- Vue d’ensemble
- Configurations
- Facilité d’utilisation
- Fonctionnalité
- Qualité d’image
- Utilisations
- Caractéristiques techniques
- Ressources
Vue d’ensemble
Simplifier les observations complexes en microscopieConçue pour offrir une excellente modularité, la série BX3M offre une grande polyvalence pour une large gamme d’applications dans l’industrie et en science des matériaux. Grâce à l’intégration améliorée avec le logiciel PRECiV, le BX53M offre un flux de travaux continu pour les utilisateurs de la microscopie standard et de l’imagerie numérique, aussi bien pour l’observation que pour la création de rapports. Faites l’expérience du BX53M |  |
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 | Choisir le meilleur modèleGrâce aux six configurations suggérées pour le BX53M, vous disposez d’une grande flexibilité pour choisir les caractéristiques dont vous avez besoin.
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Ergonomiques et faciles à utiliserLe BX53M simplifie les tâches de microscopie complexes grâce à ses commandes bien conçues et faciles à utiliser. Les utilisateurs peuvent exploiter tout le potentiel du microscope sans qu’il ne soit nécessaire de suivre une formation approfondie. Le fonctionnement facile et ergonomique du BX53M améliore également la reproductibilité en réduisant au minimum l’erreur humaine.
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 | FonctionnelLe BX53M conserve les méthodes de contraste habituelles utilisées en microscopie classique, comme le fond clair, le fond noir, la lumière polarisée et le contraste interférentiel différentiel. Alors qu’un nombre croissant de nouveaux matériaux sont en cours de développement, une grande partie des difficultés associées à la détection des défauts au moyen des méthodes de contraste standard peuvent être résolues grâce à l’utilisation de techniques de microscopie avancées, lesquelles permettent des inspections plus précises et plus fiables. Les nouvelles techniques d’éclairage et options d’acquisition d’images avec le logiciel d’analyse d’images PRECiV offrent aux utilisateurs davantage de possibilités pour évaluer leurs échantillons et documenter leurs résultats.
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Composants optiques de pointeForte de son expérience en matière de développement de systèmes optiques de pointe, Olympus est capable de proposer des microscopes offrant une qualité optique et une précision de mesure inégalées.
Voir plus | Contrôle des aberrations de front d’onde
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Configurations
Concept de système modulaire de grande fiabilité
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| Utilisation générale | Utilisation spécialisée | |||||||||
BasiqueConfiguration simple avec fonctions de base | StandardFacile à utiliser avec des mises à jour polyvalentes | AvancéInclut de nombreuses fonctionnalités de pointe | FluorescenceConvient particulièrement pour | InfrarougeConçu pour utiliser le mode infrarouge pour inspecter des circuits intégrés | Lumière polariséeConçu pour l’observation de caractéristiques de biréfringence | |||||
Filtre de couleur LCD |
Microstructure avec grains ferritiques |
Fil de cuivre d’une bobine |
Résistance sur un motif de circuit intégré |
Motif de circuit intégré à couches de silicium |
Amiante | |||||
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Voir le tableau des caractéristiques techniques
| Basique | Standard | Avancé | Fluorescence | Infrarouge | Lumière polarisée | |
| Statif de microscope | Lumière réfléchie (R) ou Lumière réfléchie (R)/transmise (T) | Lumière réfléchie (R) ou Lumière réfléchie (R)/transmise (T) | Lumière réfléchie (R) | Lumière transmise (T) | ||
| De série | R-BF ou T-BF | R-BF ou T-BF ou DF | R-BF ou T-BF ou DF or MIX | R-BF ou T-BF ou DF ou FL | R-BF ou IR | T-BF ou POL |
| Option | CID | CID/MIX | CID | CID/MIX | － | － |
| Illuminateur simple | － |  | | － | － | － |
| Légende de l’ouverture | － | | | | － | |
| Matériel codé | － | | | | － | |
| Indice de l’échelle de mise au point | | | | | | |
| Gestionnaire d’intensité lumineuse | | | | － | － | |
| Opération avec interrupteur |  | | | | － | － |
| Observation MIX | | | | | － | － |
| Objectifs | Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos utilisations | Au choix parmi 3 objectifs en fonction de vos utilisations | Objectifs pour IR | Objectifs pour POL | ||
| Platine | Choisissez parmi 5 platines selon la taille de vos échantillons | Choisissez parmi 5 platines selon la taille de vos échantillons | Platine pour POL | |||
MÉTHODE D’OBSERVATIONR-BF : Fond clair (Lumière réfléchie) * La méthode T-BF peut être utilisée lorsque le statif de microscope « Lumière réfléchie (R)/transmise (T) » est sélectionné.
