- Visão geral
- Configurações
- Fácil de usar
- Funcionalidade
- Qualidade da imagem
- Aplicações
- Especificações
- Recursos
Visão geral
Microscopia avançada simplificadaDesenvolvida pensando na modularidade, a série BX3M oferece versatilidade para uma ampla variedade de aplicações industriais e na área de ciência dos materiais. Com integração otimizada com o software PRECiV, o BX53M oferece um processo de trabalho ideal para usuários de microscopia padrão ou de formação de imagens digitais, da observação à criação de relatórios. Experiência BX53M | ![]() |
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![]() | Selecione o melhor modeloSeis configurações sugeridas do BX53M oferecem flexibilidade para escolher os recursos que necessita.
Veja mais |
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Confortável e fácil de usarO BX53M simplifica as tarefas de microscopia complexas através dos seus controles bem projetados e fáceis de usar. Os usuários tiram o máximo proveito do microscópio sem a necessidade de uma formação especializada. A operação simples e confortável do BX53M também otimiza a reprodutibilidade ao minimizar a falha humana.
Veja mais |
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![]() | FuncionalO BX53M mantém os métodos de contraste tradicionais da microscopia convencional, tal como o campo claro, campo escuro, luz polarizada e contraste de interferência diferencial. Conforme novos materiais são desenvolvidos, é possível solucionar muitos dos problemas associados à detecção de defeitos que utilizam métodos padrão de contraste empregando técnicas avançadas de microscopia a fim de realizar inspeções mais precisas e confiáveis. Novas técnicas e opções de iluminação direcionadas à aquisição de imagem no software de análise de imagem PRECiV oferecem aos usuários um maior leque de opções sobre como avaliar suas amostras e documentar os resultados.
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Ópticas de pontaToda a experiência no desenvolvimento de ópticas de alta qualidade da Olympus culminou em um registro de qualidade óptica comprovada e de microscópios que oferecem uma excelente precisão de medição.
Veja mais | Controle de aberrações de frentes de onda
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Configurações
Conceito de sistema modular altamente confiável
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Uso geral | Uso exclusivo | |||||||||
EntradaFácil de configurar com recursos básicos | PadrãoFácil de usar com | AvançadaCompatível com vários recursos avançados | FluorescênciaIdeal para a | InfravermelhoConcebida para observação infravermelha para inspeção de circuitos integrados | PolarizaçãoProjetada para observar características de birrefringência | |||||
Filtro de cores LCD | Microestrutura com grãos | Fio de cobre da bobina | Resistência no padrão do CI | Padrão do CI com camadas de silício | Amianto | |||||
Ver quadro de especificações
Entry (Entrada) | Standard (Padrão) | Advanced (Avançada) | Fluorescence (Fluorescência) | Infrared (Infravermelho) | Polarization (Polarização) | |
Estrutura do microscópio | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida ou refletida/transmitida | Refletida | Transmitida | ||
Padrão | R-BF ou T-BF | R-BF ou T-BF ou DF | R-BF ou T-BF ou DF ou MIX | R-BF ou T-BF ou DF ou FL | R-BF ou IV | T-BF ou POL |
Opcional | DIC | DIC/MIX | DIC | DIC/MIX | - | - |
Iluminador simples | - | ![]() | ![]() | - | - | - |
Legenda da abertura | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
Hardware codificado | - | ![]() | ![]() | ![]() | - | ![]() |
Índice de escala de foco | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() |
Gerenciador da intensidade de luz | ![]() | ![]() | ![]() | - | - | ![]() |
Operação com interruptor manual | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
Observação MIX | ![]() | ![]() | ![]() | ![]() | - | - |
Objetivas | Selecione 3 objetivas com base em suas aplicações | Selecione 3 objetivas com base em suas aplicações | Objetivas para IV | Objetivas para POL | ||
Platina | Selecione 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Selecione 5 platinas com base no tamanho das suas amostras | Platina para POL |
MÉTODO DE OBSERVAÇÃOR-BF: campo claro (Refletida) *O T-BF pode ser usado ao selecionar a estrutura do microscópio Refletida/Transmitida.
