Visão geral

Microscopia avançada simplificada Desenvolvida pensando na modularidade, a série BX3M oferece versatilidade para uma ampla variedade de aplicações industriais e na área de ciência dos materiais. Com integração otimizada com o software PRECiV, o BX53M oferece um processo de trabalho ideal para usuários de microscopia padrão ou de formação de imagens digitais, da observação à criação de relatórios. Experiência BX53M

Microscopia avançada simplificada

Desenvolvida pensando na modularidade, a série BX3M oferece versatilidade para uma ampla variedade de aplicações industriais e na área de ciência dos materiais. Com integração otimizada com o software PRECiV, o BX53M oferece um processo de trabalho ideal para usuários de microscopia padrão ou de formação de imagens digitais, da observação à criação de relatórios.

Experiência BX53M

	Selecione o melhor modelo Seis configurações sugeridas do BX53M oferecem flexibilidade para escolher os recursos que necessita. Para utilização geral: básico, padrão, avançado Para utilização exclusiva: fluorescência, infravermelho, polarização Múltiplas configurações para satisfazer os requisitos do usuário Design modular, construa seu sistema à sua maneira Veja mais

Selecione o melhor modelo

Seis configurações sugeridas do BX53M oferecem flexibilidade para escolher os recursos que necessita.

Para utilização geral: básico, padrão, avançado
Para utilização exclusiva: fluorescência, infravermelho, polarização
Múltiplas configurações para satisfazer os requisitos do usuário
Design modular, construa seu sistema à sua maneira

Veja mais

Confortável e fácil de usar O BX53M simplifica as tarefas de microscopia complexas através dos seus controles bem projetados e fáceis de usar. Os usuários tiram o máximo proveito do microscópio sem a necessidade de uma formação especializada. A operação simples e confortável do BX53M também otimiza a reprodutibilidade ao minimizar a falha humana. Iluminador simples Controles intuitivos do microscópio Localize o foco rapidamente Iluminação consistente Operação simples e ergonômica Definições de restauração simples do microscópio Funções básicas de medição Veja mais

Confortável e fácil de usar

O BX53M simplifica as tarefas de microscopia complexas através dos seus controles bem projetados e fáceis de usar. Os usuários tiram o máximo proveito do microscópio sem a necessidade de uma formação especializada. A operação simples e confortável do BX53M também otimiza a reprodutibilidade ao minimizar a falha humana.

Iluminador simples
Controles intuitivos do microscópio
Localize o foco rapidamente
Iluminação consistente
Operação simples e ergonômica
Definições de restauração simples do microscópio
Funções básicas de medição

Veja mais

	Funcional O BX53M mantém os métodos de contraste tradicionais da microscopia convencional, tal como o campo claro, campo escuro, luz polarizada e contraste de interferência diferencial. Conforme novos materiais são desenvolvidos, é possível solucionar muitos dos problemas associados à detecção de defeitos que utilizam métodos padrão de contraste empregando técnicas avançadas de microscopia a fim de realizar inspeções mais precisas e confiáveis. Novas técnicas e opções de iluminação direcionadas à aquisição de imagem no software de análise de imagem PRECiV oferecem aos usuários um maior leque de opções sobre como avaliar suas amostras e documentar os resultados. O invisível torna-se visível Criar imagens com plano de foco ampliado Mover facilmente a platina para panorama Capturar áreas claras e escuras Ajustável para se adaptar às preferências de observação e de análise Acomoda uma vasta gama de amostras Veja mais

Funcional

O BX53M mantém os métodos de contraste tradicionais da microscopia convencional, tal como o campo claro, campo escuro, luz polarizada e contraste de interferência diferencial. Conforme novos materiais são desenvolvidos, é possível solucionar muitos dos problemas associados à detecção de defeitos que utilizam métodos padrão de contraste empregando técnicas avançadas de microscopia a fim de realizar inspeções mais precisas e confiáveis. Novas técnicas e opções de iluminação direcionadas à aquisição de imagem no software de análise de imagem PRECiV oferecem aos usuários um maior leque de opções sobre como avaliar suas amostras e documentar os resultados.

O invisível torna-se visível
Criar imagens com plano de foco ampliado
Mover facilmente a platina para panorama
Capturar áreas claras e escuras
Ajustável para se adaptar às preferências de observação e de análise
Acomoda uma vasta gama de amostras

Veja mais

Ópticas de ponta

Toda a experiência no desenvolvimento de ópticas de alta qualidade da Olympus culminou em um registro de qualidade óptica comprovada e de microscópios que oferecem uma excelente precisão de medição.

Desempenho óptico superior
Temperatura de cor estável e iluminação de LED branco de alta intensidade
Suporta a medição precisa
União de imagens perfeita

Veja mais

_{Controle de aberrações de frentes de onda}

Onda de má qualidade (controle de aberrações de frente de onda)

_{Frente de onda de má qualidade}

Onda de boa qualidade (controle de aberrações de frente de onda)

_{Frente de onda de boa qualidade (objetiva UIS2)}

Configurações

Conceito de sistema modular altamente confiável
Nunca foi tão simples

Seis configurações sugeridas do BX53M proporcionam flexibilidade para você escolher os recursos de que precisa.

Uso geral			Uso exclusivo

Entrada Fácil de configurar com recursos básicos	Padrão Fácil de usar com atualizações versáteis	Avançada Compatível com vários recursos avançados	Fluorescência Ideal para a observação com fluorescência	Infravermelho Concebida para observação infravermelha para inspeção de circuitos integrados	Polarização Projetada para observar características de birrefringência
_{Filtro de cores LCD} ^{(Transmitida/BF)}	_{Microestrutura com grãos} ^ferríticos ^{(Refletida/DF)}	_{Fio de cobre da bobina} ^{(BF + DF/MIX)}	_{Resistência no padrão do CI} ^{(FL + DF/MIX)}	_{Padrão do CI com camadas de silício} ^(IV)	_Amianto ^(POL)

