Contactez-nous
Contactez-nous
Produits
▾
Solutions de contrôle non destructif (CND)
▾
Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
▾
Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
Produits de courants de Foucault multiéléments
Inspection d’assemblages composites
Mesureurs d’épaisseur portables
▾
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna‑Mike 8600
35RDC
Sondes et accessoires
72DL PLUS
Sondes
▾
Sondes monoéléments et à émission-réception séparées
Sondes à courants de Foucault
Sondes pour l’inspection des tubes
Sondes à ultrasons multiéléments
Sondes BondMaster
Systèmes intégrés d'inspection
▾
Système d’inspection de roues de train
Systèmes d’inspection de barres
Systèmes d’inspection de tubes
Système pour l’inspection des soudures réalisées par friction-malaxage (FSW)
Composants pour systèmes industriels de CND
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Scanners industriels de contrôle non destructif (CND)
▾
Scanners pour l’inspection de soudures
Scanners pour le contrôle de la corrosion
Scanners pour l’industrie aérospatiale
Accessoires pour scanners
Olympus Scientific Cloud
Software
▾
Logiciel WeldSight™
Logiciel TomoView
Logiciel NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Logiciel OmniPC 4
Analyseurs XRF et XRD
▾
Analyseurs XRF portables
▾
Vanta
Vanta Element
Analyseurs XRF portables et compacts
▾
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
Analyse XRF sur lignes de production
Solutions intégrant des composants d’origine (OEM)
▾
Système XRF de tri et de recyclage X-Stream
Applications et solutions principales
Olympus Scientific Cloud
Microscopes industriels
▾
Microscopes confocaux à balayage laser
▾
OLS5100
Microscopes numériques
▾
Microscopes numériques
Microscopes de mesure
▾
STM7
STM7-BSW
Systèmes de contrôle de la propreté des composants
▾
CIX100
Microscopes optiques
▾
Microscopes droits
Microscopes inversés
Microscopes modulaires
Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
▾
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopes à réalité augmentée (RA)
▾
SZX-AR1
Stéréomicroscopes
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Caméras numériques
▾
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Logiciels d’analyse d’images
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objectifs
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Composants de microscope OEM intégrables
Foire aux questions sur le microscope
Solutions sur mesure
Solutions personnalisées
▾
Semiconductor Microscopes
Vidéoscopes et endoscopes
▾
Vidéoscopes
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite et IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Solutions IPLEX à longue sonde
Fibroscopes
▾
Fibroscopes de petit diamètre
Sources lumineuses
Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance
▾
InHelp
Industries
Documentation
Apprendre
Blogue
Assistance
▾
Nous contacter
Consultation Reception about Introduction
Service à la clientèle
Soutien technique en XRF et XRD
Service Solutions
▾
Overview
Centres de services
Services financiers personnalisés
Olympus Scientific Cloud
Téléchargements de logiciels
Manuels de l’utilisateur
Certifications ISO
Fiches de données de sécurité
Conformité et éthique chez Evident
Informations sur les produits
Product Service Termination List
Produits abandonnés ou obsolètes
▾
MultiScan MS5800 pour l’inspection des tubes
▾
Logiciel MultiView
Logiciel TubePro
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
Applicable products for safety leaflet (IE)
Rentals
Boutique
Carrières
Chercher
My Account
IMS Log in
IMS Registration
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Cloud Log in
Cloud Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Solutions industrielles
Carrières
Carrières
Produits d’inspection Olympus
Page d’accueil
/
Produits
Solutions CND
Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
EPOCH 6LT
EPOCH 650
Sondes
EPOCH 6LS
Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
OmniScan X3 et OmniScan X3 64
OmniScan MX2
OmniScan SX
FOCUS PX / PC / SDK
PipeWIZARD
Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
NORTEC 600
Scanners rotatifs pour l’inspection des trous de boulons
Sondes d’inspection de tubes
Produits de courants de Foucault multiéléments
OmniScan MX ECA/ECT
Sondes à courants de Foucault
Inspection d’assemblages composites
BondMaster 600
Sondes BondMaster
35RDC
Mesureurs d’épaisseur portables
27MG
45MG
38DL PLUS
Magna‑Mike 8600
35RDC
Sondes et accessoires
72DL PLUS
Sondes
Sondes monoéléments et à émission-réception séparées
Sondes à faisceau angulaire
Sondes Atlas satisfaisant aux normes européennes
Sondes et sabots AWS
Sabots CDS
Sondes de contact
Sondes à ligne à retard
Sonde à émission-réception séparées
Sondes EMAT
Sondes à haute fréquence
Sondes d’immersion
Sondes d’immersion spéciales
Accessoires pour les sondes d’immersion
