Olympus Logo

Contatti   Contatti  

  • Prodotti▾
    • Soluzioni NDT▾
      • Rilevatore di difetti▾
        • Rilevatori di difetti ad ultrasuoni portatili
        • Strumenti ad ultrasuoni phased array
        • Prodotti eddy current
        • Prodotti eddy current array
        • Controllo di materiali compositi
      • Misuratori di spessore portatili▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Trasduttori e accessori
      • Sonde e trasduttori▾
        • Trasduttore a singolo elemento e doppio elemento
        • Eddy Current Probes
        • Probes for Tube Inspection
        • Sonde phased array
        • BondMaster Probes
      • Sistemi di ispezione automatizzati▾
        • Sistema di ispezione per ruote
        • Sistemi di ispezione per barre
        • Sistemi di ispezione per tubi
        • Sistema di ispezione della saldatura a attrito
      • Strumenti per sistemi NDT ▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Scanner industriali NDT▾
        • Scanner per l'ispezione delle saldature
        • Scanner per l'ispezione della corrosione
        • Scanner per ispezioni nel settore aerospaziale
        • Accessori per gli scanner
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analizzatori XRF e XRD▾
      • Analizzatori XRF portatili▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analizzatori XRF compatti e portatili▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert per normative RoHS e prodotti di consumo
      • Analizzatori XRF per linee di produzione▾
        • Vanta iX
      • Analizzatori XRD▾
        • Analizzatore XRD portatile TERRA II
        • Analizzatore XRD da banco BTX™ III
      • Soluzioni OEM▾
        • X-STREAM
      • Applicazioni e soluzioni principali
      • Olympus Scientific Cloud
    • Soluzioni per Microscopia▾
      • Microscopi confocali laser▾
        • OLS5100
      • Microscopi digitali
      • Microscopi di misura▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Microscopio per pulizia tecnica▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopi ottici▾
        • Microscopi verticali
        • Microscopi invertiti
        • Modular Microscopes
      • Microscopi per l'ispezione dei display a semiconduttori e schermo piatto▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Microscopi stereoscopici▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Fotocamere digitali▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • Software di analisi delle immagini▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Obiettivi▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN/LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Componenti di microscopi OEM per l'integrazione
      • FAQ per i microscopi
    • Videoscopi, Boroscopi▾
      • Videoscopi industriali▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Soluzione IPLEX con lungo endoscopio
      • Fibroscopi industriali▾
        • Fibroscopi di piccolo diametro
      • Boroscopi rigidi industriali▾
        • Boroscopi rigidi standard
        • Boroscopi a prisma mobile
        • Boroscopi a prisma mobile con zoom
        • MK Mini-scope modulare
        • Boroscopi per motori aeronautici
      • Fonte di luce
      • Software InHelp▾
        • InHelp
  • Settori industriali
  • Risorse
  • Learn
  • Blog
  • Assistenza clienti▾
    • Contatti
    • Assistenza clienti
    • XRF and XRD Technical Support
    • Centri di assistenza
    • Soluzioni di finanziamento personalizzato
    • Olympus Scientific Cloud
    • Download dei software
    • Instruction Manual Downloads
    • Certificazioni ISO
    • Datasheet MSDS
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Product Information
    • Product Service Termination List
    • Prodotti fuori produzione e obsoleti
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Shop
  • Ricerca
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Soluzioni industriali
LEXT Objectives for Metrology
Guaranteed Measurement Accuracy to 6 nm
Learn More
Elixon Theatre jQuery Plugin

Contatti   Contatti  

Soluzioni scientifiche 
Analisi. Misura. Immagini. Valutazione.

Soluzioni di ispezione di difetti e di misura di spessoriSoluzioni di ispezione di difetti e di misura di spessoriXRF e XRDAnalizzatori XRF e XRDIspezione visiva remotaVideoscopi e boroscopiMicroscopi industrialiMicroscopi industriali
Sistemi di ispezione automatizzatiSistemi di ispezione automatizzatiComponenti per la microscopia OEMComponenti per la microscopia OEMOlympus Scientific CloudOlympus Scientific CloudInformazioni sulle Soluzioni scientifiche OlympusInformazioni sulle Soluzioni scientifiche Olympus
Novità
  • Eventi
  • Iscrizione alla newsletter
  • Comunicati stampa

The Olympus NDT Podcast. INSPECT TECH
Ascolta i nostri nuovi Podcast

Olympus LifeScience

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Globale | Condizioni d'uso | Informativa sulla privacy | Cookies | | Chi siamo | Careers | Careers | Mappa del sito

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Globale | Condizioni d'uso | Informativa sulla privacy | Cookies | | Chi siamo | Imprint | Careers | Careers | Mappa del sito

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting

You are being redirected to our local site.