Ver quadro de especificações

	Entry (Entrada)	Standard (Padrão)	Advanced (Avançada)	Fluorescence (Fluorescência)	Infrared (Infravermelho)	Polarization (Polarização)
Estrutura do microscópio	Refletida ou refletida/transmitida		Refletida ou refletida/transmitida		Refletida	Transmitida
Padrão	R-BF ou T-BF	R-BF ou T-BF ou DF	R-BF ou T-BF ou DF ou MIX	R-BF ou T-BF ou DF ou FL	R-BF ou IV	T-BF ou POL
Opcional	DIC	DIC/MIX	DIC	DIC/MIX	－	－
Iluminador simples	－			－	－	－
Legenda da abertura	－				－
Hardware codificado	－				－
Índice de escala de foco
Gerenciador da intensidade de luz				－	－
Operação com interruptor manual					－	－
Observação MIX					－	－
Objetivas	Selecione 3 objetivas com base em suas aplicações		Selecione 3 objetivas com base em suas aplicações		Objetivas para IV	Objetivas para POL
Platina	Selecione 5 platinas com base no tamanho das suas amostras		Selecione 5 platinas com base no tamanho das suas amostras			Platina para POL

MÉTODO DE OBSERVAÇÃO

R-BF: campo claro (Refletida)
T-BF: campo claro (Refletida/Transmitida)
DF: campo escuro
DIC: contraste de interferência diferencial/polarização simples
MIX: MIX
FL: fluorescência
IV: infravermelho
POL: polarização

_{*O T-BF pode ser usado ao selecionar a estrutura do microscópio Refletida/Transmitida.}

: padrão
: opcional

Exemplos de configurações para Ciência de Materiais

O design modular permite que várias configurações atendam aos requisitos do usuário.
Veja abaixo alguns exemplos de configurações para ciência dos materiais.

Combinação de luz refletida e luz refletida/transmitida do BX53M Existem dois tipos de estruturas de microscópio na Série BX3M, um deles orientado somente para a luz refletida e o outro para a luz refletida e transmitida. Ambas as estruturas podem ser configuradas com componentes manuais, codificadas ou motorizadas. As estruturas são equipadas com capacidade contra descarga eletrostática para a proteção de amostras eletrônicas.	_{Exemplo de configuração do BX53MRF-S}	_{Exemplo de configuração do BX53MTRF-S}

Combinação de luz refletida e luz refletida/transmitida do BX53M

Existem dois tipos de estruturas de microscópio na Série BX3M, um deles orientado somente para a luz refletida e o outro para a luz refletida e transmitida. Ambas as estruturas podem ser configuradas com componentes manuais, codificadas ou motorizadas. As estruturas são equipadas com capacidade contra descarga eletrostática para a proteção de amostras eletrônicas.

Exemplo de configuração do BX53MRF-S

_{Exemplo de configuração do BX53MRF-S}

Exemplo de configuração do BX53MTRF-S

_{Exemplo de configuração do BX53MTRF-S}

	Combinação de IV do BX53M É possível usar as objetivas de IV em aplicações de inspeção, medição e processamento de semicondutores que exigem a formação de imagens através de silício para visualizar o padrão. Oferecemos objetivas de infravermelho (IV) 5X a 100X com correção de aberração cromática para comprimentos de onda desde luz visível até infravermelho-próximo. Para trabalhos de alta ampliação, a rotação do colar de correção da série de lentes LCPLNIR corrige as aberrações causadas pela espessura da amostra. É obtida uma imagem nítida com uma única objetiva. Clique aqui para obter detalhes sobre lentes objetivas de IV

Combinação de IV do BX53M

É possível usar as objetivas de IV em aplicações de inspeção, medição e processamento de semicondutores que exigem a formação de imagens através de silício para visualizar o padrão. Oferecemos objetivas de infravermelho (IV) 5X a 100X com correção de aberração cromática para comprimentos de onda desde luz visível até infravermelho-próximo. Para trabalhos de alta ampliação, a rotação do colar de correção da série de lentes LCPLNIR corrige as aberrações causadas pela espessura da amostra. É obtida uma imagem nítida com uma única objetiva.

Clique aqui para obter detalhes sobre lentes objetivas de IV

Combinação de luz polarizada do BX53M A óptica de luz polarizada do BX53M oferece aos geólogos as ferramentas certas para a formação de imagens de luz polarizada de alto contraste. Aplicações como identificação mineral, investigação de caraterísticas ópticas de cristais e observação de cortes de rocha sólida se beneficiam da estabilidade do sistema e do alinhamento óptico preciso.	_{BX53-P com configuração ortoscópica}	_{BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica}

Combinação de luz polarizada do BX53M

A óptica de luz polarizada do BX53M oferece aos geólogos as ferramentas certas para a formação de imagens de luz polarizada de alto contraste. Aplicações como identificação mineral, investigação de caraterísticas ópticas de cristais e observação de cortes de rocha sólida se beneficiam da estabilidade do sistema e do alinhamento óptico preciso.

BX53-P com configuração ortoscópica

_{BX53-P com configuração ortoscópica}

BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica

_{BX53-P com configuração conoscópica/ortoscópica}

Lentes Bertrand para observações conoscópicas e ortoscópicas Com um acessório de observação conoscópica U-CPA, a comutação entre a observação ortoscópica e conoscópica é rápida e simples. Ajustável para visualização dos padrões de interferência do plano focal traseiro. O limitador de campo visual Bertrand torna possível a captura consistente de imagens conoscópicas claras e nítidas.

Lentes Bertrand para observações conoscópicas e ortoscópicas

Com um acessório de observação conoscópica U-CPA, a comutação entre a observação ortoscópica e conoscópica é rápida e simples. Ajustável para visualização dos padrões de interferência do plano focal traseiro. O limitador de campo visual Bertrand torna possível a captura consistente de imagens conoscópicas claras e nítidas.

	Uma grande variedade de compensadores e placas de onda Seis compensadores diferentes estão disponíveis para medições de birrefringência em seções finas de rochas e minerais. O nível de retardo de medição varia entre 0 e 20 λ. Para medições mais simples e contrastes de imagens mais altos, é possível usar os compensadores Berek e Senarmont, que alteram o nível de retardo em todo o campo de visão.

Uma grande variedade de compensadores e placas de onda

Seis compensadores diferentes estão disponíveis para medições de birrefringência em seções finas de rochas e minerais. O nível de retardo de medição varia entre 0 e 20 λ. Para medições mais simples e contrastes de imagens mais altos, é possível usar os compensadores Berek e Senarmont, que alteram o nível de retardo em todo o campo de visão.