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Exemples de configurations pour les sciences des matériauxLa conception modulaire permet d’adapter le système aux besoins des utilisateurs. |
Combinaison du BX53M en lumière réfléchie et réfléchie/transmiseIl existe deux types de statifs de microscope pour la série BX3M, l’un pour la lumière réfléchie uniquement, et l’autre pour les lumières réfléchie et transmise. Les deux statifs peuvent être configurés avec des composants manuels, à codage spécifique ou motorisés. Les statifs sont équipés de la fonctionnalité DES pour protéger les échantillons électroniques. |
Exemple de configuration du BX53MRF-S |
Exemple de configuration du BX53MTRF-S |
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 | BX53M : système combiné de microscopie infrarouge (IR)Des objectifs IR peuvent être utilisés pour les applications d’inspection, de mesure et de traitement de semi-conducteurs, lorsque l’imagerie à travers le silicone est requise pour l’affichage du motif. Les objectifs à infrarouge (IR) de X5 à X100 sont disponibles avec une correction d’aberration chromatique depuis les longueurs d’onde de la lumière visible à celles de l’infrarouge. Pour le travail à grossissement élevé, la rotation de la bague de correction de la série d’objectifs LCPLNIR permet de corriger les aberrations causées par l’épaisseur de l’échantillon. Un seul objectif permet d’obtenir une image nette. Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs IR |
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BX53M : système combiné de microscopie à lumière polariséeLes objectifs du système combiné BX53M de microscopie à lumière polarisée fournissent aux géologues les outils dont ils ont besoin pour l’imagerie en lumière polarisée à contraste élevé. Dans le cadre d’utilisations telles que l’identification des minéraux, l’étude des caractéristiques optiques de cristaux et l’observation de sections de roche solide, les utilisateurs bénéficient de la stabilité du système et de la précision de l’alignement optique. |
Configuration orthoscopique du BX53-P |
Configuration conoscopique/orthoscopique du BX53-P |
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Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiquesGrâce à l’accessoire d’observation conoscopique U-CPA, le basculement entre l’observation orthoscopique et l’observation conoscopique est simple et rapide. La mise au point est réglable pour distinguer clairement les structures d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ de la lentille de Bertrand permet d’obtenir de façon constante des images conoscopiques claires et nettes. |  |
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 | Une large gamme de compensateurs et de lames d’ondeSix compensateurs différents sont disponibles pour les mesures de la biréfringence dans les fines sections de roche et de minéraux. La gamme des niveaux de mesure de retardement est de 0 à 20λ. Pour une mesure facilitée et un contraste d’image élevé, il est possible d’utiliser les compensateurs de Berek et de Senarmont, qui peuvent modifier le niveau de retard dans tout le champ d’observation. |
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Plage de mesure des compensateurs
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*R = niveau de retard |
Objectifs sans contrainteGrâce à la conception sophistiquée et à la technologie de fabrication d’Olympus, les objectifs sans contrainte l’UPLFLN-P réduisent la contrainte interne au minimum. Ils apportent ainsi une valeur d’EF supérieure, ce qui se traduit par un excellent contraste d’image. | Cliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs UPLFLN-PCliquez ici pour en savoir plus sur les objectifs PLN-P/ACHN-P |
 | Système BXFMLe système BXFM peut être adapté pour des utilisations spéciales ou intégré à d’autres instruments. La conception modulaire permet une adaptation directe aux environnements et aux configurations uniques, avec différents petits illuminateurs spéciaux et montures de fixation. |
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Conception modulaire : configurez votre propre système |
Statifs de microscopeIl existe deux statifs de microscope pour l’éclairage en réflexion ; l’un offre également une possibilité d’éclairage en transmission. Un adaptateur permet d’élever l’illuminateur pour accueillir des échantillons plus hauts.
Accessoires pratiques pour usage en microscopie
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SoclesPour les applications de microscopie dans lesquelles l’échantillon ne tient pas sur une platine, l’illuminateur et les optiques peuvent être montés sur une platine plus grande ou sur une autre partie de l’équipement. Configuration d’illuminateur BXFM + BX53M
Configuration d’illuminateur BXFM + U-KMAS
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Têtes d’observationPour l’imagerie au microscope à l’aide d’oculaires ou pour l’observation par caméra, sélectionnez les têtes d’observation selon le type d’imagerie et la position de l’opérateur pendant l’observation.
