Наблюдение
Усовершенствованные инструменты анализа
Широкие возможности микроскопа GX53 позволяют получать четкие и контрастные изображения, обеспечивают достоверное обнаружение дефектов. Новые методы освещения и опции получения изображения программного обеспечения PRECiV дают вам больше возможностей для оценки образцов и документирования результатов.
Сочетание высокой числовой апертуры и большого рабочего расстояния
Объективы имеют решающее значение для работы микроскопа. Новые объективы MXPLFLN расширяют возможности серии MPLFLN для визуализации с эпи-освещением, одновременно увеличивая числовую апертуру и рабочее расстояние. Более высокое разрешение при 20- и 50-кратном увеличении обычно означает более короткие рабочие расстояния, что заставляет убирать образец или отводить объектив во время замены объектива. Во многих случаях рабочее расстояние 3 мм в серии MXPLFLN устраняет эту проблему, обеспечивая более быстрый контроль с меньшей вероятностью касания объективом образца.
|
|
Подробнее об объективах MXPLFLN>>
Невидимое становится видимым: Технология MIX
В режиме MIX наблюдение в темном поле комбинируется с другим методом наблюдения, например, в светлом поле или поляризованном свете, что позволяет детально рассмотреть образцы, которые сложно исследовать с помощью традиционных микроскопов. Кольцевой светодиодный осветитель имеет функцию направленного темного поля, т.е. в данный момент времени освещается только один или несколько ее участков, за счет чего уменьшаются блики и текстура поверхности отображается намного четче.
Поперечный срез печатной платы
|
|
|
|
| ||
Светлое поле | Темное поле | MIX: Светлое поле + Темное поле |
Нержавеющая сталь
|
|
|
|
| ||
Светлое поле | Участок темного поля | MIX: Светлое поле + участок темного поля |
Создание панорамных изображений: функция MIA
Благодаря специальному модулю сшивки изображений (MIA), пользователи могут склеивать изображения путем вращения ручек осей XY (моторизованный столик является опцией). Программное обеспечение PRECiV использует распознавание характерных структур для создания панорамного изображения, что идеально подходит для контроля пластической деформации и цементации стали.
Деформация болта
|
|
|
|
| ||
Настройте положение предметного столика с помощью ручек осей XY. | Возможность наблюдения полной картины деформации металла. |
EFI: Построение изображений с расширенным фокусом
Функция расширенного фокуса (EFI) в PRECiV позволяет получить изображения образцов, высота которых выходит за глубину фокусировки. Функция EFI соединяет эти изображения в одно сфокусированное изображение образца. Даже при анализе поперечного сечения образца с шероховатой поверхностью, EFI создает полностью сфокусированные изображения.
EFI работает с ручной и моторизованной осью Z, и создает карту высот для визуализации структур.
Резиновые детали
|
|
|
|
| ||
Настройте высоту объектива с помощью рукоятки фокусировки. | EFI автоматически захватывает и соединяет изображения в одно сфокусированное изображение образца. | Создается полностью сфокусированное изображение. |
HDR: Захват светлых и темных участков
С помощью усовершенствованной технологии обработки изображений функция расширенного динамического диапазона (HDR) корректирует перепады яркости на изображении для устранения бликов. Данная функция также позволяет усилить резкость изображения. HDR может использоваться для наблюдения мелких структур в электрических устройствах и структуры границ зерен в металлах.
Позолота
|
|
| ||
Некоторые участки имеют блики. | Четкое выявление темных и светлых участков с помощью HDR. |
Диффузионное хромирование
|
|
| ||
Малая контрастность и нечеткость изображения. | Улучшенная контрастность с HDR. |
Области применения
Ниже представлены только некоторые примеры использования различных методов наблюдения.
Шлифованный образец AlSi (светлое поле/темное поле)
|
|
| ||
Светлое поле | Темное поле |
Метод светлого поля в отраженном свете применяется для наблюдения непрозрачных объектов. Метод темного поля в рассеянном или преломленном свете применяется для наблюдения мельчайших царапин или дефектов.
Чугун с шаровидным графитом (светлое поле/ДИК)
|
|
| ||
Светлое поле | Наблюдение по методу ДИК |
Дифференциально-интерференционный контраст (ДИК) — это метод наблюдения, при котором возвышенности на образце отображаются в виде рельефа, аналогично 3D-изображению с улучшенным контрастом; этот метод идеально подходит для исследования образцов, имеющих минимальные перепады высот, в том числе микроструктур и минералов.
Алюминиевый сплав (светлое поле/поляризованный свет)
|
|
| ||
Светлое поле | Наблюдение в поляризованном свете |
В режиме поляризованного света выделяется текстура материала и рельеф кристаллов для исследования микроструктур, например определения степени шаровидности включений графита в чугуне, и изучения минералов
Электрическое устройство (светлое поле/наблюдение в режиме MIX)
|
|
| ||
Светлое поле | MIX: Светлое поле + Темное поле |
При наблюдении в режиме MIX объединяются методы светлого и темного поля для отображения цвета и структуры образца.
На изображении, полученном в ходе MIX-наблюдения (см. выше), четко видно цвет и текстуру объекта, а также состояние клеевого слоя.