Intervalo de medição dos compensadores

Compensador	Intervalo de medição	Aplicação principal
Berek espesso (U-CTB)	De 0 nm a 11.000 nm (20 λ)	Medição de nível de retardo alto (R^*>3 λ) (cristais, macromoléculas, fibra, etc.)
Berek (U-CBE)	De 0 nm a 1.640 nm (3 λ)	Medição do nível de retardo (cristais, macromoléculas, organismos vivos, etc.)
Compensador Senarmont (U-CSE)	De 0 nm a 546 nm (1 λ)	Medição do nível de retardo (cristais, organismos vivos, etc.) Melhoria do contraste da imagem (organismos vivos, etc.)
Compensador Brace-Koehler 1/10 λ (U-CBR1)	De 0 nm a 55 nm (1/10 λ)	Medição de nível baixo de retardo (organismos vivos, etc.) Melhoria do contraste da imagem (organismos vivos, etc.)
Compensador Brace-Koehler 1/30 λ (U-CBE2)	De 0 nm a 20 nm (1/30 λ)	Medição do contraste da imagem (organismos vivos, etc.)
Calço de quartzo (U-CWE2)	De 500 nm a 2.200 nm (4 λ)	Medição aproximada do nível de retardo (cristal, macromoléculas, etc.)

_{*R = nível de retardo

Para uma medição mais precisa, recomenda-se a utilização conjunta dos compensadores (exceto o U-CWE2) com o filtro de interferência 45-IF546.}

Ópticas livres de tensão

Graças à sofisticada tecnologia de design e fabricação da Olympus, as objetivas livres de tensão UPLFLN-P reduzem a tensão interna ao mínimo. Isso resulta em um valor de EF mais alto, proporcionando um excelente contraste na imagem.

Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UPLFLN-P

Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas PLN-P/ACHN-P

	Sistema BXFM O sistema BXFM pode ser adaptado a aplicações especiais ou integrado a outros instrumentos. A construção modular oferece uma adaptação simples a ambientes e configurações exclusivos com uma variedade de pequenos iluminadores especiais e suportes de fixação.

Sistema BXFM

O sistema BXFM pode ser adaptado a aplicações especiais ou integrado a outros instrumentos. A construção modular oferece uma adaptação simples a ambientes e configurações exclusivos com uma variedade de pequenos iluminadores especiais e suportes de fixação.

Design modular, construa seu sistema à sua maneira

Estruturas de microscópio

Existem duas estruturas de microscópio orientadas para a luz refletida, uma delas também apresenta capacidade de luz transmitida. Está disponível um adaptador para elevar o iluminador, a fim de acomodar amostras mais altas.

		Luz refletida	Luz transmitida	Altura da amostra
1	BX53MRF-S	■	－	De 0 nm a 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	De 0 nm a 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	De 40 mm a 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	De 40 mm a 75 mm

Acessórios úteis para a utilização em microscopia

－	HP-2	Prensa manual
－	COVER-018	Proteção contra poeira

Estruturas do microscópio

Suportes

Para aplicações de microscopia nas quais a amostra não se adapta à platina, o iluminador e as ópticas podem ser montados em um suporte maior ou em outro equipamento.

Configuração do iluminador BXFM + BX53M

1	BXFM-F	A interface da estrutura pode ser montada no pilar de 32 mm
2	BX3M-ILH	Suporte do iluminador
3	BXFM-ILHSPU	Mola de bancada para o BXFM
5	SZ-STL	Suporte grande

Configuração do iluminador BXFM + U-KMAS

1	BXFM-F	A interface da estrutura pode ser montada no pilar de 32 mm
4	BXFM-ILHS	Suporte U-KMAS
5	SZ-STL	Suporte grande

Suportes

Tubos

Para imagens microscópicas com oculares ou para observação da câmera, selecione os tubos por tipo de imagem e postura do operador durante a observação.

		FN	Tipo	Tipo de ângulo	Imagem	Número de mecanismos de ajuste de dioptria
1	U-TR30-2	22	Trinocular	Fixo	Inversa	1
2	U-TR30IR	22	Trinocular para IR	Fixo	Inversa	1
3	U-ETR-4	22	Trinocular	Fixo	Ereta	－
4	U-TTR-2	22	Trinocular	Basculante	Inversa	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trinocular	Fixo	Inversa	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trinocular	Basculante	Ereta	－
7	U-TLU	22	Porta única	－	－	－
8	U-SWATLU	26,5	Porta única	－	－	－

Iluminadores

O iluminador projeta luz para a amostra com base no método de observação selecionado. Interfaces de software com iluminadores codificados para ler a posição dos cubos e reconhecer automaticamente o método de observação.

		Função codificada	Fonte de luz	BF	DF	DIC	POL	IV	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	Posição 3 do cubo fixa	LED - integrado	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Posição 4 do cubo anexável	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Halogênio	■	■	■	■	■	－	■	■
			Mercúrio/orientação de luz	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Halogênio	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED - integrado	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Braço mecânico para luz transmitida
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Halogênio	■	－	■	■	■	－	■	－

Fontes de luz

Fontes de luz e fontes de alimentação para iluminação de amostras, selecione a fonte de luz apropriada para o método de observação.

Configuração de recursos de luz LED padrão

1	BX3M-LEDR	Caixa da lâmpada LED para luz refletida
2	U-RCV	Conversor DF para o BX3M-URAS-S, exigido para observação com DF e BF, se necessário
3	BX3M-PSLED	Fonte de alimentação para a caixa da lâmpada LED requer o sistema BXFM
4	BX3M-LEDT	Caixa da lâmpada LED para luz transmitida

Configuração de recursos de luz de fluorescência

5	U-LLGAD	Adaptador para orientação de luz
2	U-RCV	Conversor DF para o BX3M-URAS-S, exigido para observação com DF, se necessário
6	U-LLG150	Orientação de luz, comprimento: 1,5 m
7	U-LGPS	Fonte de luz para fluorescência
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Caixa da lâmpada de mercúrio para fluorescência
2	U-RCV	Conversor DF para o BX3M-URAS-S, exigido para observação com DF, se necessário
10	U-RFL-T	Fonte de alimentação para lâmpada de mercúrio de 100 W

Configuração de recursos de luz de halogênio IV e halogênio

11	U-LH100IR	Estrutura da lâmpada de halogênio para IV
12	U-RMT	Cabo extensor para a caixa da lâmpada de halogêneo, comprimento de cabo de 1,7 m (necessita de uma extensão de cabo, se necessário)
13, 14	TH4-100 (200)	Especificação da fonte de energia de 100 V (200 V) para lâmpada de halogênio de 100 W/50 W
15	TH4-HS	Interruptor manual para intensidade de luz de halogêneo (interruptor de regulação TH4-100 (200) sem interruptor manual)

Portas-objetivas

Acessório para objetivas e deslizadores. Selecione pelo número de objetivas e tipos necessários; também com/sem acessório para deslizador.

