- Visão geral
- Microscópios a laser industriais
- Microscópios digitais
- Microscópios semicondutores
- Microscópios de luz
Visão geral
Soluções customizadas sob medida para as suas necessidades
Nossa missão é fornecer soluções de inspeção sob medida para otimizar seu processo de trabalho. | Aproveitando nossa linha de produtos líder mundial, construímos e criamos soluções customizadas de inspeção de hardware e software. Nossas ofertas direcionadas para microscópios incluem recursos que aumentam significativamente a variedade de amostras que você pode testar. Também podemos trabalhar diretamente com você em sistemas de hardware e software para aumentar seus requisitos de testes automatizados. |
Soluções direcionadasAumente a capacidade do seu equipamento de inspeção com soluções personalizadas para aplicações direcionadas. ![]() Software personalizadoProcessos de trabalho de software personalizados para inspeções de microscópios industriais. ![]() Soluções de microscopia de escaneamento a laserRecursos avançados de microscópios de escaneamento a laser para amostras grandes e pesadas. ![]() Soluções de microscopia semicondutoraAutomatize inspeções de semicondutores usando tecnologia de microscópio personalizada. ![]() Soluções de microscopia de luzVersátil significa inspecionar componentes grandes e pesados. |
Um processo sob medidaSe não conseguir encontrar o que procura em nossas ofertas direcionadas, nossas soluções totalmente customizadas fornecem mais opções. Você pode adicionar recursos dedicados ao seu equipamento para superar seus desafios de inspeção específicos da aplicação de forma rápida e eficaz. Basta nos enviar sua solicitação de personalização usando o formulário abaixo e nossos engenheiros entrarão em contato com você para discutir uma solução. |
Informações técnicas para soluções customizadas de microscópioFornecemos designs de referência (informações técnicas) para integradores de sistema que usam nossas soluções customizadas para projetar e desenvolver produtos. A seguir, você verá desenhos 3D e 2D em CAD para estudar o layout das soluções de microscópio, software de apoio para verificar a operação com controle remoto dos sistemas e confirmar o envio e recebimento de comandos e manuais de instruções com uma lista de comandos de controle de comunicação externa e suas funções.Antes de fazer o download das informações, leia atentamente o aviso de isenção de responsabilidade a seguir e concorde com os termos de uso. Isenção de responsabilidade: Designs de referência
Descubra como nossas soluções customizadas podem ajudar você. Entre em contato conosco hoje mesmo. Observação:
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Microscópios a laser industriais
Capacidade além do convencionalImplemente todos os recursos avançados do microscópio de escaneamento a laser LEXT™ OLS5100 para a análise de materiais de amostras grandes e pesadas. |
O microscópio de escaneamento a laser OLS5100 combina precisão e desempenho óptico excepcionais com ferramentas inteligentes que tornam o sistema fácil de usar. Adicione opções de personalização para possibilitar uma grande variedade de medições e funções avançadas. |
Personalize o seu microscópio de escaneamento a laser industrial
- Platinas de serviço pesado
- Suportes de pontes grandes
- Estações de trabalho de alta estabilidade
- Suporte superior de pedra estável
- Unidade de mesa antivibração ativa
- Caixas de controle ambiental
- Fixações personalizadas
- Suporte de wafer a vácuo rotativo
- Suporte de wafer rotativo
- Fixações para orifício de parafuso
Microscópio de escaneamento a laser OLS5100-TM – Obtenha medições em escala nanométrica de amostras grandes
O microscópio OLS5100 tem várias opções de personalização para possibilitar medições em escala nanométrica de componentes eletrônicos grandes, como wafers de silício e PCBs, bem como componentes pesados, incluindo peças automotivas. Essas opções incluem:
- Platinas motorizadas de até 300 × 300 mm para a inspeção de amostras grandes e pesadas
- Platinas com maior capacidade de carga de até 30 kg
- Movimento Z manual para fácil medição de amostras de diferentes alturas
Suporte de ponte grande – Alta estabilidade para medição de amostras extragrandesA estabilidade é um fator-chave para a inspeção de alta resolução de componentes como wafers de silício, componentes eletrônicos ou peças de automóveis de grande porte. O suporte de ponte grande personalizável foi projetado para garantir a precisão e exatidão das medições feitas com o microscópio OLS5100. Recursos:
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Estações de trabalho personalizáveis de alta estabilidade – Maximizando a precisão da mediçãoAlcançar a precisão ideal de medição durante a inspeção em escala nanométrica de amostras, como componentes eletrônicos, requer equipamentos que possam minimizar o efeito de vibrações externas. Nossas estações de trabalho de alta estabilidade possibilitam uma inspeção precisa em escala nanométrica. As estações de trabalho incluem:
Esses componentes da estação de trabalho podem ser usados para personalizar uma solução integral completa ou adquiridos individualmente com base nas suas necessidades. |
Suporte superior de pedra estável – Ambiente de trabalho otimizadoAlcançar condições ambientais adequadas para precisão ideal ao realizar inspeção em escala nanométrica de componentes eletrônicos ou outros objetos pode ser um desafio. O suporte superior de pedra ajuda a garantir que os operadores possam obter medições confiáveis em alta resolução.
