Olympus Logo

Pour nous joindre Pour nous joindre

  • Produits▾
    • Solutions de contrôle non destructif (CND)▾
      • Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments▾
        • Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
        • Appareils de recherche de défauts par ultrasons multiéléments
        • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault
        • Appareils de recherche de défauts par courants de Foucault multiéléments
        • Inspection des composites
      • Mesureurs d’épaisseur portables▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna Mike 8600
        • 35RDC
        • Sondes et accessoires
      • Sondes▾
        • Sondes à ultrasons
        • Sondes à courants de Foucault
        • Sondes pour l’inspection des tubes
        • Sondes à ultrasons multiéléments
        • Sondes BondMaster
      • Systèmes intégrés d'inspection▾
        • Système d’inspection de roues
        • Systèmes d’inspection de barres
        • Systèmes d’inspection de tubes
        • Friction Stir Weld Inspection System
      • Appareils de CND pour systèmes industriels▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Scanners industriels▾
        • Scanners pour l’inspection des soudures
        • Scanners pour le contrôle de la corrosion
        • Scanners pour l’inspection des composants d’aéronefs et des pales d’éolienne
        • Accessoires pour scanners
      • Olympus Scientific Cloud
    • Analyseurs XRF et XRD▾
      • Analyseurs XRF à main▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analyseurs XRF portables et compacts▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert
      • Analyseurs XRF sur ligne de production▾
        • FOX-IQ
      • Analyseurs XRD▾
        • Analyseur XRD portable TERRA
        • Analyseur XRD de paillasse BTX
      • Solutions OEM▾
        • X-STREAM
      • Solutions clés selon les applications
      • Olympus Scientific Cloud
    • Solution microscopie▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Microscopes confocaux à balayage laser▾
        • OLS5100
      • Microscopes numériques
      • Microscopes de mesure▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Système d’inspection de la propreté des composants▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopes optiques▾
        • Microscopes droits
        • Microscopes inversés
        • Microscopes modulaires
      • Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Stéréomicroscopes▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Caméras numériques▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Logiciel d’analyse d’images▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objectifs▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Composants FEO intégrables pour microscope ▾
        • Solutions d’intégration des équipements
        • Objectifs
        • Statifs de microscope optique
        • Lentille de tube super large
        • Modules de microscope optique
        • Ensembles de microscopes modulaires
      • FAQ sur les microscopes
    • Vidéoscopes et endoscopes▾
      • Vidéoscopes▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • Solutions à longue sonde IPLEX
      • Fibroscopes▾
        • Fibroscopes de petit diamètre
      • Boroscopes rigides▾
        • Boroscopes rigides standards
        • Boroscopes rigides à prisme variable
        • Boroscopes à prisme variable avec zoom
        • Boroscopes miniatures modulaires MK
        • Boroscopes pour l’inspection des turbomoteurs d’aéronefs
      • Sources lumineuses
      • Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance▾
        • InHelp
  • Industries
  • Blogue
  • Ressources
  • Assistance technique▾
    • Nous contacter
    • Olympus Scientific Cloud
    • École de formation
    • Customer Service
    • Centres de service
    • Téléchargement de logiciels
    • Informations sur les produits
    • Produits abandonnés ou obsolètes
    • Product Service Termination List
    • Certification ISO
    • Fiches signalétiques
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Conformité et éthique chez Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Services financiers personnalisés
  • Rentals
  • Boutique en ligne
  • Chercher
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Solutions industrielles
Solutions de contrôle non destructif (CND)

Sondes d’ondes transversales à incidence normale

Pour nous joindrePour nous joindre
Demande de prixDemande de prix
Demander une démonstrationTestez votre applicationDemander une démonstrationTestez votre application
Page d’accueil/ Produits/ Solutions de contrôle non destructif (CND)/ Sondes/ Sondes à ultrasons

Single element normal incidence Shear Wave Transducers contact transducers introduce shear waves directly into the test piece without the use of refracted wave mode conversion.

We recommend the use of our SWC shear wave couplant for general purpose testing.

Loading...
  • Vue d’ensemble
  • Série de sondes de contact direct
  • Série de sondes à ligne à retard

Vue d’ensemble

Advantages:

  • Generate shear waves which propagate perpendicular to the test surface
  • For ease of alignment, the direction of the polarization of shear wave is nominally in line with the right angle connector
  • The ratio of the longitudinal to shear wave components is generally below -30 dB

Applications:

  • Shear wave velocity measurements
  • Calculation of Young's Modulus of elasticity and shear modulus (see Technical Notes, page 46)
  • Characterization of material grain structure

Série de sondes de contact direct

Direct Contact Series

  • WC-5 wear plate increases durability and wear resistance
  • Available in both the Standard and Fingertip case styles
  • 303 stainless steel case

Transducer Configurator

Request a quote or purchase a transducer by selecting the item number.

