Solution microscopie
Applications

Voici une sélection d’exemples de ce que permettent d’obtenir les différentes méthodes d’observation.


Motif de circuit intégré sur une plaque de semi-conducteur

Fond noir

MIX (fond clair + fond noir)

Le fond noir est utilisé pour détecter des rayures ou des défauts minimes sur un échantillon et pour examiner les échantillons à surface miroir, dont les plaques de semi-conducteur (wafer).

L’illumination MIX permet de voir les couleurs et les motifs.


Résidu photorésistant sur une plaque semi-conducteur

Fluorescence

MIX (fluorescence + fond noir)

La fluorescence est utilisée pour les échantillons qui émettent de la lumière quand ils sont éclairés par un cube de filtre spécialement conçu. Cette méthode est utilisée pour rechercher la contamination et le résidu photorésistant.

L’illumination MIX permet l’observation du résidu photorésistant et du motif de circuit intégré.


Filtre de couleurs LCD

Lumière transmise

MIX (lumière transmise + fond clair)

Cette technique d’observation est appropriée aux échantillons transparents comme les LCD, les plastiques et le verre.

L’illumination MIX permet l’observation de la couleur du filtre et le motif du circuit.


Fonte à graphite sphéroïdal

Fond clair

Observation DIC

Le DIC est une technique d’observation microscopique dans laquelle la hauteur d’un échantillon est visible en relief, similaire à une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Elle est idéale pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur minimes, dont des structures métallurgiques et des minéraux.


Séricite

Fond clair

Lumière polarisée

Le DIC est une technique d’observation microscopique dans laquelle la hauteur d’un échantillon, généralement indétectable sur un fond clair, est visible en relief, similaire à une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Elle est idéale pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur minimes, comme les structures métallurgiques et les minéraux.


Collage de points sur un motif de circuit intégré

Infrarouge (IR)

Le mode IR est utilisé pour rechercher des défauts à l’intérieur des cartes à puce et d’autres objets en silicone sur verre.

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