Kontakt
Kontakt
Produkte
▾
ZfP-Lösungen
▾
Prüfgeräte / Phased-Array-Prüfgeräte
▾
Ultraschallprüfgeräte
Phased-Array-Geräte (Gruppenstrahlertechnik)
Wirbelstromgeräte
Wirbelstrom-Array-Geräte
Bindungsprüfung
Dickenmessgeräte
▾
72DL PLUS
39DL PLUS
45MG
Magna-Mike 8600
27MG
35RDC
Messköpfe und Zubehör
Prüf- und Messköpfe, Sonden und Sensoren
▾
Ultraschallköpfe
Wirbelstromsonden
Sensoren für die Röhrenprüfung
Phased-Array-Sensoren
BondMaster Probes
Automatisierte Prüfsysteme
▾
Prüfsystem für Eisenbahnräder
PASAWIS – Radsatzprüfsystem
Lösungen für die Stabprüfung
Lösungen für die Rohrprüfung
Prüfung von Rührreibschweißnähten
Prüfung von Pipeline-Rundschweißnähten
Gerätekonfiguration für ZfP-Systeme
▾
FOCUS PX / PC / SDK
QuickScan
QuickScan iX ECA
QuickScan iX PA+
Industrietaugliche Scanner für die zerstörungsfreie Prüfung
▾
Scanner für die Schweißnahtprüfung
Scanner zur Korrosionsprüfung
Scanner zur Prüfung in der Luft- und Raumfahrt/von Rotorblättern
Scanner-Zubehör
Evident Connect
▾
X3 RCS
Inspection Project Manager (IPM)
Software
▾
WeldSight Software
TomoView Software
NDT SetupBuilder Software
OmniScan MX2 and SX Software
OmniPC 4 Software
Analysatoren zur XRF (RFA)
▾
RFA-Handanalysatoren
▾
Vanta Max und Vanta Core
Vanta Element Analysator
Kompakte und portable RFA-Analysatoren
▾
Vanta GX
Inline-RFA
OEM-Lösungen
▾
X-STREAM
Anwendungen und Lösungen
Evident Connect
▾
Vanta Data Viewer
Mikroskop-Lösungen
▾
Konfokale Lasermikroskope
▾
OLS5100
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
表面粗さ測定ポータル
Digitale Mikroskope
▾
Digitale Mikroskope
ISO/IEC 17025校正認定ソリューション
Messmikroskope
▾
STM7
STM7-BSW
Inspector Serie für technische Sauberkeit
▾
CIX100
Lichtmikroskope
▾
Aufrechte Mikroskope
Inverse Mikroskope
Modulare Mikroskope
Mikroskope für die Prüfung von Halbleitern und Flachbildschirmen
▾
MX63/MX63L
AL120
AL120-12
AR-Mikroskope
▾
SZX-AR1
Stereomikroskope
▾
SZX16
SZX10
SZX7
SZ61/SZ51
Digitalkameras
▾
DP75
DP28
SC180
DP23
LC35
DP23M
Bildanalysesoftware
▾
PRECiV
Stream Enterprise
Mikro-Spektrophotometer
▾
USPM-RU-W
Objektive
▾
MPLAPON
MPLAPON-Oil
MXPLFLN
MXPLFLN-BD
MPLN
MPLN-BD
MPLFLN
MPLFLN-BD
LMPLFLN
LMPLFLN-BD
SLMPLN
LCPLFLN-LCD
LMPLN-IR/LCPLN-IR
Objektiv mit Weißlichtinterferometrie
Mikrometer
Integrierbare OEM-Mikroskopkomponenten
Industrielle Mikroskope (FAQ)
Kundenspezifische Lösungen
Maßgeschneiderte Lösungen
Videoskope und Endoskope
▾
Videoendoskope
▾
IPLEX NX
IPLEX GAir
IPLEX GX/GT
IPLEX G Lite und IPLEX G Lite-W
IPLEX TX II
Sehr lange Einführungsteile für IPLEX Videoskope
Videoskope für die Sichtprüfung von Windkraftanlagen
Endoskope für die Sichtprüfung von Flugzeugen
Video Borescopes for Automotive Engine Inspection
Glasfaser-Endoskope
▾
Glasfaser-Endoskop mit geringem Durchmesser
Sweeney Digital Turning Tool
Video-Software
▾
InHelp
3DAssist 3D-Modellierung-Software
Lichtquellen für starre Endoskope
Evident Connect
▾
ViSOL
Industriezweige
Informationsmaterialien
Wissen
Blog
Servicebereich
▾
Kontakt
Consultation Reception about Introduction
Kundenservice
XRF and XRD Technical Support
Service Solutions
▾
Overview
Servicecenter
Kundenspezifische Finanzierungslösungen
Olympus Scientific Cloud
Software-Downloads
Benutzerhandbücher
ISO-Zertifizierungen
MSDS-Datenblätter
Compliance and Ethics at Evident
Produktinformation
Product Service Termination List
Auslaufmodelle und veraltete Produkte
▾
MultiScan MS 5800 für die Rohrprüfung
▾
MultiView Software
TubePro Software
CIC
Evident Technolab
Microscope Classroom
EVIDENT Modern Slavery Act Statement
APAC Technology Center
▾
Overview
Automated Multi-Element XRF Analysis
▾
Overview
Microscope Inspection System
▾
Overview
Bolt Inspection Scanner
▾
Overview
Simplified Data Transfer and Management
▾
Overview
Rentals
Shop
Careers
What is EVIDENT?
