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Descripción

Analizador XRD de mesa BTX™ III El analizador de difracción de rayos X (XRD) BTX™ III proporciona una mineralogía cuantitativa rápida y fiable de componentes elementales mayores y menores en una estructura compacta de mesa. El analizador BTX III se dota de un pequeño portamuestras exclusivo convirtiéndolo así en una alternativa ligera y casi libre de mantenimiento para los analizadores XRD convencionales. Este instrumento autónomo funciona sin necesidad de alimentación externa, gas comprimido, enfriamiento por agua, enfriador secundario o transformador externo que secunda su bajo costo [Esp. coste] de propiedad. Los operadores pueden conectar directamente el analizador XRD a otros dispositivos mediante una conexión Ethernet o inalámbrica. Nuestras herramientas XRD son potenciadas por el software SwiftMin^®para agilizar su proceso de trabajo gracias a un exclusivo tablero, calibraciones predeterminadas, una fácil exportación de datos y una transferencia automática de datos.	$Analizador de difracción de rayos X para identificar minerales$

Analizador XRD de mesa BTX™ III

El analizador de difracción de rayos X (XRD) BTX™ III proporciona una mineralogía cuantitativa rápida y fiable de componentes elementales mayores y menores en una estructura compacta de mesa.

El analizador BTX III se dota de un pequeño portamuestras exclusivo convirtiéndolo así en una alternativa ligera y casi libre de mantenimiento para los analizadores XRD convencionales. Este instrumento autónomo funciona sin necesidad de alimentación externa, gas comprimido, enfriamiento por agua, enfriador secundario o transformador externo que secunda su bajo costo [Esp. coste] de propiedad. Los operadores pueden conectar directamente el analizador XRD a otros dispositivos mediante una conexión Ethernet o inalámbrica.

Nuestras herramientas XRD son potenciadas por el software SwiftMin^®para agilizar su proceso de trabajo gracias a un exclusivo tablero, calibraciones predeterminadas, una fácil exportación de datos y una transferencia automática de datos.

$Analizador de difracción de rayos X para identificar minerales$

	Rapidez y sensibilidad incrementadas para reforzar la toma de decisiones de forma ágil El potente software a carácter intuitivo trabaja en combinación con detectores de rayos X mejorados para una sensibilidad mejorada, tiempos de análisis más rápidos y resultados más fiables. Instrumentación actualizada del detector de rayos X que permite un funcionamiento más rápido y ofrece mayor intensidad, dando como resultado límites de detección más cortos. Software SwiftMin^®, dedicado a la identificación de fase y mineralogía cuantitativa de forma automática, que proporciona datos en tiempo real directamente en el analizador XRD con el fin de tomar decisiones con rapidez y mayor seguridad.

Análisis XRD para la mineralogía e identificación del tipo de mena

Rapidez y sensibilidad incrementadas para reforzar la toma de decisiones de forma ágil

El potente software a carácter intuitivo trabaja en combinación con detectores de rayos X mejorados para una sensibilidad mejorada, tiempos de análisis más rápidos y resultados más fiables.

Instrumentación actualizada del detector de rayos X que permite un funcionamiento más rápido y ofrece mayor intensidad, dando como resultado límites de detección más cortos.
Software SwiftMin^®, dedicado a la identificación de fase y mineralogía cuantitativa de forma automática, que proporciona datos en tiempo real directamente en el analizador XRD con el fin de tomar decisiones con rapidez y mayor seguridad.

Sencilla preparación de muestras Cuando se usan los analizadores de difracción de rayos X convencionales, se requiere un amplio lote de muestra que debe estar finamente molido y prensado hasta formar una bolilla («pellet»), lo cual permite asegurar una orientación lo suficientemente aleatoria de los cristales. En cambio, el pequeño portamuestras de agitación, utilizado por el analizador BTX III, activa el proceso de convección dentro de la cámara de la muestra para asegurar que los datos obtenidos no sean prácticamente afectados por los factores de orientación. Esto conlleva a que el analizador requiera una simple cantidad de muestra de 15 mg cuya obtención es fácil gracias al kit de preparación de muestra suministrado.

Sencilla preparación de muestras

Cuando se usan los analizadores de difracción de rayos X convencionales, se requiere un amplio lote de muestra que debe estar finamente molido y prensado hasta formar una bolilla («pellet»), lo cual permite asegurar una orientación lo suficientemente aleatoria de los cristales.

En cambio, el pequeño portamuestras de agitación, utilizado por el analizador BTX III, activa el proceso de convección dentro de la cámara de la muestra para asegurar que los datos obtenidos no sean prácticamente afectados por los factores de orientación. Esto conlleva a que el analizador requiera una simple cantidad de muestra de 15 mg cuya obtención es fácil gracias al kit de preparación de muestra suministrado.