Sondes à faisceau angulaire avec sabot intégré
Sondes à ondes transversales d’incidence normale
Sondes à face protégée
Sondes RTD
Applications spéciales
Sondes pour l’inspection des soudures par points
Sondes à faisceau angulaire standard
TOFD
Blocs étalons
Câbles de sonde
Liquides de couplage et adaptateurs
Sondes à courants de Foucault
Sondes pour l’inspection des tubes
Sondes à ultrasons multiéléments
Sonde multiélément EdgeFORM
Gamme de sondes pour l’inspection des soudures
Sondes à réseau double pour l’inspection des soudures
Sondes Dual Linear Array pour l’inspection de la corrosion
Sonde multiélément flexible
Sondes de contact manuelles
Sondes à surface de contact restreinte
Sondes ultrasons universelles
Sondes à faibles zones mortes
Sondes à ultrasons de pénétration profonde
Sondes d’immersion
Sondes à ultrasons courbes
Sabots adaptés aux sondes multiéléments courbes pour l’inspection en immersion des coins
Sondes avec sabot intégré respectant les normes de l'industrie
Sabots
Sondes HTHA
Sabot RexoFORM
Sondes BondMaster
Systèmes intégrés d'inspection
Système d’inspection de roues de train
Systèmes d’inspection de barres
Système d’inspection de barres (BIS) — Technologie par ultrasons multiéléments
Système d’inspection de barres (BIS) – Technologie par courants de Foucault multiéléments (ECA)
Système pour l’inspection par rotation des billettes (RBIS)
FOX-IQ
Système d’inspection de billettes carrées (SBIS)
Systèmes d’inspection de tubes
Système d’inspection de tubes par rotation (RTIS)
Système d’inspection sur ligne de production de tubes soudés par résistance électrique (ERW)
Système d’inspection à haute température sur ligne de production de tubes soudés par résistance électrique
Tubes soudés par résistance électrique : inspection en mode analyse
FOX-IQ
PipeWIZARD
Système d’inspection de soudures longitudinales à l’arc submergé
Système d’inspection des extrémités de tube (TEIS)
Système pour l’inspection des soudures réalisées par friction-malaxage (FSW)
Composants pour systèmes industriels de CND
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
Scanners industriels de contrôle non destructif (CND)
Scanners pour l’inspection de soudures
Scanner AxSEAM
SteerROVER
WeldROVER
Scanner HST-Lite
Mini-Wheel
Scanner COBRA
HSMT-Compact
HSMT-Flex
HST-X04
VersaMOUSE
Codeur à fil
Scanners pour le contrôle de la corrosion
Scanner FlexoFORM
SteerROVER
MapSCANNER
Scanner MapROVER
Scanner HydroFORM
ChainSCANNER
GLIDER
VersaMOUSE
Mini-Wheel
Scanners pour l’industrie aérospatiale
RollerFORM
Codeur Mini-Wheel
GLIDER
VersaMOUSE
Accessoires pour scanners
Unités d’alimentation en couplant CFU
Émetteur-préamplificateur à distance TRPP 5810
Matériau de couplage élastomère Aqualene
Interbox
Olympus Scientific Cloud
Software
Logiciel WeldSight™
Logiciel TomoView
Logiciel TomoVIEWER
Logiciel NDT SetupBuilder
OmniScan MX2 and SX Software
Logiciel OmniPC 4
Analyseurs XRF et XRD
Analyseurs XRF portables
Vanta
Vanta Element
Analyseurs XRF portables et compacts
Vanta
Vanta Element
Vanta™ GX
Analyse XRF sur lignes de production
Solutions intégrant des composants d’origine (OEM)
Système XRF de tri et de recyclage X-Stream
Applications et solutions principales
Olympus Scientific Cloud
Microscopes industriels
Microscopes confocaux à balayage laser
OLS5100
Microscopes numériques
Microscopes numériques
Microscopes de mesure
STM7
STM7-BSW
Systèmes de contrôle de la propreté des composants
CIX100
Microscopes optiques
Microscopes droits
BX53M
Microscopes inversés
Solutions de microscopie inversée
GX53
Microscopes modulaires
BXFM
BXFM-S
BXC Series
Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
MX63 / MX63L
AL120
AL120-12
Microscopes à réalité augmentée (RA)
SZX-AR1
Stéréomicroscopes
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Caméras numériques
DP28
DP74
SC180
DP23
LC35
DP23M
Logiciels d’analyse d’images
PRECiV
Stream Enterprise
Micro Spectrophotometer
USPM-RU-W
Objectifs
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
MPLFLN-BDP
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
White Light Interferometry Objective
Micrometer
Composants de microscope OEM intégrables
Foire aux questions sur le microscope
Solutions sur mesure
Solutions personnalisées
Semiconductor Microscopes
Vidéoscopes et boroscopes
Vidéoscopes
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite et IPLEX G Lite-W
IPLEX TX
Solutions IPLEX à longue sonde
Fibroscopes
Fibroscopes de petit diamètre
Sources lumineuses
Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance
InHelp
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Contactez-nous
Solutions de contrôle non destructif (CND)
Analyseurs XRF et XRD
Microscopes industriels
Vidéoscopes et endoscopes
S'abonner à la newsletter
Page d’accueil
/
Produits
Imprimer
Search
Cancel
Redirecting
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country