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显微镜解决方案

观察

先进的分析工具

GX53显微镜的各种观察功能可提供清晰、锐利的图像,让您能够对样品进行可靠的缺陷检测。PRECiV图像分析软件的新型照明技术和图像采集方案可为样品评估和结果记录提供更多选择。


高数值孔径和长工作距离相结合

物镜对显微镜的性能至关重要。新的MXPLFLN物镜通过同时实现数值孔径和工作距离最大化,为MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍时,分辨率越高,通常意味着工作距离越短,这会迫使样品或物镜在物镜交换过程中缩回。在许多情况下,MXPLFLN系列的3 mm工作距离消除了这一问题,使检查速度更快,物镜碰到样品的可能性更小。

工作距离为1 mm的传统物镜/工作距离为3 mm的MXPLFN20X物镜(数值孔径 0.6)

表

了解有关MXPLFLN物镜的更多信息>>


从不可见到可见:MIX技术

MIX技术将暗场与另一种观察方法(例如明场或偏振)相结合,使您能够查看传统显微镜难以观察的样品。圆形LED照明器具有定向暗场功能,可在指定时间照射一个或多个象限,减少样品的光晕,以便更好地观察表面纹理。

印刷电路板的横截面

印刷电路板的横截面 — 明场

印刷电路板的横截面 — 暗场

印刷电路板的横截面 — MIX

明场
基板层和通孔不可见。

暗场
痕迹不可见。

MIX:明场 + 暗场
所有组成部分均可清晰呈现。

不锈钢

不锈钢 — 明场

不锈钢 — 暗场

不锈钢 — MIX

明场
无法观察到纹理。

暗场象限
色彩信息被去除。

MIX:明场 + 暗场象限
材料色彩和纹理均可见。


轻松生成全景图像:即时MIA

使用多图像拼接(MIA)功能时,只需转动手动载物台上的XY旋钮即可轻松完成图像拼接 — 电动载物台为可选件。PRECiV软件采用模式识别生成全景图像,非常适合检查渗碳和金属流动情况。

螺栓的金属流动

使用XY旋钮调整载物台位置。

螺栓的金属流动

螺栓的金属流动 — 可观察到金属流动的全部情况。

使用XY旋钮调整载物台位置。

可以看到金属流动的全部情况。


生成全聚焦图像:EFI

PRECiV软件的景深扩展(EFI)功能可采集高度超出景深范围的样品图像。EFI可将这些图像堆叠在一起,生成样品的单幅全聚焦图像。即使分析表面不平整的横截面样品时,EFI也能创建全聚焦图像。

EFI配合手动或电动Z轴聚焦装置,可生成高度图像,对结构进行可视化观察。

树脂零件

使用对焦手柄调整物镜的高度。

EFI自动采集并堆叠多幅图像,生成样品的单幅全聚焦图像。

生成全聚焦图像。

使用对焦手柄调整物镜的高度。

EFI自动采集并堆叠多幅图像,生成样品的单幅全聚焦图像。

生成全聚焦图像。


利用HDR同时采集明亮区域和暗光区域

采用先进图像处理技术的高动态范围(HDR)可调整图像内的亮度差异,从而减少眩光。该功能还有助于增强低对比度图像的对比度。HDR可用于观察电子器件中的微小结构并识别金属晶界。

金板

部分区域存在眩光。

使用HDR可清晰呈现暗光区域和明亮区域。

部分区域存在眩光。

使用HDR可清晰呈现暗光区域和明亮区域。

铬扩散涂层

对比度低且不清晰。

使用HDR增强对比度。

对比度低且不清晰。

使用HDR增强对比度。


应用

使用不同观察方法所获得的效果示例。

经过抛光的AlSi样品(明场/暗场)

经过抛光的AlSi样品 — 明场

经过抛光的AlSi样品 — 暗场

明场

暗场

明场:一种常见的观察方法,通过直接照射样品观察其反射光。暗场:观察样品的散射光或衍射光,使微小划痕或瑕疵等缺陷清晰可见。

球墨铸铁(明场/DIC)

球墨铸铁 — 明场

球墨铸铁 — DIC

明场

DIC观察

差分干涉对比度(DIC):一种将样品高度以浮雕效果呈现类似于提高了对比度的3D图像的观察技术;非常适合用于观察金相结构和矿物等具有极其细微高度差的样品。

铝合金(明场/偏振光)

铝合金 — 明场

铝合金 — 偏振光观察

明场

偏振光观察

偏振光:一种能够突出材料纹理和晶体状态的观察技术,用于观察诸如球墨铸铁的石墨生长类型等金相结构和矿物。

电气设备(明场/MIX观察)

电气设备 — 明场

电气设备 — MIX

明场

MIX:明场 + 暗场

MIX观察:结合明场和暗场显示样品的颜色和结构。
上面的MIX观察图像清晰再现了设备的颜色和纹理以及粘合剂层的状况。


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