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IlluminateursLe projecteur de lumière projette la lumière sur l’échantillon selon la méthode d’observation sélectionnée. Le logiciel identifie le code spécifique des illuminateurs, localise la position du bloc et reconnaît automatiquement la méthode d’observation. |  |
| Fonction codée | Source de lumière | BF | DF | CID | POL | IR | FL | MIX | AS/FS | ||
| 1 | BX3M-RLAS-S | 3 positions de cube fixes | DEL — intégrée | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ |
| 2 | BX3M-URAS-S | 4 positions de cube ajustables | DEL | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ |
| Halogène | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | |||
| Guide fibré lumière/Mercure | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | ■ | |||
| 3 | BX3M-RLA-S | DEL | ■ | ■ | ■ | ■ | － | － | ■ | ■ | |
| Halogène | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | － | ■ | ■ | |||
| 4 | BX3M-KMA-S | DEL — intégrée | ■ | － | ■ | ■ | － | － | ■ | － | |
| 5 | BX3-ARM | Bras mécanique pour observation en transmission | |||||||||
| 6 | U-KMAS | DEL | ■ | － | ■ | ■ | － | － | ■ | － | |
| Halogène | ■ | － | ■ | ■ | ■ | － | ■ | － | |||
Sources de lumièreSources de lumière et blocs d’alimentation utilisés pour l’éclairage des échantillons. Choisissez la source de lumière appropriée pour la méthode d’observation. |  |
Configuration de source de lumière DEL standard
Configuration de source de lumière de fluorescence
| Configuration de source de lumière halogène et infrarouge halogène
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Tourelles porte-objectifsFixation pour objectifs et glissières. Effectuez votre sélection selon le nombre d’objectifs nécessaires et leurs types ; également avec/sans glissière. |  |
| Type | Orifices | BF (fond clair) | DF | CID | MIX | ESD |
Nombre d’orifices
trous de centrage | ||
| 1 | U-P4RE | Manuel | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
| 2 | U-5RE-2 | Manuel | 5 | ■ | |||||
| 3 | U-5RES-ESD | Codé | 5 | ■ | ■ | ||||
| 4 | U-D6RE | Manuel | 6 | ■ | ■ | ||||
| 5 | U-D6RES | Codé | 6 | ■ | ■ | ||||
| 6 | U-D5BDREMC | Motorisé | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 7 | U-D6BDRE | Manuel | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
| 8 | U-D5BDRES-ESD | Codé | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 9 | U-D6BDRES-S | Codé | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 10 | U-D6REMC | Motorisé | 6 | ■ | ■ | ||||
| 11 | U-D6BDREMC | Motorisé | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
| 12 | U-D5BDREMC-VA | Motorisé | 5 | ■ | ■ |
GlissièresUtilisez la glissière pour compléter l’observation en fond clair classique. La glissière CID fournit des informations topographiques sur l’échantillon avec des options pour optimiser le contraste ou la résolution. La glissière MIX fournit une grande flexibilité d’éclairage grâce à une source lumineuse à DEL segmentée intégrée dans la trajectoire du fond noir. |  |
Glissière DIC
Glissière MIX
| Câble
* MIXR uniquement |
Consoles de commande et interrupteursConsoles de connexion du microscope à un PC et interrupteurs de contrôle des éléments du microscope et de réglage de l’affichage. Configuration BX3M-CB (CBFM)
Câble
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PlatinesPlatines et supports de platine pour placement d’échantillon. Effectuez votre choix selon la forme et la taille de l’échantillon. |  |
Configuration de platine 150 mm × 100 mm
Configuration de platine 76 mm × 52 mm
| Configuration de platine 100 mm × 100 mm
Autres
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Adaptateurs caméraAdaptateurs pour l’observation par caméra. Effectuez votre choix selon le champ d’observation et le grossissement requis. La plage d’observation réelle peut être calculée à l’aide de cette formule : champ d’observation réel (diagonale en mm) = champ d’observation (valeur d’observation) ÷ grossissement de l’objectif. |  |
| Grossissement | Réglage du centrage | Surface d’image CCD (numéro de champ) – mm | ||||
| 2/3 po | 1/1,8 po | 1/2 po | ||||
| 1 | U-TV1x-2 avec U-CMAD3 | 1 | － | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 2 | U-TV1XC | 1 | ø 2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
| 3 | U-TV0.63xC | 0,63 | － | 17 | 14 | 12,7 |
| 4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | － | 21,4 | 17,6 | 16 |
| 5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | － | － | － | 22 |
| 6 | U-TV0.25xC | 0,25 | － | － | － | － |
OculairesOculaires pour observation directe dans le microscope. Effectuez votre sélection selon le champ de vision souhaité.
