Olympus Logo

Pour nous contacter Pour nous contacter

  • Produits▾
    • Solutions de contrôle non destructif (CND)▾
      • Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments▾
        • Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
        • Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
        • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
        • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault multiéléments
        • Inspection d’assemblages composites
      • Mesureurs d’épaisseur portables▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna‑Mike 8600
        • 35RDC
        • Sondes et accessoires
      • Sondes▾
        • Sondes monoéléments et à émission-réception séparées
        • Sondes à courants de Foucault
        • Sondes pour l’inspection des tubes
        • Sondes à ultrasons multiéléments
        • Sondes BondMaster
      • Systèmes intégrés d'inspection▾
        • Système d’inspection de roues
        • Systèmes d’inspection de barres
        • Systèmes d’inspection de tubes
        • Système pour l’inspection des soudures réalisées par friction-malaxage (FSW)
      • Composants pour systèmes industriels de CND ▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Scanners industriels pour le contrôle non destructif (CND)▾
        • Scanners pour l’inspection des soudures
        • Scanners pour le contrôle de la corrosion
        • Scanners pour l’inspection des composants d’aéronefs et des pales d’éolienne
        • Accessoires pour scanners
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analyseurs XRF et XRD▾
      • Analyseurs XRF portables▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analyseurs XRF portables et compacts▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Analyseur Xpert pour la sécurité des produits de consommation et la conformité RoHS
      • Analyseurs XRF sur ligne de production▾
        • Vanta iX
      • Analyseurs XRD▾
        • Analyseur XRD portable TERRA II
        • Analyseur XRD de paillasse BTX™ III
      • Solutions intégrant des composants d’origine (OEM)▾
        • Système XRF de tri et de recyclage X-Stream
      • Tableau des applications et solutions XRD et XRF
      • Olympus Scientific Cloud
    • Solution microscopie▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Microscopes confocaux à balayage laser▾
        • OLS5100
      • Microscopes numériques
      • Microscopes de mesure▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Système d’inspection de la propreté des composants▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopes optiques▾
        • Microscopes droits
        • Microscopes inversés
        • Microscopes modulaires
      • Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats▾
        • MX63/MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Stéréomicroscopes▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Caméras numériques▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • Logiciel d’analyse d’images▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objectifs▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Composants de microscope FEO intégrables▾
        • Solutions d’intégration des équipements
        • Lentilles d’objectifs
        • Statifs de microscope optique
        • Lentille de tube super large
        • Modules de microscope optique
        • Ensembles de microscopes modulaires
      • Foire aux questions sur le microscope
    • Vidéoscopes et endoscopes▾
      • Vidéoscopes▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Solutions IPLEX à longue sonde
      • Fibroscopes▾
        • Fibroscopes de petit diamètre
      • Endoscopes industriels▾
        • Boroscopes rigides standards
        • Boroscopes rigides à prisme variable
        • Boroscopes à prisme variable avec zoom
        • Boroscopes miniatures modulaires MK
        • Boroscopes pour l’inspection des turbomoteurs d’aéronefs
      • Sources lumineuses
      • Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance▾
        • InHelp
  • Industries
  • Learn
  • Blogue InSight
  • Ressources
  • Assistance technique▾
    • Nous contacter
    • Service à la clientèle
    • XRF and XRD Technical Support
    • Centres de service
    • Services financiers personnalisés
    • Same Day Shipping Program
    • Olympus Scientific Cloud
    • Téléchargements de logiciels
    • Certifications ISO
    • Fiches de données de sécurité
    • Conformité et éthique chez Olympus
    • Informations sur les produits
    • Product Service Termination List
    • Produits abandonnés ou obsolètes
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Boutique en ligne
  • Chercher
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Solutions industrielles

