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Soluzioni per Microscopia

Osservazione

Strumenti avanzati di analisi

Le diverse funzionalità di osservazione del microscopio GX53 assicurano immagini chiare e nitide, così da poter rilevare i difetti dei campioni in modo affidabile. Le nuove tecniche di illuminazione e opzioni di acquisizione delle immagini del software di analisi delle immagini PRECiV offrono maggiori possibilità di valutazione dei campioni e di documentazione delle analisi.


Combinazione di alta apertura numerica e lunga distanza di lavoro

Le lenti degli obiettivi sono fondamentali per le prestazioni di un microscopio. I nuovi obiettivi MXPLFLN aggiungono profondità alla serie MPLFLN per imaging con epi-illuminazione, massimizzando, allo stesso tempo, l'apertura numerica e la distanza di lavoro. Delle maggiori risoluzioni con ingrandimenti di 20X e 50X in genere si traducono in distanze di lavoro più brevi, obbligando a ritrarre il campione o l'obiettivo durante la sostituzione dell'obiettivo. In molti casi, la distanza di lavoro di 3 mm della serie MXPLFLN elimina questo problema, permettendo delle ispezioni più veloci con meno probabilità che l'obiettivo urti il campione.

Obiettivo convenzionale con una distanza di lavoro di 1 mm / Obiettivo MXPLFN20X (NA 0,6) con una distanza di lavoro di 3 mm

tabella

Maggior informazioni sugli obiettivi MXPLFLN >>


L'invisibile reso visibile: Tecnologia MIX

La tecnologia MIX combina il campo scuro con un altro metodo di osservazione come il campo chiaro o la polarizzazione, per permettere di visualizzare i campioni che sono difficili da osservare con i microscopi convenzionali. L'illuminatore circolare al LED integra una funzionalità con campo scuro direzionale attraverso la quale uno o più quadranti sono illuminati in un determinato momento, in modo da ridurre l'alone del campione e meglio visualizzare la tessitura superficiale.

Sezione trasversale di un circuito stampato

Sezione trasversale di un circuito stampato - Campo chiaro

Sezione trasversale di un circuito stampato - Campo scuro

Sezione trasversale di un circuito stampato - MIX

Campo chiaro 
Gli strati del substrato e il foro passante non sono visibili.

Campo scuro 
Le tracce non sono visibili.

MIX: Campo chiaro + Campo scuro 
Tutte le componenti sono rappresentate chiaramente.

Acciaio inossidabile

Acciaio inossidabile - Campo chiaro

Acciaio inossidabile - Campo scuro

Acciaio inossidabile - MIX

Campo chiaro 
La tessitura non è osservabile.

Quadrante del campo scuro
L'informazione relativa al colore è eliminata

Quadrante MIX: Campo chiaro + Campo scuro 
Il colore del materiale e la tessitura sono visibili.


Facile creazione di immagini panoramiche: MIA istantanea

Attraverso la funzionalità Multiple image alignment (MIA) è possibile unire (stitching) le immagini insieme muovendo semplicemente le manopole XY sul tavolino manuale (il tavolino motorizzato è opzionale). Il software PRECiV utilizza la funzionalità di riconoscimento del pattern per generare un'immagine panoramica, ideale per l'ispezione delle condizioni di carburazione e di flusso del metallo.

Flusso del metallo di un bullone

Regolazione della posizione del tavolino mediante la manopola XY.

Flusso del metallo di un bullone

Flusso del metallo di un bullone - È osservabile la condizione complessiva del flusso del metallo.

Regolazione della posizione del tavolino mediante la manopola XY.

È osservabile la condizione complessiva del flusso del metallo.


Creazione di immagini completamente a fuoco: EFI

La funzione Extended focus imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire le immagini dei campioni la cui altezza si estende oltre la profondità di campo. L'EFI sovrappone queste immagini per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco. Anche quando si analizza la sezione trasversale di un campione con superficie irregolare, l'EFI è in grado di creare delle immagini completamente a fuoco.

L'EFI funziona con un asse Z manuale o motorizzato ed è in grado di creare una mappatura delle altezze per la visualizzazione delle strutture.

Componenti in resina

Regolazione dell'altezza dell'obiettivo mediante la manopola di messa a fuoco

L'EFI acquisisce e sovrappone automaticamente immagini multiple per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco.

Creazione di un'immagine completamente a fuoco.

Regolazione dell'altezza dell'obiettivo con la manopola di messa a fuoco.

L'EFI acquisisce e sovrappone automaticamente immagini multiple per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco.

Creazione di un'immagine completamente a fuoco.


Acquisizione delle aree chiare e scure mediante HDR

Mediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. Inoltre contribuisce a aumentare il contrasto nelle immagini a basso contrasto. L'HDR può essere usato per osservare delle strutture di ridotte dimensioni nei dispositivi elettronici e identificare i limiti intergranulari dei metalli.

Placcatura d'oro

Alcune aree hanno dei riflessi.

Aree chiare e scure hanno un'esposizione ottimale mediante l'HDR.

Alcune aree hanno dei riflessi.

Aree chiare e scure hanno un'esposizione ottimale mediante l'HDR.

Rivestimento a diffusione di cromo

Basso contrasto e nitidezza limitata.

Contrasto migliorato mediante l'HDR.

Basso contrasto e nitidezza limitata.

Contrasto migliorato mediante l'HDR.


Applicazioni

Questi sono solo alcuni degli esempi di cosa è possibile realizzare mediante diversi metodi di osservazione.

Campione lucidato di AlSi (Campo chiaro / Campo scuro)

Campione lucidato di AlSi - Campo chiaro

Campione lucidato di AlSi - Campo scuro

Campo chiaro

Campo scuro

Campo chiaro: Comune metodo di osservazione per osservare la luce riflessa da un campione illuminandola direttamente. Campo scuro: Metodo di osservazione con luce diffusa o diffratta dal campione, in modo che si evidenzino graffi o difetti di ridotte dimensioni.

Ghisa a grafite sferoidale (Campo chiaro / DIC)

Ghisa a grafite sferoidale - Campo chiaro

Ghisa a grafite sferoidale - DIC

Campo chiaro

Osservazione DIC

Il contrasto DIC è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato; è ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche.

Lega in alluminio (Campo chiaro / Luce polarizzata)

Lega in alluminio - Campo chiaro

Lega in alluminio - Osservazione a luce polarizzata

Campo chiaro

Osservazione a luce polarizzata

Luce polarizzata: Tecnica che evidenzia la tessitura del materiale e le condizioni del cristallo per osservare le strutture metallurgiche come il pattern di crescita della grafite nella ghisa nodulare e nei minerali.

Dispositivo elettrico (Campo chiaro / Osservazione MIX)

Dispositivo elettrico - Campo chiaro

Dispositivo elettrico - MIX

Campo chiaro

MIX: Campo chiaro + Campo scuro

Osservazione MIX: Combina il campo chiaro e campo scuro per mostrare il colore e la struttura del campione.
La precedente immagine di osservazione MIX riproduce chiaramente il colore e la tessitura del dispositivo, oltre alle condizioni dello strato adesivo.


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