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Analizadores TERRA™ II y BTX™ III: Mineralogía con velocidad optimizada para campo y laboratorio

SwiftMin

$Patrón de difracción de rayos X$

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El software SwiftMin^®, dedicado a la identificación de fase y mineralogía cuantitativa de forma automática, proporciona datos en tiempo real directamente en el analizador XRD a fin de permitir una toma de decisiones de forma rápida y con mayor seguridad. Mejore su productividad y ahorre tiempo en sus tareas gracias a las características/funciones a carácter intuitivo del software SwiftMin. Entre ellas estacan:

Tablero para datos: Vea todas las fórmulas, la calibración y el análisis en una simple vista para agilizar su proceso de trabajo.
Calibraciones predeterminadas: Defina calibraciones predeterminadas mediante una nueva pantalla de gestión de tipo laboratorio, protegida mediante contraseña, para permitir que cualquier operador use el analizador y obtenga de forma rápida resultados fiables.
Transferencia automática de datos: Envíe de forma automática datos a su red de usuarios cuando se detiene un ensayo o después de un período predeterminado.
Fácil exportación de datos: Exporte fácilmente resultados de mineralogía cuantitativa para una mejor visualización o análisis posteriores, y acceda a los archivos de datos sin tratar, usando una carpeta de red para analizar los difractogramas.

Especificaciones

Especificaciones del sistema XRD del analizador BTX III

Resolución XRD	0,2° de ancho de media altura (FWHM) en función del ángulo 2Ø.
Rango XRD	De 5 a 55° en función del ángulo 2Ø.
Tipo de detector	1024 × 256 píxeles; con sensor de carga acoplada (CCD) a efecto Peltier bidimensional
Tamaño de molido de muestras	< 150 μm de mineral molido (tamiz de 100 μm a 150 μm)
Cantidad de muestra	~ 15 mg
Ánodo de tubo de rayos X	Cobalto (Co) [de serie] o cobre (Cu)
Tensión de tubos de rayos X	30 kV
Potencia del tubo de rayos X	10 W
Almacenamiento de datos	240 GB en disco duro interno resistente
Conexión inalámbrica	802.11b/g (permite el control a distancia desde el navegador web)
Temperatura de funcionamiento	De –10 °C a 35 °C (de 14 °F a 95 °F)
Peso	12,5 kg
Tamaño	30 cm x 17 cm x 47 cm
Requisitos de potencia	Fuente de alimentación de corriente alterna (CA) [sin sistema de enfriamiento]

El BTX III no opera mediante un software integrado a la unidad misma. Es posible acceder a este último mediante una conexión inalámbrica de 802.11b/g. Este método de operación exclusivo permite ampliar el rango de flexibilidad para controlar el analizador y efectuar el tratamiento subsecuente de datos.

Aplicaciones

Minería y minerales

Menas ricas en hierro: Analice menas ricas en hierro cuando ciertas fases están completamente ausentes.

Cuarzo
Oligisto (o hematita)
Goethita
Magnetita

Potasa: Analice potasa bajo la identificación de fases y lleve a cabo análisis semicuantitativos de los minerales identificados, entre los cuales se incluyen:

Silvita
Halita
Langbeinita (sulfato de magnesio de potasio)
Leonita

Piedra caliza y cemento: Efectúe fácilmente análisis XRD cuantitativos de minerales comunes asociados a cales. Si el sitio en donde se extiende la cantera contiene varios niveles de dolomita, el analizador distingue rápidamente dicho mineral en un rango del 0,5 % al 9 % con un margen de error de tan sólo el 0,02 %.

Cuarzo alfa
Minerales de amianto
Calcita
Dolomita

Calcita en carbón: Cuantifique la calcita (CaCO ₃, carbonato de calcio), mineral reconocido como reductor que, a través de su calcinación, consigue reducir las emisiones de dióxido de carbono (CO2) de las centrales termoeléctricas de carbón pulverizado.

Análisis XRD dedicado al estudio de rocas y muestras de carbón-escoria

Análisis XRD dedicado a perfilajes (diagrafías) de perforación

Petróleo y gas natural (hidrocarburos)

Registro de lodos: Identifique y cuantifique minerales en las excavaciones de esquisto, mediante el método de perforación rotatoria, para obtener respuestas rápidas acerca de los distintos estratos de un mineral en el sitio de inspección

Silicatos
Carbonatos
Arcilla
Pirita

Tuberías: El detector de sensibilidad energética favorece un rendimiento óptimo de pico a eco de fondo para identificar y cuantificar los materiales de corrosión en las tuberías. Al mismo tiempo, las mediciones por fluorescencia de rayos X brindan una rápida identificación de los elementos que constituyen dichos materiales.

Wustita (FeO), hematita (Fe₂O₃), goethita (FeO(OH))), pirita (FeS₂)
Calcita (CaCO₃), aragonita (CaCO₃)

Relaves: Analice nuevamente y con facilidad los relaves para determinar el funcionamiento de las plantas de procesamiento de minerales o evaluar proyectos anteriores.

