Olympus Logo

Kontakt Kontakt

  • Produkte▾
    • ZfP-Lösungen▾
      • Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte▾
        • Ultraschallprüfgeräte
        • Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
        • Wirbelstromgeräte
        • Wirbelstrom-Array-Geräte
        • Bindungsprüfung
      • Dickenmesser▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Schallköpfe und Zubehör
      • Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren▾
        • Ultraschallköpfe
        • Wirbelstromsonden
        • Sensoren für die Röhrenprüfung
        • Phased-Array-Sensoren
        • BondMaster Probes
      • Automatisierte Prüfsysteme▾
        • Prüfsystem für Eisenbahnräder
        • Lösungen für die Stabprüfung
        • Lösungen für die Rohrprüfung
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • ZfP-Systemkomponenten▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Industriescanner für die zerstörungsfreie Prüfung▾
        • Scanner zur Schweißnahtprüfung
        • Scanner für die Korrosionsprüfung
        • Scanner für die Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
        • Scanner-Zubehör
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD▾
      • RFA-Handanalysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Kompakte und portable RFA-Analysatoren▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert für Verbrauchersicherheit und RoHS
      • Online RFA-Analysatoren▾
        • FOX-IQ
      • XRD-Analysatoren▾
        • Portabler TERRA XRD-Analysator
        • BTX XRD-Tischanalysator
      • OEM-Lösungen▾
        • X-STREAM
      • Anwendungsmöglichkeiten
      • Olympus Scientific Cloud
    • Mikroskop-Lösungen▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Konfokale Lasermikroskope▾
        • OLS5100
      • Digitale Mikroskope
      • Messmikroskope▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Inspector Serie für technische Sauberkeit▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Lichtmikroskope▾
        • Aufrechte Mikroskope
        • Inversmikroskope
        • Modular aufgebaute Mikroskope
      • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen▾
        • MX63 / MX63L
        • Al120
        • AL120-12
      • Stereomikroskope▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Digitalkameras▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Bildanalysesoftware▾
        • OLYMPUS Stream
      • Mikro-Spektrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objektive▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
        • Mikrometer
      • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten▾
        • Lösungen zur Geräteintegration
        • Objektive
        • Mikroskopstative
        • Superweitwinkel-Tubuslinse
        • Mikroskopmodule
        • Modulare Mikroskope
      • Microscope FAQ
    • Videoskope und Endoskope▾
      • Videoskopsysteme▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Sehr lange IPLEX Videoskopeinführungsteile
      • Glasfaser-Endoskope▾
        • Fiberskope mit geringem Durchmesser
      • Starre Industrie-Endoskope▾
        • Starre Standard-Endoskope
        • Schwenkprisma Endoskope
        • Zoom-Schwenkprisma Endoskope
        • MK modulares Mini-Endoskop
        • Endoskope für Triebwerke
      • Lichtquellen
      • Inspektions-Assistenz-Software▾
        • InHelp
  • Industriezweige
  • Blog
  • Multimedia
  • Servicebereich▾
    • Kontakt
    • Olympus Scientific Cloud
    • Training Academy
    • Customer Service
    • Servicecenter
    • Softwaredownloads
    • Produktinformation
    • Auslaufmodelle und veraltete Produkte
    • Product Service Termination List
    • ISO-Zertifikation
    • MSDS-Datenblätter
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Custom Financing Solutions
  • Rentals
  • Shop
  • Suche
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Lösungen für die Industrie
Mikroskop-Lösungen

MPLFLN-BDP

KontaktKontakt
Angebot anfordernAngebot anfordern
Demo anfordernTesten Sie Ihre AnwendungDemo anfordernTesten Sie Ihre Anwendung
Startseite/ Produkte/ Objektive/ MPLFLN-BDP
Loading...
  • Überblick
  • MPLFLN5xBDP
  • MPLFLN10xBDP
  • MPLFLN20xBDP
  • MPLFLN50xBDP
  • MPLFLN100xBDP

Überblick

M Plan SemiApochromat BDP MPLFLN-BDPOlympus' MPLFLN-BDP lens is a one of our semi apochromat MPLFLN-BD objectives, this universal series provides the highest optimal performance in polarized light and differential contrast observation.

