Vue d'ensemble
Analyseur XRD de paillasse BTX™ IIICompact, l’analyseur par diffraction des rayons X (XRD) de paillasse BTX™ III fournit rapidement une minéralogie quantitative fiable pour les composants mineurs et majeurs. De plus, comme il est doté d’un petit porte-échantillon de conception unique, il constitue une solution légère et pratiquement sans entretien, contrairement aux analyseurs XRD classiques. Cet appareil autonome fonctionne sans avoir besoin de gaz comprimé, de refroidissement à eau, de refroidisseur secondaire ou de transformateur externe, ce qui assure un faible coût de propriété. Vous pouvez connecter cet analyseur XRD directement à tout appareil à fonctionnalité Ethernet ou sans fil. Nos outils XRD sont optimisés par le logiciel intuitif SwiftMin®, lequel simplifie votre flux de travaux en proposant un seul tableau de bord, des étalonnages préréglés, une exportation facile des données et le transfert automatique des données. | ![]() |
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![]() | Vitesse et sensibilité accrues permettant la prise rapide de décisionsSynchronisé avec les détecteurs de rayons X améliorés, le logiciel puissant et intuitif augmente la sensibilité, diminue les délais d’analyse et offre des résultats plus fiables.
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Préparation simplifiée des échantillonsLes analyseurs par diffraction des rayons X classiques nécessitent qu’un échantillon de grande taille soit broyé finement, puis compressé pour former une pastille qui garantit une orientation aléatoire suffisante des cristaux. En revanche, le petit porte-échantillon vibrant utilisé sur le BTX III fait bouger par convection toutes les particules à l’intérieur de la chambre d’analyse, ce qui fait en sorte que les données ne sont pratiquement pas influencées par des effets d’orientation. Ainsi, l’appareil a seulement besoin d’un échantillon de 15 mg, que l’utilisateur peut facilement préparer au moyen de la trousse de préparation des échantillons fournie. | ![]() |
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SwiftMin
Caractéristiques techniques
Caractéristiques techniques de l’analyseur XRD BTX III
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Le BTX III fonctionne à l’aide du logiciel intégré à l’appareil. L’utilisateur accède au système d’exploitation grâce à une connexion Ethernet ou sans fil (802.11b/g). Cette méthode de fonctionnement unique offre une grande souplesse pour le contrôle de l’appareil et le traitement subséquent des données. |
Applications
Analyseurs XRD d'Olympus
Fonctionnement de la technologie XRD d’OlympusLes diffractomètres XRD d’Olympus utilisent une méthode unique pour recueillir et traiter rapidement les données XRD.
Nos appareils utilisent la géométrie de transmission (représentée sur l’image ci-dessus) plutôt que la géométrie de réflexion utilisée dans les modèles XRD avec goniomètre classiques. Puisqu’ils n’ont pas de pièces mobiles, nous atteignons une orientation aléatoire en utilisant un porte-échantillon vibrant unique. Celui-ci génère une fréquence constante qui rend aléatoire l’orientation de la poudre, processus connu sous le nom de « liquéfaction de poudre ». La poudre se trouve entre deux fenêtres de Mylar ou de Kapton, comme indiqué sur l’image ci-dessous. ![]() Grâce à notre technique de convection, chaque grain d’un échantillon placé dans la chambre passe dans le faisceau de rayons X dans toutes les orientations possibles pendant 30 secondes. Cette méthode permet aux outils XRD d’Olympus d’atteindre une orientation totalement aléatoire, ce qui est essentiel pour obtenir des données exactes de diffraction des rayons X. Nécessitant un échantillon d’à peine 15 mg, les analyseurs XRD d’Olympus peuvent mesurer simultanément la totalité de la plage de 2 thêtas. De plus, puisque nos produits XRD sont exempts de pièces mobiles, ils sont fiables et ne nécessitent pratiquement pas d’entretien. |