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Filtres optiquesLes filtres optiques convertissent la lumière d’exposition de l’échantillon en différents types d’illumination. Choisissez le filtre adapté au type d’observation. |  |
BF, DF, FL
POL, CID
| IR
Lumière transmise
Autres
* AN et PO ne sont pas nécessaires lors de l’utilisation du BX3M-RLAS-S et de l’U-FDICR |
CondenseursLes condenseurs recueillent et concentrent la lumière transmise. À utiliser pour la microscopie en lumière transmise.
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MiroirsMiroir pour bloc projecteur de lumière BX3M-URAS-S. Choisissez le miroir adapté au type d’observation.
* Pour éclairage épiscopique coaxial uniquement. |  |
Modules intermédiairesUne gamme d’accessoires adaptés à tous les types d’utilisations. Pour une utilisation entre la tête d’observation et l’illuminateur.
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Objectifs UIS2Les objectifs assurent le grossissement de l’échantillon. Sélectionnez l’objectif qui correspond à la distance de travail, au pouvoir de résolution et à la méthode d’observation pour l’utilisation envisagée. |
Facilité d’utilisation
Des techniques d’inspection traditionnelles simplifiées : illuminateur simpleL’illuminateur réduit au minimum les actions compliquées habituellement nécessaires lors de l’utilisation d’un microscope. Un bouton à l’avant de l’illuminateur permet de modifier facilement la méthode d’observation. Un utilisateur peut rapidement basculer entre les méthodes d’observation les plus fréquemment utilisées dans la microscopie en lumière réfléchie, comme le fond clair ou noir, ou la lumière polarisée, afin de passer facilement d’un type d’analyse à l’autre. De plus, l’observation simple en lumière polarisée est réglable par rotation de l’analyseur. |
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Commandes intuitives du microscope :
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Accès rapide à la mise au pointL’indicateur d’échelle de mise au point sur le statif permet d’accéder rapidement au point focal. Les opérateurs peuvent régler la mise au point grossièrement sans visualiser l’échantillon à travers un oculaire, ce qui permet de gagner du temps lors de l’inspection d’échantillons de hauteurs différentes. |  |
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 |  | Fonctionnement facile et ergonomiqueL’efficacité professionnelle de l’utilisateur dépend de la conception du système. Les utilisateurs de microscopes autonomes et ceux qui se servent du logiciel d’analyse d’images PRECiV bénéficient de dispositifs de commande pratiques qui affichent clairement la position du matériel. Ces dispositifs simples permettent à l’utilisateur de se concentrer sur son échantillon et sur l’inspection qu’il doit effectuer. |
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Pour une illumination constante :
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Pour restaurer les paramètres du microscope :
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Fonctionnalité
L’invisible devient visible :
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 | Créez des images avec une mise au point parfaite sur l’ensemble de l’objet : EFILa fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) du logiciel PRECiV effectue plusieurs images d’échantillons dont la hauteur dépasse la profondeur de mise au point de l’objectif et les superpose pour créer une image entièrement nette. La fonction EFI peut être utilisée selon un axe Z manuel ou motorisé et permet de cartographier l’échantillon en fonction d’une échelle de hauteurs pour faciliter la visualisation des différentes structures. Il est également possible de construire une image EFI en mode hors ligne avec le logiciel PRECiV Desktop. |
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Capture des zones lumineuses et des zones sombres : HDRGrâce à un traitement d’images de pointe, la fonction d’imagerie à grande gamme dynamique (HDR) corrige les différences de luminosité au sein d’une image afin de réduire les reflets. La fonction HDR améliore la qualité visuelle des images numériques et donne ainsi une qualité professionnelle aux rapports. |  Exposition parfaite pour les zones sombres |  Amélioration du contraste grâce à la fonction HDR |
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 Image d’une pièce de monnaie acquise avec la fonction MIA d’alignement d’images multiples | Déplacez facilement la platine pour une vision panoramique : MIA instantanéLa fonction d’imagerie panoramique permet désormais d’assembler des images facilement et rapidement grâce à une simple rotation des molettes XY de la platine manuelle, sans nécessiter de platine motorisée. Le logiciel PRECiV utilise la fonction de reconnaissance de structures pour générer une image panoramique qui offre à l’utilisateur un champ d’observation plus étendu qu’avec un format normal d’image. |
