Evident LogoOlympus Logo
Microscopios industriales

Observación

Herramientas de análisis avanzadas

Las diversas capacidades de observación del microscopio GX53 proporcionan imágenes claras y nítidas para que detecte con fiabilidad los defectos de sus muestras. Las nuevas técnicas de iluminación y opciones de adquisición de imágenes del software de análisis de imágenes PRECiV le ofrecen más opciones para evaluar sus muestras y documentar sus hallazgos.


Combinación de alta apertura numérica y larga distancia de trabajo

Las lentes de objetivos son cruciales para el rendimiento de un microscopio. Los nuevos objetivos MXPLFLN añaden profundidad a la serie MPLFLN, ya que llevan un procesamiento de imágenes de iluminación episcópica mediante la maximización al mismo tiempo de la apertura numérica y la distancia de trabajo. Las resoluciones más altas con magnificaciones de 20X y 50X por lo general significan distancias de trabajo más cortas, lo que conlleva a que una muestra o un objetivo se retraiga durante el intercambio de objetivos. En muchos casos, la distancia de trabajo de 3 mm de la serie MXPLFLN elimina este problema, lo que permite inspecciones más rápidas con menos posibilidades de que el objetivo entre en contacto con la muestra.

Objetivo convencional con una distancia de trabajo de 1 mm / Objetivo MXPLFN20X (NA 0,6) con una distancia de trabajo de 3 mm

tabla

Más información sobre los objetivos de la MXPLFLN>>


Lo invisible se hace visible: Tecnología MIX

La tecnología MIX combina el campo oscuro con otro método de observación, como el campo luminoso o la polarización, para permitirle observar muestras que son difíciles de ver con los microscopios convencionales. El iluminador LED circular se dota de una función de campo oscuro direccional que lleva la iluminación a uno o más cuadrantes en un momento específico, lo que reduce el halo de una muestra para examinar mejor la textura superficial.

Corte transversal de una placa de circuito impreso

Corte transversal de una placa de circuito impreso: Campo luminoso

Corte transversal de una placa de circuito impreso: Campo oscuro

Corte transversal de una placa de circuito impreso: MIX (combinación)

Campo luminoso
Capas del sustrato y agujero pasante invisibles.

Campo oscuro 
Trazos visibles.

MIX: Campo luminoso + Campo oscuro 
Todos los componentes son representados de forma clara.

Acero inoxidable

Acero inoxidable: Campo luminoso

Acero inoxidable: Campo oscuro

Acero inoxidable: MIX (combinación)

Campo luminoso
Textura no observable.

Cuadrante de campo oscuro
Información de color eliminada.

MIX: Cuadrante de campo luminoso + campo oscuro
Tanto el color del material como la textura son visibles.


Fácil creación de imágenes panorámicas: MIA instantánea

Mediante la alineación de múltiples imágenes (MIA), es posible unir imágenes con tan solo mover los tornillos XY de la platina manual (la platina motorizadas es opcional). El software PRECiV utiliza el reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica, por lo que es ideal para inspeccionar las condiciones de carburación y flujo del metal.

Flujo metálico de un perno

La posición de la platina se ajusta con el mando tornillo (perilla) XY.

Flujo metálico de un perno

Flujo metálico de un perno: Es posible visualizar la condición completa del flujo metálico.

La posición de la platina se ajusta con el mando tornillo (perilla) XY.

Es posible observar la condición completa del flujo de metal.


Cree unas imágenes totalmente enfocadas: EFI

La función de imagen de enfoque extendido (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura se extiende más allá de la profundidad de enfoque. La función EFI permite apilar esta imágenes juntas para crear una imagen focal «todo en uno» de la muestra. Incluso al analizar una muestra transversal con una superficie irregular, la función EFI crea imágenes totalmente enfocadas.

La función EFI se ejecuta a través de un eje Z manual o motorizado y crea un mapa de alturas para visualizar las estructuras.

Piezas de resina

Se ajusta la altura del objetivo con el tornillo (perilla) de enfoque.

La función EFI captura y apila de forma automática múltiples imágenes para crear una sola imagen de la muestra enfocada totalmente.

Se crea una imagen completamente enfocada.

Se ajusta la altura del objetivo con el tornillo (perilla) de enfoque.

La función EFI captura y apila de forma automática múltiples imágenes para crear una sola imagen de la muestra enfocada totalmente.

Se crea una imagen completamente enfocada.


Captura tanto de áreas claras como oscuras: HDR

Al usar el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, siglas en inglés) ajusta las diferencias en el brillo dentro de una imagen para reducir los destellos (o deslumbramiento). Además, ayuda a potenciar el contraste en imágenes de bajo contraste. El alto rango dinámico (HDR) puede ser usado para observar estructuras diminutas en dispositivos electrónicos y observar límites de grano metálico.

Lingote de oro

Algunas áreas presentan deslumbramiento.

Algunas áreas oscuras y brillantes están siendo expuestas de forma clara gracias al HDR.

Algunas áreas presentan deslumbramiento.

Algunas áreas oscuras y brillantes están siendo expuestas de forma clara gracias al HDR.

Recubrimiento de cromo por difusión

Presenta bajo contraste y desenfoque.

Contraste potenciado con el HDR.

Presenta bajo contraste y desenfoque.

Contraste potenciado con el HDR.


Aplicaciones

Estos son sólo algunos ejemplos de lo que puede obtener al utilizar los diferentes métodos de observación.

Muestra pulida de AlSi (campo luminoso / campo oscuro)

Muestra pulida de AlSi - Campo luminoso

Muestra pulida de AlSi - Campo oscuro

Campo luminoso

Campo oscuro

Campo uminoso: método de observación común para observar la luz reflejada de una muestra iluminándola directamente. Campo oscuro: método usado para observar la luz dispersa o difractada de una muestra; de esta manera, las imperfecciones, como pequeños rasguños o defectos, destacan claramente.

Fundición de grafito esferoidal (campo luminoso / DIC)

Fundición de grafito esferoidal - Campo luminoso

Fundición de grafito esferoidal - DIC

Campo luminoso

Observación DIC

Contraste de interferencia diferencial (DIC): método de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.

Aleación de aluminio (campo luminoso / luz polarizada)

Aleación de aluminio - Campo luminoso

Aleación de aluminio - Observación con luz polarizada

Campo luminoso

Observación de luz polarizada

Luz polarizada: método de observación que resalta la textura y el estado de los cristales de un material para observar las estructuras metalúrgicas, como el patrón de crecimiento del grafito en la fundición nodular y los minerales.

Dispositivo eléctrico (observación de campo luminoso / MIX)

Dispositivo eléctrico - Campo luminoso

Aparato eléctrico - MIX

Campo luminoso

MIX: Campo luminoso + Campo oscuro

MIX: método de observación que combina las técnicas de campo luminoso y el campo oscuro para mostrar el color y la estructura de una muestra.
La imagen observada bajo el previo modo MIX reproduce de forma clara el color y la textura del dispositivo, así como el estado de la capa adhesiva.


Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Lo sentimos, la página solicitada no se encuentra disponible en su país.