M Plan Semi-Apochromat MPLFLN-BDP

  • Objective lenses dedicated to Brightfield, Darkfield, Differential Interference Contrast (DIC) and polarized light
  • Plan semi-apochromat objective lenses corrected for apochromatic aberration at a high level
  • A line-up of objective lenses from 5x through 100x with working distance of 1mm or more
  • Unified pupil position from 5x through 100x to eliminate the need for switching DIC prism when changing objective lenses

MPLFLN5xBDP

Specifications

Magnification [X] 5
Numerical aperture (NA) 0.15
Working distance (WD) [mm] 12
Objective Field Number 26.5
Immersion medium Air/Dry
Spring loaded N/A
Correction collar N/A
Correction range of correction collar N/A
Iris N/A
Correction level of chromatic aberration

Semi-apochromat
(FL)

Parfocalizing distance [mm] 45
Back focal plane (BFP) position -8.0
Type of screw thread W26X0.706
Brightfield(Reflected) Good
Brightfield(Transmitted) Good
Darkfield(Reflected) Good
Darkfield(Transmitted) N/A
DIC(Reflected) Good
DIC(Transmitted) N/A
Phase Contrast N/A
Relief Contrast N/A
Polarized Light Good
Fluorescence (B, G Excitation) Good
UV Fluorescence (at 365nm) Good
Multiphoton N/A
TIRF N/A
IR N/A
WLI N/A
Auto Focus N/A

Transmittance/Wavelength

Transmittance/Wavelength


Dimensions

MPLFLN5xBDP Dimensions

MPLFLN10xBDP

Specifications

Magnification [X] 10
Numerical aperture (NA) 0.25
Working distance (WD) [mm] 6.5
Objective Field Number 26.5
Immersion medium Air/Dry
Spring loaded N/A
Correction collar N/A
Correction range of correction collar N/A
Iris N/A
Correction level of chromatic aberration

Semi-apochromat
(FL)

Parfocalizing distance [mm] 45
Back focal plane (BFP) position -8.0
Type of screw thread W26X0.706
Brightfield(Reflected) Good
Brightfield(Transmitted) Good
Darkfield(Reflected) Good
Darkfield(Transmitted) N/A
DIC(Reflected) Good
DIC(Transmitted) N/A
Phase Contrast N/A
Relief Contrast N/A
Polarized Light Good
Fluorescence (B, G Excitation) Good
UV Fluorescence (at 365nm) Good
Multiphoton N/A
TIRF N/A
IR N/A
WLI N/A
Auto Focus N/A

Transmittance/Wavelength

Transmittance/Wavelength


Dimensions

MPLFLN10xBDP Dimensions

MPLFLN20xBDP

Specifications

Magnification [X] 20
Numerical aperture (NA) 0.4
Working distance (WD) [mm] 3
Objective Field Number 26.5
Immersion medium Air/Dry
Spring loaded N/A
Correction collar N/A
Correction range of correction collar N/A
Iris N/A
Correction level of chromatic aberration

Semi-apochromat
(FL)

Parfocalizing distance [mm] 45
Back focal plane (BFP) position -8.0
Type of screw thread W26X0.706
Brightfield(Reflected) Good
Brightfield(Transmitted) Good
Darkfield(Reflected) Good
Darkfield(Transmitted) N/A
DIC(Reflected) Good
DIC(Transmitted) N/A
Phase Contrast N/A
Relief Contrast N/A
Polarized Light Good
Fluorescence (B, G Excitation) Good
UV Fluorescence (at 365nm) Good
Multiphoton N/A
TIRF N/A
IR N/A
WLI N/A
Auto Focus N/A

Transmittance/Wavelength

Transmittance/Wavelength


Dimensions

MPLFLN20xBDP Dimensions

MPLFLN50xBDP

Specifications

Magnification [X] 50
Numerical aperture (NA) 0.75
Working distance (WD) [mm] 1
Objective Field Number 26.5
Immersion medium Air/Dry
Spring loaded N/A
Correction collar N/A
Correction range of correction collar N/A
Iris N/A
Correction level of chromatic aberration

