Observation
Outils d’analyse de pointe
Les différents modes d’observation du microscope GX53 fournissent des images claires et nettes qui permettent de détecter avec fiabilité les défauts présents dans les échantillons. Les nouvelles techniques d’illumination et options d’acquisition d’images du logiciel d’analyse PRECiV vous offrent un choix plus large pour analyser vos échantillons et consigner vos résultats.
Grande ouverture numérique élevée combinée à une grande distance de travail
Les objectifs jouent un rôle essentiel dans la performance d’un microscope. Les nouveaux objectifs MXPLFLN ajoutent de la profondeur à la série MPLFLN pour l’imagerie par épi-éclairage en optimisant simultanément l’ouverture numérique et la distance de travail. Des résolutions élevées à des agrandissements de 20X et 50X sont généralement synonymes de distances de travail plus courtes, ce qui oblige à rétracter l’échantillon ou l’objectif pendant l’échange d’objectifs. Dans de nombreux cas, la distance de travail de 3 mm de la série MXPLFLN élimine ce problème, ce qui permet des observations plus rapides avec moins de risque de toucher l’échantillon.
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En savoir plus sur les objectifs MXPLFLN>>
L’invisible devient visible : technologie MIX
En combinant un fond noir avec un autre procédé d’observation, tel qu’un fond clair ou la polarisation, la technologie MIX vous permet d’observer des échantillons difficiles à visualiser avec des microscopes classiques. L’illuminateur circulaire à DEL dispose d’une fonction de noir directionnel où un ou plusieurs quadrants sont illuminés à un moment donné. Il réduit ainsi le halo de l’échantillon pour permettre une meilleure visualisation de la texture de surface.
Section transversale d’une carte de circuit imprimé
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Fond clair | Fond noir | MIX : fond clair + fond noir |
Acier inoxydable
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Fond clair | Quadrant fond noir | MIX : quadrant fond clair + fond noir |
Création simplifiée d’images panoramiques : MIA instantané
Avec un alignement d’images multiples (MIA), vous pouvez rapidement assembler des images en tournant les molettes XY sur la platine manuelle. La platine motorisée est facultative. Le logiciel PRECiV utilise une reconnaissance des modèles pour générer une image panoramique. Il est donc parfaitement adapté pour observer les conditions de cémentation et de fluage du métal.
Fluage du métal d’un boulon
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Réglage de la position de la platine à l’aide de la molette XY. | L’état complet de l’écoulement du métal peut être observé. |
Création d’images parfaitement mises au point : fonction EFI
La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) du logiciel PRECiV permet d’acquérir des images d’échantillons dont la hauteur dépasse la profondeur focale. L’EFI empile ces images pour créer une image unique entièrement mise au point de l’échantillon. Même lors de l’analyse de la section transversale d’un échantillon ayant une surface irrégulière, l’EFI crée des images entièrement mises au point.
L’EFI fonctionne avec un axe Z manuel ou motorisé et crée une carte de hauteur afin de visualiser les structures.
Pièces en résine
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Réglage de la hauteur de l’objectif avec la poignée de mise au point. | L’EFI capture et empile automatiquement plusieurs images pour créer une image mise au point de l’échantillon. | Une image entièrement mise au point est créée. |
Détecter à la fois les zones lumineuses et des zones sombres avec la fonction HDR
À l’aide du traitement avancé d’images, la fonction de grande plage dynamique (HDR) ajuste les différences de luminosité dans une image pour réduire les reflets. Elle contribue également à accentuer le contraste dans les images à faible contraste. La HDR peut être utilisée pour observer des structures minuscules dans des composants électriques et identifier des joints de grains métalliques.
Plaque en or
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Certaines zones présentent des reflets. | Les zones sombres et lumineuses sont clairement exposées grâce à la fonction HDR. |
Revêtement de diffusion en chrome
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Faible contraste et manque de clarté | Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR |
Applications
Voici quelques exemples de résultats obtenus avec différents procédés d’observation.
Échantillon poli de AlSi (fond clair/fond noir)
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Fond clair | Fond noir |
Fond clair : procédé couramment utilisé pour observer la réflexion de la lumière sur un échantillon en l’illuminant directement
Fond noir : observation de la lumière diffusée ou diffractée sur d’un échantillon pour que les imperfections, telles que des rayures ou des défauts, ressortent clairement.
Fonte à graphite sphéroïdal (fond clair/CID)
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Fond clair | CID |
Le contraste interférentiel différentiel (CID) est un mode d’observation dans lequel la hauteur d’un échantillon est visible en relief, similaire à une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Il est particulièrement adapté pour observer des échantillons présentant des différences de hauteur très faibles, comme les structures métallurgiques et les minéraux.
Alliage d’aluminium (fond clair/lumière polarisée)
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Fond clair | Observation en lumière polarisée |
Lumière polarisée : technique qui met en évidence la texture et l’état des cristaux d’un matériau afin d’observer les structures métallurgiques, comme le motif de croissance de cristaux de graphite sur la fonte et les minéraux nodulaires.
Dispositif électrique (fond clair/observation MIX)
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Fond clair | MIX : fond clair + fond noir |
Observation MIX : combine un fond clair et un fond noir pour montrer la couleur et la structure d’un échantillon.
L’image ci-dessus provenant de l’observation MIX reproduit clairement la couleur et la texture du dispositif ainsi que l’état de la couche d’adhésif.