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Capacité de mesure à usages multiples |
Fonctions de mesure de routine ou de baseDifférentes fonctions de mesures sont disponibles dans PRECiV pour permettre à l’utilisateur d’obtenir facilement des données utiles à partir des images. Pour le contrôle qualité et l’inspection, des fonctions de mesure sur les images sont souvent requises. Tous les niveaux de licences PRECiV disposent de fonctions de mesure interactives permettant par exemple de mesurer les distances, les angles, les rectangles, les cercles, les ellipses et les polygones. Tous les résultats mesurés sont sauvegardés avec les fichiers image à des fins de documentation. |  |
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 | Count and Measure (Comptage et mesure)La détection de structures et la mesure de la répartition par taille font partie des utilisations les plus importantes de l’imagerie numérique. PRECiV intègre un moteur de détection qui utilise des méthodes de seuils pour séparer avec fiabilité les objets de l’arrière-plan (p. ex., des particules ou des rayures). |
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Solutions pour les sciences des matériauxLe logiciel PRECiV offre une interface intuitive et adaptée au flux opérationnel pour faciliter l’analyse d’images complexes. En un simple clic, les tâches d’analyse de l’image les plus complexes peuvent être exécutées rapidement, avec précision et conformément aux normes industrielles les plus courantes. Grâce à une réduction considérable du temps de traitement pour les tâches répétitives, les scientifiques des matériaux peuvent se concentrer sur l’analyse et la recherche. Les extensions spécifiques à chaque module sont faciles à utiliser à tout moment pour réaliser des tableaux de classification d’inclusions et des tableaux d’intersection. |  |
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 Vue de surface 3D |  Vue simple et mesure de profil en 3D | Mesure d’échantillons en 3DLors de l’utilisation d’un moteur de mise au point motorisé externe, une image EFI peut être rapidement capturée et affichée en 3D. Les données de hauteur obtenues peuvent être utilisées pour les mesures 3D effectuées sur les vues de profil ou sur l’image simple. Programmé pour être compatible avec PRECiV v.1.2. |
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En savoir plus sur PRECiV |
Compatible avec une plus grande variété de types et de tailles d’échantillonLa nouvelle platine de 150 mm × 100 mm fournit une course plus longue que les modèles précédents sur l’axe X. Ayant également une surface plane, elle permet aux utilisateurs d’y placer facilement de grands échantillons ou plusieurs échantillons. De plus, comme la plaque de la platine comporte des trous filetés, il est possible d’y fixer un porte-échantillon. La grande platine offre aux utilisateurs une grande polyvalence en permettant l’observation de plusieurs échantillons sur un seul microscope, et permettant ainsi de réaliser un gain de place appréciable dans le laboratoire. Enfin, le couple réglable de la platine facilite les positionnements précis à un fort grossissement avec un champ d’observation étroit. |
Compatible avec une large gamme de hauteurs et de poids d’échantillonsLes échantillons allant jusqu’à 105 mm de hauteur peuvent être montés sur la platine avec l’unité modulaire en option. Grâce au mécanisme de mise au point amélioré, le microscope peut accueillir un poids total (échantillon + platine) maximal de 6 kg. Cela signifie que des échantillons plus grands et plus lourds peuvent être observés sur le BX53M, de sorte que moins de microscopes sont nécessaires dans le laboratoire. En positionnant de façon stratégique un support rotatif pour les plaquettes de 6 pouces décalées, les utilisateurs peuvent observer l’ensemble de la surface de la plaque en faisant simplement tourner le support lors du déplacement à travers les 100 mm de la plage de déplacement. Le réglage du couple de la platine est optimisé pour être facile d’utilisation et la poignée confortable permet de trouver facilement la région d’intérêt de l’échantillon. |  BX53MRF-S |
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 BXFM | Compatible avec une large gamme de tailles d’échantillonLorsque des échantillons sont trop grands pour être placés sur une platine de microscope classique, les composants optiques principaux pour la microscopie en lumière réfléchie peuvent être organisés selon une configuration modulaire. Ce système modulaire, le BXFM, peut être monté sur un support plus grand grâce à une colonne ou sur un autre instrument au choix en utilisant un support de montage. L’utilisateur peut ainsi continuer à utiliser les composants optiques renommés d’Olympus, même lorsque leurs échantillons sont de taille ou de forme spécifiques. |
