Olympus Logo

Обратная связь Обратная связь

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Матричные вихретоковые дефектоскопы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и комплектующие
      • Датчики и преобразователи▾
        • Ультразвуковые ПЭП
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные ПЭП
        • BondMaster Probes
      • Решения для контроля прутков▾
        • Система контроля прутков (BIS) — Технология фазированных решеток
        • Bar Inspection System (BIS)—Eddy Current Array
        • Ротационная система контроля прутков
        • FOX-IQ
      • Решения для контроля труб▾
        • Ротационная система контроля труб
        • Поточная система контроля труб, полученных электросваркой методом сопротивления
        • Автономная система контроля труб, полученных электросваркой методом сопротивления
        • FOX-IQ
        • PipeWIZARD
        • LSAW Tube Inspection System
      • Wheel Inspection System
      • Контрольно-измерительные приборы НК▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры▾
        • Сканеры для контроля сварных швов
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Контроль качества в аэрокосмической промышленности
        • Комплектующие для сканеров
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные ручные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • DELTA Professional
      • Портативные компактные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • Xpert для контроля качества ТНП и их cоответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • FOX-IQ
      • Рентгеновские дифрактометры ▾
        • Переносной дифрактометр TERRA
        • Настольный дифрактометр BTX
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
    • Промышленные микроскопы▾
      • Сканирующие зондовые микроскопы▾
        • OLS4500
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5000
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP74
        • SC180
        • UC90
        • DP27
        • SC50
        • LC30
        • DP22
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM▾
        • Equipment Integration Solutions
        • Objective Lenses
        • Optical Microscope Frames
        • Super Wide Tube Lens
        • Optical Microscope Modules
        • Modular Microscope Assemblies
      • Microscope FAQ
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX YS
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
        • Бороскопы для контроля авиационных двигателей
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
      • Системы прокрутки
  • Отрасли
  • Блог
  • Ресурсы
  • Поддержка▾
    • Customer Service
    • Контакты
    • Информация о продукции
    • Сервисные центры
    • Программное обеспечение
    • Обучение
    • Оборудование снятое с производства
    • Product Service Termination List
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
    • Compliance and Ethics at Olympus
  • Rentals
  • Shop
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения
LEXT Objectives for Metrology
Guaranteed Measurement Accuracy to 6 nm
Learn More
Elixon Theatre jQuery Plugin

Обратная связь Обратная связь

Научные решения 
Контроль. Измерение. Изображение. Анализ.

Flaw detectors and thickness gagesРешения НК

XRF and XRDАнализаторы XRF и XRD

Remote visual inspectionВидеоскопы, бороскопы

Industrial microscopesПромышленные микроскопы

Что нового?
    Показать больше
    • Апрель 09, 2020
      In this app note, we show you how the OmniScan X3 flaw detector’s Acoustic Influence Map (AIM) can predict the beam coverage to help you optimize your TFM scan plan.
    • Апрель 02, 2020
      How do you properly recycle 20,000 wooden boxes treated with a preservative? Learn how XRF helped make this process fast and efficient in this blog post.
    • Март 31, 2020
      Aircraft fastener hole inspection is a time-consuming process, but our new probe can make it faster. Read more in this app note.
    • Март 26, 2020
      Наше новое приложение Inspection Project Manager использует облачные решения для эффективного управления данными коррозионного мониторинга. Подробнее в данном блог-посте!
    • Март 25, 2020
      OSC 3.0 is packed with features that help you get the most out of your Olympus connected device. See how in this blog post.
    • Март 25, 2020
      Our new IPM App specifically addresses the pain points of thickness gage corrosion monitoring. Get all the details in our white paper.
    Показать больше
    • События
    • Подписаться на информационный бюллетень
    • Пресса

    Safety Banner

    Olympus LifeScience

    Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

    Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

    Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

    Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

    • Youtube
    • LinkedIn
    • Twitter
    • Facebook

    This site uses cookies to enhance performance, analyze traffic, and for ads measurement purposes. If you do not change your web settings, cookies will continue to be used on this website. To learn more about how we use cookies on this website, and how you can restrict our use of cookies, please review our Cookie Policy.

    OK
    Cancel