I microscopi Evident per l'ispezione di wafer semiconduttori e schermi piatti assicurano il massimo dell'efficienza, garantendo tempi rapidi di avvio, semplice operatività, analisi dei guasti e modulabilità. La nostra gamma di microscopi per l'ispezione di semiconduttori è progettata per un trasferimento sicuro di wafer, risultando ideale per l'ispezione di difetti di semiconduttori. Oltre a poter essere impiegato nell'ambito dei sistemi automatizzati di gestione dei wafer, un microscopio digitale può essere utilizzato per le analisi di dettaglio di difetti di ridotte dimensioni nei semiconduttori. Di seguito è possibile scoprire la nostra gamma completa di microscopi per l'ispezione di schermi piatti e semiconduttori. |
La serie di manipolatori di wafer AL120 è costituita da microscopi per l'ispezione di semiconduttori che consentono un facile trasferimento di wafer semiconduttori in silicio e in materiale composto (es: carburo di silicio (SiC) e areseniuro di gallio (GaAs)) dalla cassetta al tavolino del microscopio in modo più efficiente e flessibile, comunque mantenendo un design ergonomico e di facile uso.
Ideale per le ispezioni a basso costo della fase produttiva finale, il manipolatore di wafer AL120-12 è un microscopio per l'ispezione di semiconduttori compatibile con il FOUP (front opening unified pod) e il FOSB (front opening shipping box). Il design sicuro ed ergonomico permette di mantenere l'operatore in sicurezza, consentendo l'efficace trasferimento di wafer, inclusi quelli sottili e sagomati.
I sistemi di microscopia MX63 e MX63L sono ottimizzati per le ispezioni di alta qualità di wafer di dimensioni massime di 300 mm. Compatibili con schermi piatti, circuiti stampati e altri elementi di grandi dimensioni, le strutture modulari permettono di scegliere le componenti necessarie per adattare il sistema alla propria applicazione.
Le nostre fotocamere per microscopi digitali Evident permettono di acquisire delle immagini di alta qualità di campioni. Dotate di alta risoluzione e di un'eccellente fedeltà cromatica le nostre fotocamere permettono l'acquisizione di immagini live nitide e a piena risoluzione, consentendo delle osservazioni chiare e una messa a fuoco in tempo reale.
La serie di obiettivi Evident MXPLFLN è stata progettata per assicurare contemporaneamente un'alta risoluzione e una lunga distanza di lavoro, rappresentando caratteristiche ideali per l'ispezione di wafer semiconduttori.
Ottimizzazione del microscopio e del flusso di lavoro per l'ispezione di waferScopri come i produttori di wafer semiconduttori possono migliorare il controllo qualità delle ispezioni di wafer ottimizzando le apparecchiature e i flussi di lavoro. | |
Funzionalità di imaging nel vicino infrarosso per ispezioni di componenti elettroniche e semiconduttoriScopri come i microscopi per le ispezioni Evident migliorano l'acquisizione di immagini in prossimità dell'infrarosso per l'ispezione di semiconduttori. | |
Ispezione del pattern del circuito su wafer campioneScopri come i microscopi industriali MX63/MX63L di Evident per l'ispezione di schermi piatti e semiconduttori rappresentano un'efficiente alternativa ai convenzionali metodi di osservazione per i campioni di wafer. |
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