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Protéger les appareils électroniques des décharges électrostatiques : compatibilité ESDLe BX53M possède une fonctionnalité de dissipation ESD qui protège les appareils électroniques de l’électricité statique causée par les facteurs humains ou environnementaux. |
Qualité d’image
Une grande expérience dans l’optique de pointe |
Grande ouverture numérique élevée combinée à une grande distance de travailLes objectifs jouent un rôle essentiel dans la performance d’un microscope. |
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En savoir plus sur les objectifs MXPLFLN |
Performances optiques supérieures :
|  Mauvais front d’onde |  Front d’onde correct (objectif UIS2) |
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 Lampe halogène : la couleur varie avec l’intensité lumineuse. |  LED : la couleur est compatible avec l’intensité lumineuse et est plus claire qu’avec une lumière halogène. |
Constance de la température des couleurs :
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Qualité supérieure pour des performances de pointe |
Assistance pour des mesures précises :
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 Tranche de semi-conducteur (image binarisée) : |
Assemblage homogène :
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En savoir plus sur PRECiV |
Utilisations
Motif de circuit intégré sur un wafer semi-conducteurLe fond noir est utilisé pour détecter des égratignures ou des défauts minimes sur un échantillon et pour examiner des échantillons avec des surfaces réfléchissantes, comme des tranches (wafers). L’éclairage MIX permet aux utilisateurs de voir à la fois les couleurs et les motifs. |
Fond clair + fond noir (MIX) |
Fond noir |
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Fluorescence (FL) |
Fluorescence + fond noir (MIX) | Résidu photorésistant sur une tranche de semi-conducteurLa fluorescence est utilisée pour des échantillons qui émettent de la lumière lorsqu’ils sont éclairés avec un cube filtre spécialement conçu à cet effet. Cette méthode est utilisée pour détecter toute contamination ou résidu photorésistant. L’éclairage MIX permet l’observation du résidu photorésistant et du motif du circuit intégré. |
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Filtre de couleur LCDCette technique d’observation est adaptée à des échantillons transparents tels que les LCD, les plastiques et le verre. L’éclairage MIX permet d’observer à la fois la couleur du filtre et les motifs du circuit. |
Transmission |
Transmission + fond clair (MIX) |
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Fond clair |
Contraste interférentiel (DIC) | Fonte à graphite sphéroïdalLe contraste interférentiel («CID », ou « DIC » en anglais) est une technique d’observation où la hauteur d’un échantillon est visible en relief, à l’instar d’une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Il est idéal pour observer des échantillons présentant des différences de hauteur infimes, comme des structures métallurgiques et des minéraux. |
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SériciteLe CID est une technique d’observation dans laquelle la hauteur d’un échantillon, généralement indétectable sur un fond clair, est visible en relief, à l’instar d’une image en trois dimensions avec un contraste amélioré. Cette technique est idéale pour examiner des échantillons présentant des différences de hauteur infimes, comme des structures métallurgiques et des minéraux. |
Fond clair |
Lumière polarisée |
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Infrarouge (IR) | Plots de connexion sur un motif de circuit intégréLe mode IR est utilisé pour rechercher des défauts à l’intérieur de puces de circuits intégrés et d’autres objets en silicone sur verre. |
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Caractéristiques techniques
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES DU BX53M – CONFIGURATION SUGGÉRÉE POUR UNE UTILISATION GÉNÉRALE |
| Basique | Standard | Avancé | |||||||
| Système optique | Objectifs UIS2 (correction à l’infini) | ||||||||
| Unité principale | Statif de microscope | BX53MRF-S (Lumière réfléchie) | BX53MTRF-S (Lumière réfléchie/transmise) | BX53MRF-S (Lumière réfléchie) | BX53MTRF-S (Lumière réfléchie/transmise) | BX53MRF-S (Lumière réfléchie) | BX53MTRF-S (Lumière réfléchie/transmise) | ||
| Mise au point |
Course : 25 mm
Course fine par rotation : 100 μm Pas minimal : 1 μm Avec butée de fin de course supérieure ; réglage du couple pour la commande de mise au point approximative | ||||||||
| Hauteur max. de l’échantillon |
Lumière réfléchie : 65 mm (sans entretoise), 105 mm (avec BX3M-ARMAD)
Lumière réfléchie/transmise : 35 mm (sans entretoise), 75 mm (avec BX3M-ARMAD) | ||||||||
| Tube d’observation | Champ large (FN 22) | U-TR30-2-2 Inversé : trinoculaire | |||||||
| Éclairage | Lumière réfléchie