Semi-apochromat
(FL)

Parfocalizing distance [mm] 45
Back focal plane (BFP) position -8.0
Type of screw thread W26X0.706
Brightfield(Reflected) Good
Brightfield(Transmitted) Good
Darkfield(Reflected) Good
Darkfield(Transmitted) N/A
DIC(Reflected) Good
DIC(Transmitted) N/A
Phase Contrast N/A
Relief Contrast N/A
Polarized Light Good
Fluorescence (B, G Excitation) Good
UV Fluorescence (at 365nm) N/A
Multiphoton N/A
TIRF N/A
IR N/A
WLI N/A
Auto Focus N/A

Transmittance/Wavelength

Transmittance/Wavelength


Dimensions

MPLFLN50xBDP Dimensions

MPLFLN100xBDP

Specifications

Magnification [X] 100
Numerical aperture (NA) 0.9
Working distance (WD) [mm] 1
Objective Field Number 26.5
Immersion medium Air/Dry
Spring loaded N/A
Correction collar N/A
Correction range of correction collar N/A
Iris N/A
Correction level of chromatic aberration Semi-apochromat
(FL)
Parfocalizing distance [mm] 45
Back focal plane (BFP) position -8.0
Type of screw thread W26X0.706
Brightfield(Reflected) Good
Brightfield(Transmitted) Good
Darkfield(Reflected) Good
Darkfield(Transmitted) N/A
DIC(Reflected) Good
DIC(Transmitted) N/A
Phase Contrast N/A
Relief Contrast N/A
Polarized Light Good
Fluorescence (B, G Excitation) Good
UV Fluorescence (at 365nm) N/A
Multiphoton N/A
TIRF N/A
IR N/A
WLI N/A
Auto Focus N/A

Transmittance/Wavelength

Transmittance/Wavelength


Dimensions

MPLFLN100xBDP Dimensions

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Kontakt

Please, choose division
Abonnieren Sie unseren e-Newsletter, um aktuelle Informationen über Sonderangebote, neue Produkte oder Anwendungen zu erhalten.

  • KontaktKontakt
  • Angebot anfordernAngebot anfordern
  • Demo anfordernTesten Sie Ihre AnwendungDemo anfordernTesten Sie Ihre Anwendung
  • Kontakt
  • ZfP-Lösungen
  • Analysatoren zur XRF (RFA) und XRD
  • Mikroskop-Lösungen
    • Scanning Probe Microscopy
    • Konfokale Lasermikroskope
    • Digitale Mikroskope
    • Messmikroskope
    • Inspector Serie für technische Sauberkeit
    • Lichtmikroskope
    • Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen
    • Stereomikroskope
    • Digitalkameras
    • Bildanalysesoftware
    • Mikro-Spektrophotometer
    • Objektive
      • MPLAPON
      • MPLAPON-Oil
      • MPLN
      • MPLN-BD
      • MPLFLN
      • MPLFLN-BD
      • MPLFLN-BDP
      • LMPLFLN
      • LMPLFLN-BD
      • SLMPLN
      • LCPLFLN-LCD
      • LMPLN-IR/LCPLN-IR
      • Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
      • Mikrometer
    • Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten
    • Microscope FAQ
  • Videoskope und Endoskope
  • Newsletter abonnieren
Startseite/ Produkte/ Objektive/ MPLFLN-BDP
Drucken

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Careers | Careers | Sitemap

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Alle Rechte vorbehalten.

Global | Nutzungsbedingungen | Datenschutzerklärung | Cookies | Über uns | Imprint | Careers | Careers | Sitemap

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Diese Seite verwendet Cookies, um die Leistung zu verbessern, Datenverkehr zu analysieren und Werbeanzeigen zu personalisieren. Wenn Sie Ihre Browser-Einstellungen nicht ändern, werden weiterhin Cookies auf dieser Webseite verwendet. Um zu erfahren wie Cookies auf dieser Webseite verwendet werden und wie Sie unsere Verwendung von Cookies beschränken, lesen Sie unsere Cookie-Richtlinie.

OK
Cancel

Redirecting...

You are being redirected to our local site.