As unidades antivibração ativas podem ser integradas perfeitamente no suporte do microscópio, uma solução altamente compacta, ou equipadas com uma unidade de mesa antivibração, dependendo das suas necessidades de inspeção. |
Unidade de mesa antivibração ativa – Elimine pequenas vibrações para obter uma maior precisãoPara aplicações que exigem resolução em escala nanométrica, como inspeção de wafer, mesmo passos leves ou ruídos baixos podem afetar a precisão da medição. A unidade de mesa antivibração ativa foi projetada para eliminar vibrações externas e tem vários recursos que aumentam a estabilidade e a precisão da medição:
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Caixas de controle ambiental – Uma ferramenta poderosa para inspeção de salas limpasA blindagem do microscópio fornece um ambiente de trabalho que aumenta a precisão da medição e reduz o som do escaneamento ao usar os sistemas LEXT padrão. Para ajudar os usuários a manter fluxos de trabalho de inspeção eficientes com blindagem, a caixa de controle ambiental tem vários recursos de design inovadores:
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Mandril a vácuo microporoso – Fixação ideal para amostras delicadasA inspeção precisa de itens finos e flexíveis, como filmes RFID, painéis solares e wafers de silício, exigem suportes de amostra que forneçam força de fixação uniforme e deformação mínima da amostra. O mandril a vácuo microporoso mantém a planicidade e a integridade de amostras delicadas durante a inspeção. Isso é obtido usando sucção uniforme através de microporos em vez de orifícios ou ranhuras de sucção.
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Suporte de wafer a vácuo rotativo – Fixação de wafer estável e seguraOs suportes de amostra devem fornecer uma fácil navegação de amostra e fixação estável para garantir uma inspeção eficiente do wafer de silício. O suporte de wafer a vácuo tem vários recursos que simplificam os fluxos de trabalho de inspeção de wafer:
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Suporte de wafer rotativo – Inspeção de wafers simplificadaO suporte de wafer rotativo oferece uma alternativa simples e econômica para fixação de amostras onde a sucção a vácuo não é necessária.
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Fixações para orifício de parafuso – Inspeção fácil com fixações personalizadasMuitas vezes, são necessárias fixações personalizadas para segurar tubos, cubos ou outros objetos irregulares durante a inspeção. Apresentando 68 furos de rosca M3 uniformemente distribuídos e medindo 150 mm × 110 mm × 5,5 mm, o acessório com furos para parafusos pode acomodar uma ampla variedade de recursos personalizados para fixação versátil de amostras |
Nota da aplicaçãoAutomatizando medições de rugosidade de área de componentes automotivos críticosOs componentes do motor de combustão interna devem ser fabricados de acordo com tolerâncias estritas e padrões de acabamento de superfície exatos para obter o desempenho ideal do motor. O microscópio de escaneamento a laser 3D OLS5100 pode realizar medições de rugosidade de área de superfície sem contato e com alta precisão. Por isso, ele é bastante adequado para o controle de qualidade de componentes automotivos. | |
Um fabricante de componentes de motor abordou a Evident com a necessidade de melhorar seu fluxo de trabalho de medição de rugosidade da área de superfície. A Evident colaborou com o fabricante para cocriar uma solução personalizada e altamente automatizada usando o microscópio LEXT. A solução completa automatizou totalmente as seguintes tarefas:
A automatização desse fluxo de trabalho melhorou significativamente a produtividade e reduziu o erro do operador. Além disso, as medições de precisão devem ser realizadas sob condições ambientais controladas. Para esta aplicação, o fabricante também exigiu que a temperatura local e a vibração de fundo fossem automaticamente registradas e armazenadas em seu servidor MES. A Evident garantiu que esse recurso fosse integrado ao seu sistema. |
Microscópios digitais