		Tipo	Orifícios	BF	DF	DIC	MIX	ESD	Número de orifícios centrais
1	U-P4RE	Manual	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manual	5	■
3	U-5RES-ESD	Codificado	5	■				■
4	U-D6RE	Manual	6	■		■
5	U-D6RES	Codificado	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorizado	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manual	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Codificado	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Codificado	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorizado	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorizado	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorizado	5	■	■

Deslizadores

Selecione o deslizador para complementar a observação de campo luminoso tradicional. O deslizador DIC fornece informações topográficas sobre a amostra com opções para maximizar o contraste ou a resolução. O deslizador MIX fornece flexibilidade de iluminação com uma fonte LED segmentada na trajetória do campo escuro.

Deslizador DIC

		Tipo	Quantidade de cisalhamento	Objetivas disponíveis
1	U-DICR	Padrão	Média	MPLFLN, MPLAPON, LMPLFLN e LCPLFLN-LCD

Deslizador MIX

		Objetivas disponíveis
2	U-MIXR	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD

Cabo

U-MIXRCBL*

Cabo U-MIXR, comprimento do cabo: 0,5 m

_{*apenas MIXR}

Caixa de comando e interruptores manuais

Caixas de comando para possibilitar a interface do hardware do microscópio com um PC e interruptores manuais para a exibição e controle do hardware.

Configuração do BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Caixa de comando para o sistema BX53M
2	BX3M-CBFM	Caixa de comando para o sistema BXFM
3	BX3M-HS	Controle de observação MIX, indicador de hardware codificado, botão de função programável do software (PRECiV)
4	BX3M-HSRE	Rotação de porta-objetivas motorizada

Cabo

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Cabo de porta-objetivas motorizada, comprimento do cabo: 0,2 m

Caixa de comando e interruptores manuais

Platinas

Platinas e placas de platinas para posicionamento de amostras. Selecione com base na forma e tamanho da amostra.

Configuração da platina de 150 mm × 100 mm

1	U-SIC64	Platina com haste superior de superfície plana de 150 mm × 100 mm
2	U-SHG (T)	Haste operacional em borracha de silicone para melhoria (tipo espesso)
3	U-SP64	Placa de platina para U-SIC64
4	U-WHP64	Placa de bolacha para U-SIC64
5	BH2-WHR43	Suporte para wafer para 4–3 pol.
6	BH2-WHR54	Suporte para wafer para 5–4 pol.
7	BH2-WHR65	Suporte para wafer para 6–5 pol.
8	U-SPG64	Placa de vidro para U-SIC64

Configuração da platina de 76 mm × 52 mm

13	U-SVR M	Platina com haste direita de 76 mm × 52 mm
2	U-SHG (T)	Haste operacional em borracha de silicone para melhoria (tipo espesso)
14	U-MSSP	Placa de platina para U-SVR (/L) M
15, 16	U-HR (L) D-4	Suporte fino de lâminas para a abertura direita (esquerda)
17, 18	U-HR (L) DT-4	Suporte espesso de lâminas para a abertura direita (esquerda), para pressionar o vidro da lâmina contra a superfície superior da platina, a amostra é difícil de levantar

Configuração da platina de 100 mm × 100 mm

9	U-SIC4R 2	Platina com haste direita de 105 mm × 100 mm
10	U-MSSP4	Placa de platina para U-SIC4R (L) 2
11	U-WHP2	Placa de wafer para U-SIC4R (L) 2
6	BH2-WHR43	Suporte para wafer para 4–3 pol.
12	U-MSSPG	Placa de vidro para U-SIC4R

Outras

19	U-SRG2	Platina giratória
20	U-SRP	Platina giratória para POL, pode ser parada a 45° a partir de qualquer posição
21	U-FMP	Platina mecânica para U-SRP/U-SRG2

Adaptadores de câmera

Adaptador para observação de câmera. Selecionável a partir do campo de visão e ampliação necessários. O intervalo de observação real pode ser calculado utilizando a seguinte fórmula: campo de visão real (diagonal mm) = campo de visão (número de visualização) ÷ ampliação da objetiva.

		Aumento	Ajuste central	Área de imagem CCD (número de campo) mm
		Aumento	Ajuste central	2/3 polegadas	1/1,8 polegadas	1/2 polegadas
1	U-TV1x-2 com U-CMAD3	1	－	10,7	8,8	8
2	U-TV1xC	1	ø2 mm	10,7	8,8	8
3	U-TV0.63xC	0,63	－	17	14	12,7
4	U-TV0.5xC-3	0,5	－	21,4	17,6	16
5	U-TV0.35xC-2	0,35	－	－	－	22
6	U-TV0.25xC	0,25	－	－	－	－

Oculares

Ocular para visualização direta no microscópio. Selecione com base no campo de visão pretendido.

		FN (mm)	Mecanismo de ajuste de dioptria	Retículo cruzado integrado
1	WHN10x	22
2	WHN10x-H	22	■
3	CROSS WHN10x	22	■	■
4	SWH10x-H	26,5	■
5	CROSS SWH10x	26,5	■	■

Filtros ópticos

Os filtros ópticos convertem a luz de exposição da amostra em vários tipos de iluminação. Selecione o filtro apropriado para os requisitos de observação.