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Exemplos de configurações para Ciência de MateriaisO design modular permite que várias configurações atendam aos requisitos do usuário. |
Combinação de luz refletida e luz refletida/transmitida do BX53MExistem dois tipos de estruturas de microscópio na Série BX3M, um deles orientado somente para a luz refletida e o outro para a luz refletida e transmitida. Ambas as estruturas podem ser configuradas com componentes manuais, codificadas ou motorizadas. As estruturas são equipadas com capacidade contra descarga eletrostática para a proteção de amostras eletrônicas. | Exemplo de configuração do BX53MRF-S | Exemplo de configuração do BX53MTRF-S |
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![]() | Combinação de IV do BX53MÉ possível usar as objetivas de IV em aplicações de inspeção, medição e processamento de semicondutores que exigem a formação de imagens através de silício para visualizar o padrão. Oferecemos objetivas de infravermelho (IV) 5X a 100X com correção de aberração cromática para comprimentos de onda desde luz visível até infravermelho-próximo. Para trabalhos de alta ampliação, a rotação do colar de correção da série de lentes LCPLNIR corrige as aberrações causadas pela espessura da amostra. É obtida uma imagem nítida com uma única objetiva. Clique aqui para obter detalhes sobre lentes objetivas de IV |
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Combinação de luz polarizada do BX53MA óptica de luz polarizada do BX53M oferece aos geólogos as ferramentas certas para a formação de imagens de luz polarizada de alto contraste. Aplicações como identificação mineral, investigação de caraterísticas ópticas de cristais e observação de cortes de rocha sólida se beneficiam da estabilidade do sistema e do alinhamento óptico preciso. | BX53-P com configuração ortoscópica | BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica |
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Lentes Bertrand para observações conoscópicas e ortoscópicasCom um acessório de observação conoscópica U-CPA, a comutação entre a observação ortoscópica e conoscópica é rápida e simples. Ajustável para visualização dos padrões de interferência do plano focal traseiro. O limitador de campo visual Bertrand torna possível a captura consistente de imagens conoscópicas claras e nítidas. | ![]() |
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![]() | Uma grande variedade de compensadores e placas de ondaSeis compensadores diferentes estão disponíveis para medições de birrefringência em seções finas de rochas e minerais. O nível de retardo de medição varia entre 0 e 20 λ. Para medições mais simples e contrastes de imagens mais altos, é possível usar os compensadores Berek e Senarmont, que alteram o nível de retardo em todo o campo de visão. |
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Intervalo de medição dos compensadores
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*R = nível de retardo |
Ópticas livres de tensãoGraças à sofisticada tecnologia de design e fabricação da Olympus, as objetivas livres de tensão UPLFLN-P reduzem a tensão interna ao mínimo. Isso resulta em um valor de EF mais alto, proporcionando um excelente contraste na imagem. | Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UPLFLN-PClique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas PLN-P/ACHN-P |
![]() | Sistema BXFMO sistema BXFM pode ser adaptado a aplicações especiais ou integrado a outros instrumentos. A construção modular oferece uma adaptação simples a ambientes e configurações exclusivos com uma variedade de pequenos iluminadores especiais e suportes de fixação. |
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Design modular, construa seu sistema à sua maneira |
Estruturas de microscópioExistem duas estruturas de microscópio orientadas para a luz refletida, uma delas também apresenta capacidade de luz transmitida. Está disponível um adaptador para elevar o iluminador, a fim de acomodar amostras mais altas.
Acessórios úteis para a utilização em microscopia
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SuportesPara aplicações de microscopia nas quais a amostra não se adapta à platina, o iluminador e as ópticas podem ser montados em um suporte maior ou em outro equipamento. Configuração do iluminador BXFM + BX53M
Configuração do iluminador BXFM + U-KMAS
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TubosPara imagens microscópicas com oculares ou para observação da câmera, selecione os tubos por tipo de imagem e postura do operador durante a observação.
