Получение изображений в нанометрическом диапазоне и измерение разницы высот на субмикронном уровне. |
Измерение шероховатости поверхности линейных и планарных структур. |
Не требует подготовки образцов — Просто поместите образец на предметный столик и приступайте к измерениям |
Стандартные средства измерения | Лазерный микроскоп | |
Оптический микроскоп, цифровой микроскоп | ||
•Невозможно измерить мелкие формы •Низкое латеральное разрешение •Непрослеживаемые результаты измерений | •Точное 3D-измерение •Латеральное разрешение 0,12 мкм •Прослеживаемые результаты измерений | |
Контактный профилометр | ||
•Риск повреждения поверхности образца •Измерение только по одной линии •Сложность установки стилуса в нужном месте | •Бесконтактный метод измерения без риска повреждения образца •Получение информации со всей плоскости •Точечное прицельное измерение | |
Интерферометр белого света | ||
•Трудности при измерении формы шероховатой поверхности •Низкое латеральное разрешение усложняет позиционирование •Неудобная настройка угла наклона | •Точное измерение шероховатой поверхности путем захвата даже небольших уклонов •Латеральное разрешение 0,12 мкм •Просто положите образец на предметный столик и начните измерение | |
Сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) | ||
•Нет информации о цвете •Метод основан на разрушении образца; необходимость подготовки образцов •Измерение формы 3D-объектов невозможно | •Цветные изображения высокой четкости и контрастности •Неразрушающий метод; не требует подготовки образца •Точное 3D измерение |