| BX3M-KMA-S DEL blanche, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (avec mécanisme de centrage), interverrouillage BF/DF | BX3M-RLAS-S Codé, DEL blanche, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (avec mécanisme de centrage), interverrouillage BF/DF | ||||||
| － | BX3M-LEDT DEL blanche Condenseurs d’Abbe / à grande distance focale | － | BX3M-LEDT DEL blanche Condenseurs d’Abbe / à grande distance focale | － | BX3M-LEDT DEL blanche Condenseurs d’Abbe / à grande distance focale | ||||
| Tourelle porte-objectifs rotative | U-5RE-2 Pour BF : quintuple | U-D6BDRE Pour BF/DF : sextuple | U-D6BDRES-S Pour BF/DF : sextuple, codé | ||||||
| Oculaire (F. N. 22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
| Observation MIX | － | BX3M-CB Console BX3M-HS Interrupteur manuel U-MIXR-2 Glissière MIX pour microscopie en lumière réfléchie U-MIXRCBL Câble pour MIXR | |||||||
| Condenseur (grande distance focale) | － | U-LWCD | － | U-LWCD | － | U-LWCD | |||
| Câble d’alimentation | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
| Poids |
Lumière réfléchie : env. 15,8 kg (statif du microscope 7,4 kg)
Lumière réfléchie/transmise : env. 18,3 kg (statif du microscope 7,6 kg) | ||||||||
| Objectifs | Ensemble MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observation BF/POL/FL | － | ||||||
| Ensemble MPLFLN BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/CID/POL/FL | |||||||
| Ensemble MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/CID/POL/FL | |||||||
| Ensemble MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | － | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/CID/POL/FL | |||||||
| Platine (X x Y) | Ensemble 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platine à poignée droite coaxiale / 76 (X) x 52 (Y) mm, avec réglage du couple | |||||||
| Ensemble 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Grande platine à poignée droite coaxiale / 100 (X) x 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y | ||||||||
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Ensemble
100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2, U-MSSPG Grande platine à poignée droite coaxiale / 100 (X) × 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre) | ||||||||
| Ensemble 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) × 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y | ||||||||
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Ensemble
150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre) | ||||||||
| Option | Ensemble d’observation MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | － | ||||||
| Contraste interférentiel différentiel* (CID) | U-DICR | ||||||||
| Modules intermédiaires | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||||
| Filtres | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||||
| Filtre pour condenseur | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
| Plaque de platine | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
| Porte-échantillon | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
| Caoutchouc de molette | U-SHG, U-SHGT | ||||||||
*Ne peut pas être utilisé avec U-5RE-2.
UNITÉS ESD BX53M / BXFM
| Composants | Statif de microscope | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
| Illuminateur | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
| Tourelle porte-objectifs | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
| Platine | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
CARACTÉRISTIQUES TECHNIQUES DU BX53M – CONFIGURATION SUGGÉRÉE POUR UNE UTILISATION SPÉCIALISÉE |
| Fluorescence | Infrarouge | Lumière polarisée | |||||
| Système optique | Objectifs UIS2 (correction à l’infini) | ||||||
| Unité principale | Statif de microscope | BX53MRF-S (Lumière réfléchie) | BX53MTRF-S (Lumière réfléchie/transmise) | BX53MRF-S (Lumière réfléchie) | BX53MTRF-S (Lumière réfléchie/transmise) | ||
| Mise au point |
Course : 25 mm
Course fine par rotation : 100 μm Pas minimal : 1 μm Avec butée de fin de course supérieure ; réglage du couple pour la commande de mise au point approximative | ||||||
| Hauteur max. de l’échantillon |
Lumière réfléchie : 65 mm (sans entretoise), 105 mm (avec BX3M-ARMAD)
Lumière réfléchie/transmise : 35 mm (sans entretoise), 75 mm (avec BX3M-ARMAD) | ||||||
| Tube d’observation | Champ large (FN 22) | U-TR30-2 Inversé : trinoculaire | U-TR30IR Inversé : trinoculaire pour IR | U-TR30-2 Inversé : trinoculaire | |||
|
Module intermédiaire de lumière polarisée
(U-CPA) | Lentille de Bertrand | － | － | Focalisable | |||
| Diaphragme de champ lentille de Bertrand | － | － | Diamètre de 3,4 mm (fixe) | ||||
| Ajout/retrait lentille de Bertrand pour basculer entre les observations orthoscopique et conoscopique | － | － |
Position de la glissière ● à l’intérieur
Position de la glissière ○ à l’extérieur | ||||
| Fente de l’analyseur | － | － | Analyseur rotatif avec fente (U-AN360P-2) | ||||