Produits d’inspection Olympus

Page d’accueil/ Produits

Solutions CND

  • Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
    • Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
      • EPOCH 6LT
      • EPOCH 1000
      • EPOCH 650
      • OmniScan X3
      • OmniScan MX2 UT/TOFD
      • OmniScan SX
      • Sondes
      • EPOCH 6LS
    • Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
      • OmniScan X3
      • OmniScan MX2
      • OmniScan SX
      • EPOCH 1000
      • Logiciel OmniPC
      • Logiciel Automated Detection Technology (ADT)
      • Logiciel NDT SetupBuilder
      • Logiciel TomoView
      • FOCUS PX / PC / SDK
      • PipeWIZARD
    • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
      • OmniScan MX ECA/ECT
      • NORTEC 600
      • Scanners rotatifs pour l’inspection des trous de boulons
      • Sondes à courants de Foucault
      • MultiScan MS5800 pour l’inspection des tubes
      • Sondes pour l'inspection des tubes
    • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault multiéléments
      • OmniScan MX ECA/ECT
    • Inspection d’assemblages composites
      • OmniScan MX ECA/ECT
      • BondMaster 600
      • 35RDC
      • Sondes BondMaster
  • Mesureurs d’épaisseur portables
    • 27MG
    • 45MG
    • 38DL PLUS
    • Magna‑Mike 8600
    • 35RDC
    • Sondes et accessoires
  • Sondes
    • Sondes monoéléments et à émission-réception séparées
      • Sondes à faisceau angulaire
      • Sondes Atlas adaptées aux exigences des normes européennes
      • Sondes et sabots conformes aux normes AWS
      • Sabots pour la recherche et l’évaluation de la taille des fissures
      • Sondes de contact
      • Sondes à ligne à retard
      • Sonde à émission-réception séparées
      • Sondes EMAT
      • Sondes à haute fréquence
      • Sondes d’immersion
      • Sondes d’immersion spéciales
      • Accessoires pour les sondes d’immersion
      • Sondes d’angle fabriquées d’une seule pièce
      • Sondes d’ondes transversales à incidence normale
      • Sondes protégées
      • Sondes RTD
      • Applications spéciales
      • Sondes pour l’inspection des soudures par points
      • Sondes d’angle standard
      • Diffraction en temps de vol
      • Blocs étalons
      • Câbles de sonde
      • Couplant et adaptateurs
    • Sondes à courants de Foucault
    • Sondes pour l’inspection des tubes
    • Sondes à ultrasons multiéléments
      • EdgeFORM
      • Gamme de sondes pour l’inspection des soudures
      • Sondes Dual Linear Array pour l’inspection des soudures
      • Sondes Dual Linear Array pour l’inspection de la corrosion
      • Sonde flexible à ultrasons multiéléments
      • Manual Contact Probes
      • Sondes ultrasons à petite empreinte
      • Sondes ultrasons universelles
      • Sondes ultrasons à champ proche
      • Sondes ultrasons de pénétration profonde
      • Sondes d’immersion
      • Sondes multiéléments courbes
      • Sabots de coin d’immersion pour les sondes multiéléments courbes
      • Sondes ultrasons conformes aux normes avec sabot intégré
      • Sabots
      • Sondes HTHA
    • Sondes BondMaster
  • Systèmes intégrés d'inspection
    • Système d’inspection de roues
    • Systèmes d’inspection de barres
      • Système d’inspection de barres par ultrasons multiéléments (BIS PA)
      • Système d’inspection de barres par courants de Foucault (BIS ECA)
      • Système rotatif d’inspection de barres (RBIS)
      • FOX-IQ
    • Systèmes d’inspection de tubes
      • Système rotatif d'inspection de tubes (RTIS)
      • Tubes soudés par résistance électrique : inspection sur ligne de production
      • Tubes soudés par résistance électrique : inspection en mode analyse
      • FOX-IQ
      • PipeWIZARD
      • Système d’inspection de soudures longitudinales à l’arc submergé
      • Tube End Inspection System (TEIS)
    • Système pour l’inspection des soudures réalisées par friction-malaxage (FSW)
  • Composants pour systèmes industriels de CND
    • FOCUS PX / PC / SDK
    • QuickScan
  • Scanners industriels pour le contrôle non destructif (CND)
    • Scanners pour l’inspection des soudures
      • AxSEAM
      • SteerROVER
      • WeldROVER
      • HST-Lite
      • Mini-Wheel
      • Scanner COBRA
      • HSMT-Compact
      • HSMT-Flex
      • HST-X04
      • VersaMOUSE
    • Scanners pour le contrôle de la corrosion
      • Scanner FlexoFORM
      • SteerROVER
      • MapSCANNER
      • MapROVER
      • HydroFORM/RexoFORM
      • ChainSCANNER
      • Scanner GLIDER
      • VersaMOUSE
      • Mini-Wheel
    • Scanners pour l’inspection des composants d’aéronefs et des pales d’éolienne
      • Scanner RollerFORM
      • Codeur Mini-Wheel
      • GLIDER
      • VersaMOUSE
    • Accessoires pour scanners
      • Unité d’alimentation en couplant
      • Préamplificateur-émetteur à distance TRPP 5810
      • Couplant élastomère
      • Interbox
      • PR-06-04 – Émetteur-préamplificateur pour l’inspection par réflexion
  • Olympus Scientific Cloud

