Le diverse funzionalità di osservazione del microscopio GX53 assicurano immagini chiare e nitide, così da poter rilevare i difetti dei campioni in modo affidabile. Le nuove tecniche di illuminazione e opzioni di acquisizione delle immagini del software di analisi delle immagini PRECiV offrono maggiori possibilità di valutazione dei campioni e di documentazione delle analisi.
Le lenti degli obiettivi sono fondamentali per le prestazioni di un microscopio. I nuovi obiettivi MXPLFLN aggiungono profondità alla serie MPLFLN per imaging con epi-illuminazione, massimizzando, allo stesso tempo, l'apertura numerica e la distanza di lavoro. Delle maggiori risoluzioni con ingrandimenti di 20X e 50X in genere si traducono in distanze di lavoro più brevi, obbligando a ritrarre il campione o l'obiettivo durante la sostituzione dell'obiettivo. In molti casi, la distanza di lavoro di 3 mm della serie MXPLFLN elimina questo problema, permettendo delle ispezioni più veloci con meno probabilità che l'obiettivo urti il campione.
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La tecnologia MIX combina il campo scuro con un altro metodo di osservazione come il campo chiaro o la polarizzazione, per permettere di visualizzare i campioni che sono difficili da osservare con i microscopi convenzionali. L'illuminatore circolare al LED integra una funzionalità con campo scuro direzionale attraverso la quale uno o più quadranti sono illuminati in un determinato momento, in modo da ridurre l'alone del campione e meglio visualizzare la tessitura superficiale.
Sezione trasversale di un circuito stampato
Campo chiaro | Campo scuro | MIX: Campo chiaro + Campo scuro |
Acciaio inossidabile
Campo chiaro | Quadrante del campo scuro | Quadrante MIX: Campo chiaro + Campo scuro |
Attraverso la funzionalità Multiple image alignment (MIA) è possibile unire (stitching) le immagini insieme muovendo semplicemente le manopole XY sul tavolino manuale (il tavolino motorizzato è opzionale). Il software PRECiV utilizza la funzionalità di riconoscimento del pattern per generare un'immagine panoramica, ideale per l'ispezione delle condizioni di carburazione e di flusso del metallo.
Flusso del metallo di un bullone
Regolazione della posizione del tavolino mediante la manopola XY. | È osservabile la condizione complessiva del flusso del metallo. |
La funzione Extended focus imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire le immagini dei campioni la cui altezza si estende oltre la profondità di campo. L'EFI sovrappone queste immagini per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco. Anche quando si analizza la sezione trasversale di un campione con superficie irregolare, l'EFI è in grado di creare delle immagini completamente a fuoco.
L'EFI funziona con un asse Z manuale o motorizzato ed è in grado di creare una mappatura delle altezze per la visualizzazione delle strutture.
Componenti in resina
Regolazione dell'altezza dell'obiettivo con la manopola di messa a fuoco. | L'EFI acquisisce e sovrappone automaticamente immagini multiple per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco. | Creazione di un'immagine completamente a fuoco. |
Mediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. Inoltre contribuisce a aumentare il contrasto nelle immagini a basso contrasto. L'HDR può essere usato per osservare delle strutture di ridotte dimensioni nei dispositivi elettronici e identificare i limiti intergranulari dei metalli.
Placcatura d'oro
Alcune aree hanno dei riflessi. | Aree chiare e scure hanno un'esposizione ottimale mediante l'HDR. |
Rivestimento a diffusione di cromo
Basso contrasto e nitidezza limitata. | Contrasto migliorato mediante l'HDR. |
Questi sono solo alcuni degli esempi di cosa è possibile realizzare mediante diversi metodi di osservazione.
Campo chiaro | Campo scuro |
Campo chiaro: Comune metodo di osservazione per osservare la luce riflessa da un campione illuminandola direttamente. Campo scuro: Metodo di osservazione con luce diffusa o diffratta dal campione, in modo che si evidenzino graffi o difetti di ridotte dimensioni.
Campo chiaro | Osservazione DIC |
Il contrasto DIC è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato; è ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche.
Campo chiaro | Osservazione a luce polarizzata |
Luce polarizzata: Tecnica che evidenzia la tessitura del materiale e le condizioni del cristallo per osservare le strutture metallurgiche come il pattern di crescita della grafite nella ghisa nodulare e nei minerali.
Campo chiaro | MIX: Campo chiaro + Campo scuro |
Osservazione MIX: Combina il campo chiaro e campo scuro per mostrare il colore e la struttura del campione.
La precedente immagine di osservazione MIX riproduce chiaramente il colore e la tessitura del dispositivo, oltre alle condizioni dello strato adesivo.