Suche
My Account
IMS Log in
App Marketplace
Connected Devices
My Apps
My Data
My Organization
Evident Connect Log in
Evident Connect Log in
Log Out
Log Out
English (English)
|
日本語 (Japanese)
|
français (French)
|
简体中文 (Simplified Chinese)
|
Deutsch (German)
|
italiano (Italian)
|
čeština (Czech)
|
Español (Spanish)
|
русский (Russian)
|
polski (Polish)
|
português (Portuguese)
|
한국어 (Korean)
Lösungen für die Industrie
Careers
Careers
Pressemitteilungen von Olympus
Startseite
/
Presse
2024
|
2023
|
2022
|
2021
|
2020
|
2019
|
2018
|
2017
|
2016
|
2015
|
2014
|
2013
|
2012
|
2011
|
2010
|
2009
|
2008
|
2007
|
2006
News
07
Nov
Mehr sehen und genauer prüfen mit der digitalen Mikroskopkamera DP75
01
Nov
Evident passt Struktur seiner Geschäftsbereiche an Kundenbedürfnisse an
25
Okt
Aktualisierte Software von EVIDENT für das LEXT OLS5100 Laser-Scanning-Mikroskop zur Verbesserung der Präzision und Effizienz von Workflows
05
Okt
エビデント長野、「諏訪圏工業メッセ2023」出展概要
25
Sep
Zusammenarbeit von Evident und Gläser für eine verbesserte Prüfung der technischen Sauberkeit
05
Sep
エビデント、「測定計測展2023」出展概要
15
Aug
EVIDENT Corporation beruft neuen CEO und COO
19
Jul
エビデント、「第11回非破壊評価総合展」出展概要
27
Jun
Automotive Enginering Exposition 2023 in Nagoya
11
Mai
Evident Announces Interim CEO
11
Mai
【世界初※1】レーザー顕微鏡およびデジタルマイクロスコープによる寸法測定でISO/IEC 17025の校正機関認定を取得
04
Apr
HydroFORM Scanner der nächsten Generation – die optimierte Lösung für die Korrosionsdarstellung
03
Apr
Partnerschaft von Evident mit Bain Capital besiegelt Ziel: Beschleunigung des zukünftigen Wachstums und der Innovation
29
Mär
Notice Concerning Postponement of Closing of Transfer of Shares of Evident Corporation
31
Jan
PRECiV 1.2 Softwareversion mit bedienerfreundlichen erweiterten Bildgebungs- und Messfunktionen für effiziente Fertigungsprozesse, Qualitätskontrollen und Prüfungen
20
Jan
Verschiebung der Übertragung aller Anteile der EVIDENT Corporation von Olympus an Bain Capital
10
Jan
Vanta GX Analysator für Edelmetalle vereinfacht Analyse von Schmuck
Sorry, this page is not available in your country
Let us know what you're looking for by filling out the form below.
Kontakt
Newsletter abonnieren
Social News
Olympus IMS
Startseite
/
Presse
Drucken
Search
Cancel
Redirecting...
You are being redirected to our local site.
Attention: Please enable JavaScript
Sorry, this page is not available in your country