Analyseurs XRF et XRD

  • Analyseurs XRF portables
    • Vanta
    • Vanta Element
    • DELTA Professional
  • Analyseurs XRF portables et compacts
    • Vanta
    • Vanta Element
    • GoldXpert
    • Analyseur Xpert pour la sécurité des produits de consommation et la conformité RoHS
  • Analyseurs XRF sur ligne de production
    • Vanta iX
      • Vue d'ensemble
      • Caractéristiques techniques
      • Ressources
  • Analyseurs XRD
    • Analyseur XRD portable TERRA II
    • Analyseur XRD de paillasse BTX™ III
  • Solutions intégrant des composants d’origine (OEM)
    • Système XRF de tri et de recyclage X-Stream
  • Tableau des applications et solutions XRD et XRF
  • Olympus Scientific Cloud

Microscopes industriels

  • Scanning Probe Microscopy
    • OLS4500
  • Microscopes confocaux à balayage laser
    • OLS5100
  • Microscopes numériques
  • Microscopes de mesure
    • STM7
    • STM7-BSW
  • Système d’inspection de la propreté des composants
    • OLYMPUS CIX100
  • Microscopes optiques
    • Microscopes droits
      • BX53M
    • Microscopes inversés
      • Solutions de microscopie inversée
      • GX53
    • Microscopes modulaires
      • BXFM-A
      • BXFM
      • BXFM-S
  • Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
    • MX63/MX63L
    • AL120
    • AL120-12
  • Stéréomicroscopes
    • SZX16
    • SZX10
    • SZX7
    • SZ61/SZ51
  • Caméras numériques
    • DP28
    • DP74
    • SC180
    • DP23
    • LC30
    • XM10
    • XM10IR
  • Logiciel d’analyse d’images
    • OLYMPUS Stream
  • Micro Spectrophotometer
    • USPM-RU-W
    • USPM-RU III
  • Objectifs
    • MPLAPON
    • MPLAPON-Oil
    • MPLN
    • MPLN-BD
    • MPLFLN
    • MPLFLN-BD
    • MPLFLN-BDP
    • LMPLFLN
    • LMPLFLN-BD
    • SLMPLN
    • LCPLFLN-LCD
    • LMPLN-IR/LCPLN-IR
    • White Light Interferometry Objective
    • Micrometer
  • Composants de microscope FEO intégrables
    • Solutions d’intégration des équipements
    • Lentilles d’objectifs
    • Statifs de microscope optique
    • Lentille de tube super large
    • Modules de microscope optique
    • Ensembles de microscopes modulaires
  • Foire aux questions sur le microscope

Vidéoscopes, Boroscopes

  • Vidéoscopes
    • IPLEX NX
    • IPLEX GAir
    • IPLEX GX/GT
    • IPLEX G Lite
    • IPLEX TX
    • Solutions IPLEX à longue sonde
  • Fibroscopes
    • Fibroscopes de petit diamètre
  • Endoscopes industriels
    • Boroscopes rigides standards
    • Boroscopes rigides à prisme variable
    • Boroscopes à prisme variable avec zoom
    • Boroscopes miniatures modulaires MK
    • Boroscopes pour l’inspection des turbomoteurs d’aéronefs
  • Sources lumineuses
  • Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance
    • InHelp
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Pour nous contacter
  • Solutions de contrôle non destructif (CND)
  • Analyseurs XRF et XRD
  • Solution microscopie
  • Vidéoscopes et endoscopes
  • S'abonner à la Newsletter
Page d’accueil/ Produits
Imprimer

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | | À notre sujet | Carrières | Carrières | Plan du site

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | | À notre sujet | Imprint | Carrières | Carrières | Plan du site

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting

You are being redirected to our local site.