Überblick
Der neue Maßstab für PolarisationDas Polarisationsmikroskop BX53-P von bietet dank des optischen Systems UIS2 (unendlich korrigiert) und dem einzigartigen optischen Design herausragende Leistung in der Polarisationsmikroskopie. Dank einer breiten Auswahl an passenden Kompensatoren ist das vielseitige BX53-P für Beobachtungen und Messungen in nahezu jedem Bereich einsetzbar. |
Das optische System UIS2 zeichnet sich durch hervorragende Erweiterbarkeit ausDas optische System UIS2 nutzt die Vorteile der unendlichen Korrektur maximal aus. So werden ein Abfall der optischen Leistung verhindert und Vergrößerungsfaktoren ausgeschlossen, selbst wenn polarisierende Elemente wie Analysatoren, Hilfspräparate oder Kompensatoren in den Strahlengang eingebracht werden. Das Mikroskop BX53-P kann auch mit Zwischenadaptern für Mikroskope der Serie BX3 sowie mit Kameras und Imaging-Systemen eingesetzt werden. | |
Zonale Struktur von Plagioklas in Quarzdiorit.
| Optische Struktur von MBBA
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Bertrand-Objektiv für konoskopische und orthoskopische BeobachtungenMit einem Adapter zur konoskopischen Mikroskopie ist ein Umschalten zwischen orthoskopischer und konoskopischer Beobachtung ganz einfach. Die Linse ist zur Ansicht von klaren Interferenzmustern in der hinteren Brennebene fokussierbar. Die Bertrand Linse ist zur Ansicht von klaren Interferenzmustern in der hinteren Brennebene fokussierbar. Mit der Leuchtfeldblende lassen sich einheitlich scharfe konoskopische Bilder erzeugen. |
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Große Auswahl an Kompensatoren und Hilfspräparaten
Für die Messung der Doppelbrechung in Gestein und mineralischen Dünnschliffen stehen sechs verschiedene Kompensatoren zur Verfügung. Gangunterschiede reichen von 0 bis 20 λ. Für leichtere Messungen und hohe Bildkontraste können Berek und Senarmont
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Messbereich der Kompensatoren
Für genauere Messungen ist es empfehlenswert, die Kompensatoren (außer U-CWE2) zusammen mit dem Interferenzfilter 45-IF546 zu verwenden |
Spannungsfreie OptikUnsere Polarisationsobjektive reduzieren die Spannung auf ein Minimum. Dies bedeutet einen höheren EF-Wert, sodass ein ausgezeichneter Bildkontrast entsteht. |
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Stabiler und genauer DrehtischDer am Drehtisch angebrachte Dreh-/Zentriermechanismus ermöglicht ein behutsames Drehen einer Probe. Außerdem gibt es jeweils nach 45 Grad eine Rastung für präzise Messungen. Mit der optionalen doppelten Objektführung ist eine diskrete X-Y-Bewegung möglich. | Doppelte Objektführung |
Spezifikationen
Mikroskopieverfahren > Hellfeld | ✓ |
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Mikroskopieverfahren > Polarisiertes Licht | ✓ |
Mikroskopieverfahren > Einfach polarisiertes Licht | ✓ |
Fokus > Fokussiermechanismus > Tischfokus | ✓ |
Tisch > Mechanisch > Präzisionsdrehtisch | Rotation: 360 Grad |
Kondensor > Manuell > Polarisierender Kondensor | NA 0,9/A.A. 1,3 mm (Objektträgerglas 1,5 mm) (4X-100X) |
Beobachtungstuben > Weitfeld (FN 22) > Trinokulartubus | ✓ |
Beobachtungstuben > Weitfeld (FN 22) > Schwenkbarer Trinokulartubus | ✓ |
Abmessungen (B × T × H) | 274 (B) x 436 (T) x 535 (H) mm |
Gewicht | 16 kg |
Informationsmaterialien
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