BF, DF, FL

1, 2	U-25ND25,6	Filtro de densidade neutra, transmissão 25%, 6%
3	U-25LBD	Filtro de cores tipo Daylight
4	U-25LBA	Filtro de cores de halogêneo
5	U-25IF550	Filtro verde
6	U-25L42	Filtro de bloqueio UV
7	U-25Y48	Filtro amarelo
8	U-25FR	Filtro azul (necessário para o BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	A direção da polarização é fixa
10	U-AN360-3	A direção da polarização é giratória
11	U-AN360P-2	A direção da polarização de alta qualidade é giratória
12	U-PO3	A direção da polarização é fixa
13	U-POTP3	A direção da polarização é fixa, para usar com o U-DICRH
14	45-IF546	Filtro verde de ø45 mm para POL

IV

15	U-AN360IR	A direção da polarização IR é giratória (reduz o halo na observação IR ao utilizar em combinação com U-AN360IR e U-POIR)
16	U-POIR	A direção da polarização IR é fixa
17	U-BP1100IR	Filtro passa-banda: 1.100 nm
18	U-BP1200IR	Filtro passa-banda: 1.200 nm

Luz transmitida

19	43IF550-W45	Filtro verde de ø45 mm
20	U-POT	Filtro polarizador

Outras

22

U-25

Filtro vazio, para utilizar com outros filtros de ø25 mm do usuário

_{*AN e PO não são necessários ao usar o BX3M-RLAS-S e a U-FDICR}

Condensadores

Os condensadores recolhem e focam a luz transmitida. Utilize para a observação de luz transmitida.

1	U-AC2	Condensador Abbe (disponível a partir de objetivas 5X)
2	U-SC3	Condensador swing-out (disponível a partir de objetivas 1,25X)
3	U-LWCD	Condensador de longa distância de trabalho para placa de vidro (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Condensador swing-out para POL

Unidades de espelho

Unidade de espelho para o BX3M-URAS-S. Selecione a unidade para a observação necessária.

1	U-FBF	Para BF, filtro ND removível
2	U-FDF	Para DF
3	U-FDICR	Para POL, a posição dos nicóis cruzados é fixa
4	U-FBFL	Para BF, filtro ND integrado (é necessário usar BF* e FL)
5	U-FWUS	Para FL ultravioleta: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Para FL azul: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Para FL verde: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Unidade de espelho vazia

_{*Apenas para iluminação episcópica coaxial}

Tubos intermediários

Vários tipos de acessórios para múltiplas finalidades. Para usar entre o tubo e o iluminador.

1	U-CA	Seletor de ampliação (1X, 1,25X, 1,6X, 2X)
2	U-TRU	Unidade trinocular intermediária

Objetivas UIS2

As objetivas ampliam a amostra. Selecione a objetiva correspondente à distância de trabalho, poder de resolução e método de observação para a aplicação.

Clique aqui para obter detalhes sobre as lentes objetivas UIS2

Fácil de usar

Técnicas tradicionais simplificadas:
Iluminador simples

O iluminador minimiza ações complexas geralmente necessárias durante a operação do microscópio. O indicador na parte frontal do iluminador permite ao usuário alterar facilmente o método de observação. O operador pode facilmente alternar entre os métodos de observação mais frequentemente usados na microscopia de luz refletida, tal como de campo claro para o campo escuro à luz polarizada, a fim de alternar rapidamente entre diferentes tipos de análise. Além disso, a observação de luz polarizada simples é ajustável ao rodar o analisador.

Controles intuitivos do microscópio:
FS simples e configurações AS

Utilizar o diafragma de abertura e diafragma de campo adequados fornece um excelente contraste na imagem e utiliza, da melhor maneira possível, a abertura numérica da objetiva. A legenda orienta o usuário para a configuração correta com base no método de observação e na objetiva usados.

Localize o foco rapidamente

O índice da escala de foco na estrutura auxilia no acesso rápido ao ponto focal. Os operadores podem ajustar o ponto focal sem visualizar a amostra através de uma ocular, poupando, deste modo, tempo precioso ao inspecionar amostras de diferentes alturas.

Interruptor manual para rotação da porta-objetivas motorizada

Operação simples e confortável

O design de um sistema afeta a eficiência de trabalho dos usuários. Tanto usuários de microscópios independentes quanto os que fazem integração com o software de análise de imagem PRECiV tiram proveito de controles práticos que exibem claramente a posição do hardware. Os controles simples permitem que o usuário foque na sua amostra e execute a inspeção necessária.

Para iluminação consistente:
gerenciador da intensidade de luz

Durante a configuração inicial, a intensidade de iluminação pode ser ajustada para corresponder à configuração específica do hardware do iluminador codificado e/ou do porta-objetivas codificado.

Para restaurar as configurações do microscópio:
Hardware codificado

As funções codificadas integram as configurações do sistema do BX53M ao software de análise de imagem PRECiV. O método de observação, a intensidade de iluminação e o aumento são registrados automaticamente pelo software e armazenados em conjunto com as imagens associadas. Uma vez que os operadores são sempre capazes de realizar inspeções com as mesmas configurações de observação, é possível fornecer resultados de inspeção confiáveis.

Funcionalidade

O invisível torna-se visível:
observação MIX

A tecnologia de observação MIX do BX53M combina os métodos de iluminação tradicionais com a iluminação de campo escuro. Quando o deslizador MIX é usado, o seu anel de LEDs reflete campo escuro direcional sobre a amostra. Este tem um efeito idêntico ao campo escuro tradicional, porém fornece a capacidade de selecionar um quadrante de LEDs para direcionar a luz a partir de diferentes ângulos. Esta combinação de campo escuro direcional e campo claro, fluorescência ou polarização é designada de iluminação MIX e é particularmente útil para sublinhar defeitos e diferenciar superfícies altas de depressões.

Criar imagens de plano de foco ampliado: EFI

A função de imagem focal estendida (Extended Focus Imaging, EFI) no software PRECiV captura imagens de amostras com alturas que ultrapassam a profundidade de foco da objetiva e as empilha para criar uma imagem com todos os focos incluídos. É possível executar a EFI utilizando tanto um eixo Z manual ou motorizado, criando um mapa de altura para uma visualização fácil de estruturas. Além disso, também é possível criar uma imagem EFI no Desktop do PRECiV em modo offline.

Captura de áreas claras e escuras: HDR

Ao utilizar o processamento de imagem avançado, a alta faixa dinâmica (HDR) se ajusta às diferenças na claridade de uma imagem para reduzir o seu brilho. A HDR aprimora a qualidade visual de imagens digitais, auxiliando, deste modo, na criação de relatórios com um aspecto profissional.

