Mikroskopie
Erweiterte Analysehilfen
Die vielfältigen Mikroskopiefunktionen des GX53 Mikroskops ermöglichen die Aufnahme klarer, scharfer Bilder, auf denen sich Defekte von Objekten zuverlässig erkennen lassen. Die von der PRECiV Bildanalyse-Software unterstützten neuen Beleuchtungsverfahren und Bildaufnahmeoptionen bieten mehr Auswahl bei der Beurteilung von Objekten und der Dokumentation von Befunden.
Mit hoher numerischer Apertur und großem Arbeitsabstand
Objektive bestimmen maßgeblich die Leistung eines Mikroskops. Die neuen MXPLFLN-Objektive erweitern die MPLFLN-Serie für die Bildgebung mit EPI-Beleuchtung, da sie gleichzeitig die numerische Apertur und den Arbeitsabstand maximieren. Höhere Auflösungen bei 20- und 50-facher Vergrößerung bedeuten in der Regel kürzere Arbeitsabstände, so dass die Probe oder das Objektiv beim Objektivwechsel zurückgefahren werden müssen. In vielen Fällen ist der Arbeitsabstand von 3 mm der MXPLFLN-Serie die Lösung für dieses Problem: Die Untersuchungen können schneller durchgeführt werden und es besteht kaum die Gefahr, dass das Objektiv die Probe berührt.
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Das Unsichtbare wird sichtbar: MIX-Technologie
Die MIX-Technologie kombiniert Dunkelfeldbeleuchtung mit einem anderen Kontrastverfahren wie Hellfeld oder Polarisation und ermöglicht so die Prüfung von Objekten, die mit herkömmlichen Mikroskopen schwierig zu untersuchen sind. Die kreisförmige LED-Lichtquelle bietet eine gerichtete Dunkelfeldfunktion, die es möglich macht, zu einem gegebenen Zeitpunkt immer nur einen oder mehrere Quadranten zu beleuchten. Auf diese Weise kann die Lichthofbildung reduziert und die Oberflächenbeschaffenheit besser dargestellt werden.
Querschnitt einer Leiterplatte
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Hellfeld | Dunkelfeld | MIX: Hellfeld + Dunkelfeld |
Edelstahl
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Hellfeld | Dunkelfeld-Quadrant | MIX: Hellfeld + Dunkelfeld-Quadrant |
Einfaches Erstellen von Panoramabildern: Instant MIA
Mithilfe von Multiple Image Alignment (MIA) können Bilder durch einfaches Betätigen der XY-Knöpfe am manuellen Tisch zusammengefügt werden – ein motorischer Tisch ist optional. Die PRECiV Software nutzt Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, mit denen der Zustand von Metallflüssen oder von Metallteilen nach dem Carburieren geprüft werden kann.
Metallfluss eines Bolzens
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Einstellen der Tischposition mit dem XY-Knopf. | Die Beschaffenheit des gesamten Metallflusses ist sichtbar. |
Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFI
Mit der Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software lassen sich Bilder von Objekten aufnehmen, deren Höhe die Schärfentiefe des Objektivs übersteigt. Mit EFI können diese Bilder zu einem einzelnen Bild zusammengefügt werden, in dem das ganze Objekt scharfgestellt ist. Selbst bei der Analyse einer Querschnittsprobe mit unebener Oberfläche ergibt EFI vollständig scharfgestellte Bilder.
EFI funktioniert sowohl mit einer manuellen oder einer motorischen Z-Achse und ergibt Höhenkarten für die Darstellung von Strukturen.
Gießharzteile
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Stellen Sie die Höhe des Objektivs mit dem Fokussiertrieb ein. | Mit EFI können automatisch mehrere Bilder aufgenommen und zu einem einzelnen Bild gestapelt werden, in dem das ganze Objekt im Fokus ist. | So erhält man ein vollständig scharfgestelltes Bild. |
Gleichzeitige Aufnahme von dunklen und hellen Bereichen mit HDR
Durch moderne Bildverarbeitung gleicht die HDR-Funktion Helligkeitsunterschiede in Bildern aus, um Lichtreflexe zu reduzieren. Sie verstärkt außerdem den Kontrast in kontrastarmen Bildern. HDR kann zur Prüfung winziger Strukturen in elektrischen Geräten und zur Identifizierung der Grenzen von Metallkörnern eingesetzt werden.
Goldplatte
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Einige Bereiche zeigen Lichtreflexe. | Sowohl dunkle als auch helle Bereiche werden mit HDR klar dargestellt. |
Chrom-Diffusionsbeschichtung
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Wenig Kontrast und unscharf. | Verstärkter Kontrast mit HDR. |
Anwendungen
Dies sind nur einige Anwendungsbeispiele der verschiedenen Kontrastverfahren.
Polierte Probe von AlSi (Hellfeld / Dunkelfeld)
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Hellfeld | Dunkelfeld |
Hellfeld: ein häufig verwendetes Mikroskopieverfahren zur Beobachtung des von einem Objekt unter senkrechter Beleuchtung von oben reflektierten Lichts Dunkelfeld: Beobachtung des von einem Objekt gestreuten oder gebeugten Lichts, ermöglicht die klare Darstellung feinster Kratzer oder Fehler
Kugelgraphitgusseisen (Hellfeld / DIC)
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Hellfeld | DIC-Kontrastverfahren |
Differenzieller Interferenzkontrast (DIC): ein Kontrastverfahren, bei dem die Höhe eines Objekts als Relief sichtbar ist, ähnlich einem 3D-Bild mit verbessertem Kontrast. Es eignet sich für Prüfungen von Objekten mit sehr geringen Höhenunterschieden, einschließlich metallurgischer Strukturen und Mineralien.
Aluminiumlegierung (Hellfeld / polarisiertes Licht)
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Hellfeld | Mikroskopie im polarisierten Licht |
Polarisiertes Licht: ermöglicht die Betonung der Textur und des Kristallzustands eines Materials zur Darstellung metallurgischer Strukturen, wie z. B. des Wachstumsmusters von Graphit in Kugelgraphitgusseisen und von Mineralien.
Elektrisches Gerät (Hellfeld / MIX-Kontrastverfahren)
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Hellfeld | MIX: Hellfeld + Dunkelfeld |
MIX-Kontrastverfahren: kombiniert Hellfeld und Dunkelfeld zur Darstellung der Farbe und der Struktur eines Objekts
Das oben dargestellte, mit dem MIX-Kontrastverfahren aufgenommene Bild zeigt deutlich die Farbe und die Oberflächenbeschaffenheit des Geräts sowie den Zustand der Klebstoffschicht.