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Systèmes d’inspection de barres

Les systèmes d’inspection de barres utilisent les technologies des ultrasons multiéléments, des courants de Foucault multiéléments et de la spectroscopie par fluorescence des rayons X.
 

Vanta™ iX In-Line XRF Analyzer

The Vanta iX in-line X-ray fluorescence (XRF) analyzer gives you confidence in your products by automating material analysis and alloy identification on the manufacturing line. Built to operate 24/7 in industrial environments, the system delivers instant results for 100% inspection and continuous quality control.

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Système d’inspection de barres par ultrasons multiéléments (BIS PA)

Le système BIS PA tire profit de la technologie par ultrasons multiéléments pour inspecter la totalité du volume des barres rondes et carrées. Ce système est basé sur un concept à « tête flottante » unique qui permet un positionnement optimal constant des sondes, peu importe les variations de linéarité des barres.

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Système rotatif d’inspection de barres (RBIS)

Le système RBIS combine la technologie des courants de Foucault multiéléments avec la technologie des ultrasons multiéléments pour inspecter la totalité du volume et de la surface des barres rondes, aussi appelées « billettes ». L’inspection est effectuée pendant la rotation de la billette et le mouvement linéaire du chariot intégrant la tête d’inspection.

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Système d’inspection de barres par courants de Foucault (BIS ECA)

Le système BIS ECA d’Olympus tire profit de la technologie par courants de Foucault multiéléments (ECA) pour inspecter la surface des barres, rondes ou carrées. Un patin spécial optimise constamment le positionnement des sondes ECA sur les pièces inspectées, peu importe les variations de linéarité des barres.

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