_{Corretamente exposta pela HDR para ambas as partes claras e escuras (amostra: lâmpada do injetor de combustível)}

_{Melhoria do contraste pela HDR

(amostra: magnesita cortada)}

_{Imagem com MIA instantâneo de uma moeda}

Move com facilidade a platina para panorama: MIA instantânea

Agora, é possível unir imagens com facilidade e rapidez movendo apenas os botões reguladores XY na platina manual, eliminando a necessidade de platinas motorizadas. O software PRECiV utiliza recursos de reconhecimento de padrão para gerar uma imagem panorâmica, fornecendo aos usuários um campo de visão mais amplo do que um só quadro.

Capacidade versátil de medição

Funções de medição básicas ou de rotina

O PRECiV disponibiliza várias funções de medição, permitindo que o usuário obtenha facilmente dados úteis com base nas imagens. Muitas vezes as operações de controle de qualidade e inspeção exigem recursos de medição nas imagens. Todos os níveis das licenças do PRECiV incluem funções de medição interativas, tais como distâncias, ângulos, retângulos, círculos, elipses e polígonos. Todos os resultados medidos são salvos com os arquivos de imagens para documentação complementar.

Contagem e medição

A detecção de objetos e a medição de distribuição de tamanho estão entre as aplicações mais importantes na formação de imagens digitais. O PRECiV incorpora um mecanismo de detecção que utiliza métodos de limite para separar objetos de maneira confiável (p. ex.: partículas, riscos) do fundo.

Soluções para a Ciência dos Materiais

O PRECiV oferece uma interface intuitiva e orientada ao processo de trabalho para a análise de imagens complexas. Com o simples clique de um botão, é possível executar as mais complexas tarefas de análise de imagens com rapidez, precisão e em conformidade com os padrões industriais mais comuns. Com uma redução significativa do tempo de processamento para tarefas repetitivas, os cientistas de materiais podem concentrar-se na análise e investigação. Os suplementos modulares para inclusões e gráficos de intercepção são facilmente realizados a qualquer momento.

_{Visualização da superfície 3D (amostra do teste de rugosidade)}

_{Visualização única e medição de perfil 3D}

Medição de amostra 3D

Ao utilizar uma unidade externa de foco motorizado, uma imagem focal EFI pode ser rapidamente capturada e exibida em 3D. É possível usar os dados de altura obtidos para medições 3D no perfil ou a partir da imagem de visualização única.

Compatibilidade programada para o PRECiV v.1.2.

Saiba mais sobre o PRECiV

Veja mais tipos e tamanhos de amostra

A nova platina de 150 mm × 100 mm oferece um alcance mais longo na direção X do que os modelos anteriores. Esta nova platina, em conjunto com o design de superfície superior plana, permite a fácil colocação de amostras de grandes dimensões ou de múltiplas amostras na platina. A placa de platina tem orifícios roscados para anexar suportes de amostra. A platina de maiores dimensões oferece flexibilidade aos usuários ao permitir a inspeção de um maior número de amostras através de um único microscópio, poupando espaço valioso no laboratório. O torque ajustável da platina facilita o posicionamento preciso sob alta ampliação utilizando um campo de visão estreito.

Flexibilidade para a altura e peso de amostras

As amostras de até 105 mm podem ser montadas na platina utilizando a unidade modular opcional. Graças ao mecanismo de focalização otimizado, o microscópio é capaz de acomodar um peso total (amostra + platina) de até 6 kg. Isso significa que amostras de maiores dimensões e mais pesadas podem ser inspecionadas no BX53M, tornando o número de microscópios necessários no laboratório significativamente inferior. Ao posicionar, de forma descentrada e estratégica, um suporte rotativo para bolachas de 6 polegadas, os usuários são capazes de observar toda a superfície da bolacha rodando apenas o suporte, ao passarem pela faixa de alcance de 100 mm. O ajuste de torque da platina é otimizado para facilitar o seu uso e a haste confortável permite encontrar mais facilmente o ponto de interesse da amostra.

_BX53MRF-S

_BXFM

Flexibilidade para o tamanho de amostras

Quando as amostras são muito grandes para seu posicionamento em uma platina tradicional de microscópio, os componentes ópticos principais para microscopia de luz refletida podem ser configurados em uma configuração modular. Este sistema modular, o BXFM, pode ser montado em um suporte maior através de um pilar ou em outro instrumento à escolha do usuário utilizando um suporte de montagem. Isso permite aos usuários se beneficiar das célebres ópticas Olympus, mesmo quando as suas amostras apresentam tamanhos ou formas singulares.

Proteção de aparelhos eletrônicos contra descargas eletrostáticas: compatível com ESD

O BX53M possui uma capacidade de dissipação ESD que protege os aparelhos eletrônicos da eletricidade estática causada por fatores humanos ou ambientais.

Qualidade da imagem

Tradição em ópticas de última geração

Combinação de abertura numérica alta e distância de trabalho longa

As lentes objetivas são essenciais para o desempenho de um microscópio.
As objetivas MXPLFLN adicionam profundidade à série MPLFLN para formação de imagens de epi-iluminação, maximizando a abertura numérica e a distância de trabalho ao mesmo tempo. Normalmente, resoluções mais altas em aumentos de 20X e 50X significam distâncias de trabalho mais curtas, o que obriga que a amostra ou a objetiva seja retraída durante a troca da objetiva. Em muitos casos, a distância de trabalho de 3 mm da série MXPLFLN elimina esse problema, possibilitando inspeções mais rápidas com menor chance de colisão da objetiva com a amostra.

Objetiva 50X convencional: AN 0,8, WD 1 mm/MXPLFLN50X: AN 0,8, WD 3 mm

tabela

Saiba mais sobre as objetivas MXPLFLN

Desempenho óptico superior:
controle de aberrações de frentes de onda

O desempenho óptico das lentes objetivas afeta diretamente a qualidade das imagens de observação e os resultados das análises. As objetivas de aumento superior Olympus UIS2 foram desenvolvidas para minimizar as aberrações da frente de onda, oferecendo um desempenho óptico confiável.