| Éclairage | Lumière réfléchie | Observation FL | BX3M-URAS-S Lumière réfléchie universelle codée, tourelle à miroir 4 positions (standard : U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF etc) Avec FS, AS (avec mécanisme de centrage) Avec mécanisme d’obturation | － | － | ||
| Observation IR | － | BX3M-RLA-S Lampe halogène de 100 W pour IR, BF/IR, AS (avec mécanisme de centrage) U-LH100IR(avec HAL-L 12 V 10 W) Source lumineuse halogène de 100 W pour IR TH4-100 Bloc d’alimentation de 100 W TH4-HS Interrupteur manuel U-RMT Rallonge | － | ||||
| Lumière transmise | Observation POL | － | － | BX3M-LEDT DEL blanche Condenseurs d’Abbe / à grande distance focale | |||
| Tourelle porte-objectifs rotative | U-D6BDRES-S Pour BF/DF : sextuple, codé | U-5RE-2 Pour BF : quintuple | U-P4RE Quadruple, composants accessoires pouvant être centrés Une lame de retard de quart d’onde (U-TAD), une lame teintée (U-TP530) et divers compensateurs peuvent être fixés grâce à l’adaptateur de plaque (U-TAD). | ||||
| Oculaire (F. N. 22) | WHN10X | ||||||
| WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
| Miroirs | U-FDF Pour DF U-FBFL Pour BF, filtre ND intégré U-FBF Pour BF, filtre ND amovible U-FWUS Pour ultraviolet-FL U-FWBS Pour bleu-FL U-FWGS Pour vert-FL | － | |||||
| Filtre / Polariseur / Analyseur | U-25FR Filtre de Frost | U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtres passe-bande pour IR | 43IF550-W45 Filtre vert | ||||
| U-POIR Glissière de polariseur à lumière réfléchie pour IR | U-AN360IR Glissière d’analyseur tournant pour IR | U-AN360P-2 Molette rotative à 360° Angle minimum de rotation 0,1° | |||||
| Condenseur | U-LWCD Grande distance de travail | － | U-POC-2 Condenseur achromatique sans contrainte. Polariseur tournant à 360° avec lentille supérieure achromatique pivotante. La butée à déclic à la position « 0° » est réglable. NA 0,9 (lentille supérieure à l’intérieur) / NA 0,18 (lentille supérieure à l’extérieur) Diaphragme d’ouverture à iris : réglable de 2 mm à 21 mm de diamètre | ||||
| Glissière/compensateurs | － | U-TAD Glissière (adaptateur de plaque) | |||||
| U-TP530 Plaque teintée U-TP137 Lame quart d’onde | |||||||
| Câble d’alimentation | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
| Poids | Lumière réfléchie : env. 15,8 kg (statif du microscope 7,4 kg) | Lumière éfléchie/transmise : env. 18,3 kg (statif du microscope : 7,6 kg) | Env. 18,9 kg (statif du microscope : 7,4 kg) | Env. 16,2 kg (statif du microscope : 7,6 kg) | |||
| Source lumineuse FL/réflexion | Guide lumineux | Ensemble de guides de lumière U-LLGAD, U-LLG150 | － | － | |||
| Lampe au mercure | Ensemble de lampe au mercure U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV | － | － | ||||
| Objectifs | Ensemble MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observation BF/DIC/POL/FL | － | － | |||
| Ensemble MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| Ensemble MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| Ensemble MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observation BF/DF/DIC/POL/FL | － | － | ||||
| Ensemble IR | － | LMPLN5XIR, 10XIR, LCPLN20XIR, 50XIR, 100XIR Observation IR | － | ||||
| Ensemble POL | － | － | UPLFLN4XP, 10XP, 20XP, 40XP Observation POL | ||||
| Platine (X x Y) | Ensemble 76 mm x 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platine à poignée gauche coaxiale / 76 (X) x 52 (Y) mm, avec réglage du couple | |||||
| Ensemble 100 mm x 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Grande platine à poignée gauche coaxiale / 100 (X) × 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y | ||||||
| Ensemble 100 mm x 100 (G) mm | U-SIC4R2, U-MSSPG Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre) | ||||||
| Ensemble 150 mm x 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) × 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y | ||||||
| Ensemble 150 mm x 100 (G) mm | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Grande platine à poignée droite coaxiale / 150 (X) x 100 (Y) mm, avec réglage du couple, avec mécanisme de verrouillage sur l’axe Y (plaque en verre) | ||||||
| Ensemble POL | － | U-SRP+U-FMP Platine tournante de polarisation + platine mécanique | |||||
| Option | Ensemble d’observation MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | |||||
| Contraste interférentiel différentiel* (CID) | U-DICR | ||||||
| Modules intermédiaires | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||
| Filtres | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
| Filtre pour condenseur | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
| Plaque de platine | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
| Porte-échantillon | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
| Caoutchouc de molette | U-SHG, U-SHGT | ||||||
* Ne peut pas être utilisé avec U-5RE-2
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