Rozwiązania z mikroskopami

Zastosowania

Matryca układu scalonego na waflu półprzewodnikowym

Obserwacja w ciemnym polu służy do wykrywania bardzo małych rys lub wad na próbce oraz do badania próbek o powierzchni lustrzanej, w tym wafli półprzewodnikowych.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno matryc, jak i kolorów.

Ciemne pole

Ciemne pole

MIX (jasne pole + ciemne pole)

MIX (jasne pole + ciemne pole)

Fluorescencja

Fluorescencja

MIX (fluorescencja + ciemne pole)

MIX (fluorescencja + ciemne pole)

Pozostałość fotomaski na waflu półprzewodnikowym

Technika fluorescencji jest używana w przypadku próbek emitujących światło po oświetleniu przez specjalnie zaprojektowaną kostkę filtrową. Służy ona do wykrywania zanieczyszczeń i pozostałości fotomaski.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno pozostałości fotomaski, jak i matrycy układu scalonego.

Filtr kolorów LCD

Ta technika obserwacji jest odpowiednia w przypadku próbek przezroczystych, takich jak wyświetlacze LCD, tworzywa sztuczne lub szkła.

Podświetlenie stosowane w metodzie obserwacji MIX umożliwia uwidocznienie zarówno koloru filtra, jak i matrycy układu.

Światło przechodzące

Światło przechodzące

MIX (światło przechodzące + jasne pole)

MIX (światło przechodzące + jasne pole)

Jasne pole

Jasne pole

Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC)

Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC)

Żeliwo z grafitem sferoidalnym

DIC to technika obserwacji, w której wysokość próbki jest widoczna jako relief, podobny do obrazu 3D ze wzmocnionym kontrastem; technika ta doskonale nadaje się do inspekcji próbek o minimalnych różnicach wysokości, w tym struktur metalurgicznych i minerałów.

Serycyt

Kontrast różnicowo-interferencyjny (DIC) to technika obserwacji, w której wysokość próbki, normalnie niewykrywalna w jasnym polu, jest widoczna jako relief, podobny do obrazu 3D ze wzmocnionym kontrastem. Technika ta doskonale nadaje się do inspekcji próbek o minimalnych różnicach wysokości, w tym struktur metalurgicznych i minerałów.

Jasne pole

Jasne pole

Światło spolaryzowane

Światło spolaryzowane

Podczerwień (IR)

Podczerwień (IR)

Pola kontaktowe na matrycy układu scalonego

Technika IR znajduje zastosowanie w badaniach defektów wewnątrz układów scalonych i innych wyrobów wykonanych przy użyciu technologii Silicon-on-Glass (SiOG).

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.

This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

OK