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IluminadoresO iluminador projeta luz para a amostra com base no método de observação selecionado. Interfaces de software com iluminadores codificados para ler a posição dos cubos e reconhecer automaticamente o método de observação. | ![]() |
Função codificada | Fonte de luz | BF | DF | DIC | POL | IV | FL | MIX | AS/FS | ||
1 | BX3M-RLAS-S | Posição 3 do cubo fixa | LED - integrado | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
2 | BX3M-URAS-S | Posição 4 do cubo anexável | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ |
Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
Mercúrio/orientação de luz | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | ■ | |||
3 | BX3M-RLA-S | LED | ■ | ■ | ■ | ■ | - | - | ■ | ■ | |
Halogênio | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | - | ■ | ■ | |||
4 | BX3M-KMA-S | LED - integrado | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
5 | BX3-ARM | Braço mecânico para luz transmitida | |||||||||
6 | U-KMAS | LED | ■ | - | ■ | ■ | - | - | ■ | - | |
Halogênio | ■ | - | ■ | ■ | ■ | - | ■ | - |
Fontes de luzFontes de luz e fontes de alimentação para iluminação de amostras, selecione a fonte de luz apropriada para o método de observação. | ![]() |
Configuração de recursos de luz LED padrão
Configuração de recursos de luz de fluorescência
| Configuração de recursos de luz de halogênio IV e halogênio
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Portas-objetivasAcessório para objetivas e deslizadores. Selecione pelo número de objetivas e tipos necessários; também com/sem acessório para deslizador. | ![]() |
Tipo | Orifícios | BF | DF | DIC | MIX | ESD |
Número de
orifícios centrais | ||
1 | U-P4RE | Manual | 4 | ■ | ■ | 4 | |||
2 | U-5RE-2 | Manual | 5 | ■ | |||||
3 | U-5RES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ||||
4 | U-D6RE | Manual | 6 | ■ | ■ | ||||
5 | U-D6RES | Codificado | 6 | ■ | ■ | ||||
6 | U-D5BDREMC | Motorizado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
7 | U-D6BDRE | Manual | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ||
8 | U-D5BDRES-ESD | Codificado | 5 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
9 | U-D6BDRES-S | Codificado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
10 | U-D6REMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ||||
11 | U-D6BDREMC | Motorizado | 6 | ■ | ■ | ■ | ■ | ■ | |
12 | U-D5BDREMC-VA | Motorizado | 5 | ■ | ■ |
DeslizadoresSelecione o deslizador para complementar a observação de campo luminoso tradicional. O deslizador DIC fornece informações topográficas sobre a amostra com opções para maximizar o contraste ou a resolução. O deslizador MIX fornece flexibilidade de iluminação com uma fonte LED segmentada na trajetória do campo escuro. | ![]() |
Deslizador DIC
Deslizador MIX
| Cabo
*apenas MIXR |
Caixa de comando e interruptores manuaisCaixas de comando para possibilitar a interface do hardware do microscópio com um PC e interruptores manuais para a exibição e controle do hardware. Configuração do BX3M-CB (CBFM)
Cabo
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PlatinasPlatinas e placas de platinas para posicionamento de amostras. Selecione com base na forma e tamanho da amostra. | ![]() |
Configuração da platina de 150 mm × 100 mm
Configuração da platina de 76 mm × 52 mm
| Configuração da platina de 100 mm × 100 mm
Outras
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Adaptadores de câmeraAdaptador para observação de câmera. Selecionável a partir do campo de visão e ampliação necessários. O intervalo de observação real pode ser calculado utilizando a seguinte fórmula: campo de visão real (diagonal mm) = campo de visão (número de visualização) ÷ ampliação da objetiva. | ![]() |
Aumento | Ajuste central | Área de imagem CCD (número de campo) mm | ||||
2/3 polegadas | 1/1,8 polegadas | 1/2 polegadas | ||||
1 | U-TV1x-2 com U-CMAD3 | 1 | - | 10,7 | 8,8 | 8 |
2 | U-TV1xC | 1 | ø2 mm | 10,7 | 8,8 | 8 |
3 | U-TV0.63xC | 0,63 | - | 17 | 14 | 12,7 |
4 | U-TV0.5xC-3 | 0,5 | - | 21,4 | 17,6 | 16 |
5 | U-TV0.35xC-2 | 0,35 | - | - | - | 22 |
6 | U-TV0.25xC | 0,25 | - | - | - | - |
OcularesOcular para visualização direta no microscópio. Selecione com base no campo de visão pretendido.
| ![]() |
Filtros ópticosOs filtros ópticos convertem a luz de exposição da amostra em vários tipos de iluminação. Selecione o filtro apropriado para os requisitos de observação. | ![]() |
BF, DF, FL
POL, DIC
| IV
Luz transmitida
Outras
*AN e PO não são necessários ao usar o BX3M-RLAS-S e a U-FDICR |
CondensadoresOs condensadores recolhem e focam a luz transmitida. Utilize para a observação de luz transmitida.
