Produits d’inspection Olympus
Solutions CND
- Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
- Mesureurs d’épaisseur portables
- Sondes
- Sondes à ultrasons
- Sondes d’angle
- Sondes Atlas adaptées aux exigences des normes européennes
- Sondes et sabots conformes aux normes AWS
- Sabots pour la recherche et l’évaluation de la taille des fissures
- Sondes de contact
- Sondes à ligne à retard
- Sonde à émission-réception séparées
- Sondes EMAT
- Sondes à haute fréquence
- Sondes d’immersion
- Sondes d’immersion spéciales
- Accessoires pour les sondes d’immersion
- Sondes d’angle fabriquées d’une seule pièce
- Sondes d’ondes transversales à incidence normale
- Sondes protégées
- Sondes RTD
- Applications spéciales
- Sondes pour l’inspection des soudures par points
- Sondes d’angle standard
- Diffraction en temps de vol
- Blocs étalons
- Câbles de sondes
- Couplant et adaptateurs
- Sondes à courants de Foucault
- Sondes pour l’inspection des tubes
- Sondes à ultrasons multiéléments
- EdgeFORM
- Sondes pour l'inspection des soudures
- Sondes Dual Matrix Array pour l’inspection des soudures
- Sondes Dual Linear Array pour l’inspection de la corrosion
- Sonde flexible à ultrasons multiéléments
- Manual Contact Probes
- Sondes ultrasons à petite empreinte
- Sondes ultrasons universelles
- Sondes ultrasons à champ proche
- Sondes ultrasons de pénétration profonde
- Sondes d’immersion
- Sondes multiéléments courbes
- Sabots de coin d’immersion pour les sondes multiéléments courbes
- Sondes ultrasons conformes aux normes avec sabot intégré
- Sabots
- Sondes HTHA
- Sondes BondMaster
- Sondes à ultrasons
- Systèmes intégrés d'inspection
- Appareils de CND pour systèmes industriels
- Scanners industriels
- Olympus Scientific Cloud
Analyseurs XRF et XRD
Microscopes industriels
- Scanning Probe Microscopy
- Microscopes confocaux à balayage laser
- Microscopes numériques
- Microscopes de mesure
- Système d’inspection de la propreté des composants
- Microscopes optiques
- Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
- Stéréomicroscopes
- Caméras numériques
- Logiciel d’analyse d’images
- Micro Spectrophotometer
- Objectifs
- Composants FEO intégrables pour microscope
- FAQ sur les microscopes
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