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Misura delle dimensioni del nastro alveolato per condensatori


Misure a livello microscopico mediante un microscopio laser

Nastro alveolato

Nastro alveolato

1. Applicazione

I nastri alveolati si usano per confezionare vari componenti elettronici di piccole dimensioni utilizzati in telefoni cellulari e apparecchiature di precisione. Nel corso del processo di stampa in rilievo si creano delle cavità sulla superficie di un sottile nastro di plastica o carta. I componenti vengono quindi posizionati individualmente all'interno delle centinaia o anche milioni di tasche, sigillati con un nastro di chiusura e avvolti su una bobina. I componenti confezionati, avvolti sulla bobina, vengono installati in un dispositivo per surface mounting che attaccherà i componenti contenuti nelle tasche del nastro a un substrato. Il vantaggio di questo sistema risiede nella possibilità di trasportare grandi quantità di parti minute, quali condensatori ceramici di dimensioni microscopiche, chip di circuiti integrati e connettori, senza danneggiarle. Inoltre, la velocità di montaggio derivante dall'uso del nastro è maggiore rispetto a quella di metodi più vecchi, quali l'utilizzo di vassoi duri. La gestione delle dimensione delle tasche è importante per evitare che i componenti sigillati all'interno ruotino e per garantire che possano essere estratti facilmente al disimballaggio. Dal momento che le apparecchiature diventano sempre più piccole, anche i componenti devono diventare più piccoli ed è perciò necessaria una maggiore precisione per misurare le dimensioni delle tasche.

2. La soluzione Olympus

Il microscopio a scansione laser LEXT 3D di Olympus utilizza un laser a semiconduttore a 405 nm e una sistema ottico confocale per catturare la luce riflessa concentrata. Il microscopio è anche in grado di combinare più immagini acquisite a livelli Z diversi per creare immagini chiare ad alta risoluzione e generare forme 3D precise, anche per oggetti per i quali è necessario osservare la profondità, come le tasche di un nastro trasportatore. La funzione di stitching del microscopio consente di combinare più immagini con facilità, permettendo di acquisire l'immagine di una forma in modo semplice e rapido con un campo visivo ampio, sempre mantenendo un'alta risoluzione.
 

Immagini

(1) Forma in 3D della tasca di un nastro trasportatore

Nastro trasportatore per condensatore_ob10×_3DNastro trasportatore per condensatore_ob10×_3D


(2) Misura del profilo della tasca di un nastro trasportatore
 

Nastro trasportatore per condensatore_ob10×
 

Nastro trasportatore per condensatore_ob10×_profilo

Olympus IMS

Prodotti per l'applicazione

The LEXT™ OLS5100 laser scanning microscope combines exceptional accuracy and optical performance with smart tools that make the system easy to use. The tasks of precisely measuring shape and surface roughness at the submicron level are fast and efficient, simplifying your workflow and delivering high-quality data you can trust.

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