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Unidades de espelhoUnidade de espelho para o BX3M-URAS-S. Selecione a unidade para a observação necessária.
*Apenas para iluminação episcópica coaxial | ![]() |
Tubos intermediáriosVários tipos de acessórios para múltiplas finalidades. Para usar entre o tubo e o iluminador.
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Objetivas UIS2As objetivas ampliam a amostra. Selecione a objetiva correspondente à distância de trabalho, poder de resolução e método de observação para a aplicação. Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UIS2 |
Fácil de usar
Técnicas tradicionais simplificadas:
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Controles intuitivos do microscópio:
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Localize o foco rapidamenteO índice da escala de foco na estrutura auxilia no acesso rápido ao ponto focal. Os operadores podem ajustar o ponto focal sem visualizar a amostra através de uma ocular, poupando, deste modo, tempo precioso ao inspecionar amostras de diferentes alturas. | ![]() |
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![]() | ![]() | Operação simples e confortávelO design de um sistema afeta a eficiência de trabalho dos usuários. Tanto usuários de microscópios independentes quanto os que fazem integração com o software de análise de imagem PRECiV tiram proveito de controles práticos que exibem claramente a posição do hardware. Os controles simples permitem que o usuário foque na sua amostra e execute a inspeção necessária. |
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Para iluminação consistente:
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![]() |
Para restaurar as configurações do microscópio:
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Funcionalidade
O invisível torna-se visível:
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![]() | Criar imagens de plano de foco ampliado: EFIA função de imagem focal estendida (Extended Focus Imaging, EFI) no software PRECiV captura imagens de amostras com alturas que ultrapassam a profundidade de foco da objetiva e as empilha para criar uma imagem com todos os focos incluídos. É possível executar a EFI utilizando tanto um eixo Z manual ou motorizado, criando um mapa de altura para uma visualização fácil de estruturas. Além disso, também é possível criar uma imagem EFI no Desktop do PRECiV em modo offline. |
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Captura de áreas claras e escuras: HDRAo utilizar o processamento de imagem avançado, a alta faixa dinâmica (HDR) se ajusta às diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o seu brilho. A HDR aprimora a qualidade visual de imagens digitais, auxiliando, deste modo, na criação de relatórios com um aspecto profissional. | ![]() Corretamente exposta pela HDR para ambas as partes claras e escuras (amostra: lâmpada do injetor de combustível) | ![]() Melhoria do contraste pela HDR |
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![]() Imagem com MIA instantâneo de uma moeda | Move com facilidade a platina para panorama: MIA instantâneaAgora, é possível unir imagens com facilidade e rapidez movendo apenas os botões reguladores XY na platina manual, eliminando a necessidade de platinas motorizadas. O software PRECiV utiliza recursos de reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, fornecendo aos usuários um campo de visão mais amplo do que um só quadro. |
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Capacidade versátil de medição |
Funções de medição básicas ou de rotinaO PRECiV disponibiliza várias funções de medição, permitindo que o usuário obtenha facilmente dados úteis com base nas imagens. Muitas vezes as operações de controle de qualidade e inspeção exigem recursos de medição nas imagens. Todos os níveis das licenças do PRECiV incluem funções de medição interativas, tais como distâncias, ângulos, retângulos, círculos, elipses e polígonos. Todos os resultados medidos são salvos com os arquivos de imagens para documentação complementar. | ![]() |
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![]() | Contagem e mediçãoA detecção de objetos e a medição de distribuição de tamanho estão entre as aplicações mais importantes na formação de imagens digitais. O PRECiV incorpora um mecanismo de detecção que utiliza métodos de limite para separar objetos de maneira confiável (p. ex.: partículas, riscos) do fundo. |
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Soluções para a Ciência dos MateriaisO PRECiV oferece uma interface intuitiva e orientada ao processo de trabalho para a análise de imagens complexas. Com o simples clique de um botão, é possível executar as mais complexas tarefas de análise de imagens com rapidez, precisão e em conformidade com os padrões industriais mais comuns. Com uma redução significativa do tempo de processamento para tarefas repetitivas, os cientistas de materiais podem concentrar-se na análise e investigação. Os suplementos modulares para inclusões e gráficos de intercepção são facilmente realizados a qualquer momento. | ![]() |