Saiba mais sobre as lentes objetivas UIS2

_{Frente de onda de má qualidade}

_{Frente de onda de boa qualidade (objetiva UIS2)}

_{Lâmpada de halogênio: a cor varia conforme a intensidade de luz.}

LED: a cor é consistente com a intensidade de luz e mais clara que o halogênio.

_{LED: a cor é consistente com a intensidade de luz e mais clara que a lâmpada de halogênio.}
^{*Todas as imagens foram capturadas utilizando exposição automática}

Temperatura de cor consistente:
iluminação de LED branco de alta intensidade

O BX53M utiliza fontes de luz de LED branco de alta intensidade para a luz refletida e a luz transmitida. O LED mantém uma temperatura de cor consistente independentemente da intensidade. Os LEDs oferecem uma iluminação eficiente e duradoura, ideal para inspecionar aplicações da Ciência dos Materiais.

Qualidade superior para um desempenho avançado

Suporta a medição precisa:
Calibração automática

Ao usar o PRECiV, a calibração automática está disponível tal como com microscópios digitais. A calibração automática elimina a variabilidade do fator humano no processo de calibração, proporcionando medições mais confiáveis. A calibração automática usa um algoritmo que calcula automaticamente a calibração correta com base em uma média de vários pontos de medição. Isso minimiza a variação causada por diferentes operadores e mantém uma precisão consistente, otimizando a confiabilidade para uma verificação regular.

_{Bolacha semicondutora (imagem binarizada):

a correção de sombreado produz iluminação uniforme em todo o campo de visão.}

União de imagens perfeita:
Correção de sombreado da imagem

O software PRECiV oferece a correção de sombreado para acomodar o sombreado nos cantos de uma imagem. Quando usada com configurações de limite de intensidade, a correção de sombreado oferece uma análise mais precisa.

Saiba mais sobre o PRECiV

Aplicações

Padrão do circuito integrado em um wafer semicondutor

O campo escuro é usado para detectar arranhões ou defeitos ínfimos em uma amostra ou inspecionar amostras com superfícies espelhadas, tal como wafers.

A iluminação MIX permite ao usuário visualizar padrões e cores.

MIX (Campo claro + Campo escuro)

_{MIX (Campo claro + Campo escuro)}

Campo escuro

_{Campo escuro}

Fluorescência

_{Fluorescência}

MIX (Fluorescência + Campo escuro)

_{MIX (Fluorescência + Campo escuro)}

Resíduo fotorresistente em um wafer semicondutor

A fluorescência é usada para amostras que emitem luz quando iluminadas por um cubo de filtro especialmente projetado. Ela é usada para detectar contaminação e resíduos fotorresistentes.

A iluminação MIX permite a observação dos resíduos fotorresistentes e do padrão do CI.

Filtro de cores LCD

Esta técnica de observação é adequada para amostras transparentes, tal como LCD, plásticos e materiais de vidro.

A iluminação MIX permite a observação do filtro de cor e do padrão do circuito.

Luz transmitida

_{Luz transmitida}

MIX (Luz transmitida + Campo claro)

_{MIX (Luz transmitida + Campo claro)}

Campo claro

_{Campo claro}

Contraste de interferência diferencial (DIC)

_{Contraste de interferência diferencial (DIC)}

Ferro fundido de grafite esferoidal

O DIC é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado; é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais.

Sericita

O contraste de interferência diferencial (DIC) é uma técnica de observação na qual a altura de uma amostra, geralmente não detectável no campo claro, é visualizada como um relevo, semelhante a uma imagem 3D com contraste melhorado. Essa técnica é ideal para inspecionar amostras que possuam diferenças muito pequenas de altura, incluindo estruturas metalúrgicas e minerais.

Campo claro

_{Campo claro}

Luz polarizada

_{Luz polarizada}

Infravermelho (IV)

_{Infravermelho (IV)}

Bases de ligação em um padrão do CI

O IR é usado para procurar defeitos no interior de circuitos integrados e de outros dispositivos fabricados com silício sobre vidro.

Especificações

ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO GERAL

			Básico		Padrão		Avançado
Sistema óptico			Sistema óptico UIS2 (correção para infinito)
Unidade principal	Estrutura do microscópio		BX53MRF-S (Refletida)	BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida)	BX53MRF-S (Refletida)	BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida)	BX53MRF-S (Refletida)	BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida)
	Foco		Graduação: 25 mm Traço fino por rotação: 100 μm Graduação mínima: 1 μm Com obturador de limite máximo, ajuste de torque para botão macro
	Altura máx. da amostra		Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD) Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD)
	Tubo de observação	Campo amplo (F.N.22)	U-TR30-2-2 Invertido: trinocular
	Iluminação	Luz refletida Luz transmitida	BX3M-KMA-S LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF		BX3M-RLAS-S Codificado, LED branco, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (com mecanismo de centralização), interbloqueio BF/DF
			－	BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho	－	BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho	－	BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho
	Revólver porta-objetivas		U-5RE-2 Para BF: quíntuplo		U-D6BDRE Para BF/DF: sêxtuplo			U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado
	Ocular (F.N.22)		WHN10 WHN10X-H
	Observação MIX		－					BX3M-CB Caixa de controle BX3M-HS Controlador manual U-MIXR-2 Deslizador MIX para observação de luz refletida U-MIXRCBL Cabo para MIXR
	Condensador (longa distância de trabalho)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Cabo de energia		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Peso		Refletida: aprox. 15,8 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg) Refletida/transmitida: aprox. 18,3 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg)
Objetivas	Conjunto MPLFLN		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação de BF/POL/FL		－
	Conjunto MPLFLN BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL
	Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL
	Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL
Platina (X × Y)	Conjunto de 76 mm × 52 mm		U-SVRM, U-MSSP Platina com haste direita coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque
	Conjunto de 100 mm × 100 mm		U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y
	Conjunto de 100 mm x 100 mm (G)		U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro)
	Conjunto de 150 mm × 100 mm		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y
	Conjunto de 150 mm × 100 mm (G)		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro)
Opcional	Conjunto de observação MIX*		BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Tubos intermediários		U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtros		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador		43IF550-W45, U-POT
	Placa de platina		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2
	Suporte da amostra		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Pega de borracha		U-SHG, U-SHGT