Farmacéutica

Identificación rápida de productos farmacéuticos falsificados
Trazado rápido y no destructivo de las fórmulas de fármacos y precursores
Ensayos para detectar cantidades de ingredientes extraños activos e inactivos o sustitutos
Rápidos análisis XRD para asegurar la seguridad del paciente y proteger la marca legítima de los fabricantes farmacéuticos

Identificación mineralógica para fármacos

Tecnología XRD de Olympus

Ventajas de los analizadores XRD de Olympus

$Analizadores de difracción de rayos X para la litología y mineralogía$
Fácil preparación de muestras: Los analizadores XRD convencionales suelen requerir una amplia recogida y preparación de muestras, debido a que un gran lote de muestra debe ser finamente molido y prensado cuidadosamente hasta formar una bolilla («pellet»). Si el resultado de molido es muy fino, o al prensar la muestra se ejerce demasiada presión, es posible provocar efectos en la muestra preparada, como aquel de la orientación preferida. Nuestros analizadores XRD, en cambio, requieren solo 15 mg de muestra, que puede ser obtenida con facilidad usando el kit de muestra suministrado.
Medición simultánea: Los analizadores XRD convencionales tardan unos segundos para recoger cada medida 2Ø, por lo tanto escanear el completo rango 2Ø puede tardar muchas horas. Los analizadores XRD de Olympus usan un detector de carga acoplada (CCD) para reunir de forma simultánea el completo rango 2Ø; de esta forma, el completo rango de difracción puede ser proyectado casi de inmediato.
Difractómetro de rayos X bidimensional: Varias herramientas XRD usan un detector de rayos X que captura los fotones provenientes de la muestra en un solo plano o en un experimento unidimensional. Nuestro analizador, dotado del sensor de carga acoplada (CCD), puede reunir una porción de datos del anillo de difracción para ayudar a que los usuarios sean capaces de entender si la muestra ha sido correctamente preparada (mediante la estadística de las partículas u orientación preferida del cristal). Al usar esta información, es posible confirmar si los datos cuantitativos son precisos y representativos.
Geometría de transmisión: A diferencia de los analizadores XRD convencionales que usan la geometría reflectiva, nuestros analizadores presentan una geometría de transmisión en donde los haces de rayos X atraviesan la muestra. La cantidad de muestra en la celda se fija para que los cambios en la densidad no afecten la resolución. Este proceso es particularmente importante en los materiales de densidad más baja, como las muestras de fármacos, en donde los resultados de penetración arreglados generan una resolución mejorada en comparación con un analizador de reflexión.
Detector de rayos X de discriminación energética: Los analizadores XRD convencionales de gran dimensión, por lo general, no pueden usar un detector de sensibilidad energética; por lo tanto, el detector recibe los fotones que no son usados en el experimento XRD. En cambio, nuestro analizador retira los fotones que no intervienen directamente en el experimento de difracción de rayos X, tales como los fotones de fluorescencia de rayos X, con el fin de proporcionar un mejor patrón de señal-ruido.
Opciones de tubos con ánodos de cobalto y cobre: Los analizadores XRD de Olympus son suministrados de serie con un resistente tubo de rayos X dotado de un ánodo de cobalto (Co). Este ánodo es la elección de preferencia por geólogos y mineralogistas, ya que es excelente en el análisis de muestras con alto contenido de hierro (Fe). Sin embargo, para algunas aplicaciones (p.ej., muestras con alto contenido de manganeso) se requiere un tubo de rayos X con ánodo de cobre (Cu). Olympus, según la aplicación requerida, proporciona uno de los ánodos para el tubo de rayos X.

¿Cómo funciona la tecnología de difracción de rayos X de Olympus?

Los difractómetros XRD de Olympus usan un método exclusivo para reunir y procesar datos XRD con rapidez y facilidad.

Tecnología XRD de Olympus

Tubo de rayos X de microfocalización
Haz de rayos X
Colimador
Muestra
Detector CCD (Charged Coupled Device)

Nuestros analizadores usan la geometría de transmisión (representada en la imagen anterior), en lugar de la geometría de reflexión usada en los modelos XRD convencionales con goniómetros. Sin piezas amovibles, se efectúa la asignación orientativa al azar gracias al portamuestras de agitación. Este genera una frecuencia constante que distribuye el polvo al azar, también conocido como licuefacción de polvo.

El polvo se asienta entre dos ventanas ya sea Mylar o Kapton, tal como se muestra en la imagen a continuación.

Gracias a nuestra técnica de convección, cada grano de muestra en la cámara atraviesa el haz de rayos X en todas las orientaciones posibles en un lapso de 30 segundos. Mediante este método, las herramientas XRD de Olympus logran una asignación orientativa al azar completa, lo cual representa un componente sumamente importante para la precisión y fiabilidad de la tecnología de difracción de rayos X. Con un requisito mínimo de 15 mg de muestra, los analizadores XRD de Olympus recogen simultáneamente el completo rango práctico 2Ø. La ausencia de piezas amovibles también hace que nuestros productos XRD sean fiables y casi libres de mantenimiento.