Observação
Ferramentas de análise avançada
As diversas capacidades de observação do microscópio GX53 proporcionam imagens claras e nítidas para que você possa detectar defeitos nas suas amostras de forma confiável. As novas técnicas de iluminação e opções de aquisição de imagens do software de análise de imagens PRECiV oferecem mais opções para avaliar suas amostras e documentar seus resultados.
Alta abertura numérica e longa distância de trabalho integradas
As lentes objetivas são essenciais para o desempenho de um microscópio. As novas objetivas MXPLFLN adicionam profundidade à série MPLFLN para formação de imagens de epi-iluminação, maximizando a abertura numérica e a distância de trabalho ao mesmo tempo. Resoluções mais altas em aumentos de 20X e 50X normalmente significam distâncias de trabalho mais curtas, o que obriga que a amostra ou a objetiva seja retraída durante a troca da objetiva. Em muitos casos, a distância de trabalho de 3 mm da série MXPLFLN elimina esse problema, possibilitando inspeções mais rápidas com menor chance da objetiva bater na amostra.
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Saiba mais sobre as objetivas MXPLFLN>>
O invisível torna-se visível: tecnologia MIX
A tecnologia MIX combina campo escuro com outro método de observação, como campo claro ou polarização, para permitir a visualização de amostras que são difíceis de ver com microscópios convencionais. O iluminador de LED circular tem uma função de campo escuro direcional onde um ou mais quadrantes são iluminados por vez, reduzindo o halo de uma amostra para visualizar melhor a textura da superfície.
Corte transversal de uma placa de circuito impresso
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Campo claro | Campo escuro | MIX: campo claro + campo escuro |
Aço inoxidável
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Campo claro | Quadrante de campo escuro | MIX: quadrante de campo claro + campo escuro |
Crie facilmente imagens panorâmicas: MIA instantâneo
Com o alinhamento de múltiplas imagens (MIA), você pode unir imagens simplesmente movendo os botões XY na platina manual; uma platina motorizada é opcional. O software PRECiV usa o reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, tornando-o ideal para inspecionar as condições de cementação e fluxo de metal.
Fluxo de metal de um parafuso
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Ajuste a posição da platina usando o botão XY. | É possível observar a condição completa do fluxo de metal. |
Crie imagens totalmente em foco: EFI
A função de imagem focal estendida (EFI) do software PRECiV captura imagens de amostras cuja altura ultrapassa a profundidade de foco. A EFI empilha essas imagens para criar uma única imagem totalmente em foco da amostra. Mesmo quando analisa uma amostra em corte transversal com uma superfície irregular, a EFI cria imagens totalmente focadas.
A EFI funciona com um eixo Z manual ou motorizado e cria um mapa de altura para visualizar as estruturas.
Peças de resina
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Ajuste a altura da objetiva com o controle de focagem. | A EFI captura e empilha automaticamente múltiplas imagens para criar uma única imagem em foco da amostra. | É criada uma imagem totalmente focada. |
Capture áreas claras e escuras usando HDR
Ao usar o processamento de imagem avançado, a alta variação dinâmica (HDR) se ajusta às diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o brilho. Também ajuda a melhorar o contraste em imagens de baixo contraste. A HDR pode ser usada para observar estruturas muito pequenas em dispositivos elétricos e para identificar limites de grãos metálicos.
Placa dourada
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Algumas áreas apresentam brilho. | As áreas claras e escuras são claramente expostas usando HDR. |
Revestimento de difusão de cromo
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Contraste baixo e não claro. | Contraste melhorado com HDR. |
Aplicações
Estes são apenas alguns exemplos do que pode ser alcançado usando métodos de observação diferentes.
Amostra polida de AlSi (campo claro/campo escuro)
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Campo claro | Campo escuro |
Campo claro: um método de observação comum para observar a luz refletida de uma amostra iluminando-a diretamente. Campo escuro: observe a luz dispersa ou difratada de uma amostra de modo que imperfeições, tais como arranhões ou defeitos minúsculos, se destaquem claramente.
Ferro fundido de grafite esferoidal (campo claro/DIC)
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Campo claro | Observação DIC |
Contraste de interferência diferencial (DIC): uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado; é ideal para inspecionar amostras que possuem diferenças de altura muito pequenas, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais.
Liga de alumínio (campo claro/luz polarizada)
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Campo claro | Observação de luz polarizada |
Luz polarizada: uma técnica que realça a textura e o estado dos cristais de um material para visualizar estruturas metalúrgicas, como o padrão de crescimento de grafite em ferro fundido nodular e em minerais.
Dispositivo elétrico (campo claro/observação MIX)
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Campo claro | MIX: campo claro + campo escuro |
Observação MIX: combina campo claro e campo escuro para exibir a cor e a estrutura de uma amostra.
A imagem de observação MIX acima reproduz claramente a cor e a textura do dispositivo, assim como o estado da camada adesiva.