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![]() Visualização da superfície 3D (amostra do teste de rugosidade) | ![]() Visualização única e medição de perfil 3D | Medição de amostra 3DAo utilizar uma unidade externa de foco motorizado, uma imagem focal EFI pode ser rapidamente capturada e exibida em 3D. É possível usar os dados de altura obtidos para medições 3D no perfil ou a partir da imagem de visualização única. Compatibilidade programada para o PRECiV v.1.2. |
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Saiba mais sobre o PRECiV |
Veja mais tipos e tamanhos de amostraA nova platina de 150 mm × 100 mm oferece um alcance mais longo na direção X do que os modelos anteriores. Esta nova platina, em conjunto com o design de superfície superior plana, permite a fácil colocação de amostras de grandes dimensões ou de múltiplas amostras na platina. A placa de platina tem orifícios roscados para anexar suportes de amostra. A platina de maiores dimensões oferece flexibilidade aos usuários ao permitir a inspeção de um maior número de amostras através de um único microscópio, poupando espaço valioso no laboratório. O torque ajustável da platina facilita o posicionamento preciso sob alta ampliação utilizando um campo de visão estreito. |
Flexibilidade para a altura e peso de amostrasAs amostras de até 105 mm podem ser montadas na platina utilizando a unidade modular opcional. Graças ao mecanismo de focalização otimizado, o microscópio é capaz de acomodar um peso total (amostra + platina) de até 6 kg. Isso significa que amostras de maiores dimensões e mais pesadas podem ser inspecionadas no BX53M, tornando o número de microscópios necessários no laboratório significativamente inferior. Ao posicionar, de forma descentrada e estratégica, um suporte rotativo para bolachas de 6 polegadas, os usuários são capazes de observar toda a superfície da bolacha rodando apenas o suporte, ao passarem pela faixa de alcance de 100 mm. O ajuste de torque da platina é otimizado para facilitar o seu uso e a haste confortável permite encontrar mais facilmente o ponto de interesse da amostra. | ![]() BX53MRF-S |
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![]() BXFM | Flexibilidade para o tamanho de amostrasQuando as amostras são muito grandes para seu posicionamento em uma platina tradicional de microscópio, os componentes ópticos principais para microscopia de luz refletida podem ser configurados em uma configuração modular. Este sistema modular, o BXFM, pode ser montado em um suporte maior através de um pilar ou em outro instrumento à escolha do usuário utilizando um suporte de montagem. Isso permite aos usuários se beneficiar das célebres ópticas Olympus, mesmo quando as suas amostras apresentam tamanhos ou formas singulares. |
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Proteção de aparelhos eletrônicos contra descargas eletrostáticas: compatível com ESDO BX53M possui uma capacidade de dissipação ESD que protege os aparelhos eletrônicos da eletricidade estática causada por fatores humanos ou ambientais. |
Qualidade da imagem
Tradição em ópticas de última geração |
Combinação de abertura numérica alta e distância de trabalho longaAs lentes objetivas são essenciais para o desempenho de um microscópio. |
Saiba mais sobre as objetivas MXPLFLN |
Desempenho óptico superior:
| ![]() Frente de onda de má qualidade | ![]() Frente de onda de boa qualidade (objetiva UIS2) |
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![]() Lâmpada de halogênio: a cor varia conforme a intensidade de luz. | ![]() LED: a cor é consistente com a intensidade de luz e mais clara que a lâmpada de halogênio. |
Temperatura de cor consistente:
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Qualidade superior para um desempenho avançado |
Suporta a medição precisa:
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![]() Bolacha semicondutora (imagem binarizada): |
União de imagens perfeita:
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Saiba mais sobre o PRECiV |
Aplicações
Padrão do circuito integrado em um wafer semicondutorO campo escuro é usado para detectar arranhões ou defeitos ínfimos em uma amostra ou inspecionar amostras com superfícies espelhadas, tal como wafers. A iluminação MIX permite ao usuário visualizar padrões e cores. | MIX (Campo claro + Campo escuro) | Campo escuro |
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Fluorescência | MIX (Fluorescência + Campo escuro) | Resíduo fotorresistente em um wafer semicondutorA fluorescência é usada para amostras que emitem luz quando iluminadas por um cubo de filtro especialmente projetado. Ela é usada para detectar contaminação e resíduos fotorresistentes. A iluminação MIX permite a observação dos resíduos fotorresistentes e do padrão do CI. |
