation and measurement over a wide range of magnifications (from around 50x up to 1,000,000x)

Посмотреть продукт

Дополнительные программные решения

ПО для анализа изображений Olympus расширяет возможности оптико-цифровых и лазерных конфокальных микроскопов Olympus, предоставляя дополнительные решения в области материаловедения, которые соответствуют вашим требованиям к анализу и контролю.

OLYMPUS Stream

ПО для анализа изображений OLYMPUS Stream повышает эффективность работы на всех этапах контроля: захват изображений, количественные измерения, анализ изображений, создание отчетов, а также расширенные задачи по контролю в области материаловедения.

Посмотреть продукт

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Обратная связь
  • Решения НК
  • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры
  • Промышленные микроскопы
    • Сканирующие зондовые микроскопы
    • Лазерные конфокальные микроскопы
      • OLS5000
    • Цифровые микроскопы
    • Измерительные микроскопы
    • Контроль чистоты
    • Оптические микроскопы
    • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев
    • Стереомикроскопы
    • Цифровые камеры
    • ПО для анализа изображений
    • Микроспектрофотометр
    • Линзы объектива
    • Компоненты микроскопов OEM
    • Microscope FAQ
  • Видеоскопы, бороскопы
  • Подписаться на информационный бюллетень


Surface Roughness Measurement Portal

Главная/ Продукты/ Лазерные конфокальные микроскопы
Печать

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK
Cancel