Olympus Logo

Pour nous joindre Pour nous joindre

  • Produits▾
    • Solutions CND▾
      • Appareils de recherche▾
        • Appareils portables de recherche de défauts par ultrasons
        • Appareils à ultrasons multiéléments
        • Appareils à courants de Foucault
        • Appareils à courants de Foucault multiéléments
        • Inspection des composites
      • Mesureurs d’épaisseur portables▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna Mike 8600
        • 35RDC
        • Sondes et accessoires
      • Sondes▾
        • Sondes à ultrasons
        • Sondes à courants de Foucault
        • Sondes pour l’inspection des tubes
        • Sondes à ultrasons multiéléments
        • Sondes BondMaster
      • Systèmes intégrés d'inspection▾
        • Système d’inspection de roues
        • Solutions pour l’inspection des barres
        • Solutions pour l’inspection des tubes
      • Appareils de CND pour systèmes industriels▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Scanners industriels▾
        • Scanners pour l’inspection des soudures
        • Scanners pour le contrôle de la corrosion
        • Scanners pour l’inspection des aéronefs
        • Accessoires pour scanners
    • Analyseurs XRF et XRD▾
      • Analyseurs XRF à main▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Analyseurs XRF portables et compacts▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert for Consumer/RoHS
      • Analyseurs XRF sur ligne de production▾
        • FOX-IQ
      • Analyseurs XRD▾
        • Analyseur XRD portable TERRA
        • Analyseur XRD de paillasse BTX
      • Solutions OEM▾
        • X-STREAM
      • Solutions clés selon les applications
    • Solution microscopie▾
      • Scanning Probe Microscopy▾
        • OLS4500
      • Microscopes confocaux à balayage laser▾
        • OLS5000
      • Microscopes numériques
      • Microscopes de mesure▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Système d’inspection de la propreté des composants▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Microscopes optiques▾
        • Microscopes droits
        • Microscopes inversés
        • Microscopes modulaires
      • Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Stéréomicroscopes▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Caméras numériques▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • Logiciel d’analyse d’images▾
        • OLYMPUS Stream
      • Micro Spectrophotometer▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Objectifs▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Composants FEO intégrables pour microscope ▾
        • Solutions d’intégration des équipements
        • Objectifs
        • Statifs de microscope optique
        • Lentille de tube super large
        • Modules de microscope optique
        • Ensembles de microscopes modulaires
      • Microscope FAQ
    • Vidéoscopes et endoscopes▾
      • Vidéoscopes▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • Solutions à longue sonde IPLEX
      • Fibroscopes▾
        • Fibroscopes de petit diamètre
      • Endoscopes rigides▾
        • Endoscopes rigides standards
        • Endoscopes rigides à prisme variable
        • Endoscopes à prisme variable avec zoom
        • Mini-scopes modulaires MK
        • Boroscopes spécifiques pour moteurs aéronautiques
      • Sources lumineuses
      • Logiciel d'aide à l'inspection visuelle à distance▾
        • InHelp
  • Industries
  • Blogue
  • Ressources
  • Assistance technique▾
    • Pour nous joindre
    • Olympus Scientific Cloud
    • École de formation
    • Customer Service
    • Centres de service
    • Téléchargement de logiciels
    • Informations sur les produits
    • Produits abandonnés ou obsolètes
    • Product Service Termination List
    • Certification ISO
    • Fiches signalétiques
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Conformaté et Éthique Chez Olympus
    • Same Day Shipping Program
    • Financial Services
  • Rentals
  • Boutique
  • Chercher
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Solutions industrielles

Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats

Page d’accueil/ Produits/ Micros…

Les microscopes MX d’Olympus sont conçus pour offrir une efficacité maximale à tous les clients. Ils offrent quatre avantages intéressants, soit un démarrage rapide, une utilisation facile, une excellente évolutivité et l’analyse des défaillances.

MX63 / MX63L

Les microscopes MX63 et MX63L permettent d'effectuer des observations de qualité de wafers pouvant atteindre 300 mm, d'écrans plats, de cartes de circuits imprimés et d'autres échantillons de grande taille grâce à des fonctions polyvalentes et des conceptions ergonomiques et conviviales. La flexibilité de la conception modulaire optimise les systèmes d'observation ainsi capables d’inspections diverses. Associée au logiciel d’analyse d’images OLYMPUS Stream, votre procédure d'inspection (de l'observation à la génération de rapports) en sera d’autant plus rationalisée.

Voir produit

AL120

The AL120 wafer handler series transfers both silicon and compound semiconductor wafers from the cassette to the microscope stage with enhanced capabilities and flexibility, while maintaining an ergonomic design.

Voir produit

AL120-12

The AL120-12 wafer handler is compatible with both FOUP (Load Port) and FOSB, ideal for lower cost back-end inspection. The safe and ergonomic design maintain operator safety while effectively transferring wafers including thin and warped wafers.

Voir produit

Caméras et logiciels

Des caméras numériques offrant une haute résolution et une grande fidélité des couleurs sont disponibles. La solution complète d’Olympus incorpore un logiciel d’imagerie avancé qui assure un fonctionnement intégré, de la saisie d’images à la production de rapports en passant par le traitement des images et la mesure.

OLYMPUS Stream

Le logiciel d'analyse d'images OLYMPUS Stream guide l'utilisateur tout au long du processus d'acquisition d’images, de mesures quantitatives, de génération de rapports et de travaux d'inspection en sciences des matériaux.

Voir produit

Digital Cameras for Microscopes

Olympus Digital Cameras are exclusively designed for Microscopes and become indispensable options nowadays. All cameras are confirmed their best digital imaging performance with Olympus Microscopes and Imaging Analysis Software systems.

Voir produit

Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
  • Contactez-nous
  • Produits
    • Solutions CND
    • Analyseurs XRF et XRD
    • Solution microscopie
      • Scanning Probe Microscopy
      • Microscopes confocaux à balayage laser
      • Microscopes numériques
      • Microscopes de mesure
      • Système d’inspection de la propreté des composants
      • Microscopes optiques
      • Microscopes pour l’inspection des semi-conducteurs et des écrans plats
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Stéréomicroscopes
      • Caméras numériques
      • Logiciel d’analyse d’images
      • Micro Spectrophotometer
      • Objectifs
      • Composants FEO intégrables pour microscope
      • Microscope FAQ
    • Vidéoscopes et endoscopes
  • Industries
  • Blogue
  • Ressources
  • Assistance technique
  • Rentals
  • Boutique
  • S’abonner aux bulletins
Page d’accueil/ Produits/ Micros…
Imprimer

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | À notre sujet | Carrières | Carrières | Plan du site

Copyright OLYMPUS CORPORATION, Tous droits réservés.

Global | Modalités d'utilisation | Déclaration de confidentialité | Fichiers de témoins | À notre sujet | Imprint | Carrières | Carrières | Plan du site

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook

Ce site utilise des témoins de connexion pour augmenter la performance, mesurer le nombre de visiteurs et vérifier la pertinence des publicités. À moins de modifier les paramètres de votre navigateur, ces témoins continueront d’être utilisés pour ce site. Pour en savoir plus sur la façon dont nous les utilisons et sur la façon d’en restreindre l’usage, veuillez consulter notre politique sur les témoins de connexion.

OK
Cancel