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Filtro de cores LCDEsta técnica de observação é adequada para amostras transparentes, tal como LCD, plásticos e materiais de vidro. A iluminação MIX permite a observação do filtro de cor e do padrão do circuito. | Luz transmitida | MIX (Luz transmitida + Campo claro) |
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Campo claro | Contraste de interferência diferencial (DIC) | Ferro fundido de grafite esferoidalO DIC é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado; é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais. |
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SericitaO contraste de interferência diferencial (DIC) é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra, geralmente não detectável no campo claro, é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado. Essa técnica é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais. | Campo claro | Luz polarizada |
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Infravermelho (IV) | Bases de ligação em um padrão do CIO IR é usado para procurar defeitos no interior de circuitos integrados e de outros dispositivos fabricados com silício sobre vidro. |
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Especificações
ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO GERAL |
Básico | Padrão | Avançado | |||||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (correção para infinito) | ||||||||
Unidade principal | Estrutura do microscópio | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | ||
Foco |
Graduação: 25 mm
Traço fino por rotação: 100 μm Graduação mínima: 1 μm Com obturador de limite máximo, ajuste de torque para botão macro | ||||||||
Altura máx. da amostra |
Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD)
Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD) | ||||||||
Tubo de observação | Campo amplo (F.N.22) | U-TR30-2-2 Invertido: trinocular | |||||||
Iluminação |
Luz refletida
Luz transmitida | BX3M-KMA-S LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF | BX3M-RLAS-S Codificado, LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF | ||||||
- | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | ||||
Revólver porta-objetivas | U-5RE-2 Para BF: quíntuplo | U-D6BDRE Para BF/DF: sêxtuplo | U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado | ||||||
Ocular (F.N.22) | WHN10
WHN10X-H | ||||||||
Observação MIX | - | BX3M-CB Caixa de controle BX3M-HS Controlador manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para observação de luz refletida U-MIXRCBL Cabo para MIXR | |||||||
Condensador (longa distância de trabalho) | - | U-LWCD | - | U-LWCD | - | U-LWCD | |||
Cabo de energia | UYCP (x1) | UYCP (x2) | |||||||
Peso |
Refletida: aprox. 15,8 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg)
Refletida/transmitida: aprox. 18,3 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg) | ||||||||
Objetivas | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação de BF/POL/FL | - | ||||||
Conjunto MPLFLN BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | - | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | |||||||
Platina (X × Y) | Conjunto de 76 mm × 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina com haste direita coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque | |||||||
Conjunto de 100 mm × 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm (G) | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||||
Conjunto de 150 mm × 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||||
Conjunto de 150 mm × 100 mm (G) | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||||
Opcional | Conjunto de observação MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | - | ||||||
DIC* | U-DICR | ||||||||
Tubos intermediários | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||||
Placa de platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||||
Suporte da amostra | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||||
Pega de borracha | U-SHG, U-SHGT |
*Não pode ser usado com o U-5RE-2.
UNIDADES BX53M/BXFM ESD
Itens | Estrutura do microscópio | BX53MRF-S, BX53MTRF-S |
Iluminador | BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S | |
Porta-objetivas | U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD | |
Platina | U-SIC4R2, U-MSSP4 |
ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO EXCLUSIVA |
Fluorescência | Infravermelho | Polarizado | |||||
Sistema óptico | Sistema óptico UIS2 (correção para infinito) | ||||||
Unidade principal | Estrutura do microscópio | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | BX53MRF-S (Refletida) | BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida) | ||
Foco |
Graduação: 25 mm
Traço fino por rotação: 100 μm Graduação mínima: 1 μm Com obturador de limite máximo, ajuste de torque para botão macro | ||||||
Altura máx. da amostra |
Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD)
Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD) | ||||||
Tubo de observação | Campo amplo (F.N.22) | U-TR30-2 Invertido: trinocular | U-TR30IR Invertido: trinocular para IR | U-TR30-2 Invertido: trinocular | |||