Frequency (MHZ)
Nominal Element Size (mm)
Transducer Type
Frequency
(MHz)		Nominal Element SizeVIDEOSCAN
in.mmPart /
Item No.
0.1125V1548
U8403067

U8403067

Contact Transducer, 0.1 MHz, 1.00 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
0.25125
V150-RB
U8403055

U8403055

Contact Transducer, 0.25 MHz, 1.00 in. Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V150-RM
U8403056

U8403056

Contact Transducer, 0.25 MHz, 1.0 in. Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
0.5125
V151-RB
U8403058

U8403058

Contact Transducer, 0.50 MHz, 1.00 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V151-RM
U8403059

U8403059

Contact Transducer, 0.50 MHz, 1.00 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
10.513
V153-RB
U8403064

U8403064

Contact Transducer, 1.00 MHz, 0.50 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V153-RM
U8403065

U8403065

Contact Transducer, 1.00 MHz, 0.50 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
1125
V152-RB
U8403061

U8403061

Contact Transducer, 1.00 MHz, 1.00 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V152-RM
U8403062

U8403062

Contact Transducer, 1.00 MHz, 1.00 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
2.250.513
V154-RM
U8403069

U8403069

Contact Transducer, 2.25 MHz, 0.50 in. Shear element size, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V154-RB
U8403068

U8403068

Contact Transducer, 2.25 MHz, 0.50 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
50.1253V157-RM
U8403075

U8403075

Contact Transducer, 5.00 MHz, 0.125 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
50.256V156-RM
U8403074

U8403074

Contact Transducer, 5.00 MHz, 0.25 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
50.513
V155-RB
U8403071

U8403071

Contact Transducer, 5.00 MHz, 0.50 in. Shear Element Diameter, Standard Case Style, Right BNC Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote
V155-RM
U8403072

U8403072

Contact Transducer, 5.00 MHz, 0.50 in. Shear Element Diameter, Fingertip Case Style, Right Microdot Connector Includes Test Form Certificate
Buy NowBuy NowRequest
a Quote

Série de sondes à ligne à retard

Delay Line Series

  • Integral delay line permits measurements at higher frequencies
  • Fused silica delay line minimizes attenuation and provides physical protection to the crystal element

Frequency

Nominal
Element Size

Delay

Transducer
Part Numbers

MHz

inches

mm

µsec

5.0

0.25

6

7

V220-BA-RM

10

0.25

6

7

V221-BA-RM

20

0.25

6

7

V222-BA-RM

0.25 6 7 V222-BB-RM
0.25 6 4 V222-BC-RM

Shear Wave Couplant

SWC

4 oz.
(0.12 liter)

Normal Incidence Shear Wave, non-toxic, water soluble organic substance of very high viscosity
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.

Pour nous joindre

Please, choose division
S'abonner au NDT Bulletin

  • Pour nous joindrePour nous joindre
  • Demande de prixDemande de prix
  • Demander une démonstrationTestez votre applicationDemander une démonstrationTestez votre application
  • Pour nous joindre
  • Solutions de contrôle non destructif (CND)
    • Appareils de recherche de défauts par ultrasons conventionnels et multiéléments
    • Mesureurs d’épaisseur portables
    • Sondes
      • Sondes à ultrasons
        • Sondes d’angle
        • Sondes Atlas adaptées aux exigences des normes européennes
        • Sondes et sabots conformes aux normes AWS
        • Sabots pour la recherche et l’évaluation de la taille des fissures
        • Sondes de contact
        • Sondes à ligne à retard
        • Sonde à émission-réception séparées
        • Sondes EMAT
        • Sondes à haute fréquence
        • Sondes d’immersion
        • Sondes d’immersion spéciales
        • Accessoires pour les sondes d’immersion
        • Sondes d’angle fabriquées d’une seule pièce
        • Sondes d’ondes transversales à incidence normale
        • Sondes protégées
        • Sondes RTD
        • Applications spéciales
        • Sondes pour l’inspection des soudures par points
        • Sondes d’angle standard
        • Diffraction en temps de vol
        • Blocs étalons
        • Câbles de sondes
        • Couplant et adaptateurs
      • Sondes à courants de Foucault
      • Sondes pour l’inspection des tubes
      • Sondes à ultrasons multiéléments
      • Sondes BondMaster
    • Systèmes intégrés d'inspection
    • Appareils de CND pour systèmes industriels
    • Scanners industriels
    • Olympus Scientific Cloud
  • Analyseurs XRF et XRD
  • Solution microscopie
  • Vidéoscopes et endoscopes
  • S'abonner à la newsletter
Page d’accueil/ Produits/ Solutions de contrôle non destructif (CND)/ Sondes/ Sondes à ultrasons
Imprimer

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | À notre sujet | Carrières | Carrières | Plan du site

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | À notre sujet | Imprint | Carrières | Carrières | Plan du site

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Ce site utilise des témoins de connexion pour augmenter la performance, mesurer le nombre de visiteurs et vérifier la pertinence des publicités. À moins de modifier les paramètres de votre navigateur, ces témoins continueront d’être utilisés pour ce site. Pour en savoir plus sur la façon dont nous les utilisons et sur la façon d’en restreindre l’usage, veuillez consulter notre politique sur les témoins de connexion.

OK
Cancel