Olympus Logo

Обратная связь   Обратная связь  

  • Продукты▾
    • Решения НК▾
      • Дефектоскопы▾
        • Портативные ультразвуковые дефектоскопы
        • Оборудование с фазированными решётками
        • Вихретоковые дефектоскопы
        • Вихретоковые матрицы
        • Контроль качества композитных материалов
      • Портативные толщиномеры▾
        • 27MG
        • 45MG
        • 38DL PLUS
        • Magna-Mike 8600
        • 35RDC
        • Преобразователи и аксессуары
      • Датчики и преобразователи▾
        • Одноэлементные и раздельно-совмещенные преобразователи
        • Вихретоковые преобразователи
        • Преобразователи для контроля труб
        • Фазированные преобразователи (ФР-ПЭП)
        • BondMaster Probes
      • Автоматизированные системы контроля▾
        • Система контроля колесных пар ж/д вагонов
        • Системы контроля прутков
        • Системы контроля труб
        • Система контроля сварных соединений полученных сваркой трением с перемешиванием (СТП)
      • Оборудование НК ▾
        • FOCUS PX / PC / SDK
        • QuickScan
      • Промышленные сканеры НК▾
        • Сканеры для контроля сварных соединений
        • Сканеры для коррозионного мониторинга
        • Сканеры для аэрокосмической промышленности
        • Комплектующие сканеров
      • Olympus Scientific Cloud
    • РФ-анализаторы и рентгеновские дифрактометры▾
      • Портативные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
      • Компактные переносные РФ-анализаторы▾
        • Vanta
        • Vanta Element
        • GoldXpert
        • XPert для оценки соответствия RoHS
      • Поточные РФ-анализаторы▾
        • Vanta iX
      • Рентгеновские дифрактометры (XRD)▾
        • Портативный дифрактометр TERRA II
        • Настольный рентгеновский дифрактометр BTX III
      • Решения OEM▾
        • X-STREAM
      • Ключевые прикладные решения
      • Olympus Scientific Cloud
    • Промышленные микроскопы▾
      • Лазерные конфокальные микроскопы▾
        • OLS5100
      • Цифровые микроскопы
      • Измерительные микроскопы▾
        • STM7
        • STM7-BSW
      • Контроль чистоты▾
        • OLYMPUS CIX100
      • Оптические микроскопы▾
        • Прямые микроскопы
        • Инвертированные микроскопы
        • Модульные микроскопы
      • Микроскопы для контроля полупроводников и плоскопанельных дисплеев▾
        • MX63 / MX63L
        • AL120
        • AL120-12
      • Стереомикроскопы▾
        • SZX16
        • SZX10
        • SZX7
        • SZ61/SZ51
      • Цифровые камеры▾
        • DP28
        • DP74
        • SC180
        • DP23
        • LC30
        • XM10
        • XM10IR
      • ПО для анализа изображений▾
        • OLYMPUS Stream
      • Микроспектрофотометр▾
        • USPM-RU-W
        • USPM-RU III
      • Линзы объектива▾
        • MPLAPON
        • MPLAPON-Oil
        • MPLN
        • MPLN-BD
        • MPLFLN
        • MPLFLN-BD
        • MPLFLN-BDP
        • LMPLFLN
        • LMPLFLN-BD
        • SLMPLN
        • LCPLFLN-LCD
        • LMPLN-IR/LCPLN-IR
        • White Light Interferometry Objective
        • Micrometer
      • Компоненты микроскопов OEM
      • Industrial Microscope FAQ
      • Customized Solutions
    • Видеоскопы, бороскопы▾
      • Видеоскопы▾
        • IPLEX NX
        • IPLEX GAir
        • IPLEX GX/GT
        • IPLEX G Lite
        • IPLEX TX
        • IPLEX с длинной рабочей частью
      • Промышленные фиброскопы▾
        •  Фиброскопы малого диаметра
      • Стандартные жёсткие бороскопы▾
        • Стандартные жёсткие бороскопы
        • Бороскопы с качающейся призмой
        • Бороскопы с качающейся увеличивающей призмой
        • Модульный минибороскоп MK
      • Источники света
      • Программное обеспечение для генерации отчетов▾
        • InHelp
  • Отрасли
  • Ресурсы
  • Обучение
  • Блог
  • Поддержка▾
    • Контакты
    • Служба поддержки клиентов
    • XRF and XRD Technical Support
    • Сервисные центры
    • Custom Financing Solutions
    • Olympus Scientific Cloud
    • Программное обеспечение
    • Instruction Manual Downloads
    • Сертификаты ISO
    • MSDS Datasheets
    • Compliance and Ethics at Olympus
    • Информация о продукции
    • Product Service Termination List
    • Оборудование снятое с производства
    • Terms and Conditions of Supply
    • CIC
    • Olympus Technolab
    • Microscope Classroom
  • Rentals
  • Shop
  • Careers
  • Careers
  • Поиск
  • My Account
    • IMS Log in
    • IMS Registration
    • My Apps
    • My Devices
    • My Data
    • OSC Marketplace
    • My Organization
    • OSC Log in
    • OSC Log in
    • Log Out
    • Log Out
Промышленные решения
Карьера
Карьера
LEXT Objectives for Metrology
Guaranteed Measurement Accuracy to 6 nm
Learn More
Elixon Theatre jQuery Plugin

Обратная связь   Обратная связь  

Научные решения 
Контроль. Измерение. Изображение. Анализ.

Решения для толщинометрии и дефектоскопииРешения для толщинометрии и дефектоскопииXRF и XRDXRF- и XRD-анализаторыДистанционный визуальный контрольВидеоэндоскопы и бороскопыПромышленные микроскопыПромышленные микроскопы
Автоматизированные системы контроляАвтоматизированные системы контроляДатчики и сканеры НКДатчики и сканеры НККомпоненты микроскопов OEMКомпоненты микроскопов OEMОб Olympus Scientific SolutionsОб Olympus Scientific Solutions
Что нового?
  • События
  • Подписаться на рассылку
  • Пресс-релизы
  • Карьера
  • Карьера

The Olympus NDT Podcast. INSPECT TECH
Слушайте наш новый подкаст

Olympus LifeScience

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | О нас | Карьера | Карьера | Карта сайта

Copyright OLYMPUS CORPORATION, All rights reserved.

Глобальный веб-сайт | Terms Of Use | Privacy Statement | Cookies | | О нас | Imprint | Карьера | Карьера | Карта сайта

  • Youtube
  • LinkedIn
  • Twitter
  • Facebook
Cancel

Redirecting

You are being redirected to our local site.