Acessório intermediário de luz polarizada (U-CPA) | Lentes Bertrand | - | - | Focalização | |||
Limitador de campo Bertrand | - | - | ø3,4 mm de diâmetro (fixo) | ||||
Ativar ou desativar a troca de lentes Bertrand entre observação ortoscópica e conoscópica | - | - |
Posição do deslizador ● dentro
Posição do deslizador ○ fora | ||||
Slot do analisador | - | - | Analisador rotativo com slot (U-AN360P-2) | ||||
Iluminação | Luz refletida | Observação FL | BX3M-URAS-S Luz refletida com codificação universal, carrossel da unidade de espelho com 4 posições, (padrão: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF etc.) com FS, AS (com mecanismo de centralização), com mecanismo obturador | - | - | ||
Observação de IV | - | BX3M-RLA-S Lâmpada de halogênio de 100 W para IV, BF/IV, AS (com mecanismo de centralização) U-LH100IR (incluindo 12 V 10 W HAL-L) Fonte de luz de halogênio de 100 W para IV TH4-100 Fonte de alimentação de 100 W TH4-HS Controlador manual U-RMT Cabo de extensão | - | ||||
Luz transmitida | Observação POL | - | - | BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho | |||
Revólver porta-objetivas | U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado | U-5RE-2 Para BF: quíntuplo | U-P4RE Quádruplo, componentes de fixação centralizáveis A lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4 (U-TAD), a placa de cor (U-TP530) e vários compensadores podem ser fixados utilizando o adaptador de placa (U-TAD) | ||||
Ocular (F.N.22) | WHN10X | ||||||
WHN10X-H | CROSS-WHN10X | ||||||
Unidades de espelho | U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro ND integrado U-FBF Para BF, filtro ND detectável U-FWUS Para FL ultravioleta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde | - | |||||
Filtro/Polarizador/Analisador | U-25FR Filtro azul | U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trajetória de banda para IR | 43IF550-W45 Filtro verde | ||||
U-POIR Deslizador polarizador refletido para IR | U-AN360IR Deslizador analisador rotativo para IR | U-AN360P-2 Indicador com rotação de 360° Ângulo mínimo de rotação 0,1° | |||||
Condensador | U-LWCD Longa distância de trabalho | - | U-POC-2 Condensador acromático livre de tensão. Polarizador de rotação de 360° com lentes superiores acromáticas swing-out. O botão de parada na posição “0°” é ajustável. NA 0,9 (lente superior dentro)/ NA 0,18 (lente superior fora) Diafragma de íris de abertura: diâmetros de ajuste de 2 mm a 21 mm | ||||
Deslizador/Compensadores | - | U-TAD Deslizador (adaptador de placa) | |||||
U-TP530 Cor de placa U-TP137 Lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4 | |||||||
Cabo de energia | UYCP (x1) | UYCP (x2) | UYCP (x1) | ||||
Peso | Refletida: aprox. 15,8 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg) | Refletida/Transmitida: aprox. 18,3 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg) | Aprox. 18,9 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg) | Aprox. 16,2 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg) | |||
Fonte de luz de FL refletida | Luz guia | Conjunto de luz guia U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, | - | - | |||
Lâmpada de mercúrio | U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV Conjunto de lâmpadas de mercúrio | - | - | ||||
Objetivas | Conjunto MPLFLN | MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação BF/DIC/POL/FL | - | - | |||
Conjunto MPLFLN BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD | MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL | - | - | ||||
Conjunto IV | - | LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Observação de IV | - | ||||
Conjunto POL | - | - | UPLFLN4XP,10XP,20XP,40XP Observação POL | ||||
Platina (X × Y) | Conjunto de 76 mm × 52 mm | U-SVRM, U-MSSP Platina com haste esquerda coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque | |||||
Conjunto de 100 mm × 100 mm | U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste esquerda coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||
Conjunto de 100 mm x 100 mm (G) | U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||
Conjunto de 150 mm × 100 mm | U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y | ||||||
Conjunto de 150 mm × 100 mm (G) | U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro) | ||||||
Conjunto POL | - | U-SRP+U-FMP Platina de polarização rotativa + platina mecânica | |||||
Opcionais | Conjunto de observação MIX* | BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL | |||||
DIC* | U-DICR | ||||||
Tubos intermediários | U-CA, U-EPA2, U-TRU | ||||||
Filtros | U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR | ||||||
Filtro para condensador | 43IF550-W45, U-POT | ||||||
Placa de platina | U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2 | ||||||
Suporte da amostra | U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4 | ||||||
Pega de borracha | U-SHG, U-SHGT |
*Não pode ser usado com o U-5RE-2
Recursos
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