Capacidade além do convencionalAumente a capacidade do seu microscópio digital DSX1000 com componentes personalizados para inspecionar amostras grandes e altas. |
O microscópio digital DSX1000 combina facilidade de uso com recursos avançados para simplificar o seu processo de trabalho de inspeção. Melhore seu microscópio digital com soluções criadas para inspecionar amostras grandes e altas. |
Personalize seu microscópio digital |
Estruturas verticaisMedições de ampliação alta de amostras grandes A estrutura vertical personalizada do DSX1000 permite medições precisas de amostras grandes ou pesadas. | Tubo de observação de zoom de fluorescênciaVeja mais com fluorescência Revele mais defeitos durante a inspeção. As aplicações incluem medir as dimensões críticas de wafers de silício ou identificar trincas na solda da placa de circuito. | Estruturas basculantesMedição precisa de amostras grandes de vários ângulos Nossa estrutura basculante agiliza sua inspeção e fornece informações aprimoradas de amostras volumosas. |
Destaques do produtoAnel de luz LED segmentado para inspeção detalhada quase em 3DAs aplicações de inspeção, como exame de documentos forenses, detecção de rachaduras ou exame de tintas e vernizes, podem ser aprimoradas usando diferentes comprimentos de onda de luz. | |
A Evident desenvolveu anéis de luz LED segmentados para o microscópio DSX1000 revelar os detalhes finos da amostra durante a inspeção:
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Microscópios semicondutores
Capacidade além do convencionalLibere todo o potencial de uma inspeção de semicondutores automatizada com hardware e software para microscópio personalizados. |
Os sistemas de microscópio para semicondutores MX63 e MX63L oferecem observações de qualidade para wafers de até 300 mm, monitores de tela plana, placas de circuito impresso e outras amostras grandes. Esses sistemas ergonômicos e fáceis de usar possuem um design modular para diversas aplicações. Para simplificar a sua inspeção, a série MX63 pode ser personalizada com:
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Personalize seu microscópio para semicondutores |
Completamente motorizadoDescubra as nossas platinas XY e eixo Z motorizados para uma inspeção de semicondutores automatizada. | Formação de imagem aprimoradaUse luz IV transmitida para inspeção através de amostras de silício, como inspeção de danos em chips e detecção de curto-circuito. | Suportes para amostra personalizadosEscolha entre uma variedade de suportes para amostra que podem ser personalizados para aplicações específicas. |
Software personalizado para otimizar seus fluxos de trabalho de inspeçãoMaximize todas as vantagens de uma platina motorizada com soluções de software personalizadas. O nosso software PRECiV™ pode ser personalizado de acordo com o seu fluxo de trabalho específico. |
Por exemplo, a solução personalizada de Navegação no wafer oferece um fluxo de trabalho de medição multiposição. Assista ao vídeo para saber como essa solução define o layout do wafer e navega para vários pontos no wafer para a formação de imagem. |
Entre em contato conosco para conversar sobre os seus requisitos |
Microscópios de luz
Capacidade além do convencionalAumente a capacidade dos seus microscópios de luz e estereoscópicos com suportes versáteis para inspecionar amostras maiores. |
Microscópios de luz são usados para controle de qualidade e exame detalhado de materiais, dispositivos eletrônicos, metais e produtos químicos recém-desenvolvidos. Microscópios estereoscópicos oferecem uma visão estereoscópica clara com operação confortável e ergonômica. Suportes personalizados para microscópios de luz e estereoscópicos fornecem alta estabilidade para maior precisão de medição, com acionamento Z motorizado para simplificar a inspeção de grandes amostras. |
Personalize os seus suportes
| Suportes de coluna únicaAjuste fácil para inspeção de amostras grandes A capacidade de ajustar rapidamente a altura do microscópio é fundamental para uma inspeção eficiente ao fazer medições de amostras com tamanho variável. |
Nota da aplicaçãoAdquirindo mais medições em menos tempo
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