_{*Não pode ser usado com o U-5RE-2.}

UNIDADES BX53M/BXFM ESD

Itens	Estrutura do microscópio	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Iluminador	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Porta-objetivas	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D6RE-ESD, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Platina	U-SIC4R2, U-MSSP4

ESPECIFICAÇÕES DA CONFIGURAÇÃO SUGERIDA DO BX53M PARA UTILIZAÇÃO EXCLUSIVA

				Fluorescência		Infravermelho	Polarizado
Sistema óptico				Sistema óptico UIS2 (correção para infinito)
Unidade principal	Estrutura do microscópio			BX53MRF-S (Refletida)	BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida)	BX53MRF-S (Refletida)	BX53MTRF-S (Refletida/Transmitida)
	Foco			Graduação: 25 mm Traço fino por rotação: 100 μm Graduação mínima: 1 μm Com obturador de limite máximo, ajuste de torque para botão macro
	Altura máx. da amostra			Refletida: 65 mm (sem espaçador), 105 mm (com o BX3M-ARMAD) Refletida/Transmitida: 35 mm (sem espaçador), 75 mm (com o BX3M-ARMAD)
	Tubo de observação	Campo amplo (F.N.22)		U-TR30-2 Invertido: trinocular		U-TR30IR Invertido: trinocular para IR	U-TR30-2 Invertido: trinocular
		Acessório intermediário de luz polarizada (U-CPA)	Lentes Bertrand	－		－	Focalização
			Limitador de campo Bertrand	－		－	ø3,4 mm de diâmetro (fixo)
			Ativar ou desativar a troca de lentes Bertrand entre observação ortoscópica e conoscópica	－		－	Posição do deslizador ● dentro Posição do deslizador ○ fora
			Slot do analisador	－		－	Analisador rotativo com slot (U-AN360P-2)
	Iluminação	Luz refletida	Observação FL	BX3M-URAS-S Luz refletida com codificação universal, carrossel da unidade de espelho com 4 posições, (padrão: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF etc.) com FS, AS (com mecanismo de centralização), com mecanismo obturador		－	－
			Observação de IV	－		BX3M-RLA-S Lâmpada de halogênio de 100 W para IV, BF/IV, AS (com mecanismo de centralização) U-LH100IR (incluindo 12 V 10 W HAL-L) Fonte de luz de halogênio de 100 W para IV TH4-100 Fonte de alimentação de 100 W TH4-HS Controlador manual U-RMT Cabo de extensão	－
		Luz transmitida	Observação POL	－		－	BX3M-LEDT LED branco Condensadores Abbe/de longa distância de trabalho
	Revólver porta-objetivas			U-D6BDRES-S Para BF/DF: sêxtuplo, codificado		U-5RE-2 Para BF: quíntuplo	U-P4RE Quádruplo, componentes de fixação centralizáveis A lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4 (U-TAD), a placa de cor (U-TP530) e vários compensadores podem ser fixados utilizando o adaptador de placa (U-TAD)
	Ocular (F.N.22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Unidades de espelho			U-FDF Para DF U-FBFL Para BF, filtro ND integrado U-FBF Para BF, filtro ND detectável U-FWUS Para FL ultravioleta U-FWBS Para FL azul U-FWGS Para FL verde		－
	Filtro/Polarizador/Analisador			U-25FR Filtro azul		U-BP1100IR/U-BP1200IR Filtros de trajetória de banda para IR	43IF550-W45 Filtro verde
				U-POIR Deslizador polarizador refletido para IR		U-AN360IR Deslizador analisador rotativo para IR	U-AN360P-2 Indicador com rotação de 360° Ângulo mínimo de rotação 0,1°
	Condensador			U-LWCD Longa distância de trabalho		－	U-POC-2 Condensador acromático livre de tensão. Polarizador de rotação de 360° com lentes superiores acromáticas swing-out. O botão de parada na posição “0°” é ajustável. NA 0,9 (lente superior dentro)/ NA 0,18 (lente superior fora) Diafragma de íris de abertura: diâmetros de ajuste de 2 mm a 21 mm
	Deslizador/Compensadores			－			U-TAD Deslizador (adaptador de placa)
							U-TP530 Cor de placa U-TP137 Lâmina de retardo de comprimento de onda de 1/4
	Cabo de energia			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Peso			Refletida: aprox. 15,8 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg)	Refletida/Transmitida: aprox. 18,3 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg)	Aprox. 18,9 kg (estrutura do microscópio 7,4 kg)	Aprox. 16,2 kg (estrutura do microscópio 7,6 kg)
Fonte de luz de FL refletida	Luz guia			Conjunto de luz guia U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150,		－	－
	Lâmpada de mercúrio			U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV Conjunto de lâmpadas de mercúrio		－	－
Objetivas	Conjunto MPLFLN			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X Observação BF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto MPLFLN BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, BD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD Observação de BF/DF/DIC/POL/FL		－	－
	Conjunto IV			－		LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR Observação de IV	－
	Conjunto POL			－		－	UPLFLN4XP,10XP,20XP,40XP Observação POL
Platina (X × Y)	Conjunto de 76 mm × 52 mm			U-SVRM, U-MSSP Platina com haste esquerda coaxial/76 mm (X) × 52 mm (Y), com ajuste de torque
	Conjunto de 100 mm × 100 mm			U-SIC4R2, U-MSSP4 Platina com haste esquerda coaxial de grandes dimensões/100 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y
	Conjunto de 100 mm x 100 mm (G)			U-SIC4R2, U-MSSPG Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro)
	Conjunto de 150 mm × 100 mm			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y
	Conjunto de 150 mm × 100 mm (G)			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Platina com haste direita coaxial de grandes dimensões/150 mm (X) × 100 mm (Y), com ajuste de torque e mecanismo de bloqueio no eixo Y (placa de vidro)
	Conjunto POL			－			U-SRP+U-FMP Platina de polarização rotativa + platina mecânica
Opcionais	Conjunto de observação MIX*			BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Tubos intermediários			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filtros			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-POTP3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filtro para condensador			43IF550-W45, U-POT
	Placa de platina			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR54, BH2-WHR65, U-WHP2
	Suporte da amostra			